CN210534274U - 一种电子芯片检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于芯片检测技术领域，尤其为一种电子芯片检测装置，包括支撑架、固定框和底座，以及转动连接于支撑架内部的旋转轴和设置在旋转轴下方的电气检测箱，电气检测箱的外表面通过螺丝固定有状况指示灯和参数显示屏，电气检测箱的下表面通过螺丝固定有探针座，探针座的下表面一体成型有若干个探针，底座通过轴承转动连接有转动固定座，转动固定座的外表面一体成型有芯片槽，转动固定座背离轴承的一侧转动连接有一号电机通过一号电机的输出端对带动转动固定座进行转动，使得在对芯片槽上表面的芯片检测完毕后，可以通过转动的转动固定座方便将检测好的芯片取下，同时对下一块芯片进行检测，并能够快速安装需要检测的芯片。

Description

一种电子芯片检测装置

技术领域

本实用新型属于芯片检测技术领域，具体涉及一种电子芯片检测装置。

背景技术

芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体，电子芯片是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；电子芯片设备在生产完电子芯片之后，需要对电子芯片进行综合测试及各种电流电压的测试，目前的电子芯片的检测方式就是检测工人手持着从电气检测箱上引出的检测探针，通过观察着电气检测箱上的指示灯的状态和显示屏所显示的参数大小来判断着该电子芯片是否合格，然而这种检测方式不仅极大的增加着检测人员的工作强度，同时也会导致检测过程中检测探针发生晃动所引起的误差，严重影响着检测精度，实用性差的问题。

现有的专利号为CN 207623470 U的实用新型专利已解决上述问题，但专利号为CN207623470 U的实用新型专利在使用时仍存在有一定的不便性，在对芯片进行检测时，芯片无法进行快速固定和拿取，从而导致在检测时，检测探针无法准确的对芯片进行检查，进而导致检测的结果误差较大，且在对芯片进行检测的过程中，需要工作人员手摇旋转轴，从而导致工作人员的劳动量增加，同时工作人员手摇旋转轴会无法精准的把控力度，进而导致检测的芯片损坏。

实用新型内容

为解决现有技术中存在的上述问题，本实用新型提供了一种电子芯片检测装置，具有便于检测和自动检测的特点。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种电子芯片检测装置，包括支撑架、固定框和底座，以及转动连接于支撑架内部的旋转轴和设置在旋转轴下方的电气检测箱，电气检测箱的外表面通过螺丝固定有状况指示灯和参数显示屏，电气检测箱的下表面通过螺丝固定有探针座，探针座的下表面一体成型有若干个探针，底座的内部通过螺丝固定有轴承，底座通过轴承转动连接有转动固定座，转动固定座的外表面一体成型有芯片槽，转动固定座背离轴承的一侧转动连接有一号电机。

作为本实用新型的一种电子芯片检测装置优选技术方案，旋转轴的一侧通过螺栓固定有一号转轮，旋转轴通过一号转轮转动连接有卡带，底座的上表面通过螺栓固定有二号电机，二号电机的输出端通过螺丝固定有二号转轮，二号电机通过二号转轮转动连接有卡带。

作为本实用新型的一种电子芯片检测装置优选技术方案，转动固定座的上表面转动连接按动杆和限位块，转动固定座的内壁通过螺丝固定有弹簧，转动固定座通过弹簧与限位块进行弹性连接。

作为本实用新型的一种电子芯片检测装置优选技术方案，转动固定座的外表面背离一号电机的一侧一体成型有限位板，限位板的下表面和芯片槽的上表面之间留有空隙。

作为本实用新型的一种电子芯片检测装置优选技术方案，转动固定座的一侧一体成型有连接块，转动固定座通过连接块与一号电机的输出端进行固定连接。

作为本实用新型的一种电子芯片检测装置优选技术方案，转动固定座的侧面开设有若干个孔洞，按动杆的外表面通过若干个孔洞贯穿转动固定座的侧面。

作为本实用新型的一种电子芯片检测装置优选技术方案，转动固定座为六棱柱形。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过设置按动转动连接在转动固定座外表面的按动杆，使得通过弹簧弹性连接在转动固定座内壁上的限位块能够向一号电机方向转动，使得限位块能够配合限位板将需要检测的芯片卡合在转动固定座上表面的芯片槽中进行固定，从而方便电气检测箱和探针对芯片进行精确的检测，同时在底座的内部固定设置有一号电机，并通过连接块将一号电机的输出端与转动固定座的一侧进行固定连接，从而使得在对芯片检测的过程中，能够通过一号电机的输出端对带动转动固定座进行转动，使得在对芯片槽上表面的芯片检测完毕后，可以通过转动的转动固定座方便将检测好的芯片取下，同时对下一块芯片进行检测，并能够快速安装需要检测的芯片，且在底座的上表面设置有二号电机，并在二号电机的输出端固定连接有二号转轮，使得二号电机的输出端通过二号转轮与卡带进行转动连接，从而使得在对芯片检测时，通过二号电机的输出端带动卡带进行转动，再通过卡带带动旋转轴和一号转轮进行转动，从而使得可以通过二号电机控制电气检测箱和探针进行上下移动，进行精确的控制探针向下检测的位置，从而防止因工作人员检测力度过重而导致芯片损坏。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型中的转动固定座结构示意图；

图3为本实用新型中的卡带结构示意图；

图4为本实用新型中的芯片固定结构示意图；

图中：1、支撑架；2、固定框；3、探针座；4、旋转轴；5、电气检测箱；6、状况指示灯；7、参数显示屏；8、卡带；9、一号转轮；10、探针；11、二号转轮；12、二号电机；13、底座；14、一号电机；15、转动固定座；16、芯片槽；17、限位板；18、轴承；19、按动杆；20、连接块；21、弹簧；22、限位块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例

请参阅图1-4，本实用新型提供以下技术方案：一种电子芯片检测装置，包括支撑架1、固定框2和底座13，以及转动连接于支撑架1内部的旋转轴4和设置在旋转轴4下方的电气检测箱5，电气检测箱5的外表面通过螺丝固定有状况指示灯6和参数显示屏7，电气检测箱5的下表面通过螺丝固定有探针座3，探针座3的下表面一体成型有若干个探针10，底座13的内部通过螺丝固定有轴承18，底座13通过轴承18转动连接有转动固定座15，转动固定座15的外表面一体成型有芯片槽16，转动固定座15背离轴承18的一侧转动连接有一号电机14，本实施例中通过设置按动转动连接在转动固定座15外表面的按动杆19，使得通过弹簧21弹性连接在转动固定座15内壁上的限位块22能够向一号电机14方向转动，使得限位块22能够配合限位板17将需要检测的芯片卡合在转动固定座15上表面的芯片槽16中进行固定，从而方便电气检测箱5和探针10对芯片进行精确的检测，同时在底座13的内部固定设置有一号电机14，并通过连接块20将一号电机14的输出端与转动固定座15的一侧进行固定连接，从而使得在对芯片检测的过程中，能够通过一号电机14的输出端对带动转动固定座15进行转动，使得在对芯片槽16上表面的芯片检测完毕后，可以通过转动的转动固定座15方便将检测好的芯片取下，同时对下一块芯片进行检测，并能够快速安装需要检测的芯片。

具体的，旋转轴4的一侧通过螺栓固定有一号转轮9，旋转轴4通过一号转轮9转动连接有卡带8，底座13的上表面通过螺栓固定有二号电机12，二号电机12的输出端通过螺丝固定有二号转轮11，二号电机12通过二号转轮11转动连接有卡带8，本实施例中通过设置在底座13的上表面设置有二号电机12，并在二号电机12的输出端固定连接有二号转轮11，使得二号电机12的输出端通过二号转轮11与卡带8进行转动连接，从而使得在对芯片检测时，通过二号电机12的输出端带动卡带8进行转动，再通过卡带8带动旋转轴4和一号转轮9进行转动，从而使得可以通过二号电机12控制电气检测箱5和探针10进行上下移动，进行精确的控制探针10向下检测的位置，从而防止因工作人员检测力度过重而导致芯片损坏。

具体的，转动固定座15的上表面转动连接按动杆19和限位块22，转动固定座15的内壁通过螺丝固定有弹簧21，转动固定座15通过弹簧21与限位块22进行弹性连接，本实施例中通过设置按动转动连接在转动固定座15外表面的按动杆19，使得通过弹簧21弹性连接在转动固定座15内壁上的限位块22能够向一号电机14方向转动，使得限位块22能够配合限位板17将需要检测的芯片卡合在转动固定座15上表面的芯片槽16中进行固定，从而方便电气检测箱5和探针10对芯片进行精确的检测。

具体的，转动固定座15的外表面背离一号电机14的一侧一体成型有限位板17，限位板17的下表面和芯片槽16的上表面之间留有空隙，本实施例中通过设置限位板17的下表面和芯片槽16的上表面之间留有空隙，使得检测的芯片可以卡合在限位板17的下表面和芯片槽16的上表面之间，并通过限位块22进行卡合固定，从而使得检测的芯片可以稳固的固定在芯片槽16的上表面进行检测。

具体的，转动固定座15的一侧一体成型有连接块20，转动固定座15通过连接块20与一号电机14的输出端进行固定连接。

具体的，转动固定座15的侧面开设有若干个孔洞，按动杆19的外表面通过若干个孔洞贯穿转动固定座15的侧面。

具体的，转动固定座15为六棱柱形，本实施例中通过设置转动固定座15为六棱柱形，使得转动固定座15的外表面可以安装六个芯片进行检测，从而使得检测的效率更高。

本实施例中二号电机12和一号电机14型号为YE-2已经公开的广泛运用于日常生活的已知技术。

本实用新型的工作原理及使用流程：本实用新型在使用过程中，通过旋转轴4的转动使得探针座3和探针10能够向下移动对芯片进行检测，当需要对多个芯片进行检测时，通过按动转动连接在转动固定座15外表面的按动杆19，使得通过弹簧21弹性连接在转动固定座15内壁上的限位块22能够向一号电机14方向转动，使得限位块22能够配合限位板17将需要检测的芯片卡合在转动固定座15上表面的芯片槽16中进行固定，从而方便电气检测箱5和探针10对芯片进行精确的检测，同时在底座13的内部固定设置有一号电机14，并通过连接块20将一号电机14的输出端与转动固定座15的一侧进行固定连接，从而使得在对芯片检测的过程中，能够通过一号电机14的输出端对带动转动固定座15进行转动，使得在对芯片槽16上表面的芯片检测完毕后，可以通过转动的转动固定座15方便将检测好的芯片取下，同时对下一块芯片进行检测，并能够快速安装需要检测的芯片，且在底座13的上表面设置有二号电机12，并在二号电机12的输出端固定连接有二号转轮11，使得二号电机12的输出端通过二号转轮11与卡带8进行转动连接，从而使得在对芯片检测时，通过二号电机12的输出端带动卡带8进行转动，再通过卡带8带动旋转轴4和一号转轮9进行转动，从而使得可以通过二号电机12控制电气检测箱5和探针10进行上下移动，进行精确的控制探针10向下检测的位置，从而防止因工作人员检测力度过重而导致芯片损坏。

最后应说明的是：以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种电子芯片检测装置，其特征在于：包括支撑架（1）、固定框（2）和底座（13），以及转动连接于支撑架（1）内部的旋转轴（4）和设置在旋转轴（4）下方的电气检测箱（5），电气检测箱（5）的外表面通过螺丝固定有状况指示灯（6）和参数显示屏（7），电气检测箱（5）的下表面通过螺丝固定有探针座（3），探针座（3）的下表面一体成型有若干个探针（10），底座（13）的内部通过螺丝固定有轴承（18），底座（13）通过轴承（18）转动连接有转动固定座（15），转动固定座（15）的外表面一体成型有芯片槽（16），转动固定座（15）背离轴承（18）的一侧转动连接有一号电机（14）。

2.根据权利要求1所述的一种电子芯片检测装置，其特征在于：旋转轴（4）的一侧通过螺栓固定有一号转轮（9），旋转轴（4）通过一号转轮（9）转动连接有卡带（8），底座（13）的上表面通过螺栓固定有二号电机（12），二号电机（12）的输出端通过螺丝固定有二号转轮（11），二号电机（12）通过二号转轮（11）转动连接有卡带（8）。

3.根据权利要求1所述的一种电子芯片检测装置，其特征在于：转动固定座（15）的上表面转动连接按动杆（19）和限位块（22），转动固定座（15）的内壁通过螺丝固定有弹簧（21），转动固定座（15）通过弹簧（21）与限位块（22）进行弹性连接。

4.根据权利要求1所述的一种电子芯片检测装置，其特征在于：转动固定座（15）的外表面背离一号电机（14）的一侧一体成型有限位板（17），限位板（17）的下表面和芯片槽（16）的上表面之间留有空隙。

5.根据权利要求1所述的一种电子芯片检测装置，其特征在于：转动固定座（15）的一侧一体成型有连接块（20），转动固定座（15）通过连接块（20）与一号电机（14）的输出端进行固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种电子芯片检测装置，其特征在于：转动固定座（15）的侧面开设有若干个孔洞，按动杆（19）的外表面通过若干个孔洞贯穿转动固定座（15）的侧面。

7.根据权利要求1所述的一种电子芯片检测装置，其特征在于：转动固定座（15）为六棱柱形。

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