CN212060355U - 一种矿机asic测试探针卡及关键结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种矿机ASIC测试探针卡及关键结构，所述矿机ASIC测试探针卡包括外框、双轴电机、齿轮、移动平台、滚柱、支撑弹簧、放置框架、测试板、滑板、电磁铁、回复弹簧、顶块、延伸支架、活动架、触点和压板。本实用新型通过放置框架可批量的测试芯片，提高测试机的工作效率，对芯片进行有效定位，避免芯片固定时发生偏差问题，同时，通过测试机构可以快速的进行电性连接，检测迅速，省时省力。

Description

一种矿机ASIC测试探针卡及关键结构

技术领域

本实用新型涉及芯片测试探针卡，具体是一种矿机ASIC测试探针卡及关键结构，属于探针卡应用技术领域。

背景技术

探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，通过连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试，探针卡是将探针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触，引出芯片讯号，再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的，探针卡应用在IC尚未封装前，针对裸晶系以探针做功能测试，筛选出不良品、再进行之后的封装工程，因此，探针卡是IC制造中对制造成本影响相当大的重要制程之一。

探针卡是用于芯片封装前进行测试，发现有不良品存在晶圆当中，即进行舍弃的一种测试工具，探针卡进行晶圆测试时，需要对探针卡进行固定再进行与芯片之间的连接测试，通常在测试时需要手动将晶圆挨个放置在探针卡上，时间浪费在放置过程中，使得检测效率低下，同时，测试时，晶圆放置时定位不准，影响后期检测。因此，针对上述问题提出一种矿机ASIC测试探针卡及关键结构。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种矿机ASIC测试探针卡及关键结构。

本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的，一种矿机ASIC测试探针卡，包括外框、定位移动机构和测试机构；

所述定位移动机构包括双轴电机，双轴电机通过转轴连接左右两端的齿轮，齿轮啮合有移动平台，移动平台的上侧通过卡槽卡接有放置框架，移动平台的下侧左右对称设有支撑弹簧；

所述测试机构包括测试板、测试机和滑板，滑板滑动连接在测试板上侧，测试板朝向滑板的一侧安装有若干电磁铁和回复弹簧，滑板上对应电磁铁设有衔铁，滑板远离电磁铁的一侧滑动连接有顶块，顶块的上下两侧设有延伸支架，延伸支架固定在滑板上，且延伸支架的端部铰接有活动架，上侧活动架的端部安装有触点，下侧活动架的端部铰接有压板。

优选的，所述外框的背板上安装双轴电机，移动平台的后端通过齿条啮合齿轮，所述移动平台的前侧左右两端转动连接有滚柱，滚柱抵在外框上。

优选的，所述支撑弹簧包括若干段弹簧和中间板，且外框的下侧设有与支撑弹簧匹配的凹槽，使得移动平台可以抵接在外框的下侧。

优选的，所述放置框架的下侧设有与移动平台匹配的凸块，放置框架上设有若干凸块，放置框架上侧固定有若干定位杆，用以支撑和定位放置在上方的芯片。

优选的，所述延伸支架和活动架均为L型，顶块在活动架之间的一端上下两侧为圆柱型，顶块的另一端通过弹簧连接滑板，通过顶块带动活动架夹紧，使得触点抵压在测试点上，方便进行测试。

优选的，所述触点、双轴电机和电磁铁均电性连接测试机，测试机内包含控制器，对芯片进行移动和测试，并判断是否合格。

一种矿机ASIC测试探针卡关键结构，所述关键结构为定位移动机构，所述定位移动机构包括双轴电机，双轴电机通过转轴连接左右两端的齿轮，齿轮啮合有移动平台，移动平台的上侧通过卡槽卡接有放置框架，移动平台的下侧左右对称设有支撑弹簧。

一种矿机ASIC测试探针卡关键结构，所述关键结构为测试机构，所述测试机构包括测试板、测试机和滑板，滑板滑动连接在测试板上侧，测试板朝向滑板的一侧安装有若干电磁铁和回复弹簧，滑板上对应电磁铁设有衔铁，滑板远离电磁铁的一侧滑动连接有顶块，顶块的上下两侧设有延伸支架，延伸支架固定在滑板上，且延伸支架的端部铰接有活动架，上侧活动架的端部安装有触点，下侧活动架的端部铰接有压板。

本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过放置框架可批量的测试芯片，提高测试机的工作效率，对芯片进行有效定位，避免芯片固定时发生偏差问题；

2、本实用新型通过测试机构可以快速的进行电性连接，检测迅速，省时省力。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本实用新型正视结构示意图；

图2为本实用新型俯视结构示意图；

图3为本实用新型中顶块结构示意图。

图4为本实用新型中移动平台的立体结构示意图。

图中：1、外框；2、双轴电机；3、齿轮；4、移动平台；5、滚柱；6、支撑弹簧；7、放置框架；12、测试板；13、滑板；14、电磁铁；15、回复弹簧；16、顶块；17、延伸支架；18、活动架；19、触点；20、压板。

具体实施方式

为使得本实用新型的实用新型目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而非全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

具体实施例一

本实施例为一种矿机ASIC测试探针卡的实施例。

请参阅图1-4所示，一种矿机ASIC测试探针卡，包括外框1、定位移动机构和测试机构；

所述定位移动机构包括双轴电机2，双轴电机2通过转轴连接左右两端的齿轮3，齿轮3啮合有移动平台4，移动平台4的上侧通过卡槽卡接有放置框架7，移动平台4的下侧左右对称设有支撑弹簧6；

所述测试机构包括测试板12、测试机和滑板13，滑板13滑动连接在测试板12上侧，测试板12朝向滑板13的一侧安装有若干电磁铁14和回复弹簧15，滑板13上对应电磁铁14设有衔铁，滑板13远离电磁铁14的一侧滑动连接有顶块16，顶块16的上下两侧设有延伸支架17，延伸支架17固定在滑板13上，且延伸支架17的端部铰接有活动架18，上侧活动架18的端部安装有触点19，下侧活动架18的端部铰接有压板20；

所述外框1的背板上安装双轴电机2，移动平台4的后端通过齿条啮合齿轮3，所述移动平台4的前侧左右两端转动连接有滚柱5，滚柱5抵在外框1上，所述支撑弹簧6包括若干段弹簧和中间板，且外框1的下侧设有与支撑弹簧6匹配的凹槽，使得移动平台4可以抵接在外框1的下侧，所述放置框架7的下侧设有与移动平台4匹配的凸块，放置框架7上设有若干凸块，放置框架7上侧固定有若干定位杆，用以支撑和定位放置在上方的芯片，所述延伸支架17和活动架18均为L型，顶块16在活动架18之间的一端上下两侧为圆柱型，顶块16的另一端通过弹簧连接滑板13，通过顶块16带动活动架18夹紧，使得触点19抵压在测试点上，方便进行测试，所述触点19、双轴电机2和电磁铁14均电性连接测试机，测试机内包含控制器，对芯片进行移动和测试，并判断是否合格；

本实用新型在使用时，将芯片依次卡接在放置框架7上，放满后，将放置框架7卡接在移动平台4上，并向下压到顶端，双轴电机2通电完成自锁，测试机控制测试机构工作，电磁铁14关闭，滑板13在回复弹簧15的作用下向芯片运动，顶块16抵压在芯片边缘，压缩弹簧，同时，带动活动架18转动，从而使得触点19抵在测试点上，同时，压板20顶在芯片背面，再通电，测试机判断是否合格，输出后，电磁铁14开启，放开芯片，并向两侧退出，接着双轴电机2转动，带动移动平台4上升，从而带动芯片上升，在进行下一块的测试，上升到最高点后，测试机接收反馈，输出测试结果，拿开放置框架7后，测试下一组，并人工取出不合格的产品。

具体实施例二

本实施例为一种矿机ASIC测试探针卡定位移动机构的实施例。

所述定位移动机构包括双轴电机2，双轴电机2通过转轴连接左右两端的齿轮3，齿轮3啮合有移动平台4，移动平台4的上侧通过卡槽卡接有放置框架7，移动平台4的下侧左右对称设有支撑弹簧6。

具体实施例三

本实施例为一种矿机ASIC测试探针卡测试机构的实施例。

所述测试机构包括测试板12、测试机和滑板13，滑板13滑动连接在测试板12上侧，测试板12朝向滑板13的一侧安装有若干电磁铁14和回复弹簧15，滑板13上对应电磁铁14设有衔铁，滑板13远离电磁铁14的一侧滑动连接有顶块16，顶块16的上下两侧设有延伸支架17，延伸支架17固定在滑板13上，且延伸支架17的端部铰接有活动架18，上侧活动架18的端部安装有触点19，下侧活动架18的端部铰接有压板20。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的得同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

以上所述，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种矿机ASIC测试探针卡，其特征在于：包括外框（1）、定位移动机构和测试机构；

所述定位移动机构包括双轴电机（2），双轴电机（2）通过转轴连接左右两端的齿轮（3），齿轮（3）啮合有移动平台（4），移动平台（4）的上侧通过卡槽卡接有放置框架（7），移动平台（4）的下侧左右对称设有支撑弹簧（6）；

所述测试机构包括测试板（12）、测试机和滑板（13），滑板（13）滑动连接在测试板（12）上侧，测试板（12）朝向滑板（13）的一侧安装有若干电磁铁（14）和回复弹簧（15），滑板（13）上对应电磁铁（14）设有衔铁，滑板（13）远离电磁铁（14）的一侧滑动连接有顶块（16），顶块（16）的上下两侧设有延伸支架（17），延伸支架（17）固定在滑板（13）上，且延伸支架（17）的端部铰接有活动架（18），上侧活动架（18）的端部安装有触点（19），下侧活动架（18）的端部铰接有压板（20）。

2.根据权利要求1所述的一种矿机ASIC测试探针卡，其特征在于：所述外框（1）的背板上安装双轴电机（2），移动平台（4）的后端通过齿条啮合齿轮（3），所述移动平台（4）的前侧左右两端转动连接有滚柱（5），滚柱（5）抵在外框（1）上。

3.根据权利要求1所述的一种矿机ASIC测试探针卡，其特征在于：所述支撑弹簧（6）包括若干段弹簧和中间板，且外框（1）的下侧设有与支撑弹簧（6）匹配的凹槽。

4.根据权利要求1所述的一种矿机ASIC测试探针卡，其特征在于：所述放置框架（7）的下侧设有与移动平台（4）匹配的凸块，放置框架（7）上设有若干凸块，放置框架（7）上侧固定有若干定位杆。

5.根据权利要求1所述的一种矿机ASIC测试探针卡，其特征在于：所述延伸支架（17）和活动架（18）均为L型，顶块（16）在活动架（18）之间的一端上下两侧为圆柱型，顶块（16）的另一端通过弹簧连接滑板（13）。

6.根据权利要求1所述的一种矿机ASIC测试探针卡，其特征在于：所述触点（19）、双轴电机（2）和电磁铁（14）均电性连接测试机，测试机内包含控制器。

7.一种矿机ASIC测试探针卡关键结构，其特征在于：所述关键结构为定位移动机构，包括双轴电机（2），双轴电机（2）通过转轴连接左右两端的齿轮（3），齿轮（3）啮合有移动平台（4），移动平台（4）的上侧通过卡槽卡接有放置框架（7），移动平台（4）的下侧左右对称设有支撑弹簧（6）。

8.一种矿机ASIC测试探针卡关键结构，其特征在于：所述关键结构为测试机构，包括测试板（12）、测试机和滑板（13），滑板（13）滑动连接在测试板（12）上侧，测试板（12）朝向滑板（13）的一侧安装有若干电磁铁（14）和回复弹簧（15），滑板（13）上对应电磁铁（14）设有衔铁，滑板（13）远离电磁铁（14）的一侧滑动连接有顶块（16），顶块（16）的上下两侧设有延伸支架（17），延伸支架（17）固定在滑板（13）上，且延伸支架（17）的端部铰接有活动架（18），上侧活动架（18）的端部安装有触点（19），下侧活动架（18）的端部铰接有压板（20）。

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