CN206671422U - 一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统，涉及电阻测试设备领域，该电阻框架测试系统包括基板、电阻分析仪以及电阻框架测试夹具，该电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱、电阻测试装置，容置柱的一端与放置组件固定连接，电阻测试装置包括探针机构和限位组件，容置柱的侧面设置有第一条形孔，探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧，限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接，用以控制探针机构的滑动。相较于现有技术，本实用新型提供的电阻框架测试夹具夹持稳定，提高了测量精度，总体使得测试数据准确，重复测量效果好。

Description

一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统

技术领域

本实用新型涉及电阻测试设备领域，具体而言，涉及一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统。

背景技术

在工业生产中，往往需要对生产出的工业产品进行电阻测试，以测定其电阻率。特别地，对于一些特定的采样电阻框架的测试需要精准的将电阻框架的阻值进行阻值分段，以便于调阻时候统一使用整体减薄的方法来进行调阻，使其达到规定的电阻精度，提高合格率。

采样电阻采用精密合金进行制作，前段制程使用冲压工艺，调阻采用统一减薄的方法，这种方法要想提高产品的合格率，就要想办法将冲压框架的来料的阻值保持稳定，不离散。而该电阻为了生产的需要，必须采用阵列式排布，来进行规模化生产。这就导致电阻框架很长，要想将电阻框架的阻值尽量的集中不至于离散，就要将每一个进行精准的测试，于是就要将框架的测试点、测试的压力、测试的方式等统一起来。经发明人调研发现，现有的测试方法通常是通过手工来对电阻框架进行测试，由于每个人测试的习惯不同，测试点不同，测试的压力也不同，就导致无法得到一个可信的数据来知道我们进行整体减薄调阻。

有鉴于此，设计制造出一种能够固定测试压力和测试点位置的电阻框架测试夹具显得尤为重要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电阻框架测试夹具，夹持稳定，提高了测量精度，总体使得测试数据准确，重复测量效果好。

本实用新型的另一目的在于提供一种电阻框架测试系统，测试精度高，测试数据准确。

本实用新型是采用以下的技术方案来实现的。

一种电阻框架测试夹具，用于夹持电阻框架，电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置，容置柱的一端与放置组件固定连接，电阻测试装置包括探针机构和限位组件，容置柱的侧面设置有第一条形孔，第一条形孔的延伸方向与容置柱的延伸方向一致，探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧，限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接，用以控制探针机构的滑动。

进一步地，探针机构包括多根探针、承载板和电阻分析接口，承载板的一端伸入第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，多根探针设置于承载板的底部且远离容置柱，多根探针可选择性地抵持于放置组件，并夹持电阻框架，电阻分析接口设置在承载板上并与多根探针电性连接。

进一步地，探针的根数为4根，采用四线探针法对电阻框架进行测量电阻率的操作。

进一步地，4根探针两两相对设置，每根探针的延伸方向相互平行。

进一步地，探针为导电金属探针。

进一步地，限位组件包括限位把手、探针下压限位件和弹性件，容置柱的侧面还设置有第二条形孔，限位把手的一端伸入第二条形孔并可沿第二条形孔滑动，限位把手伸入第二条形孔的一端与探针机构固定连接，探针下压限位件设置于容置柱的侧面上且靠近第二条形孔，用于止挡限位把手，弹性件的一端抵接于放置台，另一端抵接于探针机构。

进一步地，弹性件为一压缩弹簧。

进一步地，放置组件包括基台和放置板，容置柱的底部固定连接于基台，放置板可拆卸地设置在基台上并与探针机构相对应。

进一步地，放置板上设置有测试槽，测试槽的延伸方向与放置板的延伸方向一致，用于放置电阻框架。

一种电阻框架测试系统，用于测试电阻框架的电阻率，包括基板、电阻分析仪以及电阻框架测试夹具，电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置，容置柱的一端与放置组件固定连接，电阻测试装置包括探针机构和限位组件，容置柱的侧面设置有第一条形孔，第一条形孔的延伸方向与容置柱的延伸方向一致，探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧，限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接，用以控制探针机构的滑动。放置组件可拆卸地设置在基板上，电阻分析仪与探针机构电性连接，用于分析电阻框架的电阻率。

本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型提供的一种电阻框架测试夹具，探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动，探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧，限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接，用以控制探针机构的滑动。在使用过程中，将电阻框架放置到放置组件上位于探针机构的下方，利用限位组件控制探针机构抵持在放置组件上，从而夹持住电阻框架。相较于现有技术，本实用新型提供的一种电阻框架测试夹具，由于限位组件和容置柱的存在，使得探针机构可以以固定压力抵持在放置组件上，从而施加在电阻框架上的压力也恒定，同时探针机构的探测位置也固定，夹持稳定，提高了测量精度，总体使得测试数据准确，重复测量效果好。

本实用新型提供的一种电阻框架测试系统，利用上述的电阻框架测试夹具对电阻框架进行夹持，再利用电阻分析仪测定电阻框架的电阻率。相较于现有技术，本实用新型提供的一种电阻框架测试系统，测试数据准确，重复测量效果好。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型第一实施例提供的电阻框架测试夹具第一视角结构示意图；

图2为本实用新型第一实施例提供的电阻框架测试夹具第二视角结构示意图；

图3为本实用新型第一实施例提供的电阻框架测试夹具第三视角结构示意图；

图4为本实用新型第一实施例提供的电阻框架测试夹具第四视角结构示意图。

图标：100-电阻框架测试夹具；110-放置组件；111-放置板；1111-测试槽；113-基台；130-容置柱；131-第一条形孔；133-第二条形孔；150-电阻测试装置；151-探针机构；1511-探针；1513-承载板；1515-电阻分析接口；153-限位组件；1531-限位把手；1533-探针下压限位件；1535-弹性件。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“相连”、“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面结合附图，对本实用新型的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例中的特征可以相互组合。

第一实施例

参照图1，本实施例提供一种电阻框架测试夹具100，用于夹持电阻框架，该电阻框架测试夹具100包括放置组件110、容置柱130和电阻测试装置150，容置柱130的一端与放置组件110固定连接，电阻测试装置150设置在容置柱130上。

电阻测试装置150包括探针机构151和限位组件153，容置柱130的侧面设置有第一条形孔131，第一条形孔131的延伸方向与容置柱130的延伸方向一致，探针机构151的一端穿过第一条形孔131并可沿第一条形孔131滑动，探针机构151的另一端悬置于放置组件110的一侧并可选择性地抵持于放置组件110的一侧，限位组件153设置在容置柱130上并与探针机构151连接，用以控制探针机构151的滑动。

在本实施例中，容置柱130内具有一滑动空腔(图未示)，以供探针机构151滑动，探针机构151的一端穿过第一条形孔131并伸入该滑动空腔，该探针机构151伸入该滑动空腔的一端可沿第一条形孔131在滑动空腔内滑动，带动整个探针机构151做垂直运动，以使该探针机构151可选择性地抵持于放置组件110的顶面。

参见图2，探针机构151包括多根探针1511、承载板1513和电阻分析接口1515，承载板1513的一端伸入第一条形孔131并可沿第一条形孔131滑动，多根探针1511设置于承载板1513的底部且远离容置柱130，多根探针1511可选择性地抵持于放置组件110的顶面，并夹持电阻框架。电阻分析接口1515设置在承载板1513上并与多根探针1511电性连接。电阻分析接口1515用于连接如电源或电阻分析仪等外部设备。

在本实施例中，探针1511的根数为4根，采用四线探针1511法对电阻框架进行测量电阻率的操作。4根探针1511两两相对设置，4根探针1511的自由端点分别位于一矩形的四个顶点，每根探针1511的延伸方向相互平行。值得注意的是，此处探针1511的根数可根据具体实施的测量方法进行调整，例如还可以利用双线探针1511法，从而使得探针1511的根数还可以为2根。同时，4根探针1511的相对位置也不仅仅限于两两相对设置，也可以是4根探针1511排布在同一直线上进行测量。

在本实施例中，4根探针1511均为导电金属探针1511。具体地，4根探针1511均为铜探针1511并外附有保护层。需要说明的是，此处探针1511的材料并不仅仅限于铜，也可以是其他导电材料例如合金或石墨等，但凡能导电的材料均在本实用新型的保护范围之内。

参见图3，限位组件153包括限位把手1531、探针下压限位件1533和弹性件1535，容置柱130的侧面还设置有第二条形孔133，第二条形孔133与滑动空腔连通，限位把手1531的一端伸入第二条形孔133并可沿第二条形孔133滑动，限位把手1531伸入第二条形孔133的一端与探针机构151伸入滑动空腔的一端固定连接，探针下压限位件1533设置于容置柱130的侧面上且靠近第二条形孔133，用于止挡限位把手1531。具体地，探针下压限位件1533设置于容置柱130的侧面中间部位，以使探针机构151能够以预设的压力抵持在放置组件110上。弹性件1535的一端抵接于放置台，另一端抵接于探针机构151。

在本实施例中，弹性件1535为一压缩弹簧，依靠压缩弹簧的弹性抬升探针机构151。值得注意的是，此处弹性件1535并不仅仅限于压缩弹簧，也可以是一弹性树脂或弹性橡胶等。但凡是具有良好的弹性的弹性件1535均在本实用新型的保护范围之内。

参见图4，放置组件110包括基台113和放置板111，容置柱130的底部固定连接于基台113，放置板111可拆卸地设置在基台113上并与探针机构151相对应。

在本实施例中，放置板111上具有多个连接通孔(图中未标号)，放置板111通过多个连接通孔与基台113螺栓连接，方便在基台113上更换不同的放置板111，同时方便将放置板111安装到不同的基台113上。

需要说明的是，放置板111和基台113均采用绝缘材料制成，避免放置板111和基台113的材料影响测量结果。

在本实施例中，放置板111上设置有测试槽1111，测试槽1111的延伸方向与放置板111的延伸方向一致，用于放置电阻框架。当然，测试槽1111的形状和深度可根据电阻框架的具体形状而定，在此不作具体限定。

综上所述，本实施例提供了一种电阻框架测试夹具100，探针机构151的一端穿过第一条形孔131伸入滑动空腔并可沿第一条形孔131滑动。探针机构151的另一端悬置于放置组件110的上方并可选择性地抵持于放置组件110的顶面，限位把手1531穿过第二条形孔133并与探针机构151伸入滑动空腔的一端固定连接，用以控制探针机构151的滑动。同时在容置柱130的侧面还设置有探针下压限位件1533。在使用过程中，将电阻框架放置到放置组件110上位于探针机构151的下方，拨动限位把手1531至探针下压限位件1533处，带动探针机构151向下抵持在放置组件110上，从而夹持住电阻框架。相较于现有技术，本实用新型提供的一种电阻框架测试夹具100，由于限位组件153和容置柱130的存在，使得探针机构151可以以固定压力抵持在放置组件110上，从而施加在电阻框架上的压力也恒定，同时探针机构151的探测位置也固定，夹持稳定，提高了测量精度，总体使得测试数据准确，重复测量效果好。

第二实施例

本实施例提供一种电阻框架测试系统(图未示)，包括基板、电阻分析仪以及电阻框架测试夹具100，其中基本结构和原理及产生的技术效果和第一实施例相同，为简要描述，本实施例部分未提及之处，可参考第一实施例中相应内容。

电阻框架测试夹具100包括放置组件110、容置柱130、电阻测试装置150，容置柱130的一端与放置组件110固定连接，电阻测试装置150包括探针机构151和限位组件153，容置柱130的侧面设置有第一条形孔131，第一条形孔131的延伸方向与容置柱130的延伸方向一致。探针机构151的一端穿过第一条形孔131并可沿第一条形孔131滑动，探针机构151的另一端悬置于放置组件110的一侧并可选择性地抵持于放置组件110的一侧，限位组件153设置在容置柱130上并与探针机构151连接，用以控制探针机构151的滑动。放置组件110可拆卸地设置在基板上，电阻分析仪与探针机构151电性连接，用于分析电阻框架的电阻率。

本实施例提供了一种电阻框架测试系统，利用电阻框架测试夹具100对电阻框架进行夹持，再利用电阻分析仪测定电阻框架的电阻率。相较于现有技术，本实用新型提供的一种电阻框架测试系统，测试数据准确，重复测量效果好。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电阻框架测试夹具，用于夹持电阻框架，其特征在于，所述电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱和电阻测试装置，所述容置柱的一端与所述放置组件固定连接，所述电阻测试装置包括探针机构和限位组件，所述容置柱的侧面设置有第一条形孔，所述第一条形孔的延伸方向与所述容置柱的延伸方向一致，所述探针机构的一端穿过所述第一条形孔并可沿所述第一条形孔滑动，所述探针机构的另一端悬置于所述放置组件的一侧并可选择性地抵持于所述放置组件的一侧，所述限位组件设置在所述容置柱上并与所述探针机构连接，用以控制所述探针机构的滑动。

2.根据权利要求1所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，所述探针机构包括多根探针、承载板和电阻分析接口，所述承载板的一端伸入所述第一条形孔并可沿所述第一条形孔滑动，多根所述探针设置于所述承载板的底部且远离所述容置柱，多根所述探针可选择性地抵持于所述放置组件，所述电阻分析接口设置在所述承载板上并与多根所述探针电性连接。

3.根据权利要求2所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，所述探针的根数为4根。

4.根据权利要求3所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，4根所述探针两两相对设置，每根所述探针的延伸方向相互平行。

5.根据权利要求2所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，所述探针为导电金属探针。

6.根据权利要求1所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，所述限位组件包括限位把手、探针下压限位件和弹性件，所述容置柱的侧面还设置有第二条形孔，所述限位把手的一端伸入所述第二条形孔并可沿所述第二条形孔滑动，所述限位把手伸入所述第二条形孔的一端与所述探针机构固定连接，所述探针下压限位件设置于所述容置柱的侧面上且靠近所述第二条形孔，用于止挡所述限位把手，所述弹性件的一端抵接于所述放置台，另一端抵接于所述探针机构。

7.根据权利要求6所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，所述弹性件为一压缩弹簧。

8.根据权利要求1所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，所述放置组件包括基台和放置板，所述容置柱的底部固定连接于所述基台，所述放置板可拆卸地设置在所述基台上并与所述探针机构相对应。

9.根据权利要求8所述的电阻框架测试夹具，其特征在于，所述放置板上设置有测试槽，所述测试槽的延伸方向与所述放置板的延伸方向一致，用于放置所述电阻框架。

10.一种电阻框架测试系统，用于测试电阻框架的电阻率，其特征在于，包括基板、电阻分析仪以及如权利要求1-9任一项所述的电阻框架测试夹具，所述放置组件可拆卸地设置在所述基板上，所述电阻分析仪与所述探针机构电性连接，用于分析所述电阻框架的电阻率。