CN214516150U - 一种具有自动回测功能的测试分选设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种具有自动回测功能的测试分选设备，其包括机架以及设于机架上的轨道机构、检测机构和送料机构和搬运机构，轨道机构包括入料轨道、合格轨道、次品轨道和回测轨道，入料轨道用于收集待测芯片，合格轨道用于收集合格芯片，次品轨道用于收集次品芯片，回测轨道用于收集需回测芯片，检测机构用于检测芯片，送料机构用于向检测机构传输待检芯片并将已检芯片传输至轨道机构的各料盘上，搬运机构用于搬运各个轨道上的料盘。该具有自动回测功能的测试分选设备能够全自动的对已完成检测的芯片进行回测，避免人员的干预对检测造成影响，检测效果好。

Description

一种具有自动回测功能的测试分选设备

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，特别是涉及一种具有自动回测功能的测试分选设备。

背景技术

芯片检测设备是一种可将人工检测芯片的动作机械化的设备，其检测效果稳定，检测效率高，能够实现芯片流水线式测量，同时培训设备操作人员时间短，操作人员可一人操作多台设备，操作步骤简单，大大节约人力资源，因此芯片检测设备迅速淘汰人工芯片检测工艺，成为芯片检测市场的主流。现有的芯片检测设备仅能够完成首测，芯片的二次回测需要操作人员手动完成，使用不便，也不利于提升检测效率。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种具有自动回测功能的测试分选设备，具有可自动完成回测、使用方便等优点。

基于此，本实用新型提供了一种具有自动回测功能的测试分选设备，其包括机架以及设于所述机架上的轨道机构、检测机构和送料机构和搬运机构；

所述轨道机构包括入料轨道、合格轨道、次品轨道和回测轨道，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道和所述回测轨道上均设有用于盛放芯片的料盘，所述入料轨道用于收集待测芯片，所述合格轨道用于收集合格芯片，所述次品轨道用于收集次品芯片，所述回测轨道用于收集需回测芯片，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道和所述回测轨道的结构相同，所述入料轨道包括轨道架和动力组件，所述轨道架的两端设有限位块，所述动力组件包括同步电机和同步轮，所述同步电机通过同步带与所述同步轮相连接，所述料盘设于所述同步带上；

所述检测机构用于检测芯片；

所述送料机构用于向所述检测机构传输待检芯片并将已检芯片传输至所述轨道机构的各所述料盘上；

所述搬运机构用于搬运料盘，所述搬运机构包括第一导轨和抓手，所述抓手可沿所述第一导轨滑动，所述抓手包括第二导轨、固定抓和活动抓，所述第二导轨垂直于所述第一导轨，所述活动抓设于所述固定抓的顶部，所述固定抓穿设于所述第二导轨上并可沿所述第二导轨滑动。

本申请的一些实施例中，所述入料轨道还包括堆叠组件，所述堆叠组件包括立杆、支撑件和顶举件，立杆竖直设置若干根并包围所述料盘，所述顶举件设于立杆的下方，用于驱动所述料盘沿所述立杆竖直运动，所述支撑件设于所述轨道架上，位于所述立杆的旁侧。

本申请的一些实施例中，所述轨道架上设有传感器。

本申请的一些实施例中，所述轨道架上设有侧推夹紧气缸和后推夹紧气缸。

本申请的一些实施例中，所述轨道机构还包括空盘轨道，所述空盘轨道的结构与所述入料轨道相同，所述空盘轨道用于收集空料盘。

本实用新型实施例提供的一种具有自动回测功能的测试分选设备，与现有技术相比，其有益效果在于：

使用时在入料轨道设置装满待测芯片的料盘，并在合格轨道、次品轨道和回测轨道上设置空料盘，启动轨道机构，各个轨道上的料盘进入设备中，送料机构抓取料盘中的待测芯片并将待测芯片送入检测机构中，检测机构对芯片进行检测，检测完成后送料机构再次启动，将检测合格的芯片送至合格轨道的料盘中，将检测不合格的芯片送至次品轨道的料盘中，将无法确认需再次检测的芯片送至回测轨道的料盘中，随后搬运机构启动，抓手抓取回测轨道上的料盘并沿第一导轨滑动至入料轨道的上方，随后抓手沿第二导轨滑动将抓取的料盘放置在入料轨道上，再次启动轨道机构，待回测芯片通过入料轨道送入检测机构完成回测。如此，该测试分选设备能够自动完成回测，高效快捷，使用方便。

附图说明

图1为本实用新型实施例的具有自动回测功能的测试分选设备的结构示意图；

图2为本实用新型实施例的轨道机构示意图；

图3为本实用新型实施例的入料轨道结构示意图；

图4为本实用新型实施例的搬运机构示意图；

图5为本实用新型实施例的抓手结构示意图。

图中：1、机架；2、轨道机构；21、入料轨道；211、轨道架；212、同步带；213、同步轮；214、立杆；215、顶举件；216、支撑件；217、传感器；22、合格轨道；23、次品轨道；24、回测轨道；25、空盘轨道；3、搬运机构；31、第一导轨；32、抓手；321、固定抓；322、活动抓；323、第二导轨；33、底架。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

应当理解的是，本实用新型中采用术语“前”、“后”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语，这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区别开。例如，在不脱离本实用新型范围的情况下“前”信息也可以被称为“后”信息，“后”信息也可以被称为“前”信息。

如图1至图5所示，本实用新型提供了一种具有自动回测功能的测试分选设备，其包括机架1以及设于机架1上的轨道机构2、检测机构和送料机构和搬运机构3。具体而言，轨道机构2包括入料轨道21、合格轨道22、次品轨道23和回测轨道24，入料轨道21、合格轨道22、次品轨道23和回测轨道24上设有用于盛放芯片的料盘，入料轨道21用于收集待测芯片，合格轨道22用于收集合格芯片，次品轨道23用于收集次品芯片，回测轨道24用于收集需回测芯片，检测机构用于检测芯片，送料机构用于向检测机构传输待检芯片并将已检芯片传输至轨道机构2的各料盘上，搬运机构3用于搬运各个轨道上的料盘。

基于上述结构，使用时在入料轨道21设置装满待测芯片的料盘，并在合格轨道22、次品轨道23和回测轨道24上设置空料盘，启动轨道机构2，各个轨道上的料盘均进入设备中，送料机构抓取料盘中的待测芯片并将待测芯片送入检测机构中，检测机构启动对芯片进行检测，检测完成后送料机构再次启动，将检测合格的芯片送至合格轨道22的料盘中，将检测不合格的芯片送至次品轨道23的料盘中，将无法确认需再次检测的芯片送至回测轨道24的料盘中，随后搬运机构3将回测轨道24上的搬运至入料轨道21，再次启动设备即可完成对芯片的回测，使用起来十分的方便。

进一步的，轨道机构2还包括空盘轨道25，空盘轨道25用于收集空料盘，搬运机构3可将入料轨道21中取完芯片的空搬运至空盘轨道25，由空盘轨道25进行收集，方便操作人员统一处理，结构设计合理，处理效率高。

需要注意的是，入料轨道21、合格轨道22、次品轨道23、回测轨道24和空盘轨道25的结构均相同，具体而言，入料轨道21包括轨道架211和动力组件，轨道架211的两端设有限位块，动力组件包括同步电机和同步轮213，同步电机通过同步带212与同步轮213相连接，料盘设于同步带212上。

进一步的，入料轨道21还包括堆叠组件，其包括立杆214、支撑件216和顶举件215，立杆214竖直设置若干根并包围料盘，在本实用新型实施例中，立杆214设有四根，四根立杆214的横截面均呈直角形，四根立杆214分别设于料盘的四个角上并包围料盘，顶举件215设于立杆214的旁侧，用于驱动料盘沿立杆214竖直上下运动，轨道架211上还设有用于支撑料盘的支撑件216。

基于上述结构，使用时料盘在同步电机的驱动下沿轨道架211滑动，限位块的设置确定了料盘的滑动范围，防止其滑出轨道架211外，当其滑动抓至立杆214所在位置时停止滑动，启动顶举件215，料盘在顶举件215的驱动下向上升起，随后顶举件215向下运动，料盘落在支撑件216上，如此重复料盘堆叠在立杆214与支撑件216围成的空间内。

更进一步的，轨道架211上设有传感器217，传感器217设于料盘传输路径的旁侧能够随时监测料盘的运动情况，操作人员可通过传感器217快速获取料盘的位置，方便检修与维护。

另外，轨道架211上还设有侧推夹紧气缸(图未示)和后推夹紧气缸(图未示)，侧推夹紧气缸和后推夹紧气缸能够在料盘传输至指定地点时固定料盘，防止送料机构抓取芯片时料盘出现抖动，影响取料效果。

可选的，搬运机构3包括底架33、第一导轨31和抓手32，底架33与机架1固定连接，第一导轨31设于底架33上，抓手32设于第一导轨31上并可沿第一导轨31滑动，在本实用新型实施例中，抓手32在搬运驱动组件的驱动下滑动，搬运驱动组件包括设于底架33上的同步带212和同步轮213，抓手32包括第二导轨323、固定抓321和活动抓322，第二导轨323垂直于第一导轨31，活动抓322设于固定抓321的顶部，固定抓321穿设于第二导轨323上并可沿第二导轨323滑动。

综上所述，本实用新型提供了一种具有自动回测功能的测试分选设备，其包括机架以及设于机架上的轨道机构、检测机构和送料机构和搬运机构，轨道机构包括入料轨道、合格轨道、次品轨道和回测轨道，入料轨道用于收集待测芯片，合格轨道用于收集合格芯片，次品轨道用于收集次品芯片，回测轨道用于收集需回测芯片，检测机构用于检测芯片，送料机构用于向检测机构传输待检芯片并将已检芯片传输至轨道机构的各料盘上，搬运机构用于搬运各个轨道上的料盘。与现有技术相比，该具有自动回测功能的测试分选设备能够全自动的对已完成检测的芯片进行回测，避免人员的干预对检测造成影响，检测效果好。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种具有自动回测功能的测试分选设备，其特征在于，包括机架以及设于所述机架上的轨道机构、检测机构和送料机构和搬运机构；

所述轨道机构包括入料轨道、合格轨道、次品轨道和回测轨道，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道和所述回测轨道上均设有用于盛放芯片的料盘，所述入料轨道用于收集待测芯片，所述合格轨道用于收集合格芯片，所述次品轨道用于收集次品芯片，所述回测轨道用于收集需回测芯片，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道和所述回测轨道的结构相同，所述入料轨道包括轨道架和动力组件，所述轨道架的两端设有限位块，所述动力组件包括同步电机和同步轮，所述同步电机通过同步带与所述同步轮相连接，所述料盘设于所述同步带上；

所述检测机构用于检测芯片；

所述送料机构用于向所述检测机构传输待检芯片并将已检芯片传输至所述轨道机构的各所述料盘上；

所述搬运机构用于搬运料盘，所述搬运机构包括第一导轨和抓手，所述抓手可沿所述第一导轨滑动，所述抓手包括第二导轨、固定抓和活动抓，所述第二导轨垂直于所述第一导轨，所述活动抓设于所述固定抓的顶部，所述固定抓穿设于所述第二导轨上并可沿所述第二导轨滑动。

2.根据权利要求1所述的具有自动回测功能的测试分选设备，其特征在于，所述入料轨道还包括堆叠组件，所述堆叠组件包括立杆、支撑件和顶举件，立杆竖直设置若干根并包围所述料盘，所述顶举件设于立杆的下方，用于驱动所述料盘沿所述立杆竖直运动，所述支撑件设于所述轨道架上，位于所述立杆的旁侧。

3.根据权利要求2所述的具有自动回测功能的测试分选设备，其特征在于，所述轨道架上设有传感器。

4.根据权利要求2所述的具有自动回测功能的测试分选设备，其特征在于，所述轨道架上设有侧推夹紧气缸和后推夹紧气缸。

5.根据权利要求1所述的具有自动回测功能的测试分选设备，其特征在于，所述轨道机构还包括空盘轨道，所述空盘轨道的结构与所述入料轨道相同，所述空盘轨道用于收集空料盘。

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