CN211134629U - 一种全自动电子元件测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及自动化设备技术领域，具体涉及一种全自动电子元件测试设备，包括机架，设置于机架的供料装置，架设于机架用于在供料装置上取料的上料装置，安装于机架位于上料装置下方的转载装置，安装于机架用于在转载装置取料的取料装置，安装于机架位于取料装置一侧的测试装置，所述测试装置安装有标记装置，所述测试装置一侧设置回收装置；本实用新型采用自动供料转载，后取料再进行测试，自动化程度高，在完成测试后再进行标记，以便识别测试的产品，测试简单可靠。

Description

一种全自动电子元件测试设备

技术领域

本实用新型涉及自动化设备技术领域，特别是涉及一种全自动电子元件测试设备。

背景技术

自动化技术广泛用于工业、农业、军事、科学研究、交通运输、商业、医疗、服务和家庭等方面。采用自动化技术不仅可以把人从繁重的体力劳动、部分脑力劳动以及恶劣、危险的工作环境中解放出来，而且能扩展人的器官功能，极大地提高劳动生产率，增强人类认识世界和改造世界的能力。自动化系统中的大型成套设备，又称自动化装置。是指机器或装置在无人干预的情况下按规定的程序或指令自动进行操作或控制的过程。

电子元件在完成生产后需要经过多次测试，经过测试后方能保证电子元件的性能；现有技术中，在对批量的电子元件测试过程中大都是采用逐个进行依次自动化测试，在测试过程中结构颇为复杂，且测试效率较低；因此需要针对电子元件批量测试对自动化设备做进一步设计改进。

实用新型内容

为解决上述问题，本实用新型提供一种采用自动供料转载，后取料再进行测试，自动化程度高，在完成测试后再进行标记，以便识别测试的产品，测试简单可靠的全自动电子元件测试设备。

本实用新型所采用的技术方案是：一种全自动电子元件测试设备，包括机架，设置于机架的供料装置，架设于机架用于在供料装置上取料的上料装置，安装于机架位于上料装置下方的转载装置，安装于机架用于在转载装置取料的取料装置，安装于机架位于取料装置一侧的测试装置，所述测试装置安装有标记装置，所述测试装置一侧设置回收装置。

对上述方案的进一步改进为，所述供料装置包括安装于机架一侧的料盘支架，安装于料盘支架的料盘升降组件，安装于料盘支架并传动于料盘升降组件上方的料盘取料组件。

对上述方案的进一步改进为，所述料盘升降组件包括料盘升降导轨，传动与料盘升降导轨的料盘托板，与料盘托板相连的料盘螺杆，与料盘螺杆驱动连接的料盘电机，所述料盘支架安装有用于将料盘定位的料盘定位气缸，所述料盘定位气缸分布于料盘升降组件的四角。

对上述方案的进一步改进为，所述料盘取料组件包括料盘传动模组，传动设置于料盘传动模组的料盘驱动模组，与料盘驱动模组相连的料盘取料吸盘。

对上述方案的进一步改进为，所述上料装置包括上料支撑架，安装于上料支撑架的上料纵向传动模组，传动设置于上料纵向传动模组的上料横向传动模组，传动设置于上料横向传动模组的上料升降传动模组，传动安装于上料升降传动模组的上料吸盘模组；所述上料吸盘模组安装有若干组上料吸嘴。

对上述方案的进一步改进为，所述转载装置并排设置两组，该转载装置包括转载传动组件，传动设置于转载传动组件的转载传动座，安装于转载传动座的上料治具和下料治具。

对上述方案的进一步改进为，所述取料装置包括取料支撑架，安装于取料支撑架的取料纵向传动模组，传动设置于取料纵向传动模组的取料横向传动模组，传动设置于取料横向传动模组的取料升降传动模组，传动安装于取料升降传动模组的取料吸盘模组；所述取料吸盘模组安装有若干组取料吸嘴。

对上述方案的进一步改进为，所述测试装置并排设置两组，其包括顶升组件，与顶升组件驱动相连的测试治具，位于测试治具上方的压板组件，所述顶升组件包括顶升电机，与顶升电机驱动相连的顶升螺杆，所述顶升螺杆两侧设定顶升导杆，所述顶升螺杆和顶升导杆与测试治具相连；所述测试治具设置有若干组的测试槽，位于测试槽一侧设置有若干连接探针，所述压板组件对应测试槽设置若干测试探针，所述测试探针一侧设置有与所述连接探针对应的连接极柱，所述连接极柱与测试探针相连。

对上述方案的进一步改进为，所述标记装置包括安装于测试装置一侧的标记升降组件，与标记升降组件相连的标记安装架，所述标记安装架安装有若干组记号笔；所述标记装置还设置有密封板，所述密封板开设有若干与记号笔对应的封闭孔。

对上述方案的进一步改进为，所述回收装置包括输送支架，安装于输送支架的输送带，安装于输送支架用于驱动输送带传动的回收驱动电机。

本实用新型的有益效果是：

设置机架，在机架上安装了供料装置，通过供料装置用于电子元件的供料使用，设置上料装置用于在供料装置上取料，取料后将电子元件放置到转载装置上转载，经过转载后将产品移动，在移动到指定位置时通过取料装置将产品再次取料放置到测试装置，通过测试装置将电子元件进行测试，完成测试后通过标记装置将电子元件上标记上记号，完成标记后通过取料装置再次在测试装置上取料，取料后放置到转载装置或回收装置进行回收；

首先通过自动供料方式将电子元件供料，自动取料后放置转载，能够保证电子元件上料的精度，同时在后续取料放置测试，保证电子元件测试精度，同时在测试后对产品做上标记，以便得知电子元件是否经过测试，同时还设置回收装置可将测试后的不良品进行回收。

本实用新型中，采用自动供料转载，后取料再进行测试，自动化程度高，在完成测试后再进行标记，以便识别测试的产品，测试简单可靠。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图；

图2为本实用新型供料装置的立体结构示意图；

图3为本实用新型上料装置和取料装置的立体结构示意图；

图4为本实用新型转载装置的立体结构示意图；

图5为本实用新型的部分立体结构示意图；

图6为本实用新型测试装置的立体结构示意图；

图7为本实用新型测试装置另一视角的立体结构示意图。

附图标记说明：测试设备10、机架100、供料装置200、料盘支架210、料盘升降组件220、料盘升降导轨221、料盘托板222、料盘螺杆223、料盘电机224、料盘取料组件230、料盘传动模组231、料盘驱动模组232、料盘取料吸盘233、上料装置300、上料支撑架310、上料纵向传动模组320、上料横向传动模组330、上料升降传动模组340、上料吸盘模组350、上料吸嘴360、转载装置400、转载传动组件410、转载传动座420、上料治具430、下料治具440、取料装置500、取料支撑架510、取料纵向传动模组520、取料横向传动模组530、取料升降传动模组540、取料吸盘模组550、取料吸嘴560、测试装置600、顶升组件610、顶升电机611、顶升螺杆612、顶升导杆613、测试治具620、测试槽621、连接探针622、压板组件630、测试探针631、连接极柱632、标记装置700、标记升降组件710、标记安装架720、记号笔730、密封板740、封闭孔741、回收装置800、输送支架810、输送带820、回收驱动电机830。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型作进一步的说明。

如图1所示，一种全自动电子元件测试设备10，包括机架100，设置于机架100的供料装置200，架设于机架100用于在供料装置200上取料的上料装置300，安装于机架100位于上料装置300下方的转载装置400，安装于机架100用于在转载装置400取料的取料装置500，安装于机架100位于取料装置500一侧的测试装置600，所述测试装置600安装有标记装置700，所述测试装置600一侧设置回收装置800。

如图2所示，供料装置200包括安装于机架100一侧的料盘支架210，安装于料盘支架210的料盘升降组件220，安装于料盘支架210并传动于料盘升降组件220上方的料盘取料组件230，具体是，通过料盘支架210作用支撑安装使用，通过料盘升降组件220驱动料盘的升降，进而能够实现多组料盘的上料使用，提升工作效率，还设置料盘取料组件230，通过料盘取料组件230将测试完成后的电子元件和料盘取料后放置到指定位置放置，自动化程度高。

料盘升降组件220包括料盘升降导轨221，传动与料盘升降导轨221的料盘托板222，与料盘托板222相连的料盘螺杆223，与料盘螺杆223驱动连接的料盘电机224，具体是通过料盘电机224驱动料盘螺杆223带动料盘托板222沿料盘升降导轨221传动，进而依次对层叠的料盘进行依次上料，自动化程度高，所述料盘支架210安装有用于将料盘定位的料盘定位气缸211，所述料盘定位气缸211分布于料盘升降组件220的四角，通过定位气缸可将最顶部的料盘进行定位，采用四角进行定位，定位效果好，保证取料精度。

料盘取料组件230包括料盘传动模组231，传动设置于料盘传动模组231的料盘驱动模组232，与料盘驱动模组232相连的料盘取料吸盘233，通过料盘传动模组231驱动料盘驱动模组232直线传动，同供料盘取料吸盘233将摆放完成测试后电子元件的料盘进行取料放置到指定位置进行下料。

如图3所示，上料装置300包括上料支撑架310，安装于上料支撑架310的上料纵向传动模组320，传动设置于上料纵向传动模组320的上料横向传动模组330，传动设置于上料横向传动模组330的上料升降传动模组340，传动安装于上料升降传动模组340的上料吸盘模组350；所述上料吸盘模组350安装有若干组上料吸嘴360，进一步改进为，所述取料装置500包括取料支撑架510，安装于取料支撑架510的取料纵向传动模组520，传动设置于取料纵向传动模组520的取料横向传动模组530，传动设置于取料横向传动模组530的取料升降传动模组540，传动安装于取料升降传动模组540的取料吸盘模组550；所述取料吸盘模组550安装有若干组取料吸嘴560，上料装置300和取料装置500整体结构相同，同样采用纵向传动模组结合横向传动模组和升降传动模组实现XYZ三轴传动，整体结构传动效果好，另外，通过吸盘模组上设置多组的吸嘴对电子元件进行取料，取料效果好，自动化程度高。

如图4所示，转载装置400并排设置两组，该转载装置400包括转载传动组件410，传动设置于转载传动组件410的转载传动座420，安装于转载传动座420的上料治具430和下料治具440，具体是通过转子传动组件驱动转载传动座420实现直线传动，上料治具430用于上料装置300取料摆放，下料治具440用于取料装置500取料摆放测试后的电子元件，后在通过上料装置300取料放置到料盘，进而实现自动测试转载使用。

如图5～图7所示，测试装置600并排设置两组，其包括顶升组件610，与顶升组件610驱动相连的测试治具620，位于测试治具620上方的压板组件630，所述顶升组件610包括顶升电机611，与顶升电机611驱动相连的顶升螺杆612，所述顶升螺杆612两侧设定顶升导杆613，所述顶升螺杆612和顶升导杆613与测试治具620相连；具体是通过顶升组件610驱动测试治具620上升，测试治具620固定电子元件后通过压板组件630的配合实现测试，进而保证测试效果，升降过程中是通过顶升电机611驱动顶升螺杆612和顶升导杆613带动测试治具620升降，升降稳定性好，加强测试精度。

测试治具620设置有若干组的测试槽621，位于测试槽621一侧设置有若干连接探针622，所述压板组件630对应测试槽621设置若干测试探针631，所述测试探针631一侧设置有与所述连接探针622对应的连接极柱632，所述连接极柱632与测试探针631相连，具体是通过连接极柱632和连接探针622的配合，将形成无线测试连接使用，进而在电子元件测试过程中，不需要在压板组件630上设置过多的连接线，在测试治具620经过顶升组件610上升至压板组件630时即可完成连接，测试效果好，结构可靠性强。

标记装置700包括安装于测试装置600一侧的标记升降组件710，与标记升降组件710相连的标记安装架720，所述标记安装架720安装有若干组记号笔730；所述标记装置700还设置有密封板740，所述密封板740开设有若干与记号笔730对应的封闭孔741，具体是通过表决升降组件驱动标记安装架720升降，将记号笔730安装于标记安装架720，通过记号笔730在电子元件上做出标记，具体记号笔730采用油性笔设置，通过密封板740上的封闭孔741可将记号笔730进行封闭，防止其风干，进而延长其使用寿命。

回收装置800包括输送支架810，安装于输送支架810的输送带820，安装于输送支架810用于驱动输送带820传动的回收驱动电机830，采用回收驱动电机830去输送带820可将测试不良品进行输送回收，自动化程度高，设备可靠性强。

设置机架100，在机架100上安装了供料装置200，通过供料装置200用于电子元件的供料使用，设置上料装置300用于在供料装置200上取料，取料后将电子元件放置到转载装置400上转载，经过转载后将产品移动，在移动到指定位置时通过取料装置500将产品再次取料放置到测试装置600，通过测试装置600将电子元件进行测试，完成测试后通过标记装置700将电子元件上标记上记号，完成标记后通过取料装置500再次在测试装置600上取料，取料后放置到转载装置400或回收装置800进行回收；

首先通过自动供料方式将电子元件供料，自动取料后放置转载，能够保证电子元件上料的精度，同时在后续取料放置测试，保证电子元件测试精度，同时在测试后对产品做上标记，以便得知电子元件是否经过测试，同时还设置回收装置800可将测试后的不良品进行回收。

本实用新型中，采用自动供料转载，后取料再进行测试，自动化程度高，在完成测试后再进行标记，以便识别测试的产品，测试简单可靠。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种全自动电子元件测试设备，其特征在于：包括机架，设置于机架的供料装置，架设于机架用于在供料装置上取料的上料装置，安装于机架位于上料装置下方的转载装置，安装于机架用于在转载装置取料的取料装置，安装于机架位于取料装置一侧的测试装置，所述测试装置安装有标记装置，所述测试装置一侧设置回收装置。

2.根据权利要求1所述的一种全自动电子元件测试设备，其特征在于：所述供料装置包括安装于机架一侧的料盘支架，安装于料盘支架的料盘升降组件，安装于料盘支架并传动于料盘升降组件上方的料盘取料组件。

3.根据权利要求2所述的一种全自动电子元件测试设备，其特征在于：所述料盘升降组件包括料盘升降导轨，传动与料盘升降导轨的料盘托板，与料盘托板相连的料盘螺杆，与料盘螺杆驱动连接的料盘电机，所述料盘支架安装有用于将料盘定位的料盘定位气缸，所述料盘定位气缸分布于料盘升降组件的四角。

4.根据权利要求3所述的一种全自动电子元件测试设备，其特征在于：所述料盘取料组件包括料盘传动模组，传动设置于料盘传动模组的料盘驱动模组，与料盘驱动模组相连的料盘取料吸盘。

5.根据权利要求1所述的一种全自动电子元件测试设备，其特征在于：所述上料装置包括上料支撑架，安装于上料支撑架的上料纵向传动模组，传动设置于上料纵向传动模组的上料横向传动模组，传动设置于上料横向传动模组的上料升降传动模组，传动安装于上料升降传动模组的上料吸盘模组；所述上料吸盘模组安装有若干组上料吸嘴。

6.根据权利要求1所述的一种全自动电子元件测试设备，其特征在于：所述转载装置并排设置两组，该转载装置包括转载传动组件，传动设置于转载传动组件的转载传动座，安装于转载传动座的上料治具和下料治具。

7.根据权利要求1所述的一种全自动电子元件测试设备，其特征在于：所述取料装置包括取料支撑架，安装于取料支撑架的取料纵向传动模组，传动设置于取料纵向传动模组的取料横向传动模组，传动设置于取料横向传动模组的取料升降传动模组，传动安装于取料升降传动模组的取料吸盘模组；所述取料吸盘模组安装有若干组取料吸嘴。

8.根据权利要求1所述的一种全自动电子元件测试设备，其特征在于：所述测试装置并排设置两组，其包括顶升组件，与顶升组件驱动相连的测试治具，位于测试治具上方的压板组件，所述顶升组件包括顶升电机，与顶升电机驱动相连的顶升螺杆，所述顶升螺杆两侧设定顶升导杆，所述顶升螺杆和顶升导杆与测试治具相连；所述测试治具设置有若干组的测试槽，位于测试槽一侧设置有若干连接探针，所述压板组件对应测试槽设置若干测试探针，所述测试探针一侧设置有与所述连接探针对应的连接极柱，所述连接极柱与测试探针相连。

9.根据权利要求1所述的一种全自动电子元件测试设备，其特征在于：所述标记装置包括安装于测试装置一侧的标记升降组件，与标记升降组件相连的标记安装架，所述标记安装架安装有若干组记号笔；所述标记装置还设置有密封板，所述密封板开设有若干与记号笔对应的封闭孔。

10.根据权利要求1所述的一种全自动电子元件测试设备，其特征在于：所述回收装置包括输送支架，安装于输送支架的输送带，安装于输送支架用于驱动输送带传动的回收驱动电机。

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