CN212255496U - 一种电波测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及天线检测技术领域，具体涉及一种电波测试装置包括：暗室、定位系统和测试系统，定位系统和测试系统位于暗室内，暗室包括底座，定位系统设置在底座上，定位系统包括第一传送机构、第二传送机构和定位机构，定位机构设置在第一传送机构和第二传送机构之间；测试系统设置在定位系统的上方，测试系统包括扫描架机构和多个测试探头，扫描架机构与暗室连接，多个测试探头设置在扫描架机构上，测试探头与扫描架机构之间相对运动，本实用新型能够快速有效地测试出对接后的被测件是否正常，确定出是否存在接触不对而导致各阵子的幅相一致性差异过大的问题，本实用新型内部部件集成度高，结构紧凑、空间占用率低，自动化程度高。

Description

一种电波测试装置

技术领域

本实用新型涉及天线检测领域，具体涉及一种电波测试装置。

背景技术

当前，5G已正式进入商用阶段，各大主设备商在经过多轮产品研发和验证后，即将或已经进入了大规模批产阶段。由于5G基站形态已不同于传统2/3/4G基站，其产线快速测试的装置和方法也有所不同。

当今社会是信息技术社会，随处可见的各类智能化信息化设备，给人们的生活和工作带来了极大的便利，小到智能手机、车载雷达、智能家居，大到工厂智能化设备、航空航天通讯、军事装备用途，都离不开无线电通信。而实现无线电通信的关键部件就是各种型号规格的天线。随着社会信息化的不断进步，要求各种通信设备能够实现小型化、微型化、高速化、宽带化，以满足各种数据信息的大容量高速传输。因而就对天线设计开发提出了越来越高的要求，在开发过程中需要对天线及设备整机进行各种测试，才能保证其性能指标；整个测试过程需要在一种特殊的屏蔽暗室中进行，这种暗室除了需要具备良好的电磁屏蔽功能之外还要具备较高的自动化水平和超高的机械运动精度，以满足海量的测试任务需求，尤其是工业化流水生产线实时在线检测要求，对自动在线检测设备的要求更高。同样，在芯片研究、材料测试、半导体研究方面也要广泛用到此类高标准的测试暗室。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例为解决现有技术中存在的至少一个问题而提供一种电波测试装置，所述装置包括：

暗室、定位系统和测试系统，所述定位系统和所述测试系统位于所述暗室内，

所述定位系统设置在所述暗室的底部，所述定位系统包括第一传送机构、第二传送机构和定位机构，所述暗室相对的两侧面上分别设有进料口和出料口，所述进料口对应有第一屏蔽门，所述出料口对应有第二屏蔽门，所述定位机构设置在所述第一传送机构和所述第二传送机构之间，所述第一传送机构用于将被测件从进料口传送到定位机构上，所述第二传送结构用于将被测件从所述定位机构传送出出料口，所述定位机构用于对被测件进行左右前后上下位置的调节；

所述测试系统设置在所述定位系统的上方，所述测试系统包括扫描架机构和多个测试探头，所述扫描架机构与所述暗室连接，多个所述测试探头设置在所述扫描架机构上，所述测试探头与所述扫描架机构之间相对运动。

进一步的，所述装置还包括安装架，所述定位系统通过所述安装架安装在所述暗室的底部。

进一步的，所述安装架包括支撑框和多根连接杆，所述支撑框支撑所述定位系统，多根所述连接杆一端与所述支撑框连接，多根所述连接杆的另一端设置在所述暗室的底部。

进一步的，所述暗室侧面设置有维修屏蔽门。

进一步的，所述第一屏蔽门和第二屏蔽门上均设置有用于感应被测件的感应器。

进一步的，所述定位机构包括升降平台、挡止件、第一调节组件和第二调节组件，

所述升降平台设置在所述第一传送机构和所述第二传送机构之间，所述挡止件设置在所述升降平台靠近所述第二传送机构的一端，

所述第一调节组件包括第一调节件和第二调节件，所述第一调节件和所述第二调节件对称设置在所述升降平台的两侧，所述第二调节组件设置在所述升降平台的一侧或两侧。

进一步的，所述升降平台上开设有让位槽，所述让位槽的下方设有电动滚轴，所述电动滚轴安装在所述安装架上。

进一步的，所述测试系统还包括检测组件，所述检测组件设置在所述暗室内的顶部，所述检测组件包括用于定位被测件左右前后位置的CCD探测元件，以及用于定位被测件高度的激光测距仪。

进一步的，所述扫描架机构包括支撑单元、第一调节单元、第二调节单元和第三调节单元，所述支撑单元与所述壳体连接，所述第一调节单元相对于所述支撑单元水平运动，所述第二调节单元相对于所述第一调节单元水平运动，所述第三调节单元相对于所述第二调节单元竖直运动。

进一步的，多个所述测试探头设置在所述第三调节单元上。

采用上述技术方案，本实用新型所述的电波测试装置具有如下有益效果：本实用新型通过定位系统中的传送机构输送被测件至定位机构，通过定位机构定位，基于测试系统中的扫描架机构和测试探头之间的相对运动，实现不同位置处被测件的幅相测试，本实用新型能够快速有效地测试出对接后的被测件是否正常，确定出是否存在接触不对而导致各阵子的幅相一致性差异过大的问题，测试效率高，且本实用新型的装置内部部件集成度高，结构紧凑、空间占用率低，自动化程度高。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请所述的电波测试装置的结构示意图；

图2是本申请所述的电波测试装置的内部结构示意图；

图3是本申请所述的定位系统的结构示意图；

图4是本申请所述的测试系统的结构示意图；

图中，1-暗室，11-壳体，111-维修屏蔽门，12-进料口，121-第一屏蔽门，2-定位系统，21-第一传送机构，22-第二传送机构，23-定位机构，231-第一调节组件，232-第二调节组件，233-升降平台，234-挡止件，3-测试系统，31-支撑单元，311-固定块，312-支撑杆，32-第一调节单元，321-第一滑动块，322-第一移动杆，33-第二调节单元，34-测试探头,4安装架，41-支撑框，42-连接杆。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

此处所称的“一个实施例”或“实施例”是指可包含于本实用新型至少一个实现方式中的特定特征、结构或特性。在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“顶”、“底”、等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含的包括一个或者更多个该特征。而且，术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本实用新型的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

为解决现有技术中存在的问题，本说明书提供了一种电波测试装置，如图1至图4所示，所述装置包括暗室1、以及位于所述暗室1内的定位系统2、测试系统3和安装架4；具体的，在暗室1中执行对被测件的测试，可以理解的是，在进行被测件参数的测试时，周围环境使电磁波产生反射、散射和绕射等现象，这些反射、散射和绕射长对测量场的“干扰”导致测量精度下降，而建立暗室1可以解决这个问题，具体的，所述暗室1可以是一个内部粘贴有吸波材料的测试暗箱，箱体形状不限，在一些可实施的方案中，箱体的形状可以为立方体、拱形或锥形等，暗室1内部的吸波材料可以防止信号反射干扰测试结果，优选的，内部所粘贴的吸波材料可以为锥形或楔形吸波材料。在一些可实施的方案中，该吸波材料可以是聚氨酯吸波海绵SA，或者可以是铁氧体吸波材料。

具体的，所述暗室1包括屏蔽壳体11，在本实用新型中，屏蔽壳体11可采用整体加工或模铸方式，然后利用大型精密加工中心一次加工成型，并经过时效处理提前释放内部应力，使其达到高平面度和高稳定性的要求。

所述屏蔽壳体11上设置有进料口12、出料口和维修屏蔽门111，所述进料口12的对应位置处设置有第一屏蔽门121，所述出料口的对应位置处设置有第二屏蔽门，所述维修屏蔽门111方便进行人工维护等操作。优选的，在本说明书实施例中，所述暗室1为立方体结构，包括顶板、底板和侧板。所述顶板和所述侧板共同围合成所述暗室1的屏蔽壳体11，所将屏维修屏蔽门111设置在所述暗室1的侧板上。在一些可实施的方案中，所述第一屏蔽门121和第二屏蔽门均为自动屏蔽门，所述第一屏蔽门121和第二屏蔽门上均设置有感应器，用于感应被测件的距离，根据被测件的距离来判断被测件远离还是靠近，从而实现第一屏蔽门和第二屏蔽门自动开关，此为常规手段。

进一步的，在一些可实施的方案中，所述暗室1内还设置有照明设备、温湿度监控设备和烟雾报警设备。

进一步的，所述定位系统2通过安装架4设置在所述暗室1的底部，所述安装架4包括支撑框41和多根连接杆42，所述支撑框41支撑所述定位系统2，多根所述连接杆42一端与所述支撑框41连接，多根所述连接杆42的另一端设置在所述暗室1的底部。

所述定位系统2包括用于输送被测件的第一传送机构21、第二传送机构22，以及用于固定被测件的定位机构23。所述定位机构23设置在所述第一传送机构21和第二传送机构22之间，所述第一传送机构21用于将被测件传送至定位机构23上进行定位后测试，并在被测件测试完成后由第二传送机构22运输出暗室1。优选的，所述被测件可以为5GAAS或阵列天线，这里不做限定。

可以理解的是，所述第一传送机构21设置在所述暗室1内，与暗室1上的进料口12对接，所述第二传送机构22设置在所述暗室1内，与暗室1上的出料口对应(图中未示出)对接，优选的，可以通过流水线传送带、AGV小车或机械臂中的一种实现进料，这里不做限定。

其中，作为第一种实施例，所述定位机构23包括升降平台233、挡止件234、第一调节组件231和第二调节组件232，在本实施例中，被测件会被输送至升降平台233中。所述升降平台233可以实现上下位置的调节，所述升降平台233设置在所述第一传送机构21和所述第二传送机构22之间，所述挡止部234设置在所述升降平台233靠近所述第二传送机构22的一端。优选的，在本说明书实施例中，所述升降平台233与所述挡止件234可以实现相互独立的上升与下降。所述第一调节组件231为1组，包括第一调节件和第二调节件，所述第一调节件和所述第二调节件对称设置在所述升降平台233上表面的左右两侧，第一调节件和所述第二调节件分别为左定位夹具和右定位夹具，左定位夹具和右定位夹具与被测件接触的表面均设有轴承弹珠。

可以理解的是，所述被测件在第一传送机构21的运输过程中，可能会因为颠簸而导致被测件被输送到升降平台233后，测试位置出现偏差，此时所述左定位夹具或右定位夹具对被测件进行调整，然后夹紧被测件，并在测试完成后松开。

所述第二调节组件232设置在所述升降平台233的靠近第一传送机构21的一端。第二调节组件232为自动止锁机构，自动止锁机构用于自动对被测件的前侧进行限位。

在一种可实施的方案中，可以在所述升降平台233上沿着传送方向上开设至少一个让位槽，所述让位槽的下方设有电动滚轴，电动滚轴安装在安装架4上，当升降平台233处于初始状态时，电动滚轮贯穿让位槽且其顶部高于升降平台表面，当升降平台233处于升高位置时，电动滚轴处于让位槽正下方。可以理解的是，由于被测件的种类繁多，不同的被测件的测试距离会存在差别，当被测件的位置调正后，可以通过升降平台233的上下位置的调节将被测件抬升或降低到合适的测试位置，并通过所述第二调节组件232实现被测件厚度方向的夹紧，并在测试完成后松开。可以理解的是，所述第二调节组件也可以实现上下位置的微小调节。

测试系统3位于所述定位系统2的上方，所述测试系统3包括扫描架机构和多个测试探头34，所述扫描架机构与所述屏蔽壳体11的顶部连接，多个所述测试探头34设置在所述扫描架机构上，所述测试探头34与所述扫描架机构之间相对运动。

具体的，所述扫描架机构包括支撑单元31、第一调节单元32、第二调节单元33、第三调节单元(图中未示出)和旋转单元(图中未示出)，所述支撑单元31与所述屏蔽壳体11连接，所述第一调节单元32相对于所述支撑单元31水平运动，所述第二调节单元33相对于所述第一调节单元32水平运动，所述第三调节单元相对于所述第二调节单元32竖直运动。多个所述测试探头34通过所述旋转单元与所述第三调节单元连接。

在一些可实施的方案中，所述扫描架机构可以为齿轮传动机构、皮带传动机构、链轮传动机构或丝杠螺杆传动机构，这里不做限定。

优选的，所述支撑单元31包括支撑杆311和固定块312，所述固定块312一端与所述屏蔽壳体11的顶部连接，所述固定块312的另一端与所述支撑杆332连接。

所述第一调节单元32包括第一滑动块321和第一移动杆322，所述第一滑动块321一端与所述第一移动杆322固定连接，所述第一滑动块321的另一端与所述支撑杆332滑动连接，以带动所述第一移动杆322沿所述被测件的长边方向运动。

优选的，在本说明书实施例中，所述第一滑动块321和第一移动杆322的个数可以为2：1的关系。

所述第二调节单元32包括第二滑动块(图中未示出)和第二移动杆(图中未示出)，所述第二滑动块一端与所述第二移动杆固定连接，所述第二滑动块的另一端与所述第一移动杆滑动连接，以带动所述第二移动杆沿被测件的宽边移动。优选的，在本说明书实施例中，所述第二滑动块和第二移动杆的个数可以为2：1的关系。

所述第三调节单元包括第三滑动块，所述第三滑动块的一端与所述第二移动杆滑动连接，所述第三滑动块的另一端与所述旋转单元连接。

所述旋转单元包括旋转电机和安装板，所述安装板一侧与所述第三滑动块连接，所述安装板的另一侧与所述旋转电机连接，所述旋转电机的的旋转轴与所述测试探头34固定连接，优选的，所述旋转电机与所述安装板之间可旋转。

可以理解的是，上述装置中设置了多个可移动的测试探头34，其可以沿着被测件的长边和宽边运动，并极化旋转，从而可以利用该装置将测试探头34依次与被测件上的每个阵子进行物理对齐，测试幅相值，提高了测试效率。

进一步的，所述测试系统3还包括检测组件，所述检测组件设置在所述暗室1内的顶部，所述检测组件可以设置在所述屏蔽壳体11上，也可以置于所述所述定位系统2的某个部件上，用于配合定位过程。所述检测组件包括用于定位被测件左右前后位置的CCD探测元件，以及用于定位被测件高度的激光测距仪。

在一些可实施的方案中，所述激光测距仪可以设置在所述屏蔽壳体11的顶部，用于对测试探头34到被测件的距离进行监控，具体用于测量和监控测试探头34到被测件垂直方向上的距离。将CCD探测元件设置在屏蔽壳体11的顶部。对被测件的定位过程进行监控，确保位置摆正。

具体的，为更清楚的了解本方案，下面对被方案装置的工作原理进行介绍：

第一屏蔽门121检测到有被测件运输过来后，自动开启，被测件通过暗室1上的进料口12进入，随后第一屏蔽门121关闭，被测件通过第一传送机构21在暗室1中被继续向前运输，直至升降平台233，被测件被运输至升降平台233后，挡止件234升起，阻挡好被测件的前头，防止其进入第二传送机构22，自动止锁装置挡住被测件的后头；

升降平台233升起，通过激光测距仪将被测件调节至测试高度。通过CCD探测元件检测左右方位，从而第一调节组件231调节被测件左右方位以达到测试要求。测试完成后，升降平台233下降至初始位置，档止件234和自动止锁装置全部下降，在电动滚轴的摩擦力作用下，被测件向第二传送机构22运动，并由第二传送机构22送出出料口。

调节测试系统3的第一调节单元32、第二调节单元33以及旋转单元，使得测试探头34至被测件的上方。

对测试件进行各个接口的拔插对接，根据产品类型，移动测试探头34，对测试件进行各参数测试。

测试完成后，接口松开，定位系统2和测试系统3恢复到初始位置，以免干涉下一个被测件，此时，第二屏蔽闭门检测到有被测件需要送出，则自动开启，被测件下降到第二传送机构22，运送出暗室1。

可以理解的是，在上述叙述中，被测件测试完成后，是基于电动滚轴的摩擦力作用，带动被测件向第二传送机构22运动，并由第二传送机构22送出出料口。

作为另一种可实施的方案，基于上述所述的升降平台下方未设置电动滚轴的结构，当被测件测试完成后，挡止件234下降，定位系统2和测试系统3恢复到初始位置，在后面的待测试的被测件的撞击下，将以测试完成的被测件向前推送，推送至第二传送机构22上，并由第二传送机构22送出出料口。本实用新型通过定位系统中的传送机构输送被测件至定位机构，通过定位机构定位，基于测试系统中的扫描架机构和测试探头之间的相对运动，实现不同位置处被测件的幅相测试，本实用新型能够快速有效地测试出对接后的被测件是否正常，确定出是否存在接触不对而导致各阵子的幅相一致性差异过大的问题，测试效率高，且本实用新型的装置内部部件集成度高，结构紧凑、空间占用率低，自动化程度高。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电波测试装置，其特征在于，所述装置包括：

暗室(1)、定位系统(2)和测试系统(3)，所述定位系统(2)和所述测试系统(3)位于所述暗室(1)内，

所述定位系统(2)设置在所述暗室(1)的底部，所述定位系统(2)包括第一传送机构(21)、第二传送机构(22)和定位机构(23)，所述暗室相对的两侧面上分别设有进料口(12)和出料口，所述进料口(12)对应有第一屏蔽门(121)，所述出料口对应有第二屏蔽门，所述定位机构(23)设置在所述第一传送机构(21)和所述第二传送机构(22)之间，第一传送机构(21)用于将被测件从进料口(12)传送到定位机构(23)上，所述第二传送机构(22)用于将被测件从定位机构(23)传送出出料口，所述定位机构(23)用于对被测件进行左右前后上下位置的调节；

所述测试系统(3)设置在所述定位系统(2)的上方，所述测试系统(3)包括扫描架机构和多个测试探头(34)，所述扫描架机构与所述暗室(1)连接，多个所述测试探头(34)设置在所述扫描架机构上，所述测试探头(34)与所述扫描架机构之间相对运动。

2.根据权利要求1所述的电波测试装置，其特征在于，所述装置还包括安装架(4)，所述定位系统(2)通过所述安装架(4)安装在所述暗室(1)的底部。

3.根据权利要求2所述的电波测试装置，其特征在于，所述安装架(4)包括支撑框(41)和多根连接杆(42)，所述支撑框(41)支撑所述定位系统(2)，多根所述连接杆(42)一端与所述支撑框(41)连接，多根所述连接杆(42)的另一端设置在所述暗室(1)的底部。

4.根据权利要求1所述的电波测试装置，其特征在于，所述第一屏蔽门(121)和所述第二屏蔽门上均设置有用于感应被测件的感应器。

5.根据权利要求2所述的电波测试装置，其特征在于，所述定位机构(23)包括升降平台(233)、挡止件(234)、第一调节组件(231)和第二调节组件(232)，

所述升降平台(233)设置在所述第一传送机构(21)和所述第二传送机构(22)之间，所述挡止件(234)设置在所述升降平台(233)靠近所述第二传送机构(22)的一端，

所述第一调节组件(231)包括第一调节件和第二调节件，所述第一调节件和所述第二调节件对称设置在所述升降平台(233)的两侧，所述第二调节组件(232)设置在所述升降平台(233)的一侧或两侧。

6.根据权利要求5所述的电波测试装置，其特征在于，所述升降平台(233)上开设有让位槽，所述让位槽的下方设有电动滚轴，所述电动滚轴安装在所述安装架(4)上。

7.根据权利要求1所述的电波测试装置，其特征在于，所述测试系统(3)还包括检测组件，所述检测组件设置在所述暗室(1)内的顶部，所述检测组件包括用于定位被测件左右前后位置的CCD探测元件，以及用于定位被测件高度的激光测距仪。

8.根据权利要求7所述的电波测试装置，其特征在于，所述扫描架机构包括支撑单元(31)、第一调节单元(32)、第二调节单元(33)和第三调节单元，所述支撑单元(31)与所述暗室(1)连接，所述第一调节单元(32)相对于所述支撑单元(31)水平运动，所述第二调节单元(33)相对于所述第一调节单元(32)水平运动，所述第三调节单元相对于所述第二调节单元(33)竖直运动。

9.根据权利要求8所述的电波测试装置，其特征在于，多个所述测试探头(34)设置在所述第三调节单元上。

10.根据权利要求9所述的电波测试装置，其特征在于，所述扫描架机构还包括旋转单元，所述测试探头(34)通过所述旋转单元与所述第三调节单元连接。

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