CN214585847U - 一种用于检测电路板触点的下压式可调检测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电路板触点检测治具领域，公开了一种用于检测电路板触点的下压式可调检测治具。包括：底座，设于底座上的检测箱，设于检测箱内用于检测电路板触点的调节装置，调节装置包括：多个检测针座、接触顶针、第一支撑弹簧、转动方形杆、转动杆、第一顶块、第二顶块、多个第三顶块、以及限位件。设于检测箱、用于放置电路板的放置组件，以及，设于底座、用于与放置组件配合并压覆电路板的压紧组件。通过调节装置、放置组件和压紧组件的设置，能够适用于电路板不同触点位置的检测，减少了设备成本，提高了检测装置的工作效率和适用范围。

Description

一种用于检测电路板触点的下压式可调检测治具

技术领域

本实用新型涉及电路板触点检测治具领域，特别涉及一种用于检测电路板触点的下压式可调检测治具。

背景技术

芯片是作为半导体元件产品的统称，在电路板生产完成之后，需要对其进行检测，以此确定电路板的质量和合格率。而传统的电路板检测装置，只能将连接电路板的顶针全部顶出，不能根据电路板触点的分布进行可调式的顶针伸出作业，导致经常需要更换设备，同时增加了设备成本，降低了检测装置的工作效率和适用范围。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种用于检测电路板触点的下压式可调检测治具，通过调节装置、放置组件和压紧组件的设置，能够适用于电路板不同触点位置的检测，减少了设备成本，提高了检测装置的工作效率和适用范围。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种用于检测电路板触点的下压式可调检测治具，包括：底座；

设于所述底座上的检测箱，设于所述检测箱内用于检测电路板触点的调节装置，所述调节装置包括：设于所述检测箱内间隔分布的多个检测针座、设于所述检测针座上的接触顶针、设于所述检测箱内用于支撑所述检测针座的第一支撑弹簧、设于所述检测针座的下方对应位置的转动方形杆、连接于所述转动方形杆并延伸至所述检测箱外的转动杆、设于所述转动杆第一侧面的中间位置的第一顶块、设于所述转动杆的第二侧面并位于所述第一顶块两侧的第二顶块、间隔设于所述转动杆第三侧面的多个第三顶块、以及用于限制所述转动杆和转动方形杆旋转的限位件；

设于所述检测箱、用于放置电路板的放置组件，以及；

设于所述底座、用于与所述放置组件配合并压覆电路板的压紧组件。

实现上述技术方案，根据检测电路板的触点位置，先旋拧转动杆，使转动方形杆转动，使第一顶块顶出一检测针座，使一接触顶针凸出检测箱与电路板触点接触，再通过限位件限制转动杆的旋转。如若所检测的电路板触点位置改变，通过上述旋拧转动杆，使第二顶块顶出一检测针座，使一接触顶针凸出检测箱与电路板触点接触。同时也可以通过上述旋拧转动杆，使第三顶块顶出一检测针座，使一接触顶针凸出检测箱与电路板触点接触。然后，将电路板置于放置组件上，通过压紧组件对电路板实施压覆，保证检测的稳定性。

作为本实用新型的一种优选方案，所述检测箱上开设有与所述接触顶针配合的第一检测通槽。

实现上述技术方案，通过上述设置，使接触顶针能够向上运动与电路板触点接触检测。

作为本实用新型的一种优选方案，所述检测箱上开设有位于所述转动杆处的限位槽，所述转动杆上开设有分别与所述限位槽配合的第一定位槽、第二定位槽和第三定位槽，所述限位件为活动插板。

实现上述技术方案，该实用新型可以实现对电路板三种不同触点位置的检测，在上述第一顶块顶出检测针座时，活动插板插入限位槽和第一定位槽，实现转动杆的锁紧。在上述第二顶块顶出检测针座时，活动插板插入限位槽和第二定位槽，实现转动杆的锁紧。在上述第三顶块顶出检测针座时，活动插板插入限位槽和第三定位槽，实现转动杆的锁紧。

作为本实用新型的一种优选方案，所述放置组件包括：设于所述检测箱上通过固定柱装配的放置板，所述放置板上开设有与所述第一检测通槽对应的第二检测通槽，位于所述放置板的底部并套设于所述固定柱上的第二支撑弹簧，所述放置板上设置有开设有供电路板放置的凹槽。

实现上述技术方案，通过上述设置，将电路板置于凹槽中，在放置板的下压的过程中，使接触顶针从第一检测通槽内穿过第二检测通槽，与电路板触点接触。

作为本实用新型的一种优选方案，所述压紧组件包括：设于所述底座上的固定架，所述固定架上设置有铰接座，所述铰接座上铰接有下压杆，所述下压杆上铰接有连接框架，所述连接框架上铰接有活动升降杆，所述活动升降杆的一端设置有下压连接座，所述下压连接座上设置有与压覆于电路板上的压紧顶柱。

实现上述技术方案，在上述下压检测时，通过转动下压杆，使连接框架和活动升降杆做上下升降运动，带动下压连接座做同步上下升降运动，使压紧顶柱顶住电路板，保持电路板在检测时与接触顶针的一致性。

作为本实用新型的一种优选方案，所述固定架上设置有供所述活动升降杆穿过的限位孔座；所述固定架上设置有用于稳固所述下压连接座升降运动的导向杆。

实现上述技术方案，通过限位孔座的设置，保证了活动升降杆只能做上下升降运动。通过导向杆的设置，使下压连接座的运动更加稳定。

综上所述，本实用新型具有如下有益效果：根据检测电路板的触点位置，先旋拧转动杆，使转动方形杆转动，使第一顶块顶出一检测针座，使一接触顶针凸出检测箱与电路板触点接触，再通过限位件限制转动杆的旋转。如若所检测的电路板触点位置改变，通过上述旋拧转动杆，使第二顶块顶出一检测针座，使一接触顶针凸出检测箱与电路板触点接触。同时也可以通过上述旋拧转动杆，使第三顶块顶出一检测针座，使一接触顶针凸出检测箱与电路板触点接触。然后，将电路板置于放置组件上，通过压紧组件对电路板实施压覆，保证检测的稳定性，能够适用于电路板不同触点位置的检测，减少了设备成本，提高了检测装置的工作效率和适用范围。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为本实用新型的限位限位槽、第一定位槽、第二定位槽和第三定位槽的侧视结构示意图。

图3为本实用新型的第一顶块、第二顶块和第三顶块的侧视结构示意图。

图4为本实用新型的放置板俯视结构示意图。

图5为本实用新型的压紧组件侧视结构示意图。

图中数字和字母所表示的相应部件名称：

1、检测箱；2、底座；3、第一检测通槽；4、检测针座；5、第一支撑弹簧；6、第三顶块；7、第一顶块；8、第二顶块；9、接触顶针；10、转动方形杆；11、转动杆；12、活动插板；13、第三定位槽；14、限位槽；15、压紧顶柱；16、下压连接座；17、限位孔座；18、活动升降杆；19、连接框架；20、下压杆；21、铰接座；22、导向柱；23、固定架；24、放置板；25、第二检测通槽；26、固定柱；27、第二支撑弹簧；28、第一定位槽；29、第二定位槽；30、凹槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例

如图1至5所示，本实用新型为一种用于检测电路板触点的下压式可调检测治具，包括：底座2，设于底座2上的检测箱1，设于检测箱1内用于检测电路板触点的调节装置，调节装置包括：设于检测箱1内间隔分布的多个检测针座4、设于检测针座4上的接触顶针9、设于检测箱1内用于支撑检测针座4的第一支撑弹簧5、设于检测针座4的下方对应位置的转动方形杆10、连接于转动方形杆10并延伸至检测箱1外的转动杆11、设于转动杆11第一侧面的中间位置的第一顶块7、设于转动杆11的第二侧面并位于第一顶块7两侧的第二顶块8、间隔设于转动杆11第三侧面的多个第三顶块6、以及用于限制转动杆11和转动方形杆10旋转的限位件。

其中，检测箱1上开设有与接触顶针9配合的第一检测通槽3，通过上述设置，使接触顶针9能够向上运动与电路板触点接触检测。

检测箱1上开设有位于转动杆11处的限位槽14，转动杆11上开设有分别与限位槽14配合的第一定位槽28、第二定位槽29和第三定位槽13，限位件为活动插板12。该实用新型可以实现对电路板三种不同触点位置的检测，在上述第一顶块7顶出检测针座4时，活动插板12插入限位槽14和第一定位槽28，实现转动杆11的锁紧。在上述第二顶块8顶出检测针座4时，活动插板12插入限位槽14和第二定位槽29，实现转动杆11的锁紧。在上述第三顶块6顶出检测针座4时，活动插板12插入限位槽14和第三定位槽13，实现转动杆11的锁紧。

设于检测箱1、用于放置电路板的放置组件，放置组件包括：设于检测箱1上通过固定柱26装配的放置板24，放置板24上开设有与第一检测通槽3对应的第二检测通槽25，位于放置板24的底部并套设于固定柱26上的第二支撑弹簧27，放置板24上设置有开设有供电路板放置的凹槽30。通过上述设置，将电路板置于凹槽30中，在放置板24的下压的过程中，使接触顶针9从第一检测通槽3内穿过第二检测通槽25，与电路板触点接触。

以及；设于底座2、用于与放置组件配合并压覆电路板的压紧组件，压紧组件包括：设于底座2上的固定架23，固定架23上设置有铰接座21，铰接座21上铰接有下压杆20，下压杆20上铰接有连接框架19，连接框架19上铰接有活动升降杆18，活动升降杆18的一端设置有下压连接座16，下压连接座16上设置有与压覆于电路板上的压紧顶柱15。在上述下压检测时，通过转动下压杆20，使连接框架19和活动升降杆18做上下升降运动，带动下压连接座16做同步上下升降运动，使压紧顶柱15顶住电路板，保持电路板在检测时与接触顶针9的一致性。

固定架23上设置有供活动升降杆18穿过的限位孔座17，固定架23上设置有用于稳固下压连接座16升降运动的导向杆。通过限位孔座17的设置，保证了活动升降杆18只能做上下升降运动。通过导向杆的设置，使下压连接座16的运动更加稳定。

在本实施例中，根据检测电路板的触点位置，先旋拧转动杆11，使转动方形杆10转动，使第一顶块7顶出一检测针座4，使一接触顶针9凸出检测箱1与电路板触点接触，再通过限位件限制转动杆11的旋转。如若所检测的电路板触点位置改变，通过上述旋拧转动杆11，使第二顶块8顶出一检测针座4，使一接触顶针9凸出检测箱1与电路板触点接触。同时也可以通过上述旋拧转动杆11，使第三顶块6顶出一检测针座4，使一接触顶针9凸出检测箱1与电路板触点接触。然后，将电路板置于放置组件上，通过压紧组件对电路板实施压覆，保证检测的稳定性，能够适用于电路板不同触点位置的检测，减少了设备成本，提高了检测装置的工作效率和适用范围。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (6)

1.一种用于检测电路板触点的下压式可调检测治具，其特征在于，包括：底座；

设于所述底座上的检测箱，设于所述检测箱内用于检测电路板触点的调节装置，所述调节装置包括：设于所述检测箱内间隔分布的多个检测针座、设于所述检测针座上的接触顶针、设于所述检测箱内用于支撑所述检测针座的第一支撑弹簧、设于所述检测针座的下方对应位置的转动方形杆、连接于所述转动方形杆并延伸至所述检测箱外的转动杆、设于所述转动杆第一侧面的中间位置的第一顶块、设于所述转动杆的第二侧面并位于所述第一顶块两侧的第二顶块、间隔设于所述转动杆第三侧面的多个第三顶块、以及用于限制所述转动杆和转动方形杆旋转的限位件；

设于所述检测箱、用于放置电路板的放置组件，以及；

设于所述底座、用于与所述放置组件配合并压覆电路板的压紧组件。

2.根据权利要求1所述的用于检测电路板触点的下压式可调检测治具，其特征在于，所述检测箱上开设有与所述接触顶针配合的第一检测通槽。

3.根据权利要求1所述的用于检测电路板触点的下压式可调检测治具，其特征在于，所述检测箱上开设有位于所述转动杆处的限位槽，所述转动杆上开设有分别与所述限位槽配合的第一定位槽、第二定位槽和第三定位槽，所述限位件为活动插板。

4.根据权利要求2所述的用于检测电路板触点的下压式可调检测治具，其特征在于，所述放置组件包括：设于所述检测箱上通过固定柱装配的放置板，所述放置板上开设有与所述第一检测通槽对应的第二检测通槽，位于所述放置板的底部并套设于所述固定柱上的第二支撑弹簧，所述放置板上设置有开设有供电路板放置的凹槽。

5.根据权利要求1所述的用于检测电路板触点的下压式可调检测治具，其特征在于，所述压紧组件包括：设于所述底座上的固定架，所述固定架上设置有铰接座，所述铰接座上铰接有下压杆，所述下压杆上铰接有连接框架，所述连接框架上铰接有活动升降杆，所述活动升降杆的一端设置有下压连接座，所述下压连接座上设置有与压覆于电路板上的压紧顶柱。

6.根据权利要求5所述的用于检测电路板触点的下压式可调检测治具，其特征在于，所述固定架上设置有供所述活动升降杆穿过的限位孔座；所述固定架上设置有用于稳固所述下压连接座升降运动的导向杆。

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