CN211563748U - 一种偏光片瑕疵检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种偏光片瑕疵检测装置,属于偏光片瑕疵检测技术领域。所述偏光片瑕疵检测装置包括层剥工位、傅里叶工位、压迹工位、90度暗视工位、45度透视工位、气纹工位;所述层剥工位用于检测偏光片表面气泡或边部剥离;所述傅里叶工位用于检测偏光片表面凹凸类瑕疵;所述压迹工位用于检测偏光片压迹瑕疵;所述90度暗视工位用于检测偏光片表面残胶、浮起、糊欠损类瑕疵;所述45度透视工位用于检测偏光表面凹凸类瑕疵;所述气纹工位用于检测偏光片表面气纹类瑕疵。该偏光片瑕疵检测装置能够同时检测气泡、凹凸、压迹、残胶、气纹等瑕疵,大大提高偏光片的合格率;且检测过程为连续检测,无需反复转运至不同的检测装置,减少偏光片的二次伤害。
Description
技术领域
本实用新型涉及偏光片瑕疵检测技术领域,特别涉及一种偏光片瑕疵检测装置。
背景技术
偏光片的全称是偏振光片,液晶显示器的成像必须依靠偏振光,所有的液晶都有前后两片偏振光片紧贴在液晶玻璃,组成总厚度1mm左右的液晶片,从而在液晶显示器上呈现影象。
偏光片为大批量生产,在生产或运输过程中会产生气泡、凹凸、压迹、残胶、气纹等瑕疵,而这些瑕疵将严重影响产品质量,所以在皮昂光片出厂前需要对每一片偏光片进行检测。
目前,市面上现有的偏光片检测装置,大都为单一瑕疵检测装置,只能进行部分瑕疵的检测且在检测过程中需要不断转运偏光片容易对偏光片造成二次伤害。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种偏光片瑕疵检测装置,以解决现有的单一瑕疵检测装置需要不断转运偏光片容易对偏光片造成二次伤害;且瑕疵检测种类不全,导致成品合格率低的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种偏光片瑕疵检测装置,包括层剥工位、傅里叶工位、压迹工位、90度暗视工位、45度透视工位、气纹工位、剔废工位和成品收料工位;
所述层剥工位、所述傅里叶工位和所述压迹工位沿水平方向传送带设置;
所述传送带末端连接有传送滚轴,所述90度暗视工位和所述45度透视工位分别位于所述传送滚轴正反两面;所述气纹工位位于所述传送滚轴末端;
所述层剥工位用于检测偏光片表面气泡或边部剥离;
所述傅里叶工位用于检测偏光片表面凹凸类瑕疵;
所述压迹工位用于检测偏光片压迹瑕疵;
所述90度暗视工位用于检测偏光片表面残胶、浮起、糊欠损类瑕疵;
所述45度透视工位用于检测偏光表面凹凸类瑕疵;
所述气纹工位用于检测偏光片表面气纹类瑕疵。
可选的,所述层剥工位主要由层剥相机和层剥光源组成;所述层剥相机为线扫描相机,沿45度角斜向拍摄所述传送带上的偏光片;所述层剥光源为面光源,沿45度角斜向照射所述传送带上的偏光片。
可选的,所述傅里叶工位主要由傅里叶相机和傅里叶光源组成;所述傅里叶相机为线扫描相机,沿90度垂直拍摄所述传送带上的偏光片;所述傅里叶光源为条形光源,且所述傅里叶光源表面覆盖有明暗交替的栅格,沿45度角斜向照射所述传送带上的偏光片。
可选的,所述压迹工位主要由压迹相机和压迹光源组成;所述压迹相机为面阵相机,沿45度角斜向拍摄所述传送带上的偏光片;所述压迹光源为面光源,且压迹光源表面覆盖有明暗交替的栅格,沿45度角斜向照射所述传送带上的偏光片。
可选的,所述90度暗视工位主要由暗视相机和普通条形光源组成;所述暗视相机为线扫描相机,沿90度垂直拍摄所述传送滚轴上的偏光片;所述普通条形光源从所述传送滚轴下方穿过所述传送滚轴之间的空隙照射偏光片。
可选的,所述45度透视工位主要由透视相机和普通条形光源组成,所述透视相机为线扫描相机,穿过所述传送滚轴之间的空隙沿沿45度角斜向拍摄偏光片;所述普通条形光源从所述传送滚轴上方沿90度垂直照射偏光片。
可选的,所述气纹工位主要由气纹相机和反光板组成,所述气纹相机为线扫描相机,从所述传送滚轴上方沿90度垂直拍摄偏光片;所述反光板沿45度角斜向将光线反射到偏光片表面。
可选的,所述剔废工位由若干个沿水平方向自由移动的吸盘组成,通过所述吸盘将有瑕疵的偏光片拾取放入废料框。
可选的,所述成品收料工位位于所述剔废工位末端,成品偏光片会在传送带的作用下将偏光片传送至所述成品收料工位的成品框中。
可选的,所述偏光片瑕疵检测装置外部由框架和遮光面板组成,保证所述偏光片瑕疵检测装置在检测时不受外部杂光影响。
在本实用新型中提供了一种偏光片瑕疵检测装置,包括层剥工位、傅里叶工位、压迹工位、90度暗视工位、45度透视工位、气纹工位、剔废工位和成品收料工位;所述层剥工位用于检测偏光片表面气泡或边部剥离;所述傅里叶工位用于检测偏光片表面凹凸类瑕疵;所述压迹工位用于检测偏光片压迹瑕疵;所述90度暗视工位用于检测偏光片表面残胶、浮起、糊欠损类瑕疵;所述45度透视工位用于检测偏光表面凹凸类瑕疵;所述气纹工位用于检测偏光片表面气纹类瑕疵。该偏光片瑕疵检测装置能够同时检测气泡、凹凸、压迹、残胶、气纹等瑕疵,大大提高偏光片的合格率;且检测过程为连续检测,无需反复转运至不同的检测装置,减少偏光片的二次伤害。
附图说明
图1是本实用新型提供的一种偏光片瑕疵检测装置的整体结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型提出的一种偏光片瑕疵检测装置作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书,本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。
本实用新型提供了一种偏光片瑕疵检测装置,如图1所示,包括层剥工位1、傅里叶工位2、压迹工位3、90度暗视工位4、45度透视工位5、气纹工位6、剔废工位7和成品收料工位8;所述层剥工位1、所述傅里叶工位2和所述压迹工位3沿水平方向传送带9设置,上述瑕疵检测工位不受前后顺序限制,且根据实际检测需求,所述瑕疵检测的类型能够进行增减;所述传送带9末端连接有传送滚轴10,所述90度暗视工位4和所述45度透视工位5分别位于所述传送滚轴10正反两面;所述气纹工位6位于所述传送滚轴10末端;所述偏光片瑕疵检测装置外部由框架和遮光面板组成,保证所述偏光片瑕疵检测装置在检测时不受外部杂光影响,并且各个工位的相机和光源均固定连接与所述框架上。
具体的,所述层剥工位1用于检测偏光片表面气泡或边部剥离,主要由层剥相机11和层剥光源12组成;所述层剥相机11为线扫描相机,沿45度角斜向拍摄所述传送带9上的偏光片;所述层剥光源12为面光源,沿45度角斜向照射所述传送带9上的偏光片;所述傅里叶工位2用于检测偏光片表面凹凸类瑕疵,主要由傅里叶相机21和傅里叶光源22组成;所述傅里叶相机21为线扫描相机,沿90度垂直拍摄所述传送带9上的偏光片;所述傅里叶光源22为条形光源,且所述傅里叶光源22表面覆盖有明暗交替的栅格,沿45度角斜向照射所述传送带9上的偏光片;所述压迹工位3用于检测偏光片压迹瑕疵,主要由压迹相机31和压迹光源32组成;所述压迹相机31为面阵相机,沿45度角斜向拍摄所述传送带9上的偏光片;所述压迹光源32为面光源,且压迹光源32表面覆盖有明暗交替的栅格,沿45度角斜向照射所述传送带9上的偏光片;所述90度暗视工位4用于检测偏光片表面残胶、浮起、糊欠损类瑕疵,主要由暗视相机41和普通条形光源组成;所述暗视相机41为线扫描相机,沿90度垂直拍摄所述传送滚轴10上的偏光片;所述普通条形光源从所述传送滚轴10下方穿过所述传送滚轴10之间的空隙照射偏光片;所述45度透视工位(5)用于检测偏光在所述傅里叶工位2检测不出来的表面凹凸类瑕疵,主要由透视相机51和普通条形光源组成,所述透视相机51为线扫描相机,穿过所述传送滚轴10之间的空隙沿沿45度角斜向拍摄偏光片;所述普通条形光源从所述传送滚轴10上方沿90度垂直照射偏光片;所述气纹工位6用于检测偏光片表面气纹类瑕疵,主要由气纹相机61和反光板62组成,所述气纹相机61为线扫描相机,从所述传送滚轴10上方沿90度垂直拍摄偏光片;所述反光板62沿45度角斜向将光线反射到偏光片表面。
具体的,所述剔废工位7由若干个沿水平方向自由移动的吸盘71组成,通过所述吸盘71将有瑕疵的偏光片拾取放入废料框;所述成品收料工位8位于所述剔废工位7末端,成品偏光片会在传送带的作用下将偏光片传送至所述成品收料工位8的成品框中。
上述描述仅是对本实用新型较佳实施例的描述,并非对本实用新型范围的任何限定,本实用新型领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰,均属于权利要求书的保护范围。
Claims (10)
1.一种偏光片瑕疵检测装置,其特征在于,包括层剥工位(1)、傅里叶工位(2)、压迹工位(3)、90度暗视工位(4)、45度透视工位(5)、气纹工位(6)、剔废工位(7)和成品收料工位(8);
所述层剥工位(1)、所述傅里叶工位(2)和所述压迹工位(3)沿水平方向传送带(9)设置;
所述传送带(9)末端连接有传送滚轴(10),所述90度暗视工位(4)和所述45度透视工位(5)分别位于所述传送滚轴(10)正反两面;所述气纹工位(6)位于所述传送滚轴(10)末端;
所述层剥工位(1)用于检测偏光片表面气泡或边部剥离;
所述傅里叶工位(2)用于检测偏光片表面凹凸类瑕疵;
所述压迹工位(3)用于检测偏光片压迹瑕疵;
所述90度暗视工位(4)用于检测偏光片表面残胶、浮起、糊欠损类瑕疵;
所述45度透视工位(5)用于检测偏光表面凹凸类瑕疵;
所述气纹工位(6)用于检测偏光片表面气纹类瑕疵。
2.如权利要求1所述的一种偏光片瑕疵检测装置,其特征在于,所述层剥工位(1)主要由层剥相机(11)和层剥光源(12)组成;所述层剥相机(11)为线扫描相机,沿45度角斜向拍摄所述传送带(9)上的偏光片;所述层剥光源(12)为面光源,沿45度角斜向照射所述传送带(9)上的偏光片。
3.如权利要求1所述的一种偏光片瑕疵检测装置,其特征在于,所述傅里叶工位(2)主要由傅里叶相机(21)和傅里叶光源(22)组成;所述傅里叶相机(21)为线扫描相机,沿90度垂直拍摄所述传送带(9)上的偏光片;所述傅里叶光源(22)为条形光源,且所述傅里叶光源(22)表面覆盖有明暗交替的栅格,沿45度角斜向照射所述传送带(9)上的偏光片。
4.如权利要求1所述的一种偏光片瑕疵检测装置,其特征在于,所述压迹工位(3)主要由压迹相机(31)和压迹光源(32)组成;所述压迹相机(31)为面阵相机,沿45度角斜向拍摄所述传送带(9)上的偏光片;所述压迹光源(32)为面光源,且压迹光源(32)表面覆盖有明暗交替的栅格,沿45度角斜向照射所述传送带(9)上的偏光片。
5.如权利要求1所述的一种偏光片瑕疵检测装置,其特征在于,所述90度暗视工位(4)主要由暗视相机(41)和普通条形光源组成;所述暗视相机(41)为线扫描相机,沿90度垂直拍摄所述传送滚轴(10)上的偏光片;所述普通条形光源从所述传送滚轴(10)下方穿过所述传送滚轴(10)之间的空隙照射偏光片。
6.如权利要求1所述的一种偏光片瑕疵检测装置,其特征在于,所述45度透视工位(5)主要由透视相机(51)和普通条形光源组成,所述透视相机(51)为线扫描相机,穿过所述传送滚轴(10)之间的空隙沿45度角斜向拍摄偏光片;所述普通条形光源从所述传送滚轴(10)上方沿90度垂直照射偏光片。
7.如权利要求1所述的一种偏光片瑕疵检测装置,其特征在于,所述气纹工位(6)主要由气纹相机(61)和反光板(62)组成,所述气纹相机(61)为线扫描相机,从所述传送滚轴(10)上方沿90度垂直拍摄偏光片;所述反光板(62)沿45度角斜向将光线反射到偏光片表面。
8.如权利要求1所述的一种偏光片瑕疵检测装置,其特征在于,所述剔废工位(7)由若干个沿水平方向自由移动的吸盘(71)组成,通过所述吸盘(71)将有瑕疵的偏光片拾取放入废料框。
9.如权利要求1所述的一种偏光片瑕疵检测装置,其特征在于,所述成品收料工位(8)位于所述剔废工位(7)末端,成品偏光片会在传送带的作用下将偏光片传送至所述成品收料工位(8)的成品框中。
10.如权利要求1所述的一种偏光片瑕疵检测装置,其特征在于,所述偏光片瑕疵检测装置外部由框架和遮光面板组成,保证所述偏光片瑕疵检测装置在检测时不受外部杂光影响。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN116256372A (zh) * | 2023-05-16 | 2023-06-13 | 征图新视(江苏)科技股份有限公司 | 光学膜前制程卷材全检装置及其检测方法 |
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