CN212133508U - 一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及检测工具技术领域,具体来说是一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,第一测量座和第二测量座对称设置于定位座的两侧,定位座上设有基准平面,基准平面在设有第一测量座和第二测量座的两侧对称设有定位槽,检具底座上对应于所述的定位槽设有定位孔;第一测量座和第二测量座分别设有通孔,通孔与所述的基准平面之间的竖直高度差与产品的被测孔的要求位置相适应。本实用新型所结构简洁小巧、使用便捷,且检测周期短,在加工过程中,现场检验人员能够有效及时地通过孔位置度检具来检测孔位置度,有助于缩短检验时间、降低成本、提高现场检测的快速反应、保证产品良率,并减少因孔位置度不合格而导致的组装不良。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测工具技术领域,具体来说是一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具。
背景技术
对于手机按键类产品,按键下侧相对设有两个支脚,且支脚上设有用于连接的通孔,在实际的加工过程中,现场检验人员没有有效及时的方法来管控通孔的形位尺寸,容易导致产品产生批量的不良。
目前的孔位置度检测方法是,由检验员取料,送至实验室,由实验室技术人员通过专用的三次元测量仪进行测量和数据分析,而后再转料至检验员,三次元测量仪测量一片产品的时间大概在5分钟,而且对技术人员的技术水平要求较高,加上各个环节的周转时间导致了整个检测周期很长,无法做到快速检验快速反馈,无法解决易产生批量不良的问题。
并且由于三次元测量仪的测量耗时较长、对技术人员的要求较高的问题,实际生产中,并非对每件产品进行检测,而是进行抽样检测。检验频率为首件送检,且4H/次送产品至实验室检测。而手机按键的此尺寸对产品的最后组装起着关键作用,用三次元测量仪进行测量无法实现物料全检,导致组装存在很大的风险。
发明内容
本实用新型的目的在于解决现有技术的不足,提供一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,能在加工现场快速地对孔位置度进行检测。
为了实现上述目的,设计一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,包括检具底座,所述的检具底座上设有定位座、第一测量座、第二测量座和测量销,所述的第一测量座和第二测量座对称设置于所述的定位座的两侧,所述的定位座上设有基准平面,用于对产品进行垂直方向的定位,所述的基准平面在设有第一测量座和第二测量座的两侧对称设有定位槽,所述的检具底座上对应于所述的定位槽设有定位孔;所述的第一测量座和第二测量座分别设有用于与测量销配合的通孔,所述的通孔与所述的基准平面之间的竖直高度差与产品的被测孔的要求位置相适应。
本实用新型还具有如下优选的技术方案:
所述的测量销包括导柱、远于所述的定位座的头部、近于所述的定位座的测量部,所述的导柱能沿所述的通孔自由移动。
所述的头部与所述的导柱的连接位置的外径大于所述的导柱的外径,所述的导柱与所述的测量部的连接位置的外径大于所述的测量部的外径。
所述的第一测量座和所述的第二测量座的相近一端设有限位块,限位块上设有与所述的测量部相适应的过孔,以限制所述的测量部向定位座的移动距离及保证测量销在非工作状态下不会脱落。
所述的定位座对应于所述的测量销的位置设有测量销避位孔。
所述的测量销上配合设置有用于复位的弹簧。
实用新型的有益效果
本实用新型所提供的一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具的优点包括但不限于:本实用新型结构简洁小巧、使用便捷,且检测周期短、成本低,对检测人员的专业要求也较低,在加工过程中,现场检验人员能够有效及时地通过所述的用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具来检测孔位置度,从而能根据检测结果实时对生产加工流程进行调整,减少产生产品批量不良的状况,并且,由于通过本检具进行检测,相对三次元检测仪耗时更少,有充分的时间能够实现产品的全检,降低出货产品的不良率;总之,本检具的使用有助于缩短检验时间、降低成本、提高现场检测的快速反应、保证产品良率,并减少因孔位置度不合格而导致的组装不良。
附图说明
图1示例性示出了本实用新型所适用的产品的示意图。
图2示例性示出了本实用新型的结构示意图。
图3示例性示出了本实用新型的分解示意图。
图4示例性示出了本实用新型的俯视图。
图5示例性示出了图4的A-A剖视图。
图中:1.被测孔 2.支脚 3.配合面 4.测量销 41.头部 42.导柱 43.测量部 5.弹簧 6.第一测量座 7.限位块 8.第二测量座 9.检具底座 10.定位座 101.基准平面 11.定位孔 12.定位槽 13.导轨 14.测量销避位孔。
具体实施方式
本实施方式提供一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,用于对产品的被测孔1进行检测。如图1所示,其示出了一种按键类产品的结构,按键类产品的下侧设有一配合面3,所述的配合面3向下设有两个支脚2,所述的支脚2上设有待测量的被测孔1,待检测的孔的度参数包括被测孔1的孔径大小以及被测孔1距离配合面3的距离。
结合图2-图4所示,所述的检具底座9上设有定位座10,且所述的定位座10的左右两侧对称设有第一测量座6和第二测量座8,所述的定位座10用于对产品进行定位,而所述的第一测量座6和第二测量座8上设有检测结构用于对被测孔1的位置和孔径进行检测。以下对各部件分别进行示例说明。
在所述的定位座10上设有一基准平面101,用于配合于所述的产品的配合面3的下侧从而对产品进行定位,同时,所述的基准平面101在设有第一测量座6和第二测量座8的两侧对称设有定位槽12,且所述的检具底座9上对应于所述的定位槽12设有定位孔11,所述的定位槽12和定位孔11用于与所述的按键类产品的两个支脚2相配合,定位孔11和定位槽12的尺寸根据产品的装配原理设计为支脚2的最大实体尺寸。
所述的第一测量座6和第二测量座8相对设有指向所述的定位座10的通孔,通孔与所述的基准平面101之间在竖直方向的距离与产品的被测孔1的位置要求相适应,所述的通孔与所述的测量销4配合以对测量销4,以对测量销4的运动起到导向的作用,且所述的测量销4上配合连接有用于复位的弹簧5。在一个优选的实施方式中,所述的通孔内还能设有导轨13,用于与所述的检测测量销4相配合。
所述的测量销4包括一导柱42,所述的导柱42配合于所述的第一测量座6或第二测量座8通孔内,并能沿所述的通孔移动,所述的导柱42远离所述的定位座10的一端设有外径大于所述的导柱42的头部41,所述的导柱42近于所述的定位座10的一端设有测量部43,测量部43的端部的外径与所述的被测孔1的要求尺寸相适应,用于检测所述的被测孔1的大小是否符合要求的尺寸。而所述的弹簧5则配合连接于导柱42的头部41位置,例如结合图4和图5所示,对于配合连接于所述的第一测量座6内的测量销4,导柱42的头部41与所述的第一测量座6远于所述的定位座10的端部,即左端,之间抵持有所述的弹簧5。而对于配合连接于所述的第二测量座8内的测量销4,导柱42的头部41与所述的第二测量座8远于所述的定位座10的端部,即右端,之间抵持有所述的弹簧5。
在一个优选的实施方式中,所述的导柱42与所述的测量部43的连接位置的外径大于所述的测量部43的外径。并且,所述的第一测量座6和所述的第二测量座8的相近一端设有限位块7,限位块7上设有与所述的测量部43相适应的过孔,所述的测量部43能通过所述的过孔,而所述的导柱42无法通过所述的过孔,从而能限制所述的测量部43向定位座10的移动距离。
在一个优选的实施方式中,结合图5所示,为了对测量销4进行避位,在所述的定位座10中部对应于所述的测量销4的位置设有测量销避位孔14,在使用测量销4进行检测时能起到对测量销4的测量部43进行避位的作用。
实施例1
本实施例中,导柱42的头部41的直径为Φ3mm,导柱42的直径为Φ2+0/-0.01mm,导柱42和测量部43之间设有直径为Φ1.2+0/-0.01mm的台阶,测量部43的直径为被测孔1的要求尺寸,且公差为+0.005/-0mm,所述的弹簧5的规格为:内径Φ2.0*线径0.5*长度10mm。第一测量座6和第二测量座8的通孔作为导轨13,其尺寸为Φ2+0.015/+0.005mm,限位块7为Φ1.2+0.01/0*外径Φ3 *长度1mm的圆环。
实施例2
使用时,首先将检具平稳地放置在工作台上,在自然状态下两测量销4在弹簧5的作用下向左右两侧弹出,产品通过两支脚2以及基准平面101定位放置在定位座10上并接触良好,即产品的两支脚2与定位孔11和定位槽12间隙配合。而后,同时相向推两个测量销4,检测产品的孔位置尺寸,只有两个测量销4能同时进入则产品通过检测,反之则产品未通过检测。
以上所述,仅为此实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案和新型的构思加于等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,其特征在于包括检具底座,所述的检具底座上设有定位座、第一测量座、第二测量座和测量销,所述的第一测量座和第二测量座对称设置于所述的定位座的两侧,所述的定位座上设有基准平面,用于对产品进行垂直方向的定位,所述的基准平面在设有第一测量座和第二测量座的两侧对称设有定位槽,所述的检具底座上对应于所述的定位槽设有定位孔;所述的第一测量座和第二测量座分别设有用于与测量销配合的通孔,所述的通孔与所述的基准平面之间的竖直高度差与产品的被测孔的要求位置相适应。
2.如权利要求1所述的用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,其特征在于所述的测量销包括导柱、远于所述的定位座的头部、近于所述的定位座的测量部,所述的导柱能沿所述的通孔自由移动。
3.如权利要求2所述的用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,其特征在于所述的头部与所述的导柱的连接位置的外径大于所述的导柱的外径,所述的导柱与所述的测量部的连接位置的外径大于所述的测量部的外径。
4.如权利要求2-3任一所述的用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,其特征在于所述的第一测量座和所述的第二测量座的相近一端设有限位块,限位块上设有与所述的测量部相适应的过孔,以限制所述的测量部向定位座的移动距离及保证测量销在非工作状态下不会脱落。
5.如权利要求2-3任一所述的用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,其特征在于所述的定位座对应于所述的测量销的位置设有测量销避位孔。
6.如权利要求1-3任一所述的用于对被测孔的位置和孔径进行检测的检具,其特征在于所述的测量销上配合设置有用于复位的弹簧。
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