CN213631986U - 一种双激光对射式厚度检测机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供的一种双激光对射式厚度检测机构，包括上调节模块、固定在所述上调节模块输出端的上激光头、下调节模块、固定在所述下调节模块输出端的下激光头、以及位于所述上激光头与所述下激光头之间的产品夹持模块，所述上激光头与所述下激光头相对设置，所述产品夹持模块包括支撑板、固定在所述支撑板上的底板、位于所述底板上侧的盖板，所述底板与所述盖板上均开设有若干避让孔。本实用新型的双激光对射式厚度检测机构，设置有上激光头和下激光头，利用上激光与下激光的配合测量出键盘支架弯折部的厚度，减少了测量误差，提高了测量精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及激光测量技术领域，具体涉及一种双激光对射式厚度检测机构。
背景技术
键盘支架是键盘中的一个重要部件，是由合金板经过裁切、冲压后制成，其结构如图1～2所示，键盘支架6中具有多个小孔61，小孔内侧具有向下凹陷的弯折部62。通常经过冲压后的键盘支架6，需要进行小孔尺寸测试以及弯折部的厚度测试，常规的弯折部的厚度测试手段是先将键盘支架6反放在检测设备的激光头下方，直接通过激光头测试弯折部的高度，由于键盘支架6的厚度较薄，测试过程中键盘支架6容易变形，即键盘支架6的底部并不在同样水平面上，极易产生测量误差。
实用新型内容
针对以上问题，本实用新型提供一种双激光对射式厚度检测机构，设置有上激光头和下激光头，利用上激光与下激光的配合测量出键盘支架弯折部的厚度，减少了测量误差，提高了测量精度。
为实现上述目的，本实用新型通过以下技术方案来解决：
一种双激光对射式厚度检测机构，包括上调节模块、固定在所述上调节模块输出端的上激光头、下调节模块、固定在所述下调节模块输出端的下激光头、以及位于所述上激光头与所述下激光头之间的产品夹持模块，所述上激光头与所述下激光头相对设置，所述产品夹持模块包括支撑板、固定在所述支撑板上的底板、位于所述底板上侧的盖板，所述底板与所述盖板上均开设有若干避让孔。
具体的，所述上调节模块包括上安装板、与所述上安装板滑动连接的上滑块、位于所述上安装板一侧的侧板、固定在所述侧板上的千分尺旋钮，所述上滑块为所述上调节模块的输出端，所述上激光头固定在所述上滑块一端，所述千分尺旋钮的输出轴靠向所述上滑块一侧设置，所述上滑块远离所述千分尺旋钮一端还连接有弹簧，所述弹簧另一端与所述上安装板固定连接，所述上安装板上设有沿x轴方向的上滑槽，所述上滑块活动于所述上滑槽内侧。
具体的，所述下调节模块包括下安装板、与所述下安装板滑动连接的下滑块，所述下滑块为所述下调节模块的输出端，所述下激光头固定在所述下滑块一端，所述下安装板上设有沿y轴方向的下滑槽，所述下滑块活动于所述下滑槽内侧，所述下安装板上设有第一条形孔，所述下滑块上设有与所述第一条形孔位置相对应的螺孔，所述下安装板与所述下滑块通过螺丝与所述螺孔的配合固定。
具体的，所述盖板两端还设有第二条形孔。
具体的，所述支撑板有两个，两个所述支撑板分别固定在所述底板下端，两个所述支撑板之间形成一个测试避让区。
本实用新型的有益效果是：
本实用新型的双激光对射式厚度检测机构，设置了产品夹持模块，产品夹持模块包括支撑板、底板、盖板，键盘支架放置在底板与盖板之间，测量时，键盘支架位于上激光头与下激光头之间，利用上激光与下激光的配合测量出键盘支架弯折部的厚度，减少了测量误差，提高了测量精度。
附图说明
图1为键盘支架的结构示意图。
图2为图1中B部分的放大图。
图3为本实用新型的一种双激光对射式厚度检测机构的立体结构图。
图4为本实用新型的一种双激光对射式厚度检测机构的主视图。
图5为图4中A-A面的剖面图。
图6为本实用新型的一种双激光对射式厚度检测机构测量的测量原理图。
附图标记为：上调节模块1、上安装板11、上滑块12、侧板13、千分尺旋钮14、弹簧101、上滑槽102、上激光头2、下调节模块3、下安装板31、下滑块32、下滑槽301、第一条形孔302、下激光头4、产品夹持模块5、支撑板51、底板52、盖板53、第二条形孔531、避让孔501、键盘支架6、小孔61、折弯部62。
具体实施方式
下面结合实施例和附图对本实用新型作进一步详细的描述，但本实用新型的实施方式不限于此。
参照图1-6所示：
一种双激光对射式厚度检测机构，包括上调节模块1、固定在上调节模块1输出端的上激光头2、下调节模块3、固定在下调节模块3输出端的下激光头4、以及位于上激光头2与下激光头4之间的产品夹持模块5，上激光头2与下激光头4相对设置，产品夹持模块5包括支撑板51、固定在支撑板51上的底板52、位于底板52上侧的盖板53，底板52与盖板53上均开设有若干避让孔501，避让孔501的位置以及尺寸均根据待测产品键盘支架6上的小孔61、折弯部62位置设计，测量前，先取出盖板53，将键盘支架6放置在底板52上，盖上盖板53，使键盘支架6夹设于底板52与盖板53之间，由于底板52上端面与盖板53下端面具有平整的平面，因此保证了键盘支架6的平整度，另外为了使键盘支架6能够移动，产品夹持模块5需要放置在一个可沿x轴、y轴移动的驱动平台上，以确保键盘支架6上的每个折弯部62都能完成测量；测量时，先利用上激光头2或下激光头4测量出上激光头2与下激光头4之间的距离h，再利用驱动平台将键盘支架6上的其中一个折弯部62移动至上激光头2与下激光头4之间，通过上激光头2测量出上激光头2与折弯部62上端的距离m，通过下激光头4测量出下激光头4与折弯部62下端的距离n，然后通过公式p＝h-m-n计算出折弯部62的厚度p。
优选的，上调节模块1用于调整以及固定上激光头2在x轴方向上的位置，上调节模块1包括上安装板11、与上安装板11滑动连接的上滑块12、位于上安装板11一侧的侧板13、固定在侧板13上的千分尺旋钮14，上滑块12为上调节模块1的输出端，上激光头2固定在上滑块12一端，千分尺旋钮14的输出轴靠向上滑块12一侧设置，上滑块12远离千分尺旋钮14一端还连接有弹簧101，弹簧101另一端与上安装板11固定连接，上安装板11上设有沿x轴方向的上滑槽102，上滑块12活动于上滑槽102内侧。
优选的，下调节模块3用于调整以及固定下激光头4在y轴方向上的位置，下调节模块3包括下安装板31、与下安装板31滑动连接的下滑块32，下滑块32为下调节模块3的输出端，下激光头4固定在下滑块32一端，下安装板31上设有沿y轴方向的下滑槽301，下滑块32活动于下滑槽301内侧，下安装板31上设有第一条形孔302，下滑块32上设有与第一条形孔302位置相对应的螺孔，下安装板31与下滑块32通过螺丝与螺孔的配合固定。
优选的，为了方便工作人员取出或放置盖板53，盖板53两端还设有第二条形孔531。
优选的，支撑板51有两个，两个支撑板51分别固定在底板52下端，两个支撑板51之间形成一个测试避让区。
以上实施例仅表达了本实用新型的一种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (5)
1.一种双激光对射式厚度检测机构，其特征在于，包括上调节模块(1)、固定在所述上调节模块(1)输出端的上激光头(2)、下调节模块(3)、固定在所述下调节模块(3)输出端的下激光头(4)、以及位于所述上激光头(2)与所述下激光头(4)之间的产品夹持模块(5)，所述上激光头(2)与所述下激光头(4)相对设置，所述产品夹持模块(5)包括支撑板(51)、固定在所述支撑板(51)上的底板(52)、位于所述底板(52)上侧的盖板(53)，所述底板(52)与所述盖板(53)上均开设有若干避让孔(501)。
2.根据权利要求1所述的一种双激光对射式厚度检测机构，其特征在于，所述上调节模块(1)包括上安装板(11)、与所述上安装板(11)滑动连接的上滑块(12)、位于所述上安装板(11)一侧的侧板(13)、固定在所述侧板(13)上的千分尺旋钮(14)，所述上滑块(12)为所述上调节模块(1)的输出端，所述上激光头(2)固定在所述上滑块(12)一端，所述千分尺旋钮(14)的输出轴靠向所述上滑块(12)一侧设置，所述上滑块(12)远离所述千分尺旋钮(14)一端还连接有弹簧(101)，所述弹簧(101)另一端与所述上安装板(11)固定连接，所述上安装板(11)上设有沿x轴方向的上滑槽(102)，所述上滑块(12)活动于所述上滑槽(102)内侧。
3.根据权利要求1所述的一种双激光对射式厚度检测机构，其特征在于，所述下调节模块(3)包括下安装板(31)、与所述下安装板(31)滑动连接的下滑块(32)，所述下滑块(32)为所述下调节模块(3)的输出端，所述下激光头(4)固定在所述下滑块(32)一端，所述下安装板(31)上设有沿y轴方向的下滑槽(301)，所述下滑块(32)活动于所述下滑槽(301)内侧，所述下安装板(31)上设有第一条形孔(302)，所述下滑块(32)上设有与所述第一条形孔(302)位置相对应的螺孔，所述下安装板(31)与所述下滑块(32)通过螺丝与所述螺孔的配合固定。
4.根据权利要求1所述的一种双激光对射式厚度检测机构，其特征在于，所述盖板(53)两端还设有第二条形孔(531)。
5.根据权利要求1所述的一种双激光对射式厚度检测机构，其特征在于，所述支撑板(51)有两个，两个所述支撑板(51)分别固定在所述底板(52)下端，两个所述支撑板(51)之间形成一个测试避让区。
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| CN202022610702.5U CN213631986U (zh) | 2020-11-12 | 2020-11-12 | 一种双激光对射式厚度检测机构 |
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|---|---|---|---|
| CN202022610702.5U Active CN213631986U (zh) | 2020-11-12 | 2020-11-12 | 一种双激光对射式厚度检测机构 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114705129A (zh) * | 2022-05-06 | 2022-07-05 | 沛顿科技（深圳）有限公司 | 一种封装基板形变测量设备及其方法 |
| CN116929226A (zh) * | 2023-08-01 | 2023-10-24 | 江西超音速人工智能科技有限公司 | 一种工件厚度测量装置 |
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