CN212159873U - 一种用于ic芯片测试的装夹装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公布了一种用于IC芯片测试的装夹装置，它包括夹台，所述夹台上配设有两组宽度对中夹持块以及两组长度对中夹持块，上述的宽度对中夹持块和长度对中夹持块分别与夹台滑动连接，其后端面均通过弹性件连接推块，在所述夹台的内部设置驱动推块对中装夹的驱动部件，本实用新型提出一种用于IC芯片测试的装夹装置，能够对芯片进行自动定心，且在装夹时避免与芯片刚性接触。

Description

一种用于IC芯片测试的装夹装置

技术领域

本申请涉及芯片测试用具，具体是涉及一种用于IC芯片测试的装夹装置。

背景技术

IC芯片(Integrated Circuit集成电路)是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片，而今几乎所有看到的芯片，都可以叫做IC芯片。

芯片在封装完成后，一般需要对芯片的合格性进行测试，以便将良品和不良品分开，然后，由于芯片属于高精密产品，在进行检测时，需要将检测模具上的探针准确对准芯片上的焊点或引脚，然后现有技术中，芯片在测试时，定位精度不高，无法实现准确检测，且装夹芯片的夹具与芯片刚性接触，容易损坏芯片。

发明内容

本实用新型主要针对以上问题，提出一种用于IC芯片测试的装夹装置，能够对芯片进行自动定心，且在装夹时避免与芯片刚性接触。

为实现上述目的，本实用新型提供了以下技术方案：

根据一方面，本实用新型提供了一种用于IC芯片测试的装夹装置，它包括夹台，所述夹台上配设有两组宽度对中夹持块以及两组长度对中夹持块，上述的宽度对中夹持块和长度对中夹持块分别与夹台滑动连接，其后端面均通过弹性件连接推块，在所述夹台的内部设置驱动推块对中装夹的驱动部件。

作为本实用新型一种用于IC芯片测试的装夹装置的一种改进，所述的宽度对中夹持块沿长度方向设置至少一组夹柱，所述夹柱具有用于承载芯片的宽度夹持口；所述长度对中夹持块具有用于承载芯片的长度夹持口。

作为本实用新型一种用于IC芯片测试的装夹装置的一种改进，所述夹台中部设置有槽口，所述槽口的台面上分别安装有与宽度对中夹持块和长度对中夹持块滑动设置的滑轨，所述宽度对中夹持块和长度对中夹持块分别开设有与所述滑轨配合的滑口。

作为本实用新型一种用于IC芯片测试的装夹装置的一种改进，所述的驱动部件包括呈上下交叉配置的第一丝杆和第二丝杆，所述的第一丝杆和第二丝杆的一端分别穿过推块与推块螺纹连接，另一端分别设置大齿轮组与经驱动链条连接第一步进电机和第二步进电机的小齿轮组。

作为本实用新型一种用于IC芯片测试的装夹装置的一种改进，所述夹台内部还设置有与推块滑动设置的导杆。

作为本实用新型一种用于IC芯片测试的装夹装置的一种改进，所述夹台上还设置有用于控制第一步进电机和第二步进电机启闭的点触开关。

依据上述技术方案，可以得知，本实用新型提出的一种用于IC芯片测试的装夹装置，相对于现有技术中而言，具有以下有益效果：

1、该装夹装置具有自动定心功能，通过启动点触开关，四个夹持块分别锁紧芯片，定位精度高；

2、通过设置弹性件可避免在装夹过程时与芯片刚性接触，由小齿轮带动大齿轮转动，通过降低装夹速度，使得在定心时可以随时停止；本实用新型的其它有益效果，在具体实施方式中进一阐明。

附图说明

图1为本申请用于IC芯片测试的装夹装置的立体结构示意图。

图2为本申请用于IC芯片测试的装夹装置的局部俯视图。

图3为夹台内部的结构示意图。

图4为宽度对中夹持块通过弹性件与推块连接的结构示意图。

图中所示的附图标记：1、夹台；2、宽度对中夹持块；3、长度对中夹持块；4、弹性件；5、推块；6、驱动部件；7、夹柱；8、滑轨；9、导杆；10、点触开关；11、大齿轮组；12、芯片；101、槽口；201、滑口；301、长度夹持口；501、螺纹孔；61、第一丝杆；62、第二丝杆；63、驱动链条；64、第一步进电机；65、第二步进电机；701、宽度夹持口。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本实用新型作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。

请参考图1-图4，本实施例提供了一种用于IC芯片测试的装夹装置，它包括夹台1，所述夹台1上配设有两组宽度对中夹持块2以及两组长度对中夹持块3，其中：

如图4所示，宽度对中夹持块2沿长度方向设置有至少一组夹柱7，该夹柱7上设有用于承载芯片12的宽度夹持口701，且宽度对中夹持块2侧端通过弹性件4连接推块5，该推块5上设置有螺纹孔501，驱动部件6上的第一丝杆61穿过螺纹孔501与推块5螺纹连接，另一端设置大齿轮组11，通过驱动链条63连接第一步进电机64；

如图3所示，长度对中夹持块3沿长度方向设置有用于承载芯片12的长度夹持口301，与上述宽度对中夹持块2的驱动方式一样，设置有弹性件4、推块，并由第二丝杆62、大齿轮组、驱动链条以及第二步进电机65对其进行驱动。

可以理解的是，操作人员首先按下夹台1上的第一点触开关10，由驱动部件6驱动推块5对中移动，当芯片12在长度方向上接触两组长度对中夹持块3后，由弹性件4进行一定的缓冲，由于大小齿轮组的设置构成了不同的角速度，使得上述过程的装夹速度降低，在压缩到一定距离后，可松开第一点触开关10，完成长度方向上的定心，然后再按下第二点触开关10，宽度方向上的两组宽度对中夹持块2开始对移动，直至对芯片12在宽度上的定心，该弹性件4可选择弹簧来避免对芯片12的刚性接触，防止芯片12在进行自动定心时对芯片12造成损坏。

作为上述实施例中的进一步优选方案，所述的宽度对中夹持块2沿长度

作为上述实施例中的进一步优选方案，所述夹台中部设置有槽口，所述槽口101的台面上分别安装有与宽度对中夹持块2和长度对中夹持块3滑动设置的滑轨8，所述宽度对中夹持块2和长度对中夹持块3分别开设有与所述滑轨8配合的滑口201。

作为上述实施例中的进一步优选方案，所述夹台1内部还设置有与推块5滑动设置的导杆9。

在上述实施例中，第一丝杆61和第二丝杆62均为具有正反牙、且呈上下交叉配置，可以合理的利用夹台1的内部空间。

本技术实用新型不局限于上述实施方式，只要是说明书中提及的方案均落在本实用新型的保护范围之内。

以上应用了具体个例对本实用新型进行阐述，只是用于帮助理解本实用新型，并不用以限制本实用新型。对于本实用新型所属技术领域的技术人员，依据本实用新型的思想，还可以做出若干简单推演、变形或替换。

Claims (6)

1.一种用于IC芯片测试的装夹装置，其特征在于，它包括夹台，所述夹台上配设有两组宽度对中夹持块以及两组长度对中夹持块，上述的宽度对中夹持块和长度对中夹持块分别与夹台滑动连接，其后端面均通过弹性件连接推块，在所述夹台的内部设置驱动推块对中装夹的驱动部件。

2.根据权利要求1所述的一种用于IC芯片测试的装夹装置，其特征在于，所述的宽度对中夹持块沿长度方向设置至少一组夹柱，所述夹柱具有用于承载芯片的宽度夹持口；所述长度对中夹持块具有用于承载芯片的长度夹持口。

3.根据权利要求1所述的一种用于IC芯片测试的装夹装置，其特征在于，所述夹台中部设置有槽口，所述槽口的台面上分别安装有与宽度对中夹持块和长度对中夹持块滑动设置的滑轨，所述宽度对中夹持块和长度对中夹持块分别开设有与所述滑轨配合的滑口。

4.根据权利要求1所述的一种用于IC芯片测试的装夹装置，其特征在于，所述的驱动部件包括呈上下交叉配置的第一丝杆和第二丝杆，所述的第一丝杆和第二丝杆的一端分别穿过推块与推块螺纹连接，另一端分别设置大齿轮组与经驱动链条连接第一步进电机和第二步进电机的小齿轮组。

5.根据权利要求4所述的一种用于IC芯片测试的装夹装置，其特征在于，所述夹台内部还设置有与推块滑动设置的导杆。

6.根据权利要求5所述的一种用于IC芯片测试的装夹装置，其特征在于，所述夹台上还设置有用于控制第一步进电机和第二步进电机启闭的点触开关。

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