CN212341426U - 磁导率测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种磁导率测试治具，涉及测量磁变量的装置或仪器技术领域，该磁导率测试治具包括主体框架、送料机构、测试机构以及打点机构；送料机构包括载料板以及Y向驱动模组；测试机构包括弱磁计、第一X向模组以及第一Z向模组，第一X向模组能够驱动弱磁计沿X向运动，且第一Z向模组能够驱动弱磁计沿Z向运动；打点机构包括打点笔、第二X向模组以及第二Z向模组，第二X向模组能够驱动打点笔沿X向运动，且第二Z向模组能够驱动打点笔沿Z向运动。解决了现有技术中存在的单台治具对应单个产品进行测试和打点，测试和打点效率较低的技术问题。

Description

磁导率测试治具

技术领域

本实用新型涉及测量磁变量的装置或仪器技术领域，尤其是涉及一种磁导率测试治具。

背景技术

FPC(Flexible Printed Circui，柔性电路板)进行生产时，FPC软板上的钢片会产生微弱的磁导率，当其磁导率达到一定数值时就会对柔性电路板的功能产生影响。

为了保证零部件的磁导率不会对成品设备的功能产生负面影响，或者，保证零部件的磁导率处于对成品设备的功能生产的负面影响较小的范围内，通常主要使用弱磁计对零部件的磁导率进行预先检测。

一般技术中，FPC软板上的连接器钢片为一个或多个，在测试磁导率时，都是由单台治具对应单个产品进行测试和打点，测试和打点效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种磁导率测试治具，以缓解现有技术中存在的单台治具对应单个产品进行测试和打点，测试和打点效率较低的技术问题。

本实用新型实施例提供一种磁导率测试治具，包括：主体框架、均安装于所述主体框架的送料机构、测试机构以及打点机构；

所述送料机构包括用于放置待测产品的载料板以及驱动所述载料板沿Y向运动的Y向驱动模组；

所述测试机构包括弱磁计、第一X向模组以及第一Z向模组，所述第一X向模组能够驱动所述弱磁计沿X向运动至待测位置的上方，且所述第一Z向模组能够驱动所述弱磁计沿Z向运动以靠近或远离所述待测位置；

所述打点机构包括打点笔、第二X向模组以及第二Z向模组，所述第二X向模组能够驱动所述打点笔沿X向运动至待测产品的打点位置的上方，且所述第二Z向模组能够驱动所述打点笔沿Z向运动以靠近或远离所述打点位置；

所述弱磁计和所述打点笔沿所述Y向设置。

进一步的，所述主体框架包括具有前开口的容置空间，所述送料机构、所述测试机构以及所述打点机构均安装于所述容置空间内，待测产品能够由所述前开口送入所述载料板；

所述磁导率测试治具还包括电控箱，所述电控箱固定连接于所述主体框架的外侧；所述送料机构、所述测试机构以及所述打点机构均与所述电控箱电连接。

进一步的，所述Y向驱动模组的输出端固定连接有移动载板和下模固定板，所述移动载板和所述下模固定板沿Z向间隔设置；

所述移动载板上设有顶升驱动件，所述顶升驱动件的输出端穿过所述下模固定板并与所述载料板固定连接，用于使所述载料板与所述下模固定板的上表面抵接或脱离。

进一步的，所述Y向驱动模组采用Y向电缸；

所述移动载板固定连接于所述Y向电缸的输出端；

所述移动载板与所述下模固定板之间连接有立柱，用于使两者之间具有间隔。

进一步的，所述载料板与所述下模固定板之间设有定位结构；

所述定位结构包括设在所述载料板上的定位孔以及设在所述下模固定板上的与所述定位孔配合的定位销；或者，所述定位结构包括设在所述载料板上的定位销以及设在所述下模固定板上的与所述定位销配合的定位孔。

进一步的，所述第一Z向模组固定连接于所述第一X向模组的输出端；

所述测试机构还包括测试固定板和光纤放大器，所述测试固定板固定连接于所述第一Z向模组的输出端；

所述光纤放大器和所述弱磁计均安装于所述测试固定板，所述光纤放大器配置成采集并发送所述弱磁计的永磁棒的移动信息。

进一步的，所述第一X向模组包括第一X向电缸，所述第一X向电缸安装于所述主体框架；

所述第一Z向模组包括第一Z向电缸，所述第一Z向电缸固定连接于所述第一X向电缸的输出端；

所述光纤放大器安装于所述测试固定板的上表面，所述弱磁计固定安装于所述测试固定板的下表面，所述弱磁计的探头朝向所述载料板设置。

进一步的，所述第二Z向模组固定连接于所述第二X向模组的输出端；

所述打点机构还包括笔座，所述笔座固设于所述主体框架的底板，所述打点笔在所述第二Z向模组和所述第二X向模组的驱动下，能够使所述打点笔在非使用状态下插入所述笔座。

进一步的，所述笔座包括本体、密封圈以及压盖；

所述本体具有上开口；

所述压盖上设有避让孔，所述压盖按压所述密封圈盖合于所述上开口。

进一步的，所述第二X向模组包括第二X向电缸，所述第二Z向模组包括第二Z向电缸；

所述打点机构还包括打点固定板，所述打点固定板固定连接于所述第二X向电缸的输出端；

所述第二Z向电缸固定连接于所述打点固定板；

所述打点笔通过打点连接板固定连接于所述第二Z向电缸的输出端，且所述打点笔与所述打点固定板滑动连接。

有益效果：

本实用新型提供的磁导率测试治具，载料板在Y向驱动模组的驱动下能够沿Y向运动，弱磁计在第一X向模组和第一Z向模组的驱动，能够分别沿X向和Z向运动，因此在测试阶段，可以通过前述三者(Y向驱动模组、第一X向模组以及第一Z向模组)的配合，使弱磁计运动至待测位置的上方，进而向靠近待测位置的方向运动，以为测试做好准备，待测试完成后，可使弱磁计向远离待测位置的方向运动；对于需要打点的待测产品来说，由于弱磁计和打点笔沿Y向设置，因而，通过Y向驱动模组可以将待打点产品送至打点笔对应的位置处，并通过第二X向模组以及第二Z向模组的配合，能够使打点笔运动至待测产品的打点位置的上方，进而向靠近打点位置的方向运动，以为打点做好准备，待打点完成后，可使打点笔向远离打点位置的方向运动。

由前述可知，弱磁计和待测产品两者配合Y向驱动模组、第一X向模组以及第一Z向模组能够实现在三个方向上的多个位置的调整，因而能够实现对未剪裁的多个产品的测试操作；同样地，打点笔和待测产品两者配合Y向驱动模组、第二X向模组以及第二Z向模组能够实现在三个方向上的多个位置的调整，因而能够实现对未剪裁的多个产品的打点操作；在测试和打点过程中，无需重复的放入和取出待测产品，节省了测试时间，提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的磁导率测试治具的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的磁导率测试治具的结构示意图，其中，主体框架的部分结构以及电控箱均未示出；

图3为本实用新型实施例提供的磁导率测试治具中的送料机构的结构示意图之一；

图4为本实用新型实施例提供的磁导率测试治具中的送料机构的结构示意图之二；

图5为本实用新型实施例提供的磁导率测试治具中的测试机构的结构示意图；

图6为本实用新型实施例提供的磁导率测试治具中的打点机构的结构示意图之一；

图7为本实用新型实施例提供的磁导率测试治具中的打点机构的结构示意图之二，其中，第二走线坦克链未示出；

图8为图2所示A处的局部放大示意图。

图标：

100-主体框架；

200-送料机构；210-载料板；220-移动载板；230-下模固定板；240-Y向电缸；250-立柱；

300-测试机构；310-弱磁计；320-测试固定板；330-光纤放大器；340-第一X向电缸；350-第一Z向电缸；360-第一走线坦克链；

400-打点机构；410-打点笔；420-第二X向电缸；430-第二Z向电缸；440-打点固定板；450-打点连接板；460-第二走线坦克链；470-笔座；

500-电控箱。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面结合附图，对本实用新型的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本实施例提供一种磁导率测试治具，如图1至图6所示，该磁导率测试治具包括主体框架100、均安装于主体框架100的送料机构200、测试机构300以及打点机构400；送料机构200包括用于放置待测产品的载料板210以及驱动载料板210沿Y向运动的Y向驱动模组；测试机构包括弱磁计310、第一X向模组以及第一Z向模组，第一X向模组能够驱动弱磁计310沿X向运动至待测位置的上方，且第一Z向模组能够驱动弱磁计310沿Z向运动以靠近或远离待测位置；打点机构包括打点笔410、第二X向模组以及第二Z向模组，第二X向模组能够驱动打点笔410沿X向运动至待测产品的打点位置的上方，且第二Z向模组能够驱动打点笔410沿Z向运动以靠近或远离打点位置；弱磁计310和打点笔410沿Y向设置。

本实施例提供的磁导率测试治具，载料板210在Y向驱动模组的驱动下能够沿Y向运动，弱磁计310在第一X向模组和第一Z向模组的驱动，能够分别沿X向和Z向运动，因此在测试阶段，可以通过前述三者(Y向驱动模组、第一X向模组以及第一Z向模组)的配合，使弱磁计310运动至待测位置的上方，进而向靠近待测位置的方向运动，以为测试做好准备，待测试完成后，可使弱磁计310向远离待测位置的方向运动；对于需要打点的待测产品来说，由于弱磁计310和打点笔410沿Y向设置，因而，通过Y向驱动模组可以将待打点产品送至打点笔410对应的位置处，并通过第二X向模组以及第二Z向模组的配合，能够使打点笔410运动至待测产品的打点位置的上方，进而向靠近打点位置的方向运动，以为打点做好准备，待打点完成后，可使打点笔向远离打点位置的方向运动。

由前述可知，弱磁计310和待测产品两者配合Y向驱动模组、第一X向模组以及第一Z向模组能够实现在三个方向上的多个位置的调整，因而能够实现对未剪裁的多个产品的测试操作；同样地，打点笔410和待测产品两者配合Y向驱动模组、第二X向模组以及第二Z向模组能够实现在三个方向上的多个位置的调整，因而能够实现对未剪裁的多个产品的打点操作；在测试和打点过程中，无需重复的放入和取出待测产品，节省了测试时间，提高了测试效率。

如图1所示，主体框架100包括具有前开口的容置空间，送料机构200、测试机构300以及打点机构400均安装于容置空间内，待测产品能够由前开口送入载料板210；磁导率测试治具还包括电控箱500，电控箱500固定连接于主体框架100的外侧；送料机构200、测试机构300以及打点机构400均与电控箱500电连接。

需要说明的是，采用电控箱500对送料机构200、测试机构300以及打点机构400进行控制的工作方式对于本领域技术人员来说是清楚的，在此不再详细赘述。

该实施例中，如图3和图4所示，Y向驱动模组的输出端固定连接有移动载板220和下模固定板230，移动载板220和下模固定板230沿Z向间隔设置；移动载板220上设有顶升驱动件(附图未示出)，顶升驱动件的输出端穿过下模固定板230并与载料板210固定连接，用于使载料板210与下模固定板230的上表面抵接或脱离。

具体的，顶升驱动件可以为气缸或电缸。当测试完成或打点完成后，通过顶升驱动件带动载料板210上升，使载料板210与下模固定板230的上表面脱离，可便于卸料；在卸料完成后，可以使驱动件带动载料板210下降，并使载料板210与下模固定板230的上表面抵接，为放料做好准备。

本实施例中，如图4所示，Y向驱动模组采用Y向电缸240；移动载板220固定连接于Y向电缸240的输出端；移动载板220与下模固定板230之间连接有立柱250，用于使两者之间具有间隔。

进一步的，载料板210与下模固定板230之间设有定位结构(未示出)；定位结构包括设在载料板210上的定位孔以及设在下模固定板230上的与定位孔配合的定位销；或者，定位结构包括设在载料板210上的定位销以及设在下模固定板230上的与定位销配合的定位孔。

通过以上定位结构的设置，能够对载料板210的上升和下降运动起到一定的导向作用，以使载料板210相对下模固定板230在水平方向上不会发生移位。

上面已经介绍了送料机构200的具体结构，接下来介绍测试机构300的具体结构。

如图5所示，第一Z向模组固定连接于第一X向模组的输出端；测试机构300还包括测试固定板320和光纤放大器330，测试固定板320固定连接于第一Z向模组的输出端；光纤放大器330和弱磁计310均安装于测试固定板，光纤放大器330配置成采集并发送弱磁计310的永磁棒的移动信息。

具体的，请继续参照图5，第一X向模组包括第一X向电缸340，第一X向电缸340安装于主体框架100；第一Z向模组包括第一Z向电缸350，第一Z向电缸350固定连接于第一X向电缸340的输出端；光纤放大器330安装于测试固定板320的上表面，弱磁计310固定安装于测试固定板320的下表面，弱磁计310的探头朝向载料板210设置。

可选的，测试机构300所包含的部件之间的连接线通过第一走线坦克链360布设；其中，第一走线坦克链360为中空结构。如此设置，不仅使布线更加整洁、不杂乱，而且不会轻易地使多条连接线之间发生缠绕、打结等。

上面已经介绍了测试机构300的具体结构，接下来介绍打点机构400的具体结构。

如图6和图7所示，第二Z向模组固定连接于第二X向模组的输出端，第二X向模组包括第二X向电缸420，第二Z向模组包括第二Z向电缸430。

具体的，打点机构400还包括打点固定板440，打点固定板440固定连接于第二X向电缸420的输出端；第二Z向电缸430固定连接于打点固定板440，其中，打点笔410通过打点连接板450固定连接于第二Z向电缸430的输出端，且打点笔410与打点固定板440滑动连接。

示例性地，打点固定板440上设有滑轨(附图未示出)，打点笔410滑动连接于滑轨。

如图7所示，工作时，第二Z向电缸430伸出带动打点连接板450向下运动，同时带动打点笔410沿滑轨向下运动；反之，带动打点笔410沿滑轨向上运动。

可选的，打点机构400所包含的部件之间的连接线通过第二走线坦克链460布设，具体与第一走线坦克链360，在此不再赘述。

如图8所示，打点机构400还包括笔座470，笔座470固设于主体框架100的底板，打点笔410在第二X向电缸420和第二Z向电缸430的驱动下，能够使打点笔410在非使用状态(即不打点的状态下)下插入笔座470。

在本申请的一个实施例中，笔座470包括本体、密封圈以及压盖；本体具有上开口；压盖上设有避让孔，压盖按压密封圈盖合于上开口。打点笔410在不使用待机时，将打点笔410的笔头插入笔座470内，由密封圈进行密封，可以防止笔头水分流失影响标记。

本实施例还提供一种应用前述的磁导率测试治具进行测试的测试方法，包括以下步骤：

沿Y向输送待测试产品；

分别沿X向和Z向移动弱磁计310，使弱磁计310的探头与待测产品的待测钢片抵接，对待测钢片进行测试；

如果待测钢片合格，沿Z向移动弱磁计310使其脱离待测钢片，并沿Y向输出待测试产品；

如果待测钢片不合格，沿Z向移动弱磁计310使其脱离待测钢片，沿Y向输送待测试产品至打点机构400位置处，分别沿X向和Z向移动打点笔410，对待测试产品进行打点标记。

本实施例的磁导率测试治具的测试原理为：FPC软板上的钢片会产生微弱的磁导率，磁导率达到一定数值会对软板的功能有一定的影响。本实用新型是一种准确判断FPC软板上钢片的磁导率是否到达影响FPC软板使用的程度的治具。把光纤放大器330照到永磁棒的非测试端，然后把弱磁计310与待测FPC软板钢片设置在一个较近的距离，如果待测FPC软板钢片的磁导率大于弱磁计标样，弱磁计310的永磁棒会向待测FPC软板钢片倾斜，光纤放大器330数值变化，发出信号，系统判定产品不合格；反之，判定为合格。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种磁导率测试治具，其特征在于，包括：主体框架(100)、均安装于所述主体框架(100)的送料机构(200)、测试机构(300)以及打点机构(400)；

所述送料机构(200)包括用于放置待测产品的载料板(210)以及驱动所述载料板(210)沿Y向运动的Y向驱动模组；

所述测试机构(300)包括弱磁计(310)、第一X向模组以及第一Z向模组，所述第一X向模组能够驱动所述弱磁计(310)沿X向运动至待测位置的上方，且所述第一Z向模组能够驱动所述弱磁计(310)沿Z向运动以靠近或远离所述待测位置；

所述打点机构(400)包括打点笔(410)、第二X向模组以及第二Z向模组，所述第二X向模组能够驱动所述打点笔(410)沿X向运动至待测产品的打点位置的上方，且所述第二Z向模组能够驱动所述打点笔(410)沿Z向运动以靠近或远离所述打点位置；

所述弱磁计(310)和所述打点笔(410)沿所述Y向设置。

2.根据权利要求1所述的磁导率测试治具，其特征在于，所述主体框架(100)包括具有前开口的容置空间，所述送料机构(200)、所述测试机构(300)以及所述打点机构(400)均安装于所述容置空间内，待测产品能够由所述前开口送入所述载料板(210)；

所述磁导率测试治具还包括电控箱(500)，所述电控箱(500)固定连接于所述主体框架(100)的外侧；所述送料机构(200)、所述测试机构(300)以及所述打点机构(400)均与所述电控箱(500)电连接。

3.根据权利要求1或2所述的磁导率测试治具，其特征在于，所述Y向驱动模组的输出端固定连接有移动载板(220)和下模固定板(230)，所述移动载板(220)和所述下模固定板(230)沿Z向间隔设置；

所述移动载板(220)上设有顶升驱动件，所述顶升驱动件的输出端穿过所述下模固定板(230)并与所述载料板(210)固定连接，用于使所述载料板(210)与所述下模固定板(230)的上表面抵接或脱离。

4.根据权利要求3所述的磁导率测试治具，其特征在于，所述Y向驱动模组采用Y向电缸(240)；

所述移动载板(220)固定连接于所述Y向电缸(240)的输出端；

所述移动载板(220)与所述下模固定板(230)之间连接有立柱(250)，用于使两者之间具有间隔。

5.根据权利要求3所述的磁导率测试治具，其特征在于，所述载料板(210)与所述下模固定板(230)之间设有定位结构；

所述定位结构包括设在所述载料板(210)上的定位孔以及设在所述下模固定板(230)上的与所述定位孔配合的定位销；或者，所述定位结构包括设在所述载料板(210)上的定位销以及设在所述下模固定板(230)上的与所述定位销配合的定位孔。

6.根据权利要求1或2所述的磁导率测试治具，其特征在于，所述第一Z向模组固定连接于所述第一X向模组的输出端；

所述测试机构(300)还包括测试固定板(320)和光纤放大器(330)，所述测试固定板(320)固定连接于所述第一Z向模组的输出端；

所述光纤放大器(330)和所述弱磁计(310)均安装于所述测试固定板(320)，所述光纤放大器(330)配置成采集并发送所述弱磁计(310)的永磁棒的移动信息。

7.根据权利要求6所述的磁导率测试治具，其特征在于，所述第一X向模组包括第一X向电缸(340)，所述第一X向电缸(340)安装于所述主体框架(100)；

所述第一Z向模组包括第一Z向电缸(350)，所述第一Z向电缸(350)固定连接于所述第一X向电缸(340)的输出端；

所述光纤放大器(330)安装于所述测试固定板(320)的上表面，所述弱磁计(310)固定安装于所述测试固定板(320)的下表面，所述弱磁计(310)的探头朝向所述载料板(210)设置。

8.根据权利要求1或2所述的磁导率测试治具，其特征在于，所述第二Z向模组固定连接于所述第二X向模组的输出端；

所述打点机构(400)还包括笔座(470)，所述笔座(470)固设于所述主体框架(100)的底板，所述打点笔(410)在所述第二Z向模组和所述第二X向模组的驱动下，能够使所述打点笔(410)在非使用状态下插入所述笔座(470)。

9.根据权利要求8所述的磁导率测试治具，其特征在于，所述笔座(470)包括本体、密封圈以及压盖；

所述本体具有上开口；

所述压盖上设有避让孔，所述压盖按压所述密封圈盖合于所述上开口。

10.根据权利要求8所述的磁导率测试治具，其特征在于，所述第二X向模组包括第二X向电缸(420)，所述第二Z向模组包括第二Z向电缸(430)；

所述打点机构(400)还包括打点固定板(440)，所述打点固定板(440)固定连接于所述第二X向电缸(420)的输出端；

所述第二Z向电缸(430)固定连接于所述打点固定板(440)；

所述打点笔(410)通过打点连接板(450)固定连接于所述第二Z向电缸(430)的输出端，且所述打点笔(410)与所述打点固定板(440)滑动连接。

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