CN217360175U - 芯片检测座的辅助移动机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型芯片检测座的辅助移动机构，该辅助移动机构具有一定位板，一可于该定位板上滑移且适时于测试区位移的移动板，以及一定位组，其中，该移动板上可供芯片检测座设置，以便利用该移动板的位移来达到该芯片检测座移动的效果，以使该芯片检测座得以在该移动板的带动下快速退出该测试区，以利操作者可针对累积于该芯片检测座上的测试部中的异物进行清除后再予以快速、精密归位，有效提升后续测试作业的顺畅性。
Description
技术领域
本实用新型是有关于一种辅助移动机构设计，特别是指一种针对芯片检测座的辅助移动机构。
背景技术
参阅图1，习知测试机1(图中以简图表示)具有一机台11，一设于该机台11一侧旁可将待测芯片2予以输入的进料装置12，一设于该机台11上以带动该待测芯片2进行测试的移动件13，一形成该机台11一侧且位于该移动件13下方的测试区14(图中假想线所示)，复数设于该测试区14处且与该移动件13相对应的芯片检测座15，以及一设于该机台11另一侧的退料装置16；其中，该每一芯片检测座15上具有一供该待测芯片2进行测试的测试板151，同时该测试板151相对该移动件13的一端具有一测试部152，以承接该移动件13所带动的待测芯片2进行测试；是以，由该移动件13移动至该进料装置12处，以对该进料装置12所输入的复数待测芯片2予以带起，并移动至该测试区14，使该等待测芯片2来到对应的该等测试部152处，以将该每一待测芯片2一一被顶掣于对应的该测试部152上，以对该等待测芯片2进行良劣的测试，完成后再将测试完的该等芯片2移动至该退料装置16处进行良劣分选集收，借此即完成该等芯片2的测试作业。
实际使用后发现，当该测试板151的测试部152经长期承接该移动件13顶掣待测芯片2进行测试后，该测试部152处上会累积许多有测试后的该芯片2的周边的异物，而这些异物若不适当进行清除，累积过多将会影响后续该等待测芯片2的试测精准度，然鉴于该等芯片检测座15系以固定方式定位于该机台11上，以使该测试板151恰对应于该移动件13下方处，导致该测试板151与该移动件13之间的空间有限，可供工具伸入拆卸的空间已经过于狭窄，再加上该等芯片检测座15旁另设有如负离子风扇等其他机构(图中简图表示)，对于要将该等芯片检测座15一一予以拆卸更加造成不便，即使辛苦拆下来清洁后，亦必须再将该等芯片检测座15装回、精密定位，实过于耗费时间，有待改善。
实用新型内容
因此，本实用新型的目的，是在提供一种芯片检测座的辅助移动机构，其利用简单结构，借此有效缩短该测试板上的测试区异物清除的时效，且异物清除后能快速、精准归位，以有效提升后续测试作业的顺畅性。
于是，本实用新型提供一种芯片检测座的辅助移动机构，该辅助移动机构设于测试机上，而该测试机具有一带动待测芯片进行测试的移动件，一位于该移动件下方的测试区，以及至少一设于该测试区处且与该移动件相对应的芯片检测座；
该辅助移动机构具有一设于该测试机上的定位板，一供该芯片检测座设置且于该定位板上进行位移的移动板，以及至少一定位组，其中，该定位组设于该移动板上，且该定位组具有两个对应的定位导柱，以使两个定位导柱供该芯片检测座定位于上，使该芯片检测座在该移动板的带动下于该定位板上移动。
进一步的，该定位板相对该移动板的一侧形成有供该移动板于上滑移的滑轨组，以使该移动板顺利于该定位板上位移。
进一步的，该定位板的前、后两侧分别开设有两个对应的定位孔，而该移动板的一侧穿设有两个对应的定位销，以使该移动板滑移至该定位板的前侧或后侧时，该定位销可伸置于该定位孔中。
进一步的，该移动板上供该芯片检测座呈复数设置。
借此可使设于该芯片检测座上的测试板随该移动板的移动，而退出与该测试机的移动件相对应的测试区处，以利操作者得以快速针对累积于该芯片检测座的测试部上的异物进行清洁后，再使该芯片检测座随该移动板的移动而归位至该测试区处并与该移动件呈相对应，借此有效缩短该芯片检测座上的测试部中的异物清除时效，使得归位后得以有提升后续测试作业的顺畅性。
附图说明
图1是习知测试机的示意图；
图2是本实用新型一较佳实施例的示意图；
图3是该较佳实施例的辅助移动机构示意图；
图4至图7是该较佳实施例的辅助移动机构动作示意图。
符号说明：
(习知)
1：测试机
11： 机台
12：进料装置
13：移动件
14：测试区
15：芯片检测座
16：退料装置
151：测试板
152：测试部
2：待测芯片
(本实用新型)
3：测试机
31：移动件
32：测试区
33：芯片检测座
331：测试板
332：测试部
4：待测芯片
5：辅助移动机构
51：定位板
52：移动板
53：定位组
511：滑轨
512：定位孔
521：定位销
531：定位导柱。
具体实施方式
有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中，将可清楚的明白。
参阅图2，本实用新型芯片检测座的辅助移动机构5的一较佳实施例，该辅助移动机构5设于测试机3上，而该测试机3(图中以简图表示)具有一带动该待测芯片4进行测试的移动件31，一位于该移动件31下方的测试区32(图中假想线所示)，以及至少一设于该测试区32处且与该移动件32相对应的芯片检测座33；其中，该芯片检测座33上具有一供该待测芯片4进行测试的测试板331，同时该测试板331相对该移动件32一端具有一测试部332，以承接该移动件31所带动的待测芯片4进行测试，而前述该测试机3对该待测芯片4的测试模式均与习知相同，在此不再详述。
配合参阅图3，该辅助移动机构5具有一设于该测试机3上的定位板51，一可供该芯片检测座33设置且于该定位板51上进行适当移动的移动板52，以及至少一定位组53；其中，该定位板51相对该移动板52的一侧形成有一供该移动板52于上滑移的滑轨组511，以使该移动板52顺利于该定位板51上位移，另，该定位组53设于该移动板52上，且该定位组53具有两个对应的定位导柱531，以使两个定位导柱531恰可供该芯片检测座33衔接以定位于上，使该芯片检测座33在该移动板52的带动过程中得以利用该定位导柱531的定位而于该定位板51上进行稳定的移动，在本实施例中，该移动板52上可供该芯片检测座33呈复数设置，以使该定位组53呈相对应的设置，即如对应该测试机3的测试作业不同可使该芯片检测座33与该定位组53为呈四组设置，如图4所示，亦或呈八组的设置(图中未示)，以下说明仅以该移动板52上具有四组该定位组53与该芯片检测座33为例说明，同时为避免该移动板52于该定位板51前侧或后侧定位时，受到外力因素产生不当移动，导致影响该芯片检测座33的测试作业或清洁作业的进行，故特别另于该定位板51的前、后两侧分别开设有两个对应的定位孔512，而该移动板52的一侧穿设有两个对应的定位销522，以使该移动板52滑移至该定位板52的前侧亦或后侧，该定位销522恰可与前侧亦或后侧的该定位孔512相对应时，使该定位销522得以伸置于该定位孔512中，以限制该移动板52稳固定位于该定位板51上而无法移动。
参阅图2至图4，当该测试机3完成待测芯片4的测试作业后，位于该测试板331一端的测试部332上，在长期测试该芯片4后会累积有芯片在测试后所残留的异物，一但该测试部332中残留有过多该异物存在时，将会造成后续该等待测芯片4的测试作业无法有效精准进行，这时便要针对该测试部332上的异物进行清除与清洁，因此在进行该等测试板331的清洁、清除作业时，可在该测试机3停机后，利用该测试机3上具有该辅助移动机构5的设计，即先使伸置于该定位板51前侧的该定位孔512中定位的该定位销521退出该定位孔512，即如图5所示，使该移动板52不再被限制于该定位板51上后移动该移动板52，以通过该定位板51上的滑轨组511于该定位板51上移动，而设于该移动板52上的该等芯片检测座33即会随该移动板52移动，以使该测试板331上位于该测试区32处的该测试部332，在该移动板52的移动过程中自该测试区32退出并远离该移动件31下方，直至该定位销521随该移动板52的移动而来到与位于该定位板51后侧的该定位孔512相对后，该定位销521便会伸置于该定位孔512中(即图6、图7所示)，借此可以限制该移动板52定位于该定位板51上而无法产生任意的滑动，此时该测试部332便会完全显现于该移动件31外，以使该测试部332周围具有足够空间以供清洁工具(图中未示)伸置，如此便可针对该等测试部332中的异物一一予以清除，以使该测试部332达到清空洁净，当然对于该测试部332的清洁，可视残留异物的状况在移动该测试板331的情况下，于该芯片检测座33上直接进行清洁处理，亦或将该测试板331自该检测座33卸下进行清洁后，使该测试部332恢复至无残留异物的形态后，再将该测试板331重新设于该检测座33上，因此无论以何种作业方式进行皆能在最短的时间内达到较佳的清洁效果，且完成清洁作业后便可使该定位销521脱离该定位孔512，并移动该移动板52以通过该滑轨511于该定位板51上移动，直至该等测试部332进入该测试区32并位于该移动件31下方后，这时该定位销521对应伸置于该定位板51前侧的该定位孔512中，即达到该芯片检测座33的归位，而后同时仅需针对该测试部332与该移动件31间的对应间距，及该测试板331的对称的平衡进行微调整后，便可马上进行后续该等待测芯片4的测试，有别于习知在清洁作业上需耗费繁琐时效来对设于该测试机3上的其他机构进行拆卸移动后，才能对该测试板331进行有效的清洁，故仅要通过本实用新型该辅助移动机构5的该移动板52带动该等芯片检测座33于该测试机3上进行适当的移动，便能有效缩短该测试板331上的该测试部332上的异物清除的时效，使得归位后得以有提升后续测试作业的顺畅性。
归纳前述，本实用新型芯片检测座的辅助移动机构，可使位于测试机上的该芯片检测座借由该辅助移动机构的辅助，带动设于该芯片检测座上的测试板移动，以退出测试区，以利得以在不作动该测试机上的其他机构的状态下，快速针对长期测试后累积于该等测试板一端上的测试部上的异物进行清洁后，再使该芯片检测座随该移动板的移动而归位，使该测试板上的该测试部处来与该移动件呈对应，借此有效缩短该测试部中的异物清除的时效，使得归位后得以有提升后续测试作业的顺畅性。
惟以上所述者，仅为说明本实用新型的较佳实施例而已，当不能以此限定本实用新型实施的范围，即凡依本实用新型申请专利范围及新型说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。
Claims (4)
1.一种芯片检测座的辅助移动机构，该辅助移动机构设于测试机上，而该测试机具有一带动待测芯片进行测试的移动件，一位于该移动件下方的测试区，以及至少一设于该测试区处且与该移动件相对应的芯片检测座；其特征在于：
该辅助移动机构具有一设于该测试机上的定位板，一供该芯片检测座设置且于该定位板上进行位移的移动板，以及至少一定位组，其中，该定位组设于该移动板上，且该定位组具有两个对应的定位导柱，以使两个定位导柱供该芯片检测座定位于上，使该芯片检测座在该移动板的带动下于该定位板上移动。
2.根据权利要求1所述的芯片检测座的辅助移动机构，其特征在于：该定位板相对该移动板的一侧形成有供该移动板于上滑移的滑轨组，以使该移动板顺利于该定位板上位移。
3.根据权利要求1所述的芯片检测座的辅助移动机构，其特征在于：该定位板的前、后两侧分别开设有两个对应的定位孔，而该移动板的一侧穿设有两个对应的定位销，以使该移动板滑移至该定位板的前侧或后侧时，该定位销可伸置于该定位孔中。
4.根据权利要求1或2所述的芯片检测座的辅助移动机构，其特征在于：该移动板上供该芯片检测座呈复数设置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202220205268.9U CN217360175U (zh) | 2022-01-25 | 2022-01-25 | 芯片检测座的辅助移动机构 |
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Publications (1)
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| CN217360175U true CN217360175U (zh) | 2022-09-02 |
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Family Applications (1)
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| CN202220205268.9U Active CN217360175U (zh) | 2022-01-25 | 2022-01-25 | 芯片检测座的辅助移动机构 |
Country Status (1)
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2022
- 2022-01-25 CN CN202220205268.9U patent/CN217360175U/zh active Active
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