CN212513409U - 铂电阻通用测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及铂电阻通用测试装置，包括PCB板和框架，其特征是PCB板为单面印制电路板，PCB板的边缘设置有三个以上的安装通孔，PCB板上布置有DIP12双列直插锁紧插座和78芯锁紧矩形插头，78芯锁紧矩形插头与DIP12双列直插锁紧插座的数量比大于或等于2/3，DIP12双列直插锁紧插座的各列从第一个插位开始每相邻两个插位设置一个铂电阻工位，各铂电阻工位分别通过印制线与相应78芯锁紧矩形插头连接，框架与PCB板形状相应，框架上设置有与安装通孔对应的螺纹孔，PCB板通过安装通孔、螺纹孔和螺钉的配合固定在框架上。本实用新型结构简单、成本低廉、使用方便、操作容易、能同时进行多路测试并且不损伤被测器件。

Description

铂电阻通用测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试工装，具体而言是铂电阻通用测试装置。

背景技术

铂电阻，又称铂热电阻，因其阻值会随着温度的变化而变化，被广泛用作温度传感器的一次元件。铂电阻在使用前，为了判断其可靠性，必须进行三温测试。按照GJB360B－2009《电子及电气元件试验方法》的要求，测试温度有三种，低温(-40℃±0.5℃)、常温(25℃)、高温(+80℃±0.5℃)。现有的测试过程为：先将待测铂电阻放置在高低温箱中，待温度到达规定值后，再将该铂电阻拿出来进行测试。其弊端如下：首先，只能逐只逐项测试，劳神费力，效率低下；其次，铂电阻引脚很软，直接接触引脚测试往往会造成损伤。

针对现有技术的上述不足，本实用新型提出了一种结构简单、成本低廉、使用方便、操作容易、能同时进行多路测试并且不损伤被测器件的铂电阻通用测试装置。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种结构简单、成本低廉、使用方便、操作容易、能同时进行多路测试并且不损伤被测器件的铂电阻通用测试装置。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：一种铂电阻通用测试装置，包括PCB板和框架，其特征是PCB板为单面印制电路板，PCB板的边缘设置有三个以上的安装通孔，PCB板上布置有DIP12双列直插锁紧插座和78芯锁紧矩形插头，78芯锁紧矩形插头与DIP12双列直插锁紧插座的数量比大于或等于2/3，DIP12双列直插锁紧插座的各列从第一个插位开始每相邻两个插位设置一个铂电阻工位，各铂电阻工位分别通过印制线与相应78芯锁紧矩形插头连接，框架与PCB板形状相应，框架上设置有与安装通孔对应的螺纹孔，PCB板通过安装通孔、螺纹孔和螺钉的配合固定在框架上。

进一步地，所述PCB板为矩形单面印制电路板。

进一步地，所述DIP12双列直插锁紧插座的数量为9个，所述78芯锁紧矩形插头的数量为6个。

本实用新型的工作过程如下：先将待测铂电阻分别插入各铂电阻工位，下压锁紧手柄，夹紧铂电阻的引脚；再将78芯锁紧矩形插头与连接采集系统的78芯锁紧矩形插座对接；然后，整体放入高低温箱中，待温度到达所需要求后，采集系统便可同时完成逾百个不同间距铂电阻的三温测试。

本实用新型在DIP12双列直插锁紧插座的各列分别设置铂电阻工位，使不同间距的待测铂电阻可以共用同一个测试装置。

本实用新型将PCB板固定在框架上，使PCB板不直接接触高低温箱，有效避免了因铂电阻导通而影响测试结果。

本实用新型采用78芯锁紧矩形插头在高低温箱内与从高低温箱侧穿入的78芯锁紧矩形插座对接，整个测试过程中不用打开高低温箱门，有利于提高工作效率。

本实用新型结构简单、成本低廉、使用方便、操作容易、能同时进行多路测试并且不损伤被测器件。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的PCB板正面结构示意图；

图3为本实用新型的PCB板反面局部结构示意图；

图4为本实用新型的框架结构示意图；

图5为本实用新型的使用状态示意图。

图中：1-PCB板；1.1-安装通孔；1.2-DIP12双列直插锁紧插座；1.2.1-铂电阻工位；1.3-78芯锁紧矩形插头；1.4-印制线；2-框架；2.1-螺纹孔。

具体实施方式

以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步的说明，但该实施例不应理解为对本实用新型的限制。

如图所示的一种铂电阻通用测试装置，包括PCB板1和框架2，PCB板1为单面印制电路板，PCB板1的边缘设置有三个以上的安装通孔1.1，PCB板1上布置有DIP12双列直插锁紧插座1.2和78芯锁紧矩形插头1.3，78芯锁紧矩形插头1.3与DIP12双列直插锁紧插座1.2的数量比大于或等于2/3，DIP12双列直插锁紧插座1.2的各列从第一个插位开始每相邻两个插位设置一个铂电阻工位1.2.1，各铂电阻工位1.2.1分别通过印制线1.4与相应78芯锁紧矩形插头1.3连接，框架2与PCB板1形状相应，框架2上设置有与安装通孔1.1对应的螺纹孔2.1，PCB板1通过安装通孔1.1、螺纹孔2.1和螺钉的配合固定在框架2上。

优选的实施例是：在上述方案中，所述PCB板1为矩形单面印制电路板。

优选的实施例是：在上述方案中，所述DIP12双列直插锁紧插座1.2的数量为9个，所述78芯锁紧矩形插头1.3的数量为6个。

本说明书中未做详细描述的内容，属于本专业技术人员公知的现有技术。

Claims (3)

1.一种铂电阻通用测试装置，包括PCB板(1)和框架(2)，其特征在于：PCB板(1)为单面印制电路板，PCB板(1)的边缘设置有三个以上的安装通孔(1.1)，PCB板(1)上布置有DIP12双列直插锁紧插座(1.2)和78芯锁紧矩形插头(1.3)，78芯锁紧矩形插头(1.3)与DIP12双列直插锁紧插座(1.2)的数量比大于或等于2/3，DIP12双列直插锁紧插座(1.2)的各列从第一个插位开始每相邻两个插位设置一个铂电阻工位(1.2.1)，各铂电阻工位(1.2.1)分别通过印制线(1.4)与相应78芯锁紧矩形插头(1.3)连接，框架(2)与PCB板(1)形状相应，框架(2)上设置有与安装通孔(1.1)对应的螺纹孔(2.1)，PCB板(1)通过安装通孔(1.1)、螺纹孔(2.1)和螺钉的配合固定在框架(2)上。

2.根据权利要求1所述的铂电阻通用测试装置，其特征在于：所述PCB板(1)为矩形单面印制电路板。

3.根据权利要求1或2所述的铂电阻通用测试装置，其特征在于：所述DIP12双列直插锁紧插座(1.2)的数量为9个，所述78芯锁紧矩形插头(1.3)的数量为6个。

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