CN219266447U - 一种电力设备的芯片耐电压检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种电力设备的芯片耐电压检测装置，属于芯片测试技术领域，该装置包括底座，底座上设置有凹槽，凹槽内部设置有两个滑块；滑块的一侧设置有10个放置孔，放置孔内部设置有电极片和第一除锈刮片，电极片固定连接于放置孔的底部，第一除锈刮片固定连接于放置孔的外侧，滑块的另一侧固定连接有与放置孔一一对应的接线柱，接线柱与对应位置的电极片电连接，滑块顶部还设置有卡槽；还包括压板，压板上固定连接有与卡槽相适配的卡块，压板的一侧固定连接有与放置孔一一对应的第二除锈刮片；还包括耐电压检测仪；本装置能解决无法去除芯片引脚表面附着的金属氧化物，造成老化后的芯片耐电压测试结果不准确的问题。

Description

一种电力设备的芯片耐电压检测装置

技术领域

本实用新型属于芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种电力设备的芯片耐电压检测装置。

背景技术

公开号为CN216792364U的中国实用新型专利(申请号：CN202123195306.1)公开了一种电路板耐电压测试装置，包括耐电压测试机，还包括底板和至少两块电极块；所述电极块包括绝缘压块、电极片和测试线夹头，所述电极片设置在所述绝缘压块上，所述电极片的针尖端和连接尾端均设置在所述绝缘压块之外，所述测试线夹头可夹持在所述连接尾端；所述底板上设有电路板安装槽，所述绝缘压块可放置在所述底板的顶端面上。本实用新型提供的电路板耐电压测试装置通过具有一定重量的电极块，将电极片放置在安放于底板上的印刷电路板待测部位上，将电极块通过电线连接耐电压测试机，即可进行电路板的耐电压测试，仅需一人便可操作，操作方便。

智能二次设备运行时将面临着多种复杂环境，电磁、温度和湿度环境的多应力综合效应将对二次设备及芯片的功能与性能造成严重的影响，需要对芯片进行耐电压检测；在芯片耐电压检测时，部分芯片在长时间测试后，芯片上的金属引脚上会形成金属氧化物附着在引脚表面，会影响对芯片耐电压测试的结果；上述实用新型中，无法去除芯片引脚表面附着的金属氧化物，造成老化后的芯片耐电压测试结果不准确的问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种电力设备的芯片耐电压检测装置，能够解决无法去除芯片引脚表面附着的金属氧化物，造成老化后的芯片耐电压测试结果不准确的问题。

本实用新型是这样实现的：

本实用新型提供一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其中，包括底座，所述底座上设置有凹槽，所述凹槽内部设置有两个滑块，所述滑块与所述凹槽滑动连接；所述滑块的一侧设置有10个放置孔，所述放置孔内部设置有电极片和第一除锈刮片，所述电极片固定连接于所述放置孔的底部，所述第一除锈刮片固定连接于所述放置孔的外侧，所述滑块的另一侧固定连接有与所述放置孔一一对应的接线柱，所述接线柱与对应位置的所述电极片电连接，所述滑块顶部还设置有卡槽；还包括两个压板，每个所述压板上固定连接有与所述卡槽相适配的卡块，所述压板的一侧固定连接有与所述放置孔一一对应的第二除锈刮片；还包括耐电压检测仪，所述耐电压检测仪与所述接线柱电连接。

本实用新型提供的一种电力设备的芯片耐电压检测装置的技术效果如下：通过设置凹槽，可以使滑块在凹槽内移动，调节两个滑块之间的间隔，能够放置不同尺寸的芯片，具有较好的通用性；通过设置放置孔，能够将引脚的引脚放置到放置孔中，通过电极片与芯片电连接；通过设置接线柱与对应放置孔电连接，可以对芯片的不同引脚进行测试，能够获取多组测试数据，使检测结果更加准确；通过设置第一除锈刮片和第二除锈刮片，可以在芯片的耐电压测试结果结束后，在取出芯片时将芯片上的引脚在产生的金属氧化物进行刮除，防止芯片后续测试时，因金属氧化物附着在引脚上，影响后续测试结果。

在上述技术方案的基础上，本实用新型的一种电力设备的芯片耐电压检测装置还可以做如下改进:

其中，所述底座的顶部固定连接有箱体，所述箱体前侧旋转连接有箱门。

采用上述改进方案的有益效果为：通过设置箱体，将耐电压测试隔离起来，防止外界环境因素影响测试，影响测试结果。

其中，所述箱体的顶壁为玻璃材料制成，

采用上述改进方案的有益效果为：通过设置箱体的顶壁为玻璃材料制成，可以在进行耐电压测试时对芯片进行观察，防止在进行耐电压测试时电压过大，导致芯片损毁。

其中，所述两个滑块之间放置有芯片。

进一步的，所述芯片上设置有引脚，所述芯片通过所述引脚与所述电极片电连接。

其中，所述压板和所述滑块为可拆卸的。

采用上述改进方案的有益效果为：通过设置压板和滑块为可拆卸的，可以更换不同尺寸滑块和压板，能够对不同型号的芯片进行测试，具有更好的通用性。

其中，所述耐电压检测仪上设置有显示屏和控制器，所述显示屏和所述控制器电连接。

其中，所述滑块为绝缘材料制成。

采用上述改进方案的有益效果为：通过设置滑块为绝缘材料，可以防止滑块影响耐电压测试结果，减少误差。

其中，所述箱门外侧固定连接有把手。

其中，所述卡槽为长方形。

与现有技术相比较，本实用新型提供的一种电力设备的芯片耐电压检测装置的有益效果是：通过设置凹槽，可以使滑块在凹槽内移动，调节两个滑块之间的间隔，能够放置不同尺寸的芯片，具有较好的通用性；通过设置放置孔，能够将引脚的引脚放置到放置孔中，通过电极片与芯片电连接；通过设置接线柱与对应放置孔电连接，可以对芯片的不同引脚进行测试，能够获取多组测试数据，使检测结果更加准确；通过设置第一除锈刮片和第二除锈刮片，可以在芯片的耐电压测试结果结束后，在取出芯片时将芯片上的引脚在产生的金属氧化物进行刮除，防止芯片后续测试时，因金属氧化物附着在引脚上，影响后续测试结果；本装置能够对老化芯片后的芯片进行除锈，防止金属氧化物影响芯片测试结果。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对本实用新型实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一种电力设备的芯片耐电压检测装置的结构示意图；

图2为一种电力设备的芯片耐电压检测装置的内部结构示意图；

图3为一种电力设备的芯片耐电压检测装置的滑块结构示意图；

图4为一种电力设备的芯片耐电压检测装置的压板结构示意图；

图5为芯片结构示意图；

图6为图3中沿A-A的剖面视图。

附图中，各标号所代表的部件列表如下：

1、底座；10、凹槽；11、滑块；110、放置孔；111、电极片；112、第一除锈刮片；113、卡槽；114、接线柱；12、压板；120、第二除锈刮片；121、卡块；2、箱体；20、箱门；201、把手；3、芯片；30、引脚；4、耐电压检测仪；40、显示屏；41、控制器。

具体实施方式

为使本实用新型实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施方式中的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本实用新型一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

如图1-3所示，是本实用新型提供的一种电力设备的芯片耐电压检测装置的第一实施例，在本实施例中，包括底座1，底座1上设置有凹槽10，凹槽10内部设置有两个滑块11，滑块11通过底部的凸台(未图示)与凹槽10滑动连接；滑块11的一侧设置有10个放置孔110，放置孔110内部设置有电极片111和第一除锈刮片112，电极片111固定连接于放置孔110的底部，第一除锈刮片112固定连接于放置孔110的外侧，滑块11的另一侧固定连接有与放置孔110一一对应的接线柱114，接线柱114与对应位置的电极片111电连接，滑块11顶部还设置有卡槽113；还包括压板12，压板12上固定连接有与卡槽113相适配的卡块121，压板12的一侧固定连接有与放置孔110一一对应的第二除锈刮片120；还包括耐电压检测仪4，耐电压检测仪4与接线柱114电连接。

使用时，将箱门20打开，调整两个滑块11的间距与芯片3的宽度相同，将芯片3的引脚30对准滑块11上的放置孔110放入，使芯片3的引脚30与滑块11内部的电机片111接触，将压板12上的卡块121对准滑块11上的卡槽113放下，将压板12卡在滑块11上；向两侧移动滑块11，滑块11底部的具有与凹槽10带动第一除锈刮片112和第二除锈刮片120向两侧移动，对引脚30上的金属氧化物进行刮除，再次调整两个滑块11的间距与芯片3的宽度相同，将芯片3的引脚30对准滑块11上的放置孔110放入，使芯片3的引脚30与滑块11内部的电机片111接触，将压板12上的卡块121对准滑块11上的卡槽113放下，将压板12卡在滑块11上，将耐电压检测仪4的连接线路与所要测试的引脚30对应位置的接线柱114相连接，对芯片3进行耐电压测试。

耐电压检测仪4使用武汉市合众电气设备制造有限公司生产的型号为HZZJ的耐电压测试仪。

其中，在上述技术方案中，底座1的顶部固定连接有箱体2，箱体2前侧旋转连接有箱门20。

其中，在上述技术方案中，箱体2的顶壁为玻璃材料制成，

其中，在上述技术方案中，两个滑块11之间放置有芯片3。本申请的芯片3为电力设备常见芯片，例如：深圳市芯微磁电子科技有限公司生产的型号为TJA1020T的芯片。如图5所示，在上述技术方案中，芯片3上设置有条形的引脚30，芯片3通过引脚30与电极片111电连接。

其中，在上述技术方案中，压板12和滑块11为可拆卸的。

使用时，将滑块11和压板12拆卸下来，更换与所需测试芯片3相同尺寸的滑块11和压板12安装到装置上。

其中，在上述技术方案中，耐电压检测仪4上设置有显示屏40和控制器41，显示屏40和控制器41电连接。

其中，在上述技术方案中，滑块11为绝缘材料制成。

其中，在上述技术方案中，箱门20外侧固定连接有把手201。

如图4所示，在上述技术方案中，卡槽113为长方形。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，包括底座(1)，所述底座(1)上设置有凹槽(10)，所述凹槽(10)内部设置有两个滑块(11)，所述滑块(11)与所述凹槽(10)滑动连接；所述滑块(11)的一侧设置有10个放置孔(110)，所述放置孔(110)内部设置有电极片(111)和第一除锈刮片(112)，所述电极片(111)固定连接于所述放置孔(110)的底部，所述第一除锈刮片(112)固定连接于所述放置孔(110)的外侧，所述滑块(11)的另一侧固定连接有与所述放置孔(110)一一对应的接线柱(114)，所述接线柱(114)与对应位置的所述电极片(111)电连接，所述滑块(11)顶部还设置有卡槽(113)；还包括：两个压板(12)，每个所述压板(12)上固定连接有与所述卡槽(113)相适配的卡块(121)，所述压板(12)的一侧固定连接有与所述放置孔(110)一一对应的第二除锈刮片(120)；还包括耐电压检测仪(4)，所述耐电压检测仪(4)与所述接线柱(114)电连接。

2.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述底座(1)的顶部固定连接有箱体(2)，所述箱体(2)前侧旋转连接有箱门(20)。

3.根据权利要求2所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述箱体(2)的顶壁为玻璃材料制成。

4.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述两个滑块(11)之间放置有芯片(3)。

5.根据权利要求4所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述芯片(3)上设置有引脚(30)，所述芯片(3)通过所述引脚(30)与所述电极片(111)电连接。

6.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述压板(12)和所述滑块(11)为可拆卸的。

7.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述耐电压检测仪(4)上设置有显示屏(40)和控制器(41)，所述显示屏(40)和所述控制器(41)电连接。

8.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述滑块(11)为绝缘材料制成。

9.根据权利要求2所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述箱门(20)外侧固定连接有把手(201)。

10.根据权利要求1所述的一种电力设备的芯片耐电压检测装置，其特征在于，所述卡槽(113)为长方形。

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