CN210690745U - 一种新型ic测试座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提出了一种新型IC测试座，包括底座和上盖，所述底座和上盖通过铰链活动连接，所述底座内部设置有多个探针，位于所述探针外侧的底座上设置有IC定位框，所述IC定位框底端两侧对称形成有限位块，所述底座上端与所述限位块相对应的位置开设有限位槽，所述限位块与所述限位槽滑动连接，所述上盖底端设置有与所述IC定位框中心空腔相匹配的压板。本实用新型具有通用性强，实用性好的优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子产品测试用具技术领域，具体而言，涉及一种新型IC测试座。
背景技术
随着现代电子信息技术的发展，集成电路(IC)的使用越来越广泛，随之而来的测试需求也越来越多，IC测试座是对IC器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。
常规的IC测试座需要专门开模定做，而且只能针对一种封装，若待测试IC的厚度或者型号大小发生改变，又需要制备对应的测试座，通用性差，使用不便，费事费力。
实用新型内容
针对现有技术存在的缺陷，本实用新型提出了一种新型IC测试座，该IC测试座具有通用性强，实用性好的优点。
为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种新型IC测试座，包括底座和上盖，所述底座和上盖通过铰链活动连接，所述底座内部设置有多个探针，位于所述探针外侧的底座上设置有IC定位框，所述IC定位框底端两侧对称形成有限位块，所述底座上端与所述限位块相对应的位置开设有限位槽，所述限位块与所述限位槽滑动连接，所述上盖底端设置有与所述IC定位框中心空腔相匹配的压板。
根据本实用新型一个实施方式提出的新型IC测试座，所述压板与所述上盖通过螺栓连接，所述压板与所述上盖之间的距离随螺栓调节进行变化。
根据本实用新型一个实施方式提出的新型IC测试座，所述上盖与所述底座前部分别设置有卡扣和卡槽，所述卡扣与卡槽相匹配。
根据本实用新型一个实施方式提出的新型IC测试座，所述探针内部设置有弹簧，且所述探针的顶端和底端分别设置有上探针和下探针。
本实用新型的有益效果包括：
1、本实用新型通过在底座上端设置IC定位框，该IC定位框可以根据测试对象的不同进行更换，且IC定位框与底座滑动连接，更换IC定位框时只需沿限位槽抽出即可，方便快捷；
2、本实用新型的底座内包含有多个探针，在探针内部设置有弹簧，其具有双向承载力，用以在测试对象的情况下保证接触良好；
3、本实用新型的压板可通过调整螺栓进行高度调节，以实现根据测试对象的厚薄高低进行补偿调整。
附图说明
参照附图来说明本实用新型的公开内容。应当了解，附图仅仅用于说明目的，而并非意在对本实用新型的保护范围构成限制。在附图中，相同的附图标记用于指代相同的部件。其中：
图1示意性显示了根据本实用新型一个实施方式提出的新型IC测试座的结构示意图；
图2为图1中限位块与限位槽的剖视图；
图3为图1中探针的结构示意图。
图中标号：1-底座，101-限位槽，2-上盖，3-IC定位框，301-限位块，4-压板，5-卡扣，6-卡槽，7-探针，701-上探针，702-下探针，703-弹簧，8-铰链，9-PCB板。
具体实施方式
容易理解，根据本实用新型的技术方案，在不变更本实用新型实质精神下，本领域的一般技术人员可以提出可相互替换的多种结构方式以及实现方式。因此，以下具体实施方式以及附图仅是对本实用新型的技术方案的示例性说明，而不应当视为本实用新型的全部或者视为对本实用新型技术方案的限定或限制。
根据本实用新型的一实施方式结合图1和图3示出。一种新型IC测试座，固定连接在PCB板9上，并与其电性连接，该IC测试座包括底座1和上盖2，底座1和上盖2通过铰链8活动连接，其连接方式亦可采用转轴或合页等方式，底座1内部设置有多个探针7，探针7内部设置有弹簧703，且探针7的顶端和底端分别设置有上探针701和下探针702，其具有双向承载力，用以在测试IC时保证接触良好。
如图2所示，在本实用新型中，位于探针7外侧的底座1上设置有IC定位框3，IC定位框3中心为空腔结构，用于放置和定位IC，IC定位框3底端两侧对称形成有限位块301，底座1上端与限位块301相对应的位置开设有限位槽101，限位块301与限位槽101滑动连接，该IC定位框3可以根据测试对象的不同进行更换，且IC定位框3与底座1滑动连接，更换IC定位框3时只需沿限位槽101抽插即可，方便快捷。
在本实施例中，上盖2底端设置有与IC定位框3中心空腔相匹配的压板4，用于压合IC，使IC与探针7连接紧密，压板4与上盖2通过螺栓连接，压板4与上盖2之间的距离随螺栓调节进行变化，通过调节螺栓即可改变压板4与上盖2之间的距离，适应不同厚度的IC。
进一步的，在上盖2与底座1前部分别设置有卡扣5和卡槽6，卡扣5与卡槽6相匹配，通过转动上盖2即可盖合底座1，实现IC的压合。
综上所述，本实用新型的有益效果包括：
1、本实用新型通过在底座1上端设置IC定位框3，该IC定位框3可以根据测试对象的不同进行更换，且IC定位框3与底座1滑动连接，更换IC定位框3时只需沿限位槽101抽出即可，方便快捷；
2、本实用新型的底座内包含有多个探针7，在探针7内部设置有弹簧703，其具有双向承载力，用以在测试对象时，保证探针与IC接触良好；
3、本实用新型的压板4可通过调整螺栓进行高度调节，以实现根据测试IC的厚薄高低进行补偿调整。
本实用新型的技术范围不仅仅局限于上述说明中的内容，本领域技术人员可以在不脱离本实用新型技术思想的前提下，对上述实施例进行多种变形和修改，而这些变形和修改均应当属于本实用新型的保护范围内。
Claims (4)
1.一种新型IC测试座，其特征在于，包括底座(1)和上盖(2)，所述底座(1)和上盖(2)通过铰链(8)活动连接，所述底座(1)内部设置有多个探针(7)，位于所述探针(7)外侧的底座(1)上设置有IC定位框(3)，所述IC定位框(3)底端两侧对称形成有限位块(301)，所述底座(1)上端与所述限位块(301)相对应的位置开设有限位槽(101)，所述限位块(301)与所述限位槽(101)滑动连接，所述上盖(2)底端设置有与所述IC定位框(3)中心空腔相匹配的压板(4)。
2.根据权利要求1所述的新型IC测试座，其特征在于，所述压板(4)与所述上盖(2)通过螺栓连接，所述压板(4)与所述上盖(2)之间的距离随螺栓调节进行变化。
3.根据权利要求1所述的新型IC测试座，其特征在于，所述上盖(2)与所述底座(1)前部分别设置有卡扣(5)和卡槽(6)，所述卡扣(5)与卡槽(6)相匹配。
4.根据权利要求1所述的新型IC测试座，其特征在于，所述探针(7)内部设置有弹簧(703)，且所述探针(7)的顶端和底端分别设置有上探针(701)和下探针(702)。
Priority Applications (1)
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| CN201921160113.2U CN210690745U (zh) | 2019-07-23 | 2019-07-23 | 一种新型ic测试座 |
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Publications (1)
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2019
- 2019-07-23 CN CN201921160113.2U patent/CN210690745U/zh active Active
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