CN218481612U - 一种基于ate系统的通用mcu测试板卡 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及芯片制造用测试设备技术领域，具体涉及一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡，其包括主控器、PMU测量单元、数字通道和DPS供电模块；所述PMU测量单元和所述数字通道通过模拟开关切换接入待测IC的GPIO；所述DPS供电模块向待测IC提供需要的工作电压和电流；所述PMU测量单元、所述数字通道和所述DPS供电模块均与所述主控器信号连接；所述主控器通过USART接口与PC端进行交互。本实用新型的有益效果为：模拟ATE测试流程，以最低的成本实现了对通用MCU的功能测试。该设备不仅能实现ATE测试设备的主要功能，而且相对于ATE设备而言，其成本更是大大降低。且该设备针对不同的MCU芯片可以进行与之对应的改动以实现更多的MCU芯片测试功能。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片制造用测试设备技术领域，具体涉及一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡。
背景技术
在芯片设计制造过程中，FT（Final Test）是必不可少的一个环节。而进行FT测试时，一般会使用目前比较成熟的，如Advantest、Teradyne和Chroma等产商的设备，这些设备的使用成本都比较高，且周期长。
因此，需要一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡，以解决上述问题。
实用新型内容
为了解决上述问题，即为了解决FT测试成本高、周期长的问题，本实用新型提供了一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡，其包括主控器、PMU测量单元、数字通道和DPS供电模块；
所述PMU测量单元和所述数字通道通过模拟开关切换接入待测IC的GPIO；
所述DPS供电模块向待测IC提供需要的工作电压和电流；
所述PMU测量单元、所述数字通道和所述DPS供电模块均与所述主控器信号连接；
所述主控器通过USART接口与PC端进行交互。
进一步的，还包括ADC/DAC测量单元，其中：
所述ADC/DAC测量单元接入待测IC的ADC/DAC通道；
所述ADC/DAC测量单元与所述主控器信号连接。
本实用新型的有益效果为：
模拟ATE测试流程，以最低的成本实现了对通用MCU的功能测试。该设备不仅能实现ATE测试设备的主要功能，而且相对于ATE设备而言，其成本更是大大降低。且该设备针对不同的MCU芯片可以进行与之对应的改动以实现更多的MCU芯片测试功能。
附图说明
图1为一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡一实施例的控制框图。
图中：
100、PC；
200、MCU测试板卡；210、主控器；220、PMU单元；230、数字通道；
240、DPS供电模块；250、ADC/DAC测量单元；
300、待测IC。
具体实施方式
下面参照附图来描述本实用新型的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本实用新型的技术原理，并非旨在限制本实用新型的保护范围。
出于考虑：基于ATE测试流程设计的MCU测试板卡就可以在芯片工程批期间替代这些大厂的测试设备来对芯片进行FT测试。参见图1，该MCU测试板卡200主要由PMU测量单元、DPS供电模块和ADC/DAC测量单元等组成，实现了对待测MCU的信号激励、信号抓取、I/O管脚参数测量、电源管脚参数测量、运行功耗测量、频率测量、ADC/DAC性能测量等功能。
本实用新型实施例公开的一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡，其包括主控器210、PMU测量单元220、数字通道230和DPS供电模块240；
所述PMU测量单元和所述数字通道通过模拟开关切换接入待测IC300（即图1中的DUT，亦即，Device Under Test）的GPIO；
所述DPS供电模块向待测IC提供需要的工作电压和电流；
所述PMU测量单元、所述数字通道和所述DPS供电模块均与所述主控器信号连接；
所述主控器通过USART接口与PC100端进行交互。
还需要说明的是，有些实施例还包括ADC/DAC测量单元250，其中：
所述ADC/DAC测量单元接入待测IC的ADC/DAC通道；
所述ADC/DAC测量单元与所述主控器信号连接。
该方法使用了一颗STM32F746ZET6（主控器）来实现整个测量板卡的控制与数据采集，并通过串口与上位机通信；外部的各个测量单元模块都是相互独立的模块，各自连接到待测IC对应的端口，并受主控器的控制去对待测IC进行测试。
PMU测量单元和数字通道通过模拟开关切换接入待测IC的GPIO，可以实现待测IC的I/O电气参数以及激励信号的输入和输出信号的检测功能；DPS供电模块向待测IC提供需要的工作电压和电流，同时具备工作电流测量的功能，实现待测IC的功耗测试；ADC/DAC测量单元接入待测IC的ADC/DAC通道，实现待测IC的ADC/DAC静态性能参数测试。整个测试板卡的测试动作、测试结果和测试数据都由USART接口和PC端进行交互，实现PC控制测试并收集测试数据。
需要说明的是，在本实用新型的描述中，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示方向或位置关系的术语是基于附图所示的方向或位置关系，这仅仅是为了便于描述，而不是指示或暗示所述装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
此外，还需要说明的是，在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
术语“包括”或者任何其它类似用语旨在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、物品或者设备/装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其它要素，或者还包括这些过程、物品或者设备/装置所固有的要素。
至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本实用新型的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本实用新型的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本实用新型的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征作出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本实用新型的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡，其特征在于，包括主控器、PMU测量单元、数字通道和DPS供电模块；
所述PMU测量单元和所述数字通道通过模拟开关切换接入待测IC的GPIO；
所述DPS供电模块向待测IC提供需要的工作电压和电流；
所述PMU测量单元、所述数字通道和所述DPS供电模块均与所述主控器信号连接；
所述主控器通过USART接口与PC端进行交互。
2.根据权利要求1所述的一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡，其特征在于，还包括ADC/DAC测量单元，其中：
所述ADC/DAC测量单元接入待测IC的ADC/DAC通道；
所述ADC/DAC测量单元与所述主控器信号连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202221397136.7U CN218481612U (zh) | 2022-06-07 | 2022-06-07 | 一种基于ate系统的通用mcu测试板卡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202221397136.7U CN218481612U (zh) | 2022-06-07 | 2022-06-07 | 一种基于ate系统的通用mcu测试板卡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN218481612U true CN218481612U (zh) | 2023-02-14 |
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ID=85163343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202221397136.7U Active CN218481612U (zh) | 2022-06-07 | 2022-06-07 | 一种基于ate系统的通用mcu测试板卡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN218481612U (zh) |
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2022
- 2022-06-07 CN CN202221397136.7U patent/CN218481612U/zh active Active
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