CN213903772U - 一种半导体测试机校准装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于半导体相关技术领域，具体涉及一种半导体测试机校准装置，包括底座，所述底座的顶部栓接有第一支撑架，所述第一支撑架的顶部栓接有第二支撑架，所述第二支撑架顶部的中心处栓接有控制箱，所述控制箱的内腔设置有校准机构，所述第二支撑架底部的中心处活动连接有测试仪。本实用新型通过第二齿轮、第二旋转轴、收卷辊、拉绳和夹持架的配合，收卷辊可通过拉绳带动夹持架对测试仪进行有效固定，防止测试仪在对半导体进行测试时发生位置歪斜晃动，从而使得测试仪可对半导体进行精准测试，有效保证对半导体测试结果的准确性，解决了传统的半导体测试机校准装置校准效果差的问题。

Description

一种半导体测试机校准装置

技术领域

本实用新型属于半导体相关技术领域，具体涉及一种半导体测试机校准装置。

背景技术

导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。

随着时代科技的进步，半导体在各个领域都有着及其广泛的应用，半导体在投入正常使用前，通常会对半导体进行一系列的测试，传统的半导体测试机校准装置校准效果差，半导体测试机在对半导体进行检测时，检测探头易发生歪斜，从而影响测试仪对半导体测试，使得测试结果不够精准，易造成半导体测试结果出现误差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体测试机校准装置，以解决上述背景技术中提出的传统的半导体测试机校准装置校准效果差的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种半导体测试机校准装置，包括底座，所述底座的顶部栓接有第一支撑架，所述第一支撑架的顶部栓接有第二支撑架，所述第二支撑架顶部的中心处栓接有控制箱，所述控制箱的内腔设置有校准机构，所述第二支撑架底部的中心处活动连接有测试仪，所述校准机构相向一侧的底部与测试仪的表面活动连接，所述底座顶部的中心处栓接有放置台，所述控制箱内腔两侧的顶部均栓接有固定座。

优选的，所述准机构包括步进电机、第一旋转轴、第一齿轮、第二齿轮、第二旋转轴、收卷辊、拉绳、夹持架、支撑杆和第一弹簧，所述控制箱内腔底部的右侧栓接有步进电机，所述步进电机的输出轴栓接有第一旋转轴，所述第一旋转轴的顶部通过轴承与控制箱内腔的顶部转动连接，所述第一旋转轴表面的底部栓接有第一齿轮，所述第一齿轮的表面啮合有第二齿轮，所述第二齿轮的内腔栓接有第二旋转轴，所述第二旋转轴的顶部和底部均通过轴承与控制箱内腔的顶部和底部转动连接，所述第一旋转轴和第二旋转轴表面的顶部均栓接有收卷辊，所述收卷辊的表面缠绕有拉绳，所述拉绳的远离收卷辊的一侧栓接有夹持架，所述夹持架相向一侧的底部贯穿至第二支撑架的底部并与测试仪的表面活动连接，所述夹持架外侧的顶部栓接有支撑杆，所述支撑杆的外侧贯穿至固定座的内腔顶栓接有支撑板，且支撑板外侧的顶部和底部均栓接有第一弹簧，所述第一弹簧的外侧与固定座内腔的外侧栓接。

优选的，所述控制箱内腔底部的两侧均栓接有第一连接板，所述第一连接板外侧的正面和背面均栓接有滑杆，所述滑杆的外侧与控制箱内腔的外侧栓接，所述夹持架相向一侧的正面和背面均嵌设有滑套，所述滑套的内腔与滑杆的表面滑动连接。

优选的，所述控制箱内腔顶部的两侧均开设有滑槽，所述滑槽的内腔滑动连接有与夹持架配合使用的滑块。

优选的，所述第二支撑架底部的两侧均栓接有第二连接板，所述第二连接板相向一侧的正面和背面均栓接有第二弹簧，所述第二弹簧相向的一侧与夹持架外侧的底部栓接。

优选的，所述放置台顶部的中心处开设有凹槽，所述凹槽的内腔通过强力胶粘接有保护垫。

优选的，所述夹持架相向一侧的底部开设有与测试仪配合使用的弧形槽，所述第一支撑架顶部两侧的正面均开设有置物槽。

本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过步进电机、第一旋转轴和第一齿轮的配合，为第二齿轮的转动提供动力驱动来源，通过第一弹簧的配合，第一弹簧的弹性势能便于带动夹持架进行弹性复位，通过第二齿轮、第二旋转轴、收卷辊、拉绳和夹持架的配合，收卷辊可通过拉绳带动夹持架对测试仪进行有效固定，防止测试仪在对半导体进行测试时发生位置歪斜晃动，从而使得测试仪可对半导体进行精准测试，有效保证对半导体测试结果的准确性，解决了传统的半导体测试机校准装置校准效果差的问题。

2、本实用新型通过第一连接板、滑杆和滑套的配合，防止夹持架在移动过程中发生位置偏移，从而使得夹持架可平稳进行移动，通过滑槽和滑块的配合，对夹持架的移动起到滑动限位的作用，进一步增强了夹持架移动时的稳定性，通过第二连接板和第二弹簧的配合，进一步增强对夹持架的拉力，同时也对夹持架底部的移动起到弹性缓冲的作用，通过凹槽和保护垫的配合，防止半导体在放置台上发生掉落，对半导体起到有效保护作用，通过弧形槽的配合，弧形槽使得夹持架与测试仪之间的贴合度更高，更加有利于夹持架对测试仪的校准，置物槽的配合，便于使用者放置操作工具，给使用者的工作带来一定便捷性。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制，在附图中：

图1为本实用新型提出的一种半导体测试机校准装置示意图；

图2为本实用新型提出的一种半导体测试机校准装置的结构局部剖面图；

图3为本实用新型提出的夹持架的局部立体图；

图例说明：1、底座；2、第一支撑架；3、第二支撑架；4、控制箱；5、校准机构；51、步进电机；52、第一旋转轴；53、第一齿轮；54、第二齿轮；55、第二旋转轴；56、收卷辊；57、拉绳；58、夹持架；59、支撑杆；510、第一弹簧；6、测试仪；7、放置台；8、固定座；9、第一连接板；10、滑杆；11、滑套；12、滑槽；13、滑块；14、第二连接板；15、第二弹簧；16、凹槽；17、置物槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-图3，一种半导体测试机校准装置，包括底座1，底座1的顶部栓接有第一支撑架2，第一支撑架2的顶部栓接有第二支撑架3，第二支撑架3顶部的中心处栓接有控制箱4，控制箱4的内腔设置有校准机构5，第二支撑架3底部的中心处活动连接有测试仪6，校准机构5相向一侧的底部与测试仪6的表面活动连接，底座1顶部的中心处栓接有放置台7，控制箱4内腔两侧的顶部均栓接有固定座8。本实用新型通过步进电机51、第一旋转轴52和第一齿轮53的配合，为第二齿轮54的转动提供动力驱动来源，通过第一弹簧510的配合，第一弹簧510的弹性势能便于带动夹持架58进行弹性复位，通过第二齿轮54、第二旋转轴55、收卷辊56、拉绳57和夹持架58的配合，收卷辊56可通过拉绳57带动夹持架58对测试仪6进行有效固定，防止测试仪6在对半导体进行测试时发生位置歪斜晃动，从而使得测试仪6可对半导体进行精准测试，有效保证对半导体测试结果的准确性，解决了传统的半导体测试机校准装置校准效果差的问题。

校准机构5包括步进电机51、第一旋转轴52、第一齿轮53、第二齿轮54、第二旋转轴55、收卷辊56、拉绳57、夹持架58、支撑杆59和第一弹簧510，控制箱4内腔底部的右侧栓接有步进电机51，步进电机51的输出轴栓接有第一旋转轴52，第一旋转轴52的顶部通过轴承与控制箱4内腔的底部转动连接，第一旋转轴52表面的底部栓接有第一齿轮53，为第二齿轮54的转动提供动力驱动来源，第一齿轮53的表面啮合有第二齿轮54，第二齿轮54的内腔栓接有第二旋转轴55，第二旋转轴55的顶部和底部均通过轴承与控制箱4内腔的顶部和底部转动连接，第一旋转轴52和第二旋转轴55表面的顶部均栓接有收卷辊56，收卷辊56的表面缠绕有拉绳57，拉绳57的远离收卷辊56的一侧栓接有夹持架58，收卷辊56可通过拉绳57带动夹持架58对测试仪6进行有效固定，防止测试仪6在对半导体进行测试时发生位置歪斜晃动，从而使得测试仪6可对半导体进行精准测试，有效保证对半导体测试结果的准确性，夹持架58相向一侧的底部贯穿至第二支撑架3的底部并与测试仪6的表面活动连接，夹持架58外侧的顶部栓接有支撑杆59，支撑杆59的外侧贯穿至固定座8的内腔顶栓接有支撑板，且支撑板外侧的顶部和底部均栓接有第一弹簧510，第一弹簧510的弹性势能便于带动夹持架58进行弹性复位，第一弹簧510的外侧与固定座8内腔的外侧栓接。

控制箱4内腔底部的两侧均栓接有第一连接板9，第一连接板9外侧的正面和背面均栓接有滑杆10，滑杆10的外侧与控制箱4内腔的外侧栓接，夹持架58相向一侧的正面和背面均嵌设有滑套11，滑套11的内腔与滑杆10的表面滑动连接，防止夹持架58在移动过程中发生位置偏移，从而使得夹持架58可平稳进行移动。

控制箱4内腔顶部的两侧均开设有滑槽12，滑槽12的内腔滑动连接有与夹持架58配合使用的滑块13，对夹持架58的移动起到滑动限位的作用，进一步增强了夹持架58移动时的稳定性。

第二支撑架3底部的两侧均栓接有第二连接板14，第二连接板14相向一侧的正面和背面均栓接有第二弹簧15，第二弹簧15相向的一侧与夹持架58外侧的底部栓接，进一步增强对夹持架58的拉力，同时也对夹持架58底部的移动起到弹性缓冲的作用。

放置台7顶部的中心处开设有凹槽16，凹槽16的内腔通过强力胶粘接有保护垫，防止半导体在放置台7上发生掉落，对半导体起到有效保护作用。

夹持架58相向一侧的底部开设有与测试仪6配合使用的弧形槽，弧形槽使得夹持架58与测试仪6之间的贴合度更高，更加有利于夹持架58对测试仪6的校准，第一支撑架2顶部两侧的正面均开设有置物槽17，便于使用者放置操作工具，给使用者的工作带来一定便捷性。

工作原理：使用者将半导体放置在凹槽16内，随后将测试仪6调整至最佳测试角度，接着使用者通过控制器启动步进电机51工作，此时步进电机51的输出轴带动第一旋转轴52转动，则第一旋转轴52带动第一齿轮53进行正转，从而第一齿轮53带动第二齿轮54进行反转，接着第二齿轮54带动第二旋转轴55反转，此时第一旋转轴52和第二旋转轴55分别带动收卷辊56进行反向转动，从而收卷辊56可对拉绳57进行收卷，此时拉绳57带动夹持架58通过滑块13和滑套11平稳向内侧移动，直至夹持架58与测试仪6固定贴合，即可完成对测试仪6的精确校准作业。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种半导体测试机校准装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部栓接有第一支撑架(2)，所述第一支撑架(2)的顶部栓接有第二支撑架(3)，所述第二支撑架(3)顶部的中心处栓接有控制箱(4)，所述控制箱(4)的内腔设置有校准机构(5)，所述第二支撑架(3)底部的中心处活动连接有测试仪(6)，所述校准机构(5)相向一侧的底部与测试仪(6)的表面活动连接，所述底座(1)顶部的中心处栓接有放置台(7)，所述控制箱(4)内腔两侧的顶部均栓接有固定座(8)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试机校准装置，其特征在于：所述校准机构(5)包括步进电机(51)、第一旋转轴(52)、第一齿轮(53)、第二齿轮(54)、第二旋转轴(55)、收卷辊(56)、拉绳(57)、夹持架(58)、支撑杆(59)和第一弹簧(510)，所述控制箱(4)内腔底部的右侧栓接有步进电机(51)，所述步进电机(51)的输出轴栓接有第一旋转轴(52)，所述第一旋转轴(52)的顶部通过轴承与控制箱(4)内腔的顶部转动连接，所述第一旋转轴(52)表面的底部栓接有第一齿轮(53)，所述第一齿轮(53)的表面啮合有第二齿轮(54)，所述第二齿轮(54)的内腔栓接有第二旋转轴(55)，所述第二旋转轴(55)的顶部和底部均通过轴承与控制箱(4)内腔的顶部和底部转动连接，所述第一旋转轴(52)和第二旋转轴(55)表面的顶部均栓接有收卷辊(56)，所述收卷辊(56)的表面缠绕有拉绳(57)，所述拉绳(57)的远离收卷辊(56)的一侧栓接有夹持架(58)，所述夹持架(58)相向一侧的底部贯穿至第二支撑架(3)的底部并与测试仪(6)的表面活动连接，所述夹持架(58)外侧的顶部栓接有支撑杆(59)，所述支撑杆(59)的外侧贯穿至固定座(8)的内腔顶栓接有支撑板，且支撑板外侧的顶部和底部均栓接有第一弹簧(510)，所述第一弹簧(510)的外侧与固定座(8)内腔的外侧栓接。

3.根据权利要求2所述的一种半导体测试机校准装置，其特征在于：所述控制箱(4)内腔底部的两侧均栓接有第一连接板(9)，所述第一连接板(9)外侧的正面和背面均栓接有滑杆(10)，所述滑杆(10)的外侧与控制箱(4)内腔的外侧栓接，所述夹持架(58)相向一侧的正面和背面均嵌设有滑套(11)，所述滑套(11)的内腔与滑杆(10)的表面滑动连接。

4.根据权利要求2所述的一种半导体测试机校准装置，其特征在于：所述控制箱(4)内腔顶部的两侧均开设有滑槽(12)，所述滑槽(12)的内腔滑动连接有与夹持架(58)配合使用的滑块(13)。

5.根据权利要求2所述的一种半导体测试机校准装置，其特征在于：所述第二支撑架(3)底部的两侧均栓接有第二连接板(14)，所述第二连接板(14)相向一侧的正面和背面均栓接有第二弹簧(15)，所述第二弹簧(15)相向的一侧与夹持架(58)外侧的底部栓接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体测试机校准装置，其特征在于：所述放置台(7)顶部的中心处开设有凹槽(16)，所述凹槽(16)的内腔通过强力胶粘接有保护垫。

7.根据权利要求2所述的一种半导体测试机校准装置，其特征在于：所述夹持架(58)相向一侧的底部开设有与测试仪(6)配合使用的弧形槽，所述第一支撑架(2)顶部两侧的正面均开设有置物槽(17)。

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