CN212749007U - 一种测试探头及其设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试探头及其设备与应用，所述一种测试探头包括至少两个独立的导电层，至少一个绝缘层，至少所述独立的导电层之间设有绝缘层；所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或叠层排列，所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或者叠层排列时，第一层为导电层或绝缘层，最后一层为导电层或绝缘层。其排除测试对象与测试探头的接触电阻、测试探头本身的电阻、馈线电阻等外部背景电阻，测量准确度更高，能识别出测试对象的电阻值及其微妙的变化，大大提高了测量结果的可靠性，有力地为生产或研发提供判断，极大提升生产、研发效率。

Description

一种测试探头及其设备

技术领域

本发明涉及测试技术领域，涉及一种测试探头及其设备，特别是涉及测试电池极片、可导电薄层(如铜铝箔等各种金属、合金等)、非导电薄层(如聚合物薄层等)电阻或电阻率或其他需准备测量的性能的测试探头及其设备。

背景技术

锂电池具有体积能量比和重量能量比高、电压高、自放电率低、无记忆效应、循环寿命长等优点而得到广泛应用，市场竞争激烈，各大公司均对锂电池的研发也从未间断，尤其是在改善锂电池的极片材料上进行了大量的探索和研究。而锂电池极片的电阻是影响锂电池内阻、电压以及自放电率的重要因素，改善锂电池极片的电阻对于提高电池的能量有着重大意义，想要有效的锂电池极片的电阻及相关材料的特性就必须对于他们的共性电阻问题进行有效而准确的测量。

虽然目前锂电池行业及类似行业中相关材料及膜片电阻测量的重要性已经开始受到重视，但是市场上能用于测试电池极片、可导电薄层(如铜铝箔等各种金属、合金等)、非导电薄层(如聚合物薄层等)电阻或电阻率的设备非常少，但此类设备均采用的是两探针测试方法。

同时，CN204903649U公开了一种二次电池极片电阻测试仪，其包括底座、极片固定夹具、施压装置、压力传感器、高度规和电阻表；极片固定夹具安装在底座上，用于夹持固定待检测的二次电池极片；施压装置安装在底座上方，用于对二次电池极片施加可变压力；压力传感器安装于施压装置，用于检测二次电池极片所受到的压力值；高度规和电阻表分别测量二次电池极片在不同压力下的厚度变化值和电阻值。所述底座包括安装板，安装板上安装有极片下压头；施压装置通过施压装置支架安装在安装板上方，其包括极片下压头等，电阻表与极片上压头和极片下压头分别连接而对二次电池极片的电阻值进行即时测量。CN207528818U也公开了一种电阻测试设备，其包括第一测试端头和第二测试端头。虽然CN204903649U和CN207528818U公开的电阻测试仪器均能在一定程度上解决了测试膜片电阻中比较关键的问题，但都是采用上下两探针测试的方式进行测量，而上述两探针测试方式测量测试对象的电阻值实际并不仅仅是测试对象的本体电阻，还包括测试对象与测试探头的接触电阻以及测试探头本身的电阻、馈线电阻等噪音电阻，这样测量的电阻误差在毫欧级别(通常至少在0.5毫欧或以上)，根据测试样品电阻的不同大小，测试带来的误差可能在0.5％-100％，或者100％以上。

故两探针测试已经无法将线路电阻的微量变化测试出来，无法准确测定测试对象的低阻值。尤其是对于电池极片、可导电薄层(如铜铝箔等各种金属、合金等)、非导电薄层(如聚合物薄层等)此类材料时，此类电阻误差就不容忽视，无法做线路准确测量。故而基于这样的情况下测试得出的电阻值只能满足横向对比的研发活动需求，但会限制研发人员对测试对象的电阻值进行进一步分析利用，不能为生产、研发提供有力支持，对研发效率的提高很不利。因此，开发出能够排除测试对象与测试探头的接触电阻、测试探头本身的电阻、馈线电阻等外部背景电阻的电阻测试探头及其设备迫在眉睫，或者其它类似需要精确测量的测试，所需测试探头以及设备也急需解决。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺点，提供了一种测试探头及其设备。其排除测试对象与测试探头的接触电阻、测试探头本身的电阻、馈线电阻等外部背景电阻，测量准确度更高，能识别出测试对象的电阻值及其微妙的变化，大大提高了测量结果的可靠性，有力地为生产或研发提供判断，极大提升生产、研发效率。同时也可在其它性能测试方面也能达到精确测量。

为达到上述目的，本实用新型采用了下述技术方案：

一种测试探头，包括至少两个独立的导电层，至少一个绝缘层，至少所述独立的导电层之间设有绝缘层。

优选的，所述各导电层与各绝缘层相邻，进一步优选的，所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或叠层排列。所述相互嵌套可以为闭环形嵌套，也可以为非闭环型嵌套，或者其它能实现两个所述测试探头上下接触后相应导电部分实现上下独立导通的嵌套形式，如电流回路、电压回路等任何实现上下相应部分独立导通的其他回路。所述叠层排列各相邻层可以为在同一方向上堆叠，也可以为在非同一方向上堆叠，即可为在任一方向上的相邻，或者其它能实现两个所述测试探头上下接触后相应导电部分实现上下独立导通的相邻形式。所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或叠层排列时，并不局限于各层是同一方向上的相邻排列，各层之间在方向上可不一样，同时其形状也可不一样，只要能实现两个所述测试探头上下接触后相应导电部分实现上下独立导通的相邻形式即可。进一步优选的，两个所述测试探头上下接触时互为镜像对称。

优选的，所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或者叠层排列时，第一层为导电层或绝缘层，最后一层为导电层或绝缘层。

优选的，从测试探头的横截面来看，各导电层的形状独立选自标准圆、椭圆、非规则圆、多边形或不规则形状，各绝缘层的形状独立选自标准圆、椭圆、非规则圆、多边形或不规则形状。各绝缘层、各导电层、各绝缘层与各导电层的形状可相同或不相同，只要保证导电层之间有绝缘层。

优选的，所述各导电层的电阻率为1×10^-08-1×10^-5Ω·m。进一步优选的，所述各导电层的电阻率为1×10^-08-1×10^-6Ω·m。更进一步优选的，探头为可导电的良导体材料，如铜、金、银、铝等。所述各导电层可以是一种材料，如金属材料，比如铜、金、银、铝等；比如氧化物材料；也可以是含金属的材料；也可以是合金材料；亦也可以是复合层组成的材料。如各导电层材料可为镍、铂、钯、银、铬、铝、钛、金、铜或上述材料的组合。或可为铟锡氧化物、氧化铝锌、氧化镓锌、铟锌氧化物等。

优选的，所述各测试探头的表面硬度大于等于50HV。进一步优选的，所述测试探头的表面硬度还可指导电层部分的表面硬度，不包含绝缘层部分。

优选的，各所述测试探头的表面粗糙度小于等于100μm。进一步优选的，各所述测试探头的表面粗糙度大于0.1小于10μm，更进一步优选的，各所述测试探头的表面粗糙度大于1小于5μm。所述测试探头的表面粗糙度尤其是指各所述测试探头端截面的表面粗糙度，所述端截面主要是指测试探头与测试对象接触的界面；所述测试探头的端截面为水平面或其它任一斜面，所述绝缘层的端截面可以在与各导电层的端截面处于同一面上，也可以比各导电层的端截面高。当两个所述探头镜像使用时，相应导电层相互接触，绝缘层可以在接触层接触的面上互相接触也可以互相不接触。

优选的，所述各绝缘层的电阻率不小于10 ⁵Ω·m。所述绝缘层选自空气、绝缘气体、塑料、陶瓷、玻璃、树脂、橡胶、POM、PTFE、绝缘类氧化物等其它能其它绝缘作用的绝缘材料。所述各绝缘层可以是一种材料，也可以是混合材料；亦也可以是复合层组成的材料。绝缘类氧化物如氧化硅、氧化钛、氮化硅、氧化铝等。

优选的，所述各绝缘层的厚度为0.001-500mm。进一步优选的，绝缘层的厚度为0.1-10mm。

所述绝缘层为复合结构，和/或所述导电层为复合结构。所述导电层复合结构为各类电阻率为1×10^-08-1×10^-5Ω·m的材料水平堆叠或法向堆叠，所述绝缘层复合结构为各类电阻率不小于10 ⁵Ω·m的材料水平堆叠或法向堆叠。

本发明还提供了一种包括上述测试探头的测试设备。

优选的，所述测试探头至少为两个，各所述测试探头上下接触后相应导电部分可实现上下独立导通，如电流回路、电压回路等任何实现上下相应部分独立导通的其他回路。进一步优选的，各所述测试探头上下接触时所述测试探头互为镜像对称。

优选的，各所述测试探头上下接触后其端截面接触，接触面在同一个面上。进一步优选的，所述接触面为水平面；导电部分能实现接触即可，如能实现点接触、线接触、圆接触等；进一步优选的，在端截面处吻合接触。所述测试探头的端截面为水平面或其它任一斜面，所述绝缘层的端截面可以在与各导电层的端截面处于同一面上，也可以比各导电层的端截面高，但不能突出于当两个所述测试探头接触时的接触面。当两个所述探头镜像使用时，相应导电层相互接触，绝缘层可以在接触层接触的面上互相接触也可以互相不接触。

优选的，还包括与测试探头连接的测试导线。该测试导线能实现电阻准确测量。

本发明另还提供了一种测试探头或测试设备在测试中的应用，如涉及对电池极片、可导电薄层(如铜铝箔等各种金属、合金等)、非导电薄层(如聚合物薄层等)进行电阻或电阻率的测试；也可涉及其它需准确测量的性能的测试。所述测试探头选自上述测试探头，所述测试设备选自上述测试设备，该测试探头及其测试设备在电阻或电阻率或者其它需准确测量的性能其测量准确度更高。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

1、通过设立至少两个独立的导电层，且至少独立的导电层之间设有绝缘层，可以实现通过同一测试探头建立各种独立电回路，比如可实现电流回路、电压回路，以及其它根据需要建立的各种电回路而实现高准确度的测试。如测试电阻时，通过测试探头同时建立电流回路和电压回路，这样有利于排除测试对象与测试探头的接触电阻、测试探头本身的电阻、馈线电阻等外部背景电阻，大大提高了测量准确度，能识别出测试对象的电阻值及其微妙的变化。同时也很大程度提高了测量结果的可靠性，有力地为生产或研发提供判断，极大提升生产、研发效率。针对电阻在1毫欧到100毫欧之间的测试对象，本发明的测试探头或其测试设备能相应将测试误差降低到0.5％以内；相较于现有技术测试误差降幅为0.5％-100％，或者100％以上。不仅能大大提高电阻测量的准确度，大大提高电阻数据真实性，特别是有利于低电阻样品的应用。同时还能在其它性能测试方面也能达到精确测量。

2、采用特殊的测试探头结构，如各导电层与各绝缘层相互嵌套或叠层排列，所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或者叠层排列时，第一层为导电层或绝缘层，最后一层为导电层或绝缘层，从测试探头的横截面来看，各导电层的形状独立选自标准圆、椭圆、非规则圆、多边形或不规则形状，各绝缘层的形状独立选自标准圆、椭圆、非规则圆或多边形。

3、采用特殊的测试探头，各导电层的电阻率为1×10^-08-1×10^-5Ω·m，测试探头的表面硬度大于等于50HV，测试探头的表面粗糙度小于等于100μm，各绝缘层的电阻率不小于10⁵Ω·m，各绝缘层的厚度为0.001-500mm。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看做示对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明所提供测试探头的一种具体实施方式的立体结构示意图；

图2为本发明所提供测试探头的一种具体实施方式的俯视示意图；

图3为本发明所提供测试探头的一种具体实施方式的主视示意图；

图4为本发明所提供测试探头的一种变形具体实施方式的立体结构示意图；

图5为本发明所提供测试探头的另一种变形具体实施方式的立体结构示意图；

图6为本发明所提供测试探头的又另一种变形具体实施方式的立体结构示意图；

图7为本发明所提供测试探头的另一种具体实施方式的立体结构示意图；

图8为本发明所提供测试探头的另一种具体实施方式的俯视示意图；

图9为本发明所提供测试探头的另一种具体实施方式的主视示意图；

图10为本发明所提供测试探头的又另一种具体实施方式的立体结构示意图；

图11为本发明所提供测试探头的又另一种具体实施方式的俯视示意图；

图12为本发明所提供测试探头的又另一种具体实施方式的主视示意图；

图13为本发明所提供测试探头的其它另一种具体实施方式的立体结构示意图；

图14为本发明所提供测试探头的其它另一种具体实施方式的俯视示意图；

图15为本发明所提供测试探头的其它另一种具体实施方式的主视示意图；

图16为本发明所提供测试探头的其它又另一种具体实施方式的立体结构示意图；

图17为本发明所提供测试探头的其它又另一种具体实施方式的俯视示意图；

图18为本发明所提供测试探头的其它又另一种具体实施方式的右视示意图；

图19为本发明所提供测试探头的再另一种具体实施方式的立体结构示意图；

图20为本发明所提供测试探头的再另一种具体实施方式的俯视示意图；

图21为本发明所提供测试探头的再另一种变形具体实施方式的主视示意图；

图22为行业内常用测试探头的一种具体实施方式的立体结构示意图；

图23为行业内常用测试探头的另一种具体实施方式的立体结构示意图；

图24为本发明所提供测试探头应用于测试设备的一种具体实施方式的立体示意图。

其中，图1至图24中的附图标记说明如下：

第一导电层 1、第一绝缘层 2、第二导电层 3、第二绝缘层 4、第一测试探头 100、第二测试探头 200。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对发明进行进一步详细说明，但发明要求保护的范围并不局限于实施例表达的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“垂直”、“水平”、“内”、“外”、“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅示为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解对本发明的限制。

在本发明的描述中，除非另有规定和限定，需要说明的是，术语“连接”、“设有”、“安装”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连接，可以使直接相连，也可以通过中间媒介间相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。安装可以是可拆卸安装或固定安装，可拆卸安装便于维修及延长设备使用寿命，如可拆卸安装可以为螺丝、卡件等其它合适的方式。某些结构件的数量可以根据实际情况做相应调整，并不会影响其功能的实现。

实施例1

请参考图1至图3，图1为本发明所提供测试探头的一种具体实施方式的立体结构示意图；图2为本发明所提供测试探头的一种具体实施方式的俯视示意图；图3为本发明所提供测试探头的一种具体实施方式的主视示意图。本实施例中导电层与绝缘层为相互嵌套。需要说明的是，在本发明中，导电层与绝缘层除了可以为相互嵌套结构，还可以为叠层排列结构。其中，嵌套可以为封闭的环形嵌套(如图1-9所示)，还可以为不封闭的非环形嵌套(如图21所示)，或者其它能实现两个所述测试探头上下接触后相应导电部分实现上下独立导通的嵌套形式。叠层排列各相邻层可以为在同一方向上堆叠，也可以为在非同一方向上堆叠，即可为在任一方向上的相邻，或者其它能实现两个所述测试探头上下接触后相应导电部分实现上下独立导通的相邻形式。所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或叠层排列时，并不局限于各层是同一方向上的相邻排列，各层之间在方向上可不一样，同时其形状也可不一样，只要能实现两个所述测试探头上下接触后相应导电部分实现上下独立导通的相邻形式即可。

如图1至图3所示，本发明提供一种测试探头，包括第一导电层1、第一绝缘层2、第二导电层3。从测试探头的横截面来看，第一导电层1、第一绝缘层2、第二导电层3的外周均为圆形，第一绝缘层2嵌套在第一导电层1上，第二导电层3嵌套在第一绝缘层2上。

需要说明的是，本发明中，绝缘层并不局限于一个，其可以为一个以上，如图4和图5所示；另外导电层并不局限于两个，其可以为两个以上，同理绝缘层；所述导电层与绝缘层相互嵌套或者叠层排列时，第一层并不局限于导电层，还可以为绝缘层；最后一层并与局限于导电层，还可以为绝缘层。比如第一导电层1还可嵌套与一绝缘层上，和/或另一绝缘层还可嵌套于第二导电层3上。从测试探头的横截面来看，各导电层的形状尤其是其外周的形状并与不限于标准圆，还可以独立选自标准圆、椭圆、非规则圆、多边形或不规则形状，各绝缘层的形状尤其是其外周的形状并与不限于标准圆，还可以独立选自标准圆、椭圆、非规则圆、多边形或不规则形状；各绝缘层、各导电层、各绝缘层与各导电层的形状可相同或不相同，只要保证设有绝缘层。

第一导电层1和第二导电层3的电阻率为1.75×10^-8Ω·m，表面硬度为50HV，表面粗糙度为100um。第一绝缘层2材料为塑料，电阻率为10 ¹⁵Ω·m，厚度为10um。测试探头的端截面为水平面。然而本发明以上材料的性能并不局限于此，第一导电层1和第二导电层3的电阻率还可以为1×10^-08-1×10^-5Ω·m，材料为可导电的良导体材料，如铜、金、银、铝、合金等。测试探头的表面硬度还可大于等于50HV，测试探头的表面硬度还可只指导电层部分的表面硬度，不包含绝缘层部分。测试探头端截面的表面粗糙度还可以小于100微米，同时还可进一步优选为0.1到10微米，更进一步优选的，各所述测试探头的表面粗糙度大于1小于5微米。测试探头的端截面还可为其它任一斜面，所述绝缘层的端截面可以在与各导电层的端截面处于同一面上，也可以比各导电层的端截面高。当两个所述探头镜像使用时，相应导电层相互接触，绝缘层可以在接触层接触的面上互相接触也可以互相不接触。所述各绝缘层的电阻率还可大于等于10 ⁵Ω·m。所述绝缘层选自空气、其它绝缘气体、塑料、陶瓷、玻璃、树脂、橡胶、POM、PTFE等其它能其它绝缘作用的绝缘材料；此外，所述绝缘层还可以为混合材料或复合结构，和/或所述导电层还可以为复合结构或合金结构。

绝缘层的厚度还可为0.001-500mm。进一步优选的，绝缘层的厚度还为0.1-10mm。

实施例2

请参考图4，图4为本发明所提供测试探头的一种变形具体实施方式的立体结构示意图。与实施例1的区别在于，从测试探头的横截面来看，第一导电层1嵌套覆盖于第二绝缘层4上，第二绝缘层4的外周为圆形。其它相同。

实施例3

请参考图5，图5为本发明所提供测试探头的另一种变形具体实施方式的立体结构示意图。与实施例1的区别在于，从测试探头的横截面来看，第二绝缘层4嵌套覆盖于第二导电层3上，第二绝缘层4的外周为圆。其它相同。

实施例4

请参考图6，图6为本发明所提供测试探头的又另一种变形具体实施方式的立体结构示意图。与实施例1的区别在于，从测试探头的横截面来看，第一导电层1、第一绝缘层2、第二导电层3的外周均为半圆。其它相同。

实施例5

请参考图7至图9，图7为本发明所提供测试探头的另一种具体实施方式的立体结构示意图；图8为本发明所提供测试探头的另一种具体实施方式的俯视示意图；图9为本发明所提供测试探头的另一种具体实施方式的主视示意图。

与实施例1的区别在于，从测试探头的横截面来看，第一导电层1的外周为方形、第一绝缘层2的外周为方形、第二导电层3嵌套覆盖于第一绝缘层2上，第二导电层3的外周为圆形。第一导电层1和第二导电层3的电阻率为1.75×10^-8Ω·m；第一绝缘层2材料为陶瓷，电阻率为10¹²Ω·m，厚度为0.1um；测试探头的表面硬度为120HV，表面粗糙度为10um，端截面为水平面。其它相同。

实施例6

请参考图10至图12，图10为本发明所提供测试探头的又另一种具体实施方式的立体结构示意图；图11为本发明所提供测试探头的又另一种具体实施方式的俯视示意图；图12为本发明所提供测试探头的又另一种具体实施方式的主视示意图。

与实施例1的区别在于，从测试探头的横截面来看，第一导电层1、第一绝缘层2、第二导电层3的外周均为方形，第一导电层1和第二导电层3的电阻率为6.5×10^-8Ω·m；第一绝缘层2材料为玻璃，电阻率为10¹²Ω·m，厚度为200um；测试探头的表面硬度为800HV，表面粗糙度为1um，端截面为水平面。其它相同。

实施例7

请参考图13至图15，图13为本发明所提供测试探头的其它另一种具体实施方式的立体结构示意图；图14为本发明所提供测试探头的其它另一种具体实施方式的俯视示意图；图15为本发明所提供测试探头的其它另一种具体实施方式的主视示意图。

与实施例1的区别在于，从测试探头的横截面来看，第二导电层3嵌套覆盖于第一绝缘层2上，第二导电层3的外周为方形。第一导电层1和第二导电层3的电阻率为5.5×10^-8Ω·m；第一绝缘层2材料为橡胶，电阻率为10¹⁵Ω·m，厚度为0.01um；测试探头的表面硬度为1000HV，表面粗糙度为80um，端截面为水平面。其它相同。

实施例8

请参考图16至图18，图16为本发明所提供测试探头的其它又另一种具体实施方式的立体结构示意图；图17为本发明所提供测试探头的其它又另一种具体实施方式的俯视示意图；图18为本发明所提供测试探头的其它又另一种具体实施方式的右视示意图。

与实施例1的区别在于，导电层与绝缘层为叠层排列，第一绝缘层2叠于在第一导电层1上，第二导电层3叠于在第一绝缘层2上；从测试探头的横截面来看，第一导电层1、第一绝缘层2、第二导电层3的外周均为方形。第一导电层1和第二导电层3的电阻率为6.5×10^-8Ω·m；第一绝缘层2材料为POM，电阻率为10⁹Ω·m，厚度为0.1um；测试探头的表面硬度为800HV，表面粗糙度为0.4um，端截面为水平面。其它相同。

实施例9

请参考图19至图20，图19为本发明所提供测试探头的再另一种具体实施方式的立体结构示意图；图20为本发明所提供测试探头的再另一种具体实施方式的俯视示意图。

与实施例8的区别在于，导电层与绝缘层为叠层排列，第一绝缘层2叠于在第一导电层1上，第二导电层3叠于在第一绝缘层2上；从测试探头的横截面来看，第一导电层1和第二导电层3的外周均为扇形，第一绝缘层2为PTFE。第一绝缘层2材料为塑料，电阻率为10¹²Ω·m，厚度为400um；测试探头的表面硬度为600HV，表面粗糙度为50um，端截面为水平面。其它相同。

实施例10

请参考图21，图21为本发明所提供测试探头的再另一种变形具体实施方式的主视示意图。

与实施例8的区别在于，第一绝缘层2相邻于第一导电层1一侧，第二导电层3相邻于在第一绝缘层2另一侧。第一导电层1、第一绝缘层2和第二导电层3的外周为大小不一的部分圆环形。第一绝缘层2为绝缘气体空气，其它相同。

对比例1

请参考图22，图22为行业内常用测试探头的一种具体实施方式的立体结构示意图。

如图22所示，与实施例1的区别在于，该测试探头一个整体非分割组合结构，材料全为导电层，从其的横截面来看，其横截面为圆形。

对比例2

请参考图23，图23为行业内常用测试探头的另一种具体实施方式的立体结构示意图。

如图23所示，与实施例5的区别在于，该测试探头一个整体非分割组合结构，材料全为导电层，从其的横截面来看，其横截面为方形。

实施例11

请参考图24，图24为本发明所提供测试探头应用于测试设备的一种具体实施方式的立体示意图。

如图24所示，本发明提供两个测试探头应用于测试设备，用于对电阻进行高准确度的测试，是涉及对电池极片、可导电薄层(如铜铝箔等各种金属、合金等)、非导电薄层(如聚合物薄层等)进行电阻或电阻率的测试。该测试探头及其测试设备的电阻或电阻率测量准确度更高。

第一测试探头100和第二测试探头200上下接触后接触面为水平面，将测试对方置于第一测试探头100和第二测试探头200之间并接触，第一测试探头100和第二测试探头200相应导电部分实现上下独立导通，完成电流回路和电压回路连接，即可对测试对象进行高准确度的测量。

需要说明的是，本发明中，应用于测试设备中的测试探头优选为互为镜像对称，即两个所述测试探头上下接触时互为镜像对称。同时，各测试探头上下接触后其端截面不仅接触，该接触并不局限于完全吻合接触，导电部分能实现接触即可，如能实现点接触、线接触、圆接触等；接触面并不局限于为水平面，还可以为任一斜面。另外绝缘层的端截面可以在与各导电层的端截面处于同一面上，也可以比各导电层的端截面高，但不能突出于当两个所述测试探头接触时的接触面。即绝缘层的端截面接触不到测试对象但能起到隔离相临导电层的效果。当两个所述探头镜像使用时，相应导电层相互接触，绝缘层可以在接触层接触的面上互相接触也可以互相不接触。同时，应用于测试设备的测试探头可以为两个以上，并不局限于两个，各所述测试探头上下接触后相应导电部分可实现上下独立导通。

分别将实施例1-10和对比例1-2所述测试探头应用于CN207528818U所述测试设备对同一极片进行电阻测试，同一极片分为适量大小的10份，测试结果如下。其中：极片组成信息详见表1，极片设计信息详见表2，测试结果详见表3。

表1 极片组成信息

表2 极片设计信息

表3 测试结果

从表3的测试结果可以看出，使用本发明提供的测试探头的电阻测试设备，针对极片进行测量，实施例1相较于对比例1电阻测量准确度提高了9.8％，本发明应用在测量在毫欧级别材料时，相较于常规测量设备，准确定还能提高9.8％，不仅能大大提高电阻测量的准确度，大大提高电阻数据真实性，特别是有利于低电阻材料的应用。实施例8相较于对比例2电阻测量准确度提高了9.8％，同样本发明应用在测量在毫欧级别材料时，相较于常规测量设备，准确定还能提高9.8％，有利于低电阻材料的研发及应用。本发明的测试探头及其设备在低电阻测试对象的测量中，能识别出测试对象的电阻值及其微妙的变化，大大提高了测量结果的可靠性，有力地为生产或研发提供判断，极大提升生产、研发效率。

本实用新型通过设立至少两个独立的导电层，且至少独立的导电层之间设有绝缘层，可以实现通过同一测试探头建立各种独立电回路，比如可实现电流回路、电压回路，以及其它根据需要建立的各种电回路而实现高准确度的测试。以上实施例主要介绍了各种测试探头或测试设备在电阻测试中的应用，发现能大大提高电阻测量的准确度，但本实用新型并与局限于电阻准确测量，同时还能在其它性能测试方面也能达到准备测量，如厚度等。以上不同的性能测试，可以实现同时测量，也可独立测量，具体根据需求而定。

同时，本实用新型的绝缘层及导电层的结构并不局限于以上实施例，还可以所述绝缘层为复合结构，和/或所述导电层为复合结构。所述导电层复合结构为各类电阻率为1×10^-08-1×10^-5Ω·m的材料水平堆叠或法向堆叠，所述绝缘层复合结构为各类电阻率不小于10 ⁵Ω·m的材料水平堆叠或法向堆叠。

需要特别说明的是：本发明提供的所有测试设备为便于将本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，均进行了详细说明。但测试设备所包括的结果部件均不限于以上实施例，可以是在以上实施例的基础上得到教导进行变更或修改，如，并基于此对其变更或修改，对发明的一些修改和变更也应当落入本发明的权利要求的保护范围内。

根据上述说明书的揭示和教导，本发明所属领域的技术人员还可以对上述实施方式进行变更和修改。因此，本发明并不局限于上面揭示和描述的具体实施方式，对发明的一些修改和变更也应当落入本发明的权利要求的保护范围内。此外，尽管本说明书中使用了一些特定的术语，但这些术语只是为了方便说明，并不对本发明构成任何限制。

Claims (14)

1.一种测试探头，其特征在于，包括至少两个独立的导电层，至少一个绝缘层，至少所述独立的导电层之间设有绝缘层。

2.如权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或叠层排列。

3.如权利要求2所述的测试探头，其特征在于，所述各导电层与各绝缘层相互嵌套或叠层排列时，第一层为导电层或绝缘层，最后一层为导电层或绝缘层。

4.如权利要求1-3任一项所述的测试探头，其特征在于，从测试探头的横截面来看，各导电层的形状独立选自标准圆、椭圆或不规则形状，各绝缘层的形状独立选自标准圆、椭圆、或不规则形状。

5.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述各导电层的电阻率为1×10^-08-1×10^-5Ω·m。

6.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述测试探头的表面硬度大于等于50HV。

7.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述测试探头的表面粗糙度小于等于100μm。

8.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述各绝缘层的电阻率大于等于10⁵Ω·m。

9.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述各绝缘层的厚度为0.001-500mm。

10.如权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述绝缘层为复合结构，和/或所述导电层为复合结构。

11.一种测试设备，其特征在于，包括权利要求1-10任一项所述的测试探头。

12.如权利要求11所述的测试设备，其特征在于，所述测试探头至少为两个，各所述测试探头上下接触后相应导电部分实现上下独立导通。

13.如权利要求12所述的测试设备，其特征在于，各所述测试探头上下接触后其端截面接触，接触面在同一个面上。

14.如权利要求11所述的测试设备，其特征在于，还包括与测试探头连接的测试导线。

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