CN212749108U - 一种晶体晶振的电性能参数测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种晶体晶振的电性能参数测试设备，包括从上至下依次设置的上机架、工作大板、下机架，工作大板的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘的弹夹组件，两个弹夹组件的后方均设有用以移动晶体料盘的放料组件，放料组件的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件，两个弹夹组件之间设有用以测试电性能参数的测试组件。本实用新型所述的晶体晶振的电性能参数测试设备可以实现晶体的取料、放料、移动、测试、识别、排列的一体化测试设备，自动化程度高，操作方便。

Description

一种晶体晶振的电性能参数测试设备

技术领域

本实用新型属于晶体测试设备领域，尤其是涉及一种晶体晶振的电性能参数测试设备。

背景技术

目前晶体的电性能测试装置大多为分体式测试，晶体的进料、选料、测试、移动等均需要特定的设备逐一进行操作，需要的操作设备很多，且操作复杂，并且无法对晶体实现有序排列及识别，操作难度很大

发明内容

有鉴于此，本实用新型旨在提出一种晶体晶振的电性能参数测试设备，以实现晶体的取料、放料、移动、测试、识别、排列的一体化测试设备，自动化程度高，操作方便。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种晶体晶振的电性能参数测试设备，包括从上至下依次设置的上机架、工作大板、下机架，工作大板的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘的弹夹组件，两个弹夹组件的后方均设有用以移动晶体料盘的放料组件，放料组件的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件，两个弹夹组件之间设有用以测试电性能参数的测试组件。

进一步的，所述测试组件包括两组间隔设置的测试探针，测试探针可相对所述工作大板纵向移动，每组测试探针的上方均设有可相对测试探针横向移动的定位座，定位座的顶部向下开有可容纳晶体的定位槽。

每个测试探针顶部的定位槽内可根据需要用以测试不同的晶振结构。

进一步的，每组所述测试探针优选为四个，测试时，四个测试探针分别与其上方定位槽内的晶体底部的四个引脚接触，进而测量晶体的晶振的电性能参数。

进一步的，所述测试组件还包括定位板，定位板的顶部间隔设置有两个定位导轨，移动封板的底部间隔设有两个定位滑块，定位滑块与所述定位导轨滑动连接，移动封板通过定位滑块、定位导轨与所述定位板滑动连接，所述定位座固定于所述移动封板的底部。

移动封板与所述定位板滑动连接，进而带动移动封板底部的定位座滑动，进一步带动放置在定位座顶部定位槽内的晶体移动位置，以调整晶体的位置可以正好在测试探针的上方。

进一步的，所述测试组件还包括调节立板，调节立板与调节支撑板滑动连接，调节立板的上部与调节横板固定，调节横板的顶部设有所述测试探针。

调节立板在外部气缸或电机的带动下沿着调节支撑板进行纵向的移动，进而带动调节立板上部的调节横板及测试探针进行纵向移动，直至测试探针的顶部可以接触到测试探针上方定位槽内的晶体底部。

进一步的，所述弹夹组件包括弹夹盒，弹夹盒内从上至下间隔放置有多个可抽拉的料盘，料盘内设有多个用以放置晶体的料孔，料盘远离所述放料组件的一端设有定位孔。

进一步的，所述弹夹组件还包括弹夹移动组件，弹夹移动组件包括弹夹移动电机，弹夹移动电机与移动电机丝杆连接，移动电机丝杆与弹夹滑块配合，弹夹滑块与弹夹支撑板规定，弹夹支撑板的顶部放置有所述弹夹盒。

进一步的，所述移动电机丝杠的外部设有多个挡板，用以保护移动电机丝杠。

进一步的，所述放料组件包括可相对所述工作大板横向移动的抓取舌板，抓取舌板靠近所述弹夹盒的一端设有与所述定位孔配合的定位销。

进一步的，所述放料组件还包括放料电机，放料电机与放料丝杆连接，放料丝杆与放料滑块配合，放疗滑块的顶部与所述抓取舌板固定。

进一步的，所述取料组件包括两个间隔设置的吸头组件，所述吸头组件可相对所述工作大板横向移动，吸头组件包括可相对所述工作大板纵向移动的用以吸取晶体的吸嘴。

所述吸嘴为真空吸头的吸嘴，利用抽真空的原理来吸取晶体，此为现有技术，在此不做赘述。

进一步的，所述吸头组件还包括吸头固定板，吸头固定板的前壁设有吸头滑轨，还包括吸头连接板，吸头连接板的后壁设有吸头滑块，吸头滑块与所述吸头滑轨滑动连接，所述吸头连接板的下方设有所述吸嘴。

进一步的，所述取料组件还包括取料固定板，取料电机通过吸头丝杠、吸头块的配合带动取料固定板相对工作大板横向移动，取料固定板的前壁设有所述吸头组件。

进一步的，所述取料固定板的一端设有上CCD组件，上CCD组件包括与取料固定板固定的相机连接板，相机连接板的前壁设有相机，相机镜头的下方设有同轴光源件，同轴光源件的顶部向下开有与相机镜头同轴设置的通孔，同轴光源件位于所述放料组件顶部放置的料盘上方。

上CCD组件进行对产品逐一识别印字并记录数据，实现对产品编码进行排序码料。

进一步的，所述上机架的顶部还设有图像识别及显示组件，图像识别及显示组件包括触摸屏、键盘、鼠标、显示屏。

相对于现有技术，本实用新型所述的晶体晶振的电性能参数测试设备具有以下优势：

(1)本实用新型所述的晶体晶振的电性能参数测试设备，实现晶体的取料、放料、移动、测试、识别、排列的一体化测试设备，自动化程度高，操作方便。

(2)本实用新型所述的晶体晶振的电性能参数测试设备，测试组件与吸头组件的配合，使得晶体的移动与测试定位准确，快速方便。

(3)本实用新型所述的晶体晶振的电性能参数测试设备，弹夹组件与放料组件的配合，使得晶体料片的放置、移动非常高效，且无需人工操作，自动化程度高。

(4)本实用新型所述的晶体晶振的电性能参数测试设备，图像识别及显示组件使得操作更加自动化，并且可以实时监测待测晶体的情况。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型实施例所述的测试设备结构示意图；

图2为本实用新型实施例所述的测试组件示意图；

图3为本实用新型说明书附图2中A的局部放大示意图；

图4为本实用新型实施例所述的定位机构的示意图；

图5为本实用新型实施例所述的弹夹组件的示意图；

图6为本实用新型实施例所述的弹夹盒示意图；

图7为本实用新型实施例所述的弹夹移动组件示意图；

图8为本实用新型实施例所述的放料组件的示意图；

图9为本实用新型实施例所述的取料组件示意图；

图10为本实用新型说明书附图9中A的局部放大示意图；

图11为本实用新型说明书附图9中B的局部方法示意图。

附图标记说明：

1-上机架；11-触摸屏；12-键盘；13-显示屏；14-鼠标；2-取料组件；21-吸头组件；211-吸头气缸；212-吸嘴；213-吸头连接板；214-吸头滑块；215-吸头滑轨；216-吸头固定板；22-进料轴支撑板；23-进料轴支撑柱；24-取料电机；25-取料固定板；3-工作大板；4-下机架；5-放料组件；51-放料电机；52-抓取舌板；53-定位销；54-放料滑块；6-弹夹组件；61-弹夹盒；611-横杆；612-料盘；6121-料孔；6122-定位孔；62-弹夹护罩；63-弹夹移动组件；631-移动电机丝杆；632-弹夹滑块；633-弹夹支撑板；634-弹夹移动电机；7-测试组件；71-定位机构；711-定位座；712-移动封板；713-定位滑块；714-定位槽；72-定位导轨；73-定位板；74-定位支撑板；75-调节座；76-测试机构；761-调节立板；762-探针座；763-测试探针；764-调节支撑板；765-调节横板；8-上CCD组件；81-相机连接板；82-相机镜头；83-同轴光源件。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。除非另有明确的规定和限定，术语“固定连接”可以是插接、焊接、螺纹连接、螺栓连接等常用的固定连接方式。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

如图所示，一种晶体晶振的电性能参数测试设备，包括从上至下依次设置的上机架1、工作大板3、下机架4，工作大板3的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘612的弹夹组件6，两个弹夹组件6的后方均设有用以移动晶体料盘612的放料组件5，放料组件5的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件2，两个弹夹组件6之间设有用以测试电性能参数的测试组件7。

所述测试组件7包括两组间隔设置的测试探针763，测试探针763可相对所述工作大板3纵向移动，每组测试探针763的上方均设有可相对测试探针763横向移动的定位座711，定位座711的顶部向下开有可容纳晶体的定位槽714。

每个测试探针763顶部的定位槽714内可根据需要用以测试不同的晶振结构。

每组所述测试探针763优选为四个，测试时，四个测试探针763分别与其上方定位槽714内的晶体底部的四个引脚接触，进而测量晶体的晶振的电性能参数。

所述测试组件7还包括定位板73，定位板73的顶部间隔设置有两个定位导轨72，移动封板712的底部间隔设有两个定位滑块713，定位滑块713与所述定位导轨72滑动连接，移动封板712通过定位滑块713、定位导轨72与所述定位板73滑动连接，所述定位座711固定于所述移动封板712的底部。

移动封板712与所述定位板73滑动连接，进而带动移动封板712底部的定位座711滑动，进一步带动放置在定位座711顶部定位槽714内的晶体移动位置，以调整晶体的位置可以正好在测试探针763的上方。

所述测试组件7还包括调节立板761，调节立板761与调节支撑板764滑动连接，调节立板761的上部与调节横板765固定，调节横板765的顶部设有所述测试探针763。

调节立板761在外部气缸或电机的带动下沿着调节支撑板764进行纵向的移动，进而带动调节立板761上部的调节横板765及测试探针763进行纵向移动，直至测试探针763的顶部可以接触到测试探针763上方定位槽714内的晶体底部。

所述弹夹组件6包括弹夹盒61，弹夹盒61内从上至下间隔放置有多个可抽拉的料盘612，料盘612内设有多个用以放置晶体的料孔6121，料盘612远离所述放料组件5的一端设有定位孔6122。

所述弹夹组件6还包括弹夹移动组件63，弹夹移动组件63包括弹夹移动电机634，弹夹移动电机634与移动电机丝杆631连接，移动电机丝杆631与弹夹滑块632配合，弹夹滑块632与弹夹支撑板633规定，弹夹支撑板633的顶部放置有所述弹夹盒61。

所述移动电机丝杠的外部设有多个挡板，用以保护移动电机丝杠。

测试时，将待测试的晶体按顺序放置到弹夹盒61内的料盘612内，弹夹移动组件63可以带动弹夹盒61进行纵向移动，进而带动弹夹盒61内的料盘612进行纵向移动。

所述放料组件5包括可相对所述工作大板3横向移动的抓取舌板52，抓取舌板52靠近所述弹夹盒61的一端设有与所述定位孔6122配合的定位销53。

所述放料组件5还包括放料电机51，放料电机51与放料丝杆连接，放料丝杆与放料滑块54配合，放疗滑块的顶部与所述抓取舌板52固定。

测试时，抓取舌板52在放料电机51的驱动下相对工作大板3横向移动，直至抓取舌板52移动至所述弹夹盒61内的某一个料盘612下方。然后料盘612在弹夹移动组件63的驱动下向下移动，进而使得料盘612的定位孔6122与抓取舌板52的定位销53配合，定位销53插入定位孔6122内，然后放料电机51带动抓取舌板52及其顶部的料盘612向反方向移动，直至抓取舌板52带动料盘612离开弹夹盒61，并位于上CCD组件的下方。

所述取料组件2包括两个间隔设置的吸头组件21，所述吸头组件21可相对所述工作大板3横向移动，吸头组件21包括可相对所述工作大板3纵向移动的用以吸取晶体的吸嘴212。

所述吸头组件21还包括吸头固定板216，吸头固定板216的前壁设有吸头滑轨215，还包括吸头连接板213，吸头连接板213的后壁设有吸头滑块214，吸头滑块214与所述吸头滑轨215滑动连接，所述吸头连接板213的下方设有所述吸嘴212。

所述取料组件2还包括取料固定板25，取料电机24通过吸头丝杠、吸头块的配合带动取料固定板25相对工作大板3横向移动，取料固定板25的前壁设有所述吸头组件21。

测试时，取料电机24带动取料固定板25及吸头组件21相对工作大板3横向移动，直至靠近上CCD组件8的吸嘴212位于待检测的料盘612的上方。

然后，通过吸嘴212顶部的吸头气缸211驱动吸嘴212及吸头连接板213沿着所述吸头固定板216进行纵向移动，进而使得吸嘴212可以吸取位于其下方的放料组件5顶部的料盘612内的晶体。

当吸嘴212吸取了放料盘612内的晶体后，取料电机24继续带动取料固定板25及吸头组件21相对工作大板3反方向移动，直至吸嘴212将晶体放入测试组件7的其中一个定位槽714内。然后进行测试，测试完毕后，取料电机24继续带动取料固定板25及吸头组件21移动，直至另一个吸嘴212将测试完毕后的晶体吸取并放入另外一个放料组件5顶部的料盘612中。

继续重复进行上述操作，直至该料盘612中的待测试晶体放置满后，放料组件5将该料盘612放入其前方的弹夹盒61内。

所述取料固定板25的一端设有上CCD组件8，上CCD组件8包括与取料固定板25固定的相机连接板81，相机连接板81的前壁设有相机，相机镜头82的下方设有同轴光源件83，同轴光源件83的顶部向下开有与相机镜头82同轴设置的通孔，同轴光源件83位于所述放料组件5顶部放置的料盘612上方。

测试时，当料盘612放入放料组件5的顶部时，调整抓取舌板52的位置，进而使得抓取舌板52顶部的料盘612内的待测试晶体与相机的镜头相对，开启相机，相机对待测晶体进行拍照，拍照完毕后进行吸头组件21的吸取步骤。

上CCD组件8进行对产品逐一识别印字并记录数据，实现对产品编码进行排序码料。

所述上机架1的顶部还设有图像识别及显示组件，图像识别及显示组件包括触摸屏11、键盘12、鼠标14、显示屏13。

用户可以通过鼠标14或通过键盘12、触摸屏11的按钮进行运行/暂停、停止、复位、紧急停止等各种控制。

上CCD组件8可以识别晶体产品编号+频率，显示屏13可以显示采集的晶体产品的印字图像。

上CCD组件8识别准备率及效率(印字清晰完整)，对于纯数字或者纯字母图像识别准确率≧98％；对于数字和字母混合图像识别准确率≧95％；对于单个产品图像识别响应时间≤2s。

具体操作过程：

测试时，将待测试的晶体按顺序放置到弹夹盒61内的料盘612内。然后抓取舌板52在放料电机51的驱动下相对工作大板3横向移动，直至抓取舌板52移动至所述弹夹盒61内的某一个料盘612下方。然后料盘612在弹夹移动组件63的驱动下向下移动，进而使得料盘612的定位孔6122与抓取舌板52的定位销53配合，定位销53插入定位孔6122内，然后放料电机51带动抓取舌板52及其顶部的料盘612向反方向移动，直至抓取舌板52带动料盘612离开弹夹盒61，并位于上CCD组件的下方。

当料盘612放入放料组件5的顶部时，调整抓取舌板52的位置，进而使得抓取舌板52顶部的料盘612内的待测试晶体与相机的镜头相对，开启相机，相机对待测晶体进行拍照，上CCD组件8进行对产品逐一识别印字并记录数据，实现对产品编码进行排序码料。

上CCD组件8识别完成后，取料电机24带动取料固定板25及吸头组件21相对工作大板3横向移动，直至靠近上CCD组件8的吸嘴212位于待检测的料盘612的上方。

然后，通过吸嘴212顶部的吸头气缸211驱动吸嘴212及吸头连接板213沿着所述吸头固定板216进行纵向移动，进而使得吸嘴212可以吸取位于其下方的放料组件5顶部的料盘612内的晶体。

当吸嘴212吸取了放料盘612内的晶体后，取料电机24继续带动取料固定板25及吸头组件21相对工作大板3反方向移动，直至吸嘴212将晶体放入测试组件7的其中一个定位槽714内。

移动封板712与所述定位板73滑动连接，进而带动移动封板712底部的定位座711滑动，进一步带动放置在定位座711顶部定位槽714内的晶体移动位置，以调整晶体的位置可以正好在测试探针763的上方。调节立板761在外部气缸或电机的带动下沿着调节支撑板764进行纵向的移动，进而带动调节立板761上部的调节横板765及测试探针763进行纵向移动，直至测试探针763的顶部可以接触到测试探针763上方定位槽714内的晶体底部，开始测试。测试组件7进行晶体电参数检测并记录数据至数据库。

测试完毕后，取料电机24继续带动取料固定板25及吸头组件21移动，直至另一个吸嘴212将测试完毕后的晶体吸取并按CCD拍摄给的编号放入另外一个放料组件5顶部的料盘612的指定位置中，不良品则放入弹夹盒61侧壁的不良品盒内。

继续重复进行上述操作，直至该料盘612中的待测试晶体放置满后，放料组件5将该料盘612放入其前方的弹夹盒61内。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：包括从上至下依次设置的上机架(1)、工作大板(3)、下机架(4)，工作大板(3)的顶部间隔设置有两个用以放置晶体料盘(612)的弹夹组件(6)，两个弹夹组件(6)的后方均设有用以移动晶体料盘(612)的放料组件(5)，放料组件(5)的上方设有用以抓取及移动晶体的取料组件(2)，两个弹夹组件(6)之间设有用以测试电性能参数的测试组件(7)。

2.根据权利要求1所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述测试组件(7)包括两组间隔设置的测试探针(763)，测试探针(763)可相对所述工作大板(3)纵向移动，每组测试探针(763)的上方均设有可相对测试探针(763)横向移动的定位座(711)，定位座(711)的顶部向下开有可容纳晶体的定位槽(714)。

3.根据权利要求2所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述测试组件(7)还包括定位板(73)，定位板(73)的顶部间隔设置有两个定位导轨(72)，移动封板(712)的底部间隔设有两个定位滑块(713)，定位滑块(713)与所述定位导轨(72)滑动连接，移动封板(712)通过定位滑块(713)、定位导轨(72)与所述定位板(73)滑动连接，所述定位座(711)固定于所述移动封板(712)的底部。

4.根据权利要求2所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述测试组件(7)还包括调节立板(761)，调节立板(761)与调节支撑板(764)滑动连接，调节立板(761)的上部与调节横板(765)固定，调节横板(765)的顶部设有所述测试探针(763)。

5.根据权利要求1所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述弹夹组件(6)包括弹夹盒(61)，弹夹盒(61)内从上至下间隔放置有多个可抽拉的料盘(612)，料盘(612)内设有多个用以放置晶体的料孔(6121)，料盘(612)远离所述放料组件(5)的一端设有定位孔(6122)。

6.根据权利要求5所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述放料组件(5)包括可相对所述工作大板(3)横向移动的抓取舌板(52)，抓取舌板(52)靠近所述弹夹盒(61)的一端设有与所述定位孔(6122)配合的定位销(53)。

7.根据权利要求5所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述取料组件(2)包括两个间隔设置的吸头组件(21)，所述吸头组件(21)可相对所述工作大板(3)横向移动，吸头组件(21)包括可相对所述工作大板(3)纵向移动的用以吸取晶体的吸嘴(212)。

8.根据权利要求7所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述吸头组件(21)还包括吸头固定板(216)，吸头固定板(216)的前壁设有吸头滑轨(215)，还包括吸头连接板(213)，吸头连接板(213)的后壁设有吸头滑块(214)，吸头滑块(214)与所述吸头滑轨(215)滑动连接，所述吸头连接板(213)的下方设有所述吸嘴(212)。

9.根据权利要求7所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述取料组件(2)还包括取料固定板(25)，取料电机(24)通过吸头丝杠、吸头块的配合带动取料固定板(25)相对工作大板(3)横向移动，取料固定板(25)的前壁设有所述吸头组件(21)。

10.根据权利要求9所述的一种晶体晶振的电性能参数测试设备，其特征在于：所述取料固定板(25)的一端设有上CCD组件(8)，上CCD组件(8)包括与取料固定板(25)固定的相机连接板(81)，相机连接板(81)的前壁设有相机，相机镜头(82)的下方设有同轴光源件(83)，同轴光源件(83)的顶部向下开有与相机镜头(82)同轴设置的通孔，同轴光源件(83)位于所述放料组件(5)顶部放置的料盘(612)上方。

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