CN114387902A - 一种lcd电阻标识测试配合装置及使用方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种LCD电阻标识测试配合装置及使用方法，涉及LCD检测技术领域。本发明中：LCD玻璃的台阶位置处设有标识电阻，标识电阻包括电阻线路和位于电阻线路两侧端的测试端点，标识定位器位于LCD玻璃的台阶位置处，标识定位器包括与两个测试端点相配合的观察缺口。标识定位器的内推导槽位置处插入安装有导电测试板，导电测试板包括一个塑料推片和两个导电片，导电片粘合在塑料推片的前端位置，两个导电片的插接部分配合插接有测试插头。本发明在LCD玻璃台阶位置设置标识电阻，通过对标识电阻蚀刻前后的电阻线路阻值变化进行测量，判断当前LCD电阻是否正常，同时通过测量辅助装置的间接转换，使得标识电阻的电阻线路。
Description
技术领域
本发明涉及LCD检测技术领域，尤其涉及一种LCD电阻标识测试配合装置及使用方法。
背景技术
LCD在量产后可能因为其材料的阻值规格使用错误而导致显示明暗不均等问题。LCD蚀刻不足可能导致比较细的线路未被蚀刻，出现线路短路或者电阻过高，而蚀刻过度可能导致原本不应被蚀刻部分被蚀刻，出现短路，图案变形等情况。
LCD在出现显示明暗不均时，可能原因为原材料玻璃不同导致，也可能因为蚀刻程度不同造成错误，但两种错误的识别方法比较繁琐，测试比较浪费时间。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种LCD电阻标识测试配合装置及使用方法，在LCD玻璃台阶位置设置标识电阻，通过对标识电阻蚀刻前后的电阻线路阻值变化进行测量，判断当前LCD电阻是否正常，同时通过测量辅助装置的间接转换，使得标识电阻的电阻线路。
为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：
本发明涉及一种LCD电阻标识测试配合装置，LCD玻璃的台阶位置处设有标识电阻，标识电阻包括电阻线路和位于电阻线路两侧端的测试端点。
标识定位器，为一体化注塑成型的绝缘塑料材质结构体，置于LCD玻璃的台阶位置处。标识定位器包括置于LCD玻璃上侧的上平板，标识定位器包括位于上平板一侧的边侧挡板，标识定位器包括与两个测试端点相配合的观察缺口，观察缺口位于上侧平板、边侧挡板的中间位置，上侧平板上侧面开设有位于观察缺口两侧的边侧磁片槽，边侧挡板、上平板开设有位于边侧磁片槽两侧的内推导槽。边侧磁片槽内放置磁吸块，LCD玻璃下侧面配置有与磁吸块磁吸配合的磁铁片。
标识定位器的内推导槽位置处插入安装有导电测试板，导电测试板包括一个塑料推片和两个导电片，导电片粘合在塑料推片的前端位置，塑料推片两侧设有推片导板，塑料推片包括位于两个导电片之间的隔断部分，导电片外侧设有导电导板，导电片包括与塑料推片上侧面齐平的插接部分，插接部分开设有插接孔，两个导电片的插接部分配合插接有测试插头，测试插头包括配合插接在插接孔内的插接极柱。
作为本发明中LCD电阻标识测试配合装置的一种优选技术方案：测试端点的宽度尺寸大于电阻线路的宽度尺寸，设测试端点的宽度尺寸为Da、电阻线路的宽度尺寸为Db，则Da≥10Db。另外，测试端点为方形金属区域或圆形金属区域。
作为本发明中LCD电阻标识测试配合装置的一种优选技术方案：上平板包括一段遮挡板，遮挡板覆盖标识电阻的电阻线路区域，遮挡板未覆盖标识电阻的测试端点。
作为本发明中LCD电阻标识测试配合装置的一种优选技术方案：内推导槽下侧延伸至上平板的下侧面，内推导槽延伸至标识定位器的遮挡板位置。
作为本发明中LCD电阻标识测试配合装置的一种优选技术方案：塑料推片上侧面设有若干增阻条，同侧方位的推片导板上侧面与导电导板上侧面齐平，同侧方位的导电导板下侧面水平位置低于推片导板下侧面水平位置，推片导板、导电导板配合插入标识定位器的内推导槽。
作为本发明中LCD电阻标识测试配合装置的一种优选技术方案：推片导板的竖直高度尺寸小于内推导槽的开口高度尺寸，导电导板的竖直高度尺寸与内推导槽的开口高度尺寸相配合。
作为本发明中LCD电阻标识测试配合装置的一种优选技术方案：设标识电阻的两个测试端点的跨度长度为L、标识定位器的观察缺口的横向宽度尺寸为D，则观察缺口的横向宽度D≥标识电阻的两个测试端点的跨度长度L；设标识电阻的两个测试端点之间的间距为S、塑料推片的隔断部分的宽度尺寸为K，则存在隔断部分的宽度尺寸K≤标识电阻的两个测试端点之间的间距S。
作为本发明中LCD电阻标识测试配合装置的一种优选技术方案：导电片下侧面的面积大于标识电阻的测试端点的面积。
本发明涉及一种LCD电阻标识测试配合装置的使用方法，包括以下内容：㈠LCD线路蚀刻后，将标识定位器置于LCD台阶位的标识电阻位置，微调节标识定位器，使标识电阻的两个测试端点处于标识定位器的观察缺口范围内；㈡将导电测试板缓慢推入标识定位器的内推导槽中，导电测试板的两个导电片与各自方位的测试端点完成位置匹配；㈢导电测试板的导电片内推到位后，在LCD玻璃下侧面放置一个磁铁片，磁铁片与预置在标识定位器上的磁吸块发生磁吸配合，将整个标识定位器、导电测试板向下与LCD玻璃贴紧，使导电片与标识电阻的测试端点完全接触；㈣将测试插头的两个插接极柱对准插入导电测试板上的两个插接孔，对LCD玻璃蚀刻后的标识电阻进行电阻测试。
作为本发明中LCD电阻标识测试配合装置使用方法的一种优选技术方案：在进行电阻测试过程中，LCD玻璃的台阶位处于悬空位置或处于工作台的测试槽位置处。
与现有的技术相比，本发明的有益效果是：
本发明通过在LCD玻璃台阶位置设置标识电阻，通过对标识电阻蚀刻前后的电阻线路阻值变化进行测量，判断当前LCD电阻是否正常；并通过在LCD玻璃的标识电阻位置处配合安装标识定位器、导电测试板，将标识电阻的测试端点高难度测量方式转变为便捷精准的插接式测量，避免了使用万用表测量时的抖动不精准测量。
附图说明
图1为本发明中为LCD及方块电阻标识所放位置的示意图；
图2为本发明中标识电阻的放大示意图；
图3为本发明中测试装置与LCD玻璃的侧测试安装结构示意图；
图4为本发明中测试装置的部件分离结构示意图；
图5为本发明中标识定位器的结构示意图；
图6为本发明中标识定位器的(偏转位置)结构示意图；
图7为本发明中导电测试板的结构示意图；
图8为本发明中导电测试板的(底侧)示意图；
图9为本发明中测试插头的结构示意图；
其中：1-LCD玻璃；2-测试端点；3-电阻线路；4-标识定位器，401-上平板，402-遮挡板，403-观察缺口，404-边侧磁片槽，405-边侧挡板，406-内推导槽；5-磁吸块；6-磁铁片；7-塑料推片，701-推片导板，702-隔断部位，703-增阻条；8-导电片，801-导电导板，802-插接部分，803-插接孔；9-测试插头，901-插接极柱。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
实施例一
本发明旨在LCD的台阶增加方块电阻标识，在台阶位增加一个标准尺寸的电阻线路3作为电阻标识，可在LCD走线蚀刻前确认这根电阻标识在不同阻值LCD的电阻，在LCD出现问题时，使用测试电表测量问题LCD玻璃台阶位上方块电阻标识的阻值，方便更快的确认此LCD问题的原因所在。
图1为LCD及方块电阻标识所放位置，图2为方块形状的标识电阻放大图。
图2中已标注标识电阻的各个尺寸，其中A点到B点用100欧LCD测试的基准阻值为40欧,从A点到B点的电阻在不同阻值LCD测试的阻值数值如下：
在100欧LCD中阻值为40.0千欧；
在80欧LCD中阻值为32.0千欧；
在60欧LCD中阻值为24.0千欧；
在40欧LCD中阻值为16.0千欧；
在30欧LCD中阻值为12.0千欧；
在12欧LCD中阻值为5千欧。
实施例二
本发明中，图2是以一个固定方块电阻标识作为参考物,标识的阻值和形状可以根据产线的作业需求进行定制，如A和B测试端点2的标识可以改为圆形，基准阻值可以通过更改电阻线路3线条粗细来改变阻值变化，目的是可以快速使用测试电表确认LCD出现问题的原因，通过测试电阻标识处的电阻与标准阻值做出比较，确认问题所在。
实施例三
请参阅图1至图9，在本发明中，在对标识电阻进行阻值测量时，直接通过手持万用表对测试端点2进行测量，操作难度较大，由于标识电阻的测试端点2本身面积很小，而且两个测试端点2之间的间距也并不宽，常规的万用表测量针时，两个测量针本身直径都远大于测试端点2的宽度以及两个测试端点2之间的间距，使用万用表测量需要操作者进行“精妙”式的操控，才能进行有效精准的阻值测量。
本发明通过在标识电阻位置处安装标识定位器4，通过磁吸方式将标识定位器4、导电测试板直接紧固住，使得导电片8的下侧面与测试端点2接触，直接在导电片8上进行测试即可。同时为了测试时更加稳定，防止使用万用表测量针时发生的抖动等，本发明在导电片8上开设插接孔803，并配置了测试插头9，将测试插头9的插接极柱901插入导电片8的插接孔803位置处，对LCD蚀刻前后标识电阻的电阻线路3的阻值变化进行测量、对比。
图4至图8中，导电测试板与标识定位器4进行安装配合时，导电测试板的塑料推片7的厚度是略小于导电片8的厚度，而标识定位器4的内推导槽406的开口尺寸是与导电片8进行配合的，这样推入后，导电片8不会受到塑料推片7的影响，能够与标识电阻的测试端点2无阻碍接触。
而标识定位器4的边侧挡板405能够在推入导电测试板时对整个标识定位器4进行边侧位置限制，避免标识定位器4向内偏移。标识定位器4的遮挡板402[也是绝缘塑料材质]，遮盖住标识电阻的的电阻线路3部分，避免电阻线路3与导电片8发生接触[标识电阻只有测试端点2是处于标识定位器4的观察缺口403区域内]。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种LCD电阻标识测试配合装置，其特征在于：
LCD玻璃(1)的台阶位置处设有标识电阻，所述标识电阻包括电阻线路(3)和位于电阻线路(3)两侧端的测试端点(2)；
标识定位器(4)，为一体化注塑成型的绝缘塑料材质结构体，置于LCD玻璃(1)的台阶位置处；
所述标识定位器(4)包括置于LCD玻璃(1)上侧的上平板(401)，所述标识定位器(4)包括位于上平板(401)一侧的边侧挡板(405)，所述标识定位器(4)包括与两个测试端点(2)相配合的观察缺口(403)，所述观察缺口(403)位于上平板(401)、边侧挡板(405)的中间位置，所述上平板(401)上侧面开设有位于观察缺口(403)两侧的边侧磁片槽(404)，所述边侧挡板(405)、上平板(401)开设有位于边侧磁片槽(404)两侧的内推导槽(406)；
所述边侧磁片槽(404)内放置磁吸块(5)，所述LCD玻璃(1)下侧面配置有与磁吸块(5)磁吸配合的磁铁片(6)；
所述标识定位器(4)的内推导槽位置处插入安装有导电测试板，所述导电测试板包括一个塑料推片(7)和两个导电片(8)，所述导电片(8)粘合在塑料推片(7)的前端位置，所述塑料推片(7)两侧设有推片导板(701)，所述塑料推片(7)包括位于两个导电片(8)之间的隔断部分(702)，所述导电片(8)外侧设有导电导板(801)，所述导电片(8)包括与塑料推片(7)上侧面齐平的插接部分(802)，所述插接部分(802)开设有插接孔(803)，两个导电片(8)的插接部分(802)配合插接有测试插头(9)，所述测试插头(9)包括配合插接在插接孔(803)内的插接极柱(901)。
2.根据权利要求1所述的一种LCD电阻标识测试配合装置，其特征在于：
所述测试端点(2)的宽度尺寸大于电阻线路(3)的宽度尺寸，设测试端点(2)的宽度尺寸为Da、电阻线路(3)的宽度尺寸为Db，则Da≥10Db；
所述测试端点(2)为方形金属区域或圆形金属区域。
3.根据权利要求1所述的一种LCD电阻标识测试配合装置，其特征在于：
所述上平板(401)包括一段遮挡板(402)，所述遮挡板(402)覆盖标识电阻的电阻线路(3)区域，所述遮挡板(402)未覆盖标识电阻的测试端点(2)；
所述内推导槽(406)下侧延伸至上平板(401)的下侧面，所述内推导槽(406)延伸至标识定位器(4)的遮挡板(402)位置。
4.根据权利要求1所述的一种LCD电阻标识测试配合装置，其特征在于：
所述塑料推片(7)上侧面设有若干增阻条(703)，同侧方位的推片导板(701)上侧面与导电导板(801)上侧面齐平，同侧方位的导电导板(801)下侧面水平位置低于推片导板(701)下侧面水平位置，所述推片导板(701)、导电导板(801)配合插入标识定位器(4)的内推导槽(406)。
5.根据权利要求4所述的一种LCD电阻标识测试配合装置，其特征在于：
所述推片导板(701)的竖直高度尺寸小于内推导槽(406)的开口高度尺寸，导电导板(801)的竖直高度尺寸与内推导槽(406)的开口高度尺寸相配合。
6.根据权利要求1所述的一种LCD电阻标识测试配合装置，其特征在于：
设标识电阻的两个测试端点(2)的跨度长度为L、标识定位器(4)的观察缺口(403)的横向宽度尺寸为D，则观察缺口(403)的横向宽度D≥标识电阻的两个测试端点(2)的跨度长度L。
7.根据权利要求1所述的一种LCD电阻标识测试配合装置，其特征在于：
设标识电阻的两个测试端点(2)之间的间距为S、塑料推片(7)的隔断部分(702)的宽度尺寸为K，则存在隔断部分(702)的宽度尺寸K≤标识电阻的两个测试端点(2)之间的间距S。
8.根据权利要求1所述的一种LCD电阻标识测试配合装置，其特征在于：
所述导电片(8)下侧面的面积大于标识电阻的测试端点(2)的面积。
9.一种LCD电阻标识测试配合装置的使用方法，其特征在于，采用权利要求1至8中任一项所述的一种LCD电阻标识测试配合装置，包括以下内容：
㈠LCD线路蚀刻后，将标识定位器(4)置于LCD台阶位的标识电阻位置，微调节标识定位器(4)，使标识电阻的两个测试端点(2)处于标识定位器(4)的观察缺口(403)范围内；
㈡将导电测试板缓慢推入标识定位器(4)的内推导槽(406)中，导电测试板的两个导电片(8)与各自方位的测试端点(2)完成位置匹配；
㈢导电测试板的导电片(8)内推到位后，在LCD玻璃(1)下侧面放置一个磁铁片(6)，磁铁片(6)与预置在标识定位器(4)上的磁吸块(5)发生磁吸配合，将整个标识定位器(4)、导电测试板向下与LCD玻璃(1)贴紧，使导电片(8)与标识电阻的测试端点(2)完全接触；
㈣将测试插头(9)的两个插接极柱(901)对准插入导电测试板上的两个插接孔(803)，对LCD玻璃(1)蚀刻后的标识电阻进行电阻测试。
10.根据权利要求9所述的一种LCD电阻标识测试配合装置的使用方法，其特征在于：
在进行电阻测试过程中，LCD玻璃(1)的台阶位处于悬空位置或处于工作台的测试槽位置处。
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Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5390420A (en) * | 1994-02-18 | 1995-02-21 | Seagate Technology, Inc. | MR element-to-contact alignment test structure |
| US5617340A (en) * | 1994-04-28 | 1997-04-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Method and reference standards for measuring overlay in multilayer structures, and for calibrating imaging equipment as used in semiconductor manufacturing |
| EP1085327A1 (en) * | 1999-09-15 | 2001-03-21 | Christian Leth Petersen | Multi-point probe |
| CN102236069A (zh) * | 2010-04-27 | 2011-11-09 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 测试系统及测试方法 |
| US20130169299A1 (en) * | 2011-12-29 | 2013-07-04 | Chun-Fu Wu | Positioning device for testing resistance of camera module |
| US20140055147A1 (en) * | 2012-08-21 | 2014-02-27 | Jonathan M. Haylock | Testing Systems with Automated Loading Equipment and Positioners |
| CN206671422U (zh) * | 2017-05-03 | 2017-11-24 | 中国振华集团云科电子有限公司 | 一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统 |
| CN208172100U (zh) * | 2018-05-31 | 2018-11-30 | 贵州国隆机电有限公司 | 电阻检测仪 |
| JP2019110191A (ja) * | 2017-12-18 | 2019-07-04 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 制御基板製造方法、画像形成装置、制御基板製造装置 |
| US20200202757A1 (en) * | 2015-12-24 | 2020-06-25 | Kunshan New Flat Panel Disp. Tech. Center Co., Ltd | Reliability test fixture for flexible display component and online reliability test device for flexible display component |
-
2022
- 2022-01-05 CN CN202210004068.1A patent/CN114387902B/zh active Active
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5390420A (en) * | 1994-02-18 | 1995-02-21 | Seagate Technology, Inc. | MR element-to-contact alignment test structure |
| US5617340A (en) * | 1994-04-28 | 1997-04-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Method and reference standards for measuring overlay in multilayer structures, and for calibrating imaging equipment as used in semiconductor manufacturing |
| EP1085327A1 (en) * | 1999-09-15 | 2001-03-21 | Christian Leth Petersen | Multi-point probe |
| CN102236069A (zh) * | 2010-04-27 | 2011-11-09 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 测试系统及测试方法 |
| US20130169299A1 (en) * | 2011-12-29 | 2013-07-04 | Chun-Fu Wu | Positioning device for testing resistance of camera module |
| US20140055147A1 (en) * | 2012-08-21 | 2014-02-27 | Jonathan M. Haylock | Testing Systems with Automated Loading Equipment and Positioners |
| US20200202757A1 (en) * | 2015-12-24 | 2020-06-25 | Kunshan New Flat Panel Disp. Tech. Center Co., Ltd | Reliability test fixture for flexible display component and online reliability test device for flexible display component |
| CN206671422U (zh) * | 2017-05-03 | 2017-11-24 | 中国振华集团云科电子有限公司 | 一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统 |
| JP2019110191A (ja) * | 2017-12-18 | 2019-07-04 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 制御基板製造方法、画像形成装置、制御基板製造装置 |
| CN208172100U (zh) * | 2018-05-31 | 2018-11-30 | 贵州国隆机电有限公司 | 电阻检测仪 |
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