CN212781024U - 一种元器件综合检测仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种元器件综合检测仪，包括机壳,所述机壳一侧设有测试面板，所述测试面板顶部一端设有显示电源和工作电源，所述测试面板一端设有综合信号、模拟输入、模拟输出和模拟信号，所述测试面板中部设有测试通道，且测试通道共设有三个，所述测试面板另一端设有测试电源和测试信号灯。元器件综合检测仪主机内部的硬件电路大量采用CPLD可编程高集成技术，具有80路数字通道/160路VI曲线通道/28路模拟功能通道，多路可扩展端子通道，配合系统软件检测程序。能够针对元器件特定失效模式专门构建具体型号的筛选模型，从而建立大量元器件筛选库，对各种电子元器件提供有效便捷的检测手段。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试仪领域，尤其涉及一种元器件综合检测仪。
背景技术
在众多元器件中，每个元器件都有自己的用途，元器件的使用功能各种各样，在使用前必须要给对应的元器件分别进行检测，在传统元器件综合检测仪中，无法对功能、参数及性能进行稳定的测试，而且无法进行多中元器件进行检测，这在对元器件的筛选时会产生一定的误差。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种元器件综合检测仪。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种元器件综合检测仪，包括机壳,所述机壳一侧设有测试面板，所述测试面板顶部一端设有显示电源和工作电源，所述测试面板一端设有综合信号、模拟输入、模拟输出和模拟信号，所述测试面板中部设有测试通道，且测试通道共设有三个，所述测试面板另一端设有测试电源和测试信号灯。
进一步的，所述测试电源共有5种，5种所述测试电源分别为+5V/5A、+12V/2.5A、+3.3V/3A、-12V/2.5A和-5V/2A。
进一步的，所述机壳支持USB3.0接口，所述机壳支撑高速PCI卡。
进一步的，所述机壳内设有VI测试扫描电压和VI测试抗阻中值，所述VI测试扫描电压-25V～+25V,±1V～±25V调节精度0.5V，所述VI测试抗阻中值分别为100Ω/1kΩ/10kΩ/100kΩ/470kΩ。
本实用新型的有益效果为：
元器件综合检测仪主机内部的硬件电路大量采用CPLD可编程高集成技术，具有80路数字通道/160路VI曲线通道/28路模拟功能通道，多路可扩展端子通道，配合系统软件检测程序。能够针对元器件特定失效模式专门构建具体型号的筛选模型，从而建立大量元器件筛选库，对各种电子元器件提供有效便捷的检测手段。
附图说明
图1为提出的一种元器件综合检测仪的机壳立体结构示意图。
图中：1-机壳、2-测试面板、3-显示电源、4-工作电源、5-综合信号、6-模拟输入、7-模拟输出、8-模拟信号、9-测试通道、10-测试电源、11-测试信号灯。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
下面详细描述本专利的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利，而不能理解为对本专利的限制。
在本专利的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利的限制。
在本专利的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解，例如，可以是固定相连、设置，也可以是可拆卸连接、设置，或一体地连接、设置。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利中的具体含义。
参照图1，一种元器件综合检测仪，包括机壳1,机壳1一侧设有测试面板2，测试面板2上进行多种线路的对接，测试面板2顶部一端设有显示电源3和工作电源4，显示电源3用来显示电路的接通或运行状态，工作电源4为总电源的显示状态，测试面板2一端设有综合信号5、模拟输入6、模拟输出7和模拟信号8，分别对应连接不同的接口，来进行对应的测试，测试面板2中部设有测试通道9，测试通道可以让入芯片进行检测，且测试通道9共设有三个，测试面板2另一端设有测试电源10和测试信号灯11，测试电源10有不同的连接点，信号灯11显示接通状态。
其中，测试电源10共有5种，5种测试电源10分别为+5V/5A、+12V/2.5A、+3.3V/3A、-12V/2.5A和-5V/2A，机壳1支持USB3.0接口，机壳1支撑高速PCI卡，机壳1内设有VI测试扫描电压和VI测试抗阻中值，VI测试扫描电压-25V～+25V,±1V～±25V调节精度0.5V，VI测试抗阻中值分别为100Ω/1kΩ/10kΩ/100kΩ/470kΩ。
工作原理：在测试使用时，将电子元件进行与机壳对接，保持工作电源为亮灯状态，对接相应的测试电源后，即可选择模拟信号、模拟输入和模拟输出，即可得出相应电子元件的功能、参数和性能。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种元器件综合检测仪，包括机壳(1),其特征在于，所述机壳(1)一侧设有测试面板(2)，所述测试面板(2)顶部一端设有显示电源(3)和工作电源(4)，所述测试面板(2)一端设有综合信号(5)、模拟输入(6)、模拟输出(7)和模拟信号(8)，所述测试面板(2)中部设有测试通道(9)，且测试通道(9)共设有三个，所述测试面板(2)另一端设有测试电源(10)和测试信号灯(11)。
2.根据权利要求1所述的一种元器件综合检测仪，其特征在于，所述测试电源(10)共有5种，5种所述测试电源(10)分别为+5V/5A、+12V/2.5A、+3.3V/3A、-12V/2.5A和-5V/2A。
3.根据权利要求1所述的一种元器件综合检测仪，其特征在于，所述机壳(1)支持USB3.0接口，所述机壳(1)支撑高速PCI卡。
4.根据权利要求1所述的一种元器件综合检测仪，其特征在于，所述机壳(1)内设有VI测试扫描电压和VI测试抗阻中值，所述VI测试扫描电压-25V～+25V,±1V～±25V调节精度0.5V，所述VI测试抗阻中值分别为100Ω/1kΩ/10kΩ/100kΩ/470kΩ。
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2020
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