CN210222067U - 一种环形器芯片检测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及机械设备技术领域，尤其为一种环形器芯片检测治具，包括基座，基座的上表面安装有支撑块，基座的上表面位于支撑块的一侧安装有垫块，垫块的上表面设有第一固定座，第一固定座的上表面设有第二固定座，第二固定座上设有翻盖，翻盖的上表面设有旋钮。该环形器铁氧体片检测治具，将铁氧体片放置在第一固定座上的卡槽内，转动翻盖，将第二固定座的开口闭合，同时，逆时针旋转旋钮，旋钮向螺孔内旋进时向下挤压等高螺栓，使得等高螺栓带动压头向下挤压，便于利用等高螺栓保证下压时压头的上表面受力平衡，压头底端对铁氧体片表面施加的压力也更加均匀，夹持更加稳固，解决环形器铁氧体片检测治具对铁氧体片夹持不稳固的问题。

Description

一种环形器芯片检测治具

技术领域

本实用新型涉及机械设备技术领域，具体为一种环形器芯片检测治具。

背景技术

环形器是一种使电磁波单向环形传输的器件，在近代雷达和微波多路通信系统中都要用单方向环行特性的器件。在环形器内会用到铁氧体片，铁氧体片是一种高温烧结的铁氧材料，主要作用是降低金属材料对信号磁场的吸收，在对环形器铁氧体片的各项性能进行检测时，将铁氧体片夹持在治具上，但是现有的检测治具夹持不稳固，导致测试线接触不良，影响检测结果，降低生产效率。鉴于此，我们提出一种环形器芯片检测治具。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种环形器芯片检测治具，以解决上述背景技术中提出的环形器铁氧体片检测治具对铁氧体片夹持不稳固的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种环形器芯片检测治具，包括基座，所述基座的上表面安装有支撑块，所述基座的上表面位于所述支撑块的一侧安装有垫块，所述垫块的上表面设有第一固定座，所述第一固定座上设有卡槽，所述第一固定座的两侧均设置有若干个通孔，所述支撑块上设有滑槽，所述滑槽上设有挡板，所述挡板伸入所述卡槽一端的上表面紧密粘接有胶体，所述第一固定座的上表面设有第二固定座，所述第二固定座呈U形，所述第二固定座的一端开口处设有限位块，所述第二固定座的另一端设有第一转轴，所述第二固定座上设有翻盖，所述翻盖的一端设有凸起，所述翻盖的另一端设有第二转轴，所述第二转轴上设有卡扣，所述卡扣通过所述第二转轴与所述翻盖转动连接，所述翻盖上设有螺孔，所述翻盖位于所述螺孔的两侧均设置有若干个凹槽，所述凹槽内设有等高螺栓，所述等高螺栓上设有弹簧，所述翻盖的上表面设有旋钮，所述旋钮的下表面紧密焊接有螺杆，所述翻盖下方设有压头，所述等高螺栓穿过所述凹槽的一端与所述压头的上表面紧密焊接。

优选的，所述第一转轴穿过所述凸起，所述翻盖通过所述第一转轴与所述第二固定座转动连接。

优选的，所述卡扣通过所述限位块与所述第二固定座卡接配合。

优选的，所述螺杆的直径与所述螺孔的内径相适配，所述螺杆通过所述螺孔与所述翻盖螺纹连接。

优选的，所述旋钮的一侧设有缺口，所述翻盖的上表面位于所述缺口的位置处紧密焊接有限位柱。

优选的，所述弹簧与所述等高螺栓套接配合，所述弹簧与所述凹槽的底壁紧密焊接。

优选的，所述通孔设于3-6个，呈线性等间距排列。

优选的，所述凹槽设有3-4个，呈矩阵式排列。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该环形器铁氧体片检测治具，将铁氧体片放置在第一固定座上的卡槽内，转动翻盖，将第二固定座的开口闭合，并利用翻盖一端的卡扣与第二固定座上的限位块卡接，便于将翻盖固定，防止测试过程中翻盖发生晃动，同时，逆时针旋转旋钮，旋钮向螺孔内旋进时向下挤压等高螺栓，由于等高螺栓的伸出凹槽的一端焊接有压头，使得等高螺栓带动压头向下挤压，便于利用等高螺栓保证下压时压头的上表面受力平衡，压头底端对铁氧体片表面施加的压力也更加均匀，夹持更加稳固，操作简单，使用方便，解决环形器铁氧体片检测治具对铁氧体片夹持不稳固的问题。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型中基座的结构示意图；

图3为本实用新型中支撑块的结构示意图；

图4为本实用新型中垫块和第一固定座的结构示意图；

图5为本实用新型中第二固定座、翻盖和旋钮的结构示意图；

图6为本实用新型中第二固定座的结构示意图；

图7为本实用新型中翻盖和旋钮的结构示意图；

图8为本实用新型中翻盖的结构拆分示意图；

图9为本实用新型中旋钮的结构拆分示意图。

图中：1、基座；11、支撑块；111、滑槽；112、挡板；113、胶体；12、垫块；13、第一固定座；131、卡槽；132、通孔；2、第二固定座；21、限位块；22、第一转轴；3、翻盖；31、凸起；32、第二转轴；321、卡扣；33、螺孔；331、凹槽；34、等高螺栓；341、弹簧；35、限位柱；4、旋钮；41、螺杆；42、压头；43、缺口。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“若干”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

请参阅图1-9，本实用新型提供一种技术方案：

一种环形器芯片检测治具，如图1-4所示，包括基座1，基座1的上表面安装有支撑块11，基座1的上表面位于支撑块11的一侧安装有垫块12，垫块12的上表面设有第一固定座13，第一固定座13上设有卡槽131，第一固定座13的两侧均设置有若干个通孔132，支撑块11上设有滑槽111，滑槽111内设有挡板112，挡板112伸入卡槽131一端的上表面紧密粘接有胶体113。

本实施例中，基座1位于支撑块11和垫块12的位置处均安装有螺栓，支撑块11和垫块12的下表面设有与该螺栓相适配的螺孔，使得该螺栓从穿过基座1的下表面与支撑块11和垫块12下表面的螺孔进行螺纹固定，便于j将支撑块11和垫块12安装在基座1的上表面。

进一步的，挡板112呈L形，挡板112位于卡槽131内，挡板112通过卡槽131与支撑块11滑动连接，便于通过抽拉挡板112调节放置在胶体113上的铁氧体片的位置。

具体的，通孔132设于3-6个，呈线性等间距排列，本实施例中通孔132设有3个，方便测试Pin通过通孔132接触铁氧体片测试点。

如图5-7所示，第一固定座13的上表面设有第二固定座2，第二固定座2呈U形，位于第二固定座2一端开口的位置处设有限位块21，第二固定座2的另一端设有第一转轴22，第二固定座2上设有翻盖3，翻盖3的一端设有凸起31，翻盖3的另一端设有第二转轴32，第二转轴32上设有卡扣321，卡扣321通过第二转轴32与翻盖3转动连接。

本实施例中，第一转轴22穿过凸起31，翻盖3通过第一转轴22与第二固定座2转动连接，便于利用第一转轴22转动翻盖3，使得翻盖3与第二固定座2呈一定角度张开，便于将铁氧体片放置在第一固定座13内的卡槽131内。

进一步的，卡扣321通过限位块21与第二固定座2卡接配合，便于当翻盖3与第二固定座2上表面闭合时，利用卡扣321将翻盖3固定，防止在测试过程中检测治具发生晃动。

如图8和图9所示，翻盖3上设有螺孔33，翻盖3位于螺孔33的两侧均设置有若干个凹槽331，凹槽331内设有等高螺栓34，等高螺栓34上设有弹簧341，翻盖3的上表面设有旋钮4，旋钮4的下表面紧密焊接有螺杆41，翻盖3下方设有压头42，等高螺栓34穿过凹槽331的一端与压头42的上表面紧密焊接。

本实施例中，螺杆41的直径与螺孔33的内径相适配，螺杆41通过螺孔33与翻盖3螺纹连接，便于旋钮4通过螺杆41向螺孔33内旋进，并使得旋钮4向下旋进的过程中压缩弹簧341，将等高螺栓34向凹槽331内挤压，使得等高螺栓34穿过凹槽331一端向下挤压压头42，将铁氧体片固定在胶体131上。

进一步的，弹簧341与等高螺栓34套接配合，弹簧341与凹槽331的底壁紧密焊接，便于利用等高螺栓341保证下压时压头42的上表面受力平衡，压头42底端对铁氧体片表面施加的压力也更加均匀，夹持更加稳固。

具体的，凹槽331设有3-4个，呈矩阵式排列，本实施例中凹槽331设有4个，便于安装等高螺栓34。

如图8和图9所示，旋钮4的一侧设有缺口43，翻盖3的上表面位于缺口43的位置处紧密焊接有限位柱35，便于旋钮4旋转至一定的角度后，通过限位柱35对其起到限位的作用，防止螺杆41旋入螺孔33内长度过多，便于对旋钮4起到限位作用。

本实施例的环形器铁氧体片检测治具在使用时，利用第一转轴22打开翻盖3，将铁氧体片放置在第一固定座13上的卡槽131内，由于挡板112通过滑槽111与支撑块11滑动连接，便于通过抽拉挡板112调节铁氧体片在卡槽131内的位置，将铁氧体片调节至合适的位置后，再次转动翻盖3，将第二固定座2的开口闭合，并利用翻盖3一端的卡扣321与第二固定座2上的限位块21卡接，便于将翻盖3固定，防止测试过程中翻盖3发生晃动，同时，逆时针旋转旋钮4，旋钮4通过其底面的螺杆41向翻盖3上的螺孔33内旋进，使得旋钮4的下表面向下挤压等高螺栓34，由于等高螺栓34的伸出凹槽331的一端焊接有压头42，使得等高螺栓34带动压头42向下挤压，便于利用等高螺栓341保证下压时压头42的上表面受力平衡，压头42底端对铁氧体片表面施加的压力也更加均匀，夹持更加稳固，再将测试Pin的一端穿过第一固定座13一侧的通孔132接触铁氧体片测试点，另一端连接射频连接器进行铁氧体片的性能检测，操作简单，使用方便，解决环形器铁氧体片检测治具对铁氧体片夹持不稳固的问题，便于普及和推广。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (8)

1.一种环形器芯片检测治具，包括基座(1)，其特征在于：所述基座(1)的上表面安装有支撑块(11)，所述基座(1)的上表面位于所述支撑块(11)的一侧安装有垫块(12)，所述垫块(12)的上表面设有第一固定座(13)，所述第一固定座(13)上设有卡槽(131)，所述第一固定座(13)的两侧均设置有若干个通孔(132)，所述支撑块(11)上设有滑槽(111)，所述滑槽(111)上设有挡板(112)，所述挡板(112)伸入所述卡槽(131)一端的上表面紧密粘接有胶体(113)，所述第一固定座(13)的上表面设有第二固定座(2)，所述第二固定座(2)呈U形，所述第二固定座(2)的一端开口处设有限位块(21)，所述第二固定座(2)的另一端设有第一转轴(22)，所述第二固定座(2)上设有翻盖(3)，所述翻盖(3)的一端设有凸起(31)，所述翻盖(3)的另一端设有第二转轴(32)，所述第二转轴(32)上设有卡扣(321)，所述卡扣(321)通过所述第二转轴(32)与所述翻盖(3)转动连接，所述翻盖(3)上设有螺孔(33)，所述翻盖(3)位于所述螺孔(33)的两侧均设置有若干个凹槽(331)，所述凹槽(331)内设有等高螺栓(34)，所述等高螺栓(34)上设有弹簧(341)，所述翻盖(3)的上表面设有旋钮(4)，所述旋钮(4)的下表面紧密焊接有螺杆(41)，所述翻盖(3)下方设有压头(42)，所述等高螺栓(34)穿过所述凹槽(331)的一端与所述压头(42)的上表面紧密焊接。

2.根据权利要求1所述的一种环形器芯片检测治具，其特征在于：所述第一转轴(22)穿过所述凸起(31)，所述翻盖(3)通过所述第一转轴(22)与所述第二固定座(2)转动连接。

3.根据权利要求1所述的一种环形器芯片检测治具，其特征在于：所述卡扣(321)通过所述限位块(21)与所述第二固定座(2)卡接配合。

4.根据权利要求1所述的一种环形器芯片检测治具，其特征在于：所述螺杆(41)的直径与所述螺孔(33)的内径相适配，所述螺杆(41)通过所述螺孔(33)与所述翻盖(3)螺纹连接。

5.根据权利要求1所述的一种环形器芯片检测治具，其特征在于：所述旋钮(4)的一侧设有缺口(43)，所述翻盖(3)的上表面位于所述缺口(43)的位置处紧密焊接有限位柱(35)。

6.根据权利要求1所述的一种环形器芯片检测治具，其特征在于：所述弹簧(341)与所述等高螺栓(34)套接配合，所述弹簧(341)与所述凹槽(331)的底壁紧密焊接。

7.根据权利要求1所述的一种环形器芯片检测治具，其特征在于：所述通孔(132)设于3-6个，呈线性等间距排列。

8.根据权利要求1所述的一种环形器芯片检测治具，其特征在于：所述凹槽(331)设有3-4个，呈矩阵式排列。

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