CN219434922U - 一种新型测试针模组 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及测试设备技术领域，一种新型测试针模组，包括底座和芯片定位板，所述底座的表面与芯片定位板固定连接，其特征在于：所述芯片定位板的上端设有检测装置，所述检测装置包括安装槽，所述安装槽的外壁与芯片定位板固定连接，所述安装槽的表面与引针架固定连接。通过芯片放在待检测芯片机构内部，通过销轴插入螺纹孔，对芯片固定，把主板对准引针架进行接电连接，再次插入销轴盖上固定板，盖上盖板，盖板上的卡口条外壁对准底座上的卡扣，使卡口条和卡扣的圆孔对准插入销轴，使芯片测试流程减少，提高了芯片检测效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试设备技术领域，具体为一种新型测试针模组。
背景技术
现代电子芯片技术飞速发展，对芯片技术的研发投入依旧极其重视，然而对芯片的测试工作更是不可忽视，作为技术核心，芯片的检测不可或缺。
例如授权公告号为“CN211122930U”名字为一种双头针模组测试工装，虽然解决了现有工作人员需要长时间定位芯片安装的问题，仍然存在现有的双头针模组测试工装，在安装完芯片后，芯片的上端还要通过螺栓固定限位板，安装完限位板后，再次盖上芯片压合板，芯片压合板的上端再次固定转接板，经过多个固定零件才能进行检测芯片，大大增加了在检测芯片的安装过程，影响了芯片测试的工作效率。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有的双头针模组测试工装，经过多个固定零件才能进行检测芯片，大大增加了在检测芯片的安装过程，影响了芯片测试的工作效率的问题，而提出的一种新型测试针模组。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种新型测试针模组，包括底座和芯片定位板，所述底座的表面与芯片定位板固定连接，其特征在于：所述芯片定位板的上端设有检测装置，所述检测装置包括安装槽，所述安装槽的外壁与芯片定位板固定连接，所述安装槽的表面与引针架固定连接。
优选的，所述底座芯片定位板的表面与待检测芯片机构固定连接，所述待检测芯片机构的表面与螺纹孔固定连接，所述待检测芯片机构的下端与引针杆电性连接。
优选的，所述芯片定位板通过销轴与固定板固定连接。
优选的，所述芯片定位板的表面与第一连接块固定连接，所述第一连接块通过销轴与第二连接块转动连接，所述第二连接块的端部与盖板固定连接，所述盖板的表面设有凹槽，所述盖板的端部与卡扣条固定连接，所述盖板的表面设有散热口。
优选的，所述底座的表面安装有检测单元,所述底座的表面与卡扣固定连接。
优选的，所述芯片定位板的一侧设有插电口。
本实用新型提出的一种新型测试针模组，有益效果在于：通过芯片放在待检测芯片机构内部，通过销轴插入螺纹孔，对芯片固定，把主板对准引针架进行接电连接，再次插入销轴盖上固定板，盖上盖板，盖板上的卡口条外壁对准底座上的卡扣，使卡口条和卡扣的圆孔对准插入销轴，使芯片测试流程减少，提高了芯片检测效率。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为图1中正视剖面结构示意图；
图3为图1中待检测芯片机构剖面结构示意图；
图4为图1中A处放大结构示意图。
图中：1、底座，2、芯片定位板，3、检测装置，301、安装槽，302、引针架，4、待检测芯片机构，5、螺纹孔，6、固定板，7、第一连接块，8、第二连接块，9、盖板，10、凹槽，11、卡扣条，12、检测单元，13、卡扣，14、插电口，15、散热口，16、引针杆。
具体实施方式
基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种新型测试针模组，包括底座1和芯片定位板2，底座1的表面与芯片定位板2固定连接，芯片定位板2的上端设有检测装置3，通过安装槽301的内部的引针架302与芯片电性连接，进行对芯片的检测，安装槽301上的检测装置3包括安装槽301，安装槽301的外壁与芯片定位板2固定连接，安装槽301的表面与引针架302固定连接；
芯片放在待检测芯片机构4内部，通过销轴插入螺纹孔5，对芯片固定，把主板对准引针架302进行接电连接，再次插入销轴盖上固定板6，盖上盖板9，盖板9上的卡口条11外壁对准底座1上的卡扣13，使卡口条11和卡扣13的圆孔对准插入销轴，使芯片测试流程减少，提高了芯片检测效率。
请参阅图1和图2，底座1芯片定位板2的表面与待检测芯片机构4固定连接，待检测芯片机构4的表面与螺纹孔5固定连接，把芯片放在待检测芯片机构4内部，通过销轴对芯片固定，芯片的连接处与待检测芯片机构4电性连接，待检测芯片机构4的下端与引针杆16电性连接，芯片定位板2通过销轴与固定板6固定连接。
请参阅图1、图2和图4，芯片定位板2的表面与第一连接块7固定连接，第一连接块7通过销轴与第二连接块8转动连接，第二连接块8的端部与盖板9固定连接，盖板9的表面设有凹槽10，盖板9的端部与卡扣条11固定连接，盖板9的表面设有散热口15，芯片在检测时会产生热量，避免芯片产生的热量无法释放，散热口15直接对准芯片的表面，提高芯片的散热速度，底座1的表面安装有检测单元12,检测单元12与外界的检测器相连接，观察检测器的数值，对芯片进行测试，底座1的表面与卡扣13固定连接，芯片定位板2的一侧设有插电口14，外部接口插入插电口14后，为整体设备供电。
工作原理：
首先把芯片放在待检测芯片机构4内部，通过销轴插入螺纹孔5，对芯片固定，卸掉固定板6的销轴，取下固定板6，把主板对准引针架302进行接电连接，再次插入销轴盖上固定板6，这时外部接口插入插电口14进行通电，使芯片、主板、检测单元12、引针架302和插电口电连接，盖上盖板9，盖板9上的卡口条11外壁对准底座1上的卡扣13，使卡口条11和卡扣13的圆孔对准插入销轴，对整体设备进行保护，检测单元12根据芯片的型号控制电流的大小进行检测，通过检测单元12的连接口与外界的检测器电性连接，观察外界的检测器的数值，判断芯片的质量是否合格，同时在对芯片检测时，芯片会产生热量会从散热口15排出。
Claims (6)
1.一种新型测试针模组，包括底座(1)和芯片定位板(2)，所述底座(1)的表面与芯片定位板(2)固定连接，其特征在于：所述芯片定位板(2)的上端设有检测装置(3)，所述检测装置(3)包括安装槽(301)，所述安装槽(301)的外壁与芯片定位板(2)固定连接，所述安装槽(301)的表面与引针架(302)固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种新型测试针模组，其特征在于：所述底座(1)芯片定位板(2)的表面与待检测芯片机构(4)固定连接，所述待检测芯片机构(4)的表面与螺纹孔(5)固定连接，所述待检测芯片机构(4)的下端与引针杆(16)电性连接。
3.根据权利要求1所述的一种新型测试针模组，其特征在于：所述芯片定位板(2)通过销轴与固定板(6)固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种新型测试针模组，其特征在于：所述芯片定位板(2)的表面与第一连接块(7)固定连接，所述第一连接块(7)通过销轴与第二连接块(8)转动连接，所述第二连接块(8)的端部与盖板(9)固定连接，所述盖板(9)的表面设有凹槽(10)，所述盖板(9)的端部与卡扣条(11)固定连接，所述盖板(9)的表面设有散热口(15)。
5.根据权利要求1所述的一种新型测试针模组，其特征在于：所述底座(1)的表面安装有检测单元(12),所述底座(1)的表面与卡扣(13)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种新型测试针模组，其特征在于：所述芯片定位板(2)的一侧设有插电口(14)。
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2022
- 2022-12-03 CN CN202223228179.5U patent/CN219434922U/zh active Active
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