CN214097700U - 一种电子元件性能检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电子元件性能检测装置，第一出口槽和第二出口槽末端均连接有运输装置，门型支架顶部设有电动推杆一，安装板底部设有检测装置，检测装置通过固定螺丝固定安装在安装板上，检测装置包括支撑板、导电笔，导电笔个数为两个，门型支架侧壁上设有用于指示检测结果的指示灯一，两个导电笔与指示灯一电性相连，支撑板内对应于导电笔顶端设有空腔，空腔内部设有按压指示装置，本实用新型与现有技术相比的优点在于：设有导电笔与指示灯，检测电子元件是否合格，通过电动推杆二和电动推杆三推动使合格与不合格的电子元件分别从第一出口槽和第二出口槽内滑出，操作简单，节省人工；设有按压指示装置，保证导电笔按压到位。

Description

一种电子元件性能检测装置

技术领域

本实用新型涉及检测设备技术领域，具体是指一种电子元件性能检测装置。

背景技术

在电子元件的生产中经常会出现电子元件的电路连接不良，导致电子元件无法正常工作，因此需要对生产好的电子元件进行检测，传统的检测方式是，员工通过导电笔进行人工检测，这种检测方式费时费力，且准确度不高，如果人工检测时导电笔没有稳定接触待检测电子元件的连接点，将该电子元件误检测为不合格产品，则需要浪费时间进行改正，这种检测方式效率较低。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是，克服以上技术问题，提供一种结构简单，方便操作，检测准确，且效率较高的电子元件性能检测装置。

为解决上述技术问题，本实用新型提供的技术方案为：一种电子元件性能检测装置，包括底座，所述底座上开设有π字形槽，所述π字形槽包括进口槽、第一出口槽和第二出口槽，所述第一出口槽和第二出口槽末端均连接有运输装置，所述底座顶部设有门型支架，所述门型支架顶部设有电动推杆一，所述电动推杆一的伸缩杆末端固定连接有安装板，所述安装板底部设有检测装置，所述检测装置通过固定螺丝固定安装在安装板上，所述检测装置包括支撑板、导电笔，所述导电笔个数为两个，所述门型支架侧壁上设有用于指示检测结果的指示灯一，两个导电笔与指示灯一电性相连，所述支撑板内对应于导电笔顶端设有空腔，所述空腔内部设有按压指示装置，所述底座内部设有电动推杆二和电动推杆三，所述电动推杆二位于第一出口槽端部，所述电动推杆三位于第一出口槽侧壁上，并与第二出口槽相对应，所述第一出口槽侧壁上对应于进口槽设有限位开关一，第一出口槽底部对应于第二出口槽设有限位开关二。

本实用新型与现有技术相比的优点在于：本实用新型的电子元件性能检测装置设有导电笔与指示灯，电动推杆一带动导电笔向下移动接触待检测电子元件的电路连接点，当电子元件的电路没有问题时，便会导通形成回路，指示灯一亮，当待检测电子元件电路接触不良时，则不会导通，指示灯一不亮，通过电动推杆二和电动推杆三推动使合格与不合格的电子元件分别从第一出口槽和第二出口槽内滑出，操作简单，节省人工；设有按压指示装置，保证导电笔按压到位，避免导电笔没有稳定接触待检测电子元件的连接点，导致的误判现象。

作为改进，所述运输装置包括斜坡和传送带，斜坡方便电机元件滑动，所述斜坡一端与第一出口槽、第二出口槽连接，另一端与传送带连接，方便将合格与不合格的电子元件分开，运输至合适地点，所述斜坡两侧均设有挡板，防止电子元件掉落。

作为改进，所述按压指示装置包括导电块一、导电块二和指示灯二，所述导电笔顶部设有防脱块，所述导电块一和导电块二分别与防脱块顶部和空腔顶壁固定相连，所述导电块一和导电块二周围设有弹簧，所述弹簧两端分别与防脱块顶部和空腔顶壁固定相连，所述指示灯二位于支撑板顶部，方便指示导电笔是否按压到位。

作为改进，所述门型支架一侧设有控制盒，所述指示灯一位于控制盒上，所述控制盒上设有用于控制电动推杆一、电动推杆二和电动推杆三的控制按钮，方便工作人员操作控制。

附图说明

图1是本实用新型一种电子元件性能检测装置的结构示意图。

图2是图1中A部分的放大图。

图3是本实用新型一种电子元件性能检测装置的底座、门型支架、进口槽、控制盒的竖直截面结构示意图。

图4是本实用新型一种电子元件性能检测装置的底座一、电动推杆三、第二出口槽的竖直截面结构示意图。

图5是本实用新型一种电子元件性能检测装置的底座、运输装置的俯视图。

图6是本实用新型一种电子元件性能检测装置的控制结构示意图。

如图所示：1、底座，2.1、进口槽，2.2、第一出口槽，2.3、第二出口槽，3、运输装置，3.1、斜坡，3.2、传送带，3.11、挡板，4、门型支架，5、电动推杆一，6、安装板，7、检测装置，7.1、支撑板，7.11、空腔，7.2、导电笔，7.21、防脱块，8、按压指示装置，8.1、导电块一，8.2、导电块二，8.3、指示灯二，8.4、弹簧，9、电动推杆二，10、电动推杆三，11、限位开关一，12、限位开关二，13、控制盒，14、指示灯一。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

结合附图，一种电子元件性能检测装置，包括底座1，如图5所示，所述底座1上开设有π字形槽，所述π字形槽包括进口槽2.1、第一出口槽2.2和第二出口槽2.3，所述第一出口槽2.2和第二出口槽2.3末端均连接有运输装置3，如图1、3所示，所述底座1顶部设有门型支架4，所述门型支架4顶部设有电动推杆一5，所述电动推杆一5的伸缩杆末端固定连接有安装板6，所述安装板6底部设有检测装置7，所述检测装置7通过固定螺丝固定安装在安装板6上，所述检测装置7包括支撑板7.1、导电笔7.2，所述导电笔7.2个数为两个，分别为导电笔一和导电笔二，所述门型支架4侧壁上设有用于指示检测结果的指示灯一14，两个导电笔7.2与指示灯一14电性相连，如图2所示，所述支撑板7.1内对应于导电笔7.2顶端设有空腔7.11，所述空腔7.11内部设有按压指示装置8，如图1、3、4、5所示，所述底座 1内部设有电动推杆二9和电动推杆三10，所述电动推杆二9位于第一出口槽2.2端部，所述电动推杆三10位于第一出口槽2.2侧壁上，并与第二出口槽2.3相对应，所述第一出口槽 2.2侧壁上对应于进口槽2.1设有限位开关一11，第一出口槽2.2底部对应于第二出口槽2.3 设有限位开关二12。

所述运输装置3包括斜坡3.1和传送带3.2，所述斜坡3.1一端与第一出口槽2.2、第二出口槽2.3连接，另一端与传送带3.2连接，所述斜坡3.1两侧均设有挡板3.11。

如图2所示，所述按压指示装置8包括导电块一8.1、导电块二8.2和指示灯二8.3，所述导电笔7.2顶部设有防脱块7.21，所述导电块一8.1和导电块二8.2分别与防脱块7.21顶部和空腔7.11顶壁固定相连，所述导电块一8.1和导电块二8.2周围设有弹簧8.4，所述弹簧8.4 两端分别与防脱块7.21顶部和空腔7.11顶壁固定相连，所述指示灯二8.3位于支撑板7.1顶部。

所述门型支架4一侧设有控制盒13，所述指示灯一14位于控制盒13上，所述控制盒13 上设有用于控制电动推杆一5、电动推杆二9和电动推杆三10的控制按钮，所述控制盒13内部设有控制芯片，所述导电笔一与导电笔二串联后与控制芯片是输入端相连，限位开关一 11、限位开关二12和控制按钮均与控制芯片的输入端相连，所述电动推杆一5、电动推杆二 9和电动推杆三10与控制芯片的输出端电性相连。

本实用新型在具体实施时，在放入检测装置之前先将待检测电子元件安装在模具上，防止电子元件底部不规则，导电笔按压时，不方便准确接触电子元件的电路连接点；工作人员推动带有待检测电子元件的模具，从进口槽向检测装置内部移动，当接触到限位开关一后，控制芯片控制电动推杆一向下移动，带动导电笔一和导电笔二接触电子元件的电路连接点，如果导通，则指示灯一亮，(同时控制芯片收到信号，等待限位开关二被碰到，控制电动推杆三启动)，电动推杆一带动检测装置提升到最高处后，电动推杆二推动模具向第一出口槽出口处移动，当模具压倒限位开关二时，电动推杆二缩回，电动推杆三启动，推动模具向第二出口槽，从而使模具带着合格的电子元件滑到与第二出口槽对应的运输装置里，运送到下一工位处；如果不导通则指示灯一不亮，电动推杆一带动检测装置提升到最高处后，电动推杆二推动模具向第一出口槽出口处移动，并滑进对应的运输装置内，运送回原工位进行修改；在导电笔接触待检测元件后，电动推杆一继续向下压，保证导电笔与待检测元件接触良好，(在此过程中，防脱板向空腔内部移动，弹簧压缩导电块一与导电块二相互接触时，指示灯二两表示，按压到位，电动推杆一停止)；如果控制芯片出现问题，后可以人工按动控制按钮，控制电动推杆一、电动推杆二、电动推杆三启停。

以上对本实用新型及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1.一种电子元件性能检测装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上开设有π字形槽，所述π字形槽包括进口槽(2.1)、第一出口槽(2.2)和第二出口槽(2.3)，所述第一出口槽(2.2)和第二出口槽(2.3)末端均连接有运输装置(3)，所述底座(1)顶部设有门型支架(4)，所述门型支架(4)顶部设有电动推杆一(5)，所述电动推杆一(5)的伸缩杆末端固定连接有安装板(6)，所述安装板(6)底部设有检测装置(7)，所述检测装置(7)通过固定螺丝固定安装在安装板(6)上，所述检测装置(7)包括支撑板(7.1)、导电笔(7.2)，所述导电笔(7.2)个数为两个，所述门型支架(4)侧壁上设有用于指示检测结果的指示灯一(14)，两个导电笔(7.2)与指示灯一(14)电性相连，所述支撑板(7.1)内对应于导电笔(7.2)顶端设有空腔(7.11)，所述空腔(7.11)内部设有按压指示装置(8)，所述底座(1)内部设有电动推杆二(9)和电动推杆三(10)，所述电动推杆二(9)位于第一出口槽(2.2)端部，所述电动推杆三(10)位于第一出口槽(2.2)侧壁上，并与第二出口槽(2.3)相对应，所述第一出口槽(2.2)侧壁上对应于进口槽(2.1)设有限位开关一(11)，第一出口槽(2.2)底部对应于第二出口槽(2.3)设有限位开关二(12)。

2.根据权利要求1所述的一种电子元件性能检测装置，其特征在于：所述运输装置(3)包括斜坡(3.1)和传送带(3.2)，所述斜坡(3.1)一端与第一出口槽(2.2)、第二出口槽(2.3)连接，另一端与传送带(3.2)连接，所述斜坡(3.1)两侧均设有挡板(3.11)。

3.根据权利要求1所述的一种电子元件性能检测装置，其特征在于：所述按压指示装置(8)包括导电块一(8.1)、导电块二(8.2)和指示灯二(8.3)，所述导电笔(7.2)顶部设有防脱块(7.21)，所述导电块一(8.1)和导电块二(8.2)分别与防脱块(7.21)顶部和空腔(7.11)顶壁固定相连，所述导电块一(8.1)和导电块二(8.2)周围设有弹簧(8.4)，所述弹簧(8.4)两端分别与防脱块(7.21)顶部和空腔(7.11)顶壁固定相连，所述指示灯二(8.3)位于支撑板(7.1)顶部。

4.根据权利要求1所述的一种电子元件性能检测装置，其特征在于：所述门型支架(4)一侧设有控制盒(13)，所述指示灯一(14)位于控制盒(13)上，所述控制盒(13)上设有用于控制电动推杆一(5)、电动推杆二(9)和电动推杆三(10)的控制按钮。

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