CN212113669U - 一种半导体元件的测试夹持工装 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种半导体元件的测试夹持工装,包括支撑框架,所述支撑框架的上方活动安装有两个夹持机构,两个所述夹持机构的底部均与第一丝杠螺纹连接,支撑框架的两侧均固定安装有两个滚轮,夹持机构包括移动撑板,移动撑板的上方活动安装有两个移动座,两个移动座的底部均与第二丝杠螺纹连接,移动座的上表面竖直设置有两个固定轴,固定轴上沿竖直方向套设有两个转动环,转动环的外侧套接固定有橡胶环;该测试夹持工装可以对各个移动座上的橡胶环的间距进行调节,可以对不同尺寸的半导体元件进行夹持,适应性强,该测试夹持工装便于移动,方便在各个测试工位之间转移,提高了工作效率。

Description

一种半导体元件的测试夹持工装
技术领域
本实用新型涉及半导体元件加工设备技术领域,具体涉及一种半导体元件的测试夹持工装。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件;专利文件(CN204303791U)公开了半导体晶片的夹持装置,该夹持装置不便于调节,无法满足不同尺寸的半导体元件的夹持需求,适应性较差,而且该夹持装置不便于移动,不方便在各个测试工位之间转移,工作效率低。
实用新型内容
为了解决上述的技术问题,本实用新型提供了一种半导体元件的测试夹持工装,解决了传统半导体元件的测试夹持工装无法满足不同尺寸的半导体元件的夹持需求,适应性差,以及传统半导体元件的测试夹持工装不便于移动,不方便在各个测试工位之间转移,工作效率低的技术问题。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现:
一种半导体元件的测试夹持工装,包括支撑框架,所述支撑框架的上方活动安装有两个夹持机构,所述支撑框架上横向设置有第一丝杠,所述第一丝杠的两端通过轴承与支撑框架的两侧转动连接,所述支撑框架的一侧固定安装有第一电机,所述第一电机的输出轴端与第一丝杠的一端固定连接,两个所述夹持机构的底部均与第一丝杠螺纹连接,所述支撑框架的内侧横向固定有导向横杆,所述支撑框架的两侧均固定安装有两个滚轮,所述支撑框架的两个相对内壁上均固定安装有第三电机,所述第三电机的输出轴端与滚轮固定连接,所述支撑框架两侧的滚轮分别滚动设置在两个第一滑轨上;
所述夹持机构包括移动撑板,所述移动撑板的上表面设置有两个安装板,两个所述安装板分别通过焊接固定安装在移动撑板上表面的两端,其中一个所述安装板的一侧固定安装有第二电机,两个所述安装板之间横向设置有第二丝杠,所述第二丝杠的两端分别通过轴承与两个安装板转动连接,所述第二电机的输出轴端与第二丝杠的一端固定连接,所述移动撑板的上方活动安装有两个移动座,两个所述移动座的底部均与第二丝杠螺纹连接,所述移动座的上表面竖直设置有两个固定轴,所述固定轴的底部与移动座焊接固定,所述固定轴上沿竖直方向套设有两个转动环,所述转动环与固定轴转动连接,所述转动环的外侧套接固定有橡胶环。
进一步的,两个所述移动座上的两个所述固定轴关于第二丝杠呈对称分布。
进一步的,两个所述夹持机构关于支撑框架的中部呈对称分布。
进一步的,所述第一丝杠两端的螺纹关于第一丝杠中部呈对称分布,两个所述夹持机构分别位于第一丝杠的两侧。
进一步的,所述导向横杆与第一丝杠相平行。
进一步的,所述第二丝杠两端的螺纹关于第二丝杠中部呈对称分布,两个所述移动座分别位于第二丝杠的两侧。
进一步的,所述移动座的底部固定安装有两个滑块,所述移动撑板的上表面固定安装有两个第二滑轨,两个所述滑块分别与两个第二滑轨滑动连接。
本实用新型的有益效果:
本实用新型第二电机带动第二丝杠转动,从而带动两个移动座沿第二滑轨相向或反向移动,调节两个移动座上橡胶环的间距,通过第一电机带动两个夹持机构相向移动,并带动四个移动座移动,使四个移动座上的橡胶环分别与半导体元件四个拐角的两边抵接,对半导体元件进行固定,该测试夹持工装可以对各个移动座上的橡胶环的间距进行调节,可以对不同尺寸的半导体元件进行夹持,适应性强,通过在支撑框架的两侧安装滚轮,通过第三电机带动滚轮转动,并带动整个测试夹持工装移动,该测试夹持工装便于移动,方便在各个测试工位之间转移,提高了工作效率。
附图说明
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
图1是本实用新型一种半导体元件的测试夹持工装的结构俯视图;
图2是本实用新型中夹持机构的结构俯视图;
图3是本实用新型中夹持机构的局部结构侧视图。
图中:1、支撑框架;2、第一电机;3、第一丝杠;4、夹持机构;41、移动撑板;42、安装板;43、第二丝杠;44、第二电机;45、移动座;46、固定轴;47、转动环;48、橡胶环;5、导向横杆;6、滚轮;7、第三电机;8、第一滑轨;9、滑块;10、第二滑轨。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1-3所示,一种半导体元件的测试夹持工装,包括支撑框架1,所述支撑框架1的上方活动安装有两个夹持机构4,所述支撑框架1上横向设置有第一丝杠3,所述第一丝杠3的两端通过轴承与支撑框架1的两侧转动连接,所述支撑框架1的一侧固定安装有第一电机2,所述第一电机2的输出轴端与第一丝杠3的一端固定连接,两个所述夹持机构4的底部均与第一丝杠3螺纹连接,所述支撑框架1的内侧横向固定有导向横杆5,所述支撑框架1的两侧均固定安装有两个滚轮6,所述支撑框架1的两个相对内壁上均固定安装有第三电机7,所述第三电机7的输出轴端与滚轮6固定连接,所述支撑框架1两侧的滚轮6分别滚动设置在两个第一滑轨8上;
所述夹持机构4包括移动撑板41,所述移动撑板41的上表面设置有两个安装板42,两个所述安装板42分别通过焊接固定安装在移动撑板41上表面的两端,其中一个所述安装板42的一侧固定安装有第二电机44,两个所述安装板42之间横向设置有第二丝杠43,所述第二丝杠43的两端分别通过轴承与两个安装板42转动连接,所述第二电机44的输出轴端与第二丝杠43的一端固定连接,所述移动撑板41的上方活动安装有两个移动座45,两个所述移动座45的底部均与第二丝杠43螺纹连接,所述移动座45的上表面竖直设置有两个固定轴46,所述固定轴46的底部与移动座45焊接固定,所述固定轴46上沿竖直方向套设有两个转动环47,所述转动环47与固定轴46转动连接,所述转动环47的外侧套接固定有橡胶环48。
两个所述移动座45上的两个所述固定轴46关于第二丝杠43呈对称分布。
两个所述夹持机构4关于支撑框架1的中部呈对称分布。
所述第一丝杠3两端的螺纹关于第一丝杠3中部呈对称分布,两个所述夹持机构4分别位于第一丝杠3的两侧。
所述导向横杆5与第一丝杠3相平行。
所述第二丝杠43两端的螺纹关于第二丝杠43中部呈对称分布,两个所述移动座45分别位于第二丝杠43的两侧。
所述移动座45的底部固定安装有两个滑块9,所述移动撑板41的上表面固定安装有两个第二滑轨10,两个所述滑块9分别与两个第二滑轨10滑动连接。
本实用新型的工作原理:
该测试夹持工装在使用时,将待半导体元件放到两个夹持机构4之间,根据半导体元件的大小调节第二电机44,第二电机44的输出轴转动并带动第二丝杠43转动,第二丝杠43带动两个移动座45沿第二滑轨10相向或反向移动,调节两个移动座45上橡胶环48的间距,启动第一电机2,第一电机2的输出轴转动并带动第一丝杠3转动,第一丝杠3带动两个夹持机构4相向移动,并带动四个移动座45移动,使四个移动座45上的橡胶环48分别与半导体元件四个拐角的两边抵接,对半导体元件进行固定,并进行测试,待一项测试完成后,启动两个第三电机7,第三电机7带动滚轮6转动,并带动整个测试夹持工装移动到下一个测试工位进行测试。
本实用新型第二电机44带动第二丝杠43转动,从而带动两个移动座45沿第二滑轨10相向或反向移动,调节两个移动座45上橡胶环48的间距,通过第一电机2带动两个夹持机构4相向移动,并带动四个移动座45移动,使四个移动座45上的橡胶环48分别与半导体元件四个拐角的两边抵接,对半导体元件进行固定,该测试夹持工装可以对各个移动座45上的橡胶环48的间距进行调节,可以对不同尺寸的半导体元件进行夹持,适应性强,通过在支撑框架1的两侧安装滚轮6,通过第三电机7带动滚轮6转动,并带动整个测试夹持工装移动,该测试夹持工装便于移动,方便在各个测试工位之间转移,提高了工作效率。
以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式上的限制,虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本实用新型,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本实用新型技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本实用新型技术方案内容,依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (7)

1.一种半导体元件的测试夹持工装,其特征在于,包括支撑框架(1),所述支撑框架(1)的上方活动安装有两个夹持机构(4),所述支撑框架(1)上横向设置有第一丝杠(3),所述第一丝杠(3)的两端通过轴承与支撑框架(1)的两侧转动连接,所述支撑框架(1)的一侧固定安装有第一电机(2),所述第一电机(2)的输出轴端与第一丝杠(3)的一端固定连接,两个所述夹持机构(4)的底部均与第一丝杠(3)螺纹连接,所述支撑框架(1)的内侧横向固定有导向横杆(5),所述支撑框架(1)的两侧均固定安装有两个滚轮(6),所述支撑框架(1)的两个相对内壁上均固定安装有第三电机(7),所述第三电机(7)的输出轴端与滚轮(6)固定连接,所述支撑框架(1)两侧的滚轮(6)分别滚动设置在两个第一滑轨(8)上;
所述夹持机构(4)包括移动撑板(41),所述移动撑板(41)的上表面设置有两个安装板(42),两个所述安装板(42)分别通过焊接固定安装在移动撑板(41)上表面的两端,其中一个所述安装板(42)的一侧固定安装有第二电机(44),两个所述安装板(42)之间横向设置有第二丝杠(43),所述第二丝杠(43)的两端分别通过轴承与两个安装板(42)转动连接,所述第二电机(44)的输出轴端与第二丝杠(43)的一端固定连接,所述移动撑板(41)的上方活动安装有两个移动座(45),两个所述移动座(45)的底部均与第二丝杠(43)螺纹连接,所述移动座(45)的上表面竖直设置有两个固定轴(46),所述固定轴(46)的底部与移动座(45)焊接固定,所述固定轴(46)上沿竖直方向套设有两个转动环(47),所述转动环(47)与固定轴(46)转动连接,所述转动环(47)的外侧套接固定有橡胶环(48)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体元件的测试夹持工装,其特征在于,两个所述移动座(45)上的两个所述固定轴(46)关于第二丝杠(43)呈对称分布。
3.根据权利要求1所述的一种半导体元件的测试夹持工装,其特征在于,两个所述夹持机构(4)关于支撑框架(1)的中部呈对称分布。
4.根据权利要求1所述的一种半导体元件的测试夹持工装,其特征在于,所述第一丝杠(3)两端的螺纹关于第一丝杠(3)中部呈对称分布,两个所述夹持机构(4)分别位于第一丝杠(3)的两侧。
5.根据权利要求1所述的一种半导体元件的测试夹持工装,其特征在于,所述导向横杆(5)与第一丝杠(3)相平行。
6.根据权利要求1所述的一种半导体元件的测试夹持工装,其特征在于,所述第二丝杠(43)两端的螺纹关于第二丝杠(43)中部呈对称分布,两个所述移动座(45)分别位于第二丝杠(43)的两侧。
7.根据权利要求1所述的一种半导体元件的测试夹持工装,其特征在于,所述移动座(45)的底部固定安装有两个滑块(9),所述移动撑板(41)的上表面固定安装有两个第二滑轨(10),两个所述滑块(9)分别与两个第二滑轨(10)滑动连接。
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