CN213302274U - 一种集成电路电磁发射多角度测试夹具 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,其包括固定于安装座上的壳体,壳体的两端固定有同轴连接头,壳体的顶面设置有矩形窗口,所述安装座的顶部固定有两个位于壳体内的竖向的导向杆,且导向杆上滑动套装有导向环,两个导向环之间固定有横向的夹具座,所述夹具座的顶面设置有圆形的安装槽,且安装槽内转动配合有圆形夹具盘,所述圆形夹具盘的底部固定有与夹具座转动连接的第一连接杆,第一连接杆的下端固定有旋钮。本实用新型不仅能够用于对电路板进行测试,且还能根据需要调节角度,可同时满足多个角度的测试要求,从而能适应不同的检测标准,不仅操作方便,且也减少了测试结果与实际应用的偏差。

Description

一种集成电路电磁发射多角度测试夹具
技术领域
本实用新型涉及电路板测试领域,尤其涉及一种集成电路电磁发射多角度测试夹具。
背景技术
随着电子技术的飞速发展,电子产品也向着复杂化和小型化方向发展,产品的结构越来越紧凑,这些发展趋势对集成电路的电磁兼容性要求越来越高。集成电路的发射方式主要是传导发射和辐射发射两种。而国际标准中,一般利用TEM小室测量IC辐射发射水平。TEM 小室有一个方形窗口,用于安装测试板,并且可以在0°,90°,180°和270°这四个角度上进行测试。然而,目前使用的TEM小室的测试板及其安装窗口均为方形,限制了角度的选取,由于IC的辐射发射测试可能会有其他角度要求,此结构无法满足多角度测试需求,为此,需要改进。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决了不同角度的测试需求,避免了传统方式的单一性,同时减少了测试结果与实际应用的偏差,有效的保证了实验的可靠性,而提出的一种集成电路电磁发射多角度测试夹具。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,包括固定于安装座上的壳体,壳体的两端固定有同轴连接头,壳体的顶面设置有矩形窗口,所述安装座的顶部固定有两个位于壳体内的竖向的导向杆,且导向杆上滑动套装有导向环,两个导向环之间固定有横向的夹具座,所述夹具座的顶面设置有圆形的安装槽,且安装槽内转动配合有圆形夹具盘,所述圆形夹具盘的底部固定有与夹具座转动连接的第一连接杆,第一连接杆的下端固定有旋钮,所述夹具座的顶部固定有两个竖向的第二连接杆,两个第二连接杆的上端固定有同一个盖合于矩形窗口上的盖板,两个第二连接杆的相对侧均固定有探头,所述圆形夹具盘的顶面设置有矩形的固定槽,固定槽的侧壁上设置有安装孔,安装孔内安装有固定组件。
优选的,所述固定组件包括滑动配合于安装孔内的限位块,所述限位块的一端固定有穿出安装孔的固定杆,固定杆穿出安装孔的一端固定有位于固定槽内的夹块,限位块远离固定杆的一侧固定有位于安装孔内的弹簧。
优选的,所述弹簧的数量为多个,且弹簧的原长大于安装孔的长度,安装孔的截面形状为T形,盖板的顶部固定有拉环。
优选的,所述夹具座上设置有与第一连接杆匹配的通孔,且第一连接杆转动安装于通孔内,且旋钮位于夹具座的下方。
优选的,所述夹具座上设置有等间距的角度刻度线,且相邻角度刻度线之间的角度为5度。
优选的,所述夹具座的外侧形状为矩形并与矩形窗口大小适配。
本实用新型通过盖板、夹具座、圆形夹具盘、壳体、弹簧、夹块、旋钮和连接杆的设置,不仅能够用于对电路板进行测试,且还能根据需要调节角度,可同时满足多个角度的测试要求,从而能适应不同的检测标准,不仅操作方便,且也减少了测试结果与实际应用的偏差,整个夹具结构简单,制作成本低,使用效果好。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为本实用新型的A处结构放大示意图。
图3为本实用新型的正视示意图。
图4为本实用新型的圆形夹具盘示意图。
图中标号:1安装座、2壳体、3同轴连接头、4导向杆、5导向环、6夹具座、7圆形夹具盘、8连接杆、9旋钮、10连接杆、11探头、12盖板、13限位块、14固定杆、15夹块、16弹簧、17角度刻度线。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
参照图1-4,一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,包括固定于安装座1上的壳体2,壳体2的两端固定有同轴连接头3,壳体2 的顶面设置有矩形窗口,安装座1的顶部固定有两个位于壳体2内的竖向的导向杆4,且导向杆4上滑动套装有导向环5,两个导向环5 之间固定有横向的夹具座6,夹具座6的顶面设置有圆形的安装槽,且安装槽内转动配合有圆形夹具盘7,圆形夹具盘7的底部固定有与夹具座6转动连接的第一连接杆8,第一连接杆8的下端固定有旋钮 9,夹具座6的顶部固定有两个竖向的第二连接杆10,两个第二连接杆10的上端固定有同一个盖合于矩形窗口上的盖板12,两个第二连接杆10的相对侧均固定有探头11,圆形夹具盘7的顶面设置有矩形的固定槽,固定槽的侧壁上设置有安装孔,安装孔内安装有固定组件。
本实施方式中,固定组件包括滑动配合于安装孔内的限位块13,限位块13的一端固定有穿出安装孔的固定杆14,固定杆14穿出安装孔的一端固定有位于固定槽内的夹块15,限位块13远离固定杆14 的一侧固定有位于安装孔内的弹簧16,弹簧16的数量为多个,且弹簧16的原长大于安装孔的长度,安装孔的截面形状为T形,盖板12 的顶部固定有拉环。
本实施方式中,夹具座6上设置有与第一连接杆8匹配的通孔,且第一连接杆8转动安装于通孔内,且旋钮9位于夹具座6的下方,夹具座6上设置有等间距的角度刻度线17,且相邻角度刻度线17之间的角度为5度,夹具座6的外侧形状为矩形并与矩形窗口大小适配。
工作原理:
本实用新型在使用时可抽拉设置的盖板12上的拉环,从而拉动夹具座6继而将圆形夹具盘7从壳体2内拉出,之后即可将待测电路板安装在圆形夹具盘7上,通过设置的夹块15配合弹簧16使用能够对电路板进行固定,固定后,通过转动外漏的旋钮9可以转动第一连接杆8和圆形夹具盘7,继而调节圆形夹具盘7上电路板的角度,通过探头11能对电路板的场强进行检测,而在圆形夹具盘7的角度变化后,探头11检测电路板的角度也发生了变化,从而能够对电路板不同角度进行检测,从而能适应不同的检测标准,不仅操作方便,且也减少了测试结果与实际应用的偏差,整个夹具结构简单,制作成本低,使用效果好。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,包括固定于安装座(1)上的壳体(2),壳体(2)的两端固定有同轴连接头(3),壳体(2)的顶面设置有矩形窗口,其特征在于,所述安装座(1)的顶部固定有两个位于壳体(2)内的竖向的导向杆(4),且导向杆(4)上滑动套装有导向环(5),两个导向环(5)之间固定有横向的夹具座(6),所述夹具座(6)的顶面设置有圆形的安装槽,且安装槽内转动配合有圆形夹具盘(7),所述圆形夹具盘(7)的底部固定有与夹具座(6)转动连接的第一连接杆(8),第一连接杆(8)的下端固定有旋钮(9),所述夹具座(6)的顶部固定有两个竖向的第二连接杆(10),两个第二连接杆(10)的上端固定有同一个盖合于矩形窗口上的盖板(12),两个第二连接杆(10)的相对侧均固定有探头(11),所述圆形夹具盘(7)的顶面设置有矩形的固定槽,固定槽的侧壁上设置有安装孔,安装孔内安装有固定组件。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,其特征在于,所述固定组件包括滑动配合于安装孔内的限位块(13),所述限位块(13)的一端固定有穿出安装孔的固定杆(14),固定杆(14)穿出安装孔的一端固定有位于固定槽内的夹块(15),限位块(13)远离固定杆(14)的一侧固定有位于安装孔内的弹簧(16)。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,其特征在于,所述弹簧(16)的数量为多个,且弹簧(16)的原长大于安装孔的长度,安装孔的截面形状为T形,盖板(12)的顶部固定有拉环。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,其特征在于,所述夹具座(6)上设置有与第一连接杆(8)匹配的通孔,且第一连接杆(8)转动安装于通孔内,且旋钮(9)位于夹具座(6)的下方。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,其特征在于,所述夹具座(6)上设置有等间距的角度刻度线(17),且相邻角度刻度线(17)之间的角度为5度。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,其特征在于,所述夹具座(6)的外侧形状为矩形并与矩形窗口大小适配。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN114152794A (zh) * 2021-11-15 2022-03-08 国网上海市电力公司 基于gtem小室的特高频局部放电传感器性能测试工装、装置

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