CN209946360U - 一种用于排线的测试转接板及测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于排线的测试转接板及测试系统，所述测试转接板包括第一排线连接器、第一电路板及测试接触部；所述第一电路板上设有所述第一排线连接器和所述测试接触部，所述第一排线连接器的引脚均连接所述测试接触部，在对排线进行量测时，所述排线的一端插接在所述第一排线连接器上，量测仪的一表笔点触所述测试接触部，量测仪的另一表笔则可以依次对所述排线的另一端上的触点进行点触，这样量测仪的两个表笔无需同时对排线的两端上的触点进行依次点触，不仅能够减少错误点触排线的触点的现象的出现而提高了测试的准确度，同时也使得排线的测试过程更方便且快速。
Description
技术领域
本实用新型涉及转接板技术领域，尤其涉及一种用于排线的测试转接板及测试系统。
背景技术
排线是一种用于连接两个电子器件模块的软性电路板，为了确保排线中的每一线路均为通路而非断路，需要对排线的线路通断性进行测试。目前，在测试排线的线路通断性时，一般用万用表的其中一个表笔接触排线的一端上的某个触点，用万用表的另一个表笔接触排线的另一端上的对应的触点，根据万用表测得的数据来判断排线的线路的通断性。例如，电容屏排线用来连接电容屏与触摸显示设备的主控板，在一些触摸显示设备中，电容屏排线分为两段，其中一段由电容屏的其中一侧边引出，另一段由电容屏的另一侧边引出。为了测试电容排线的通断性，用万用表的其中一个表笔接触电容屏排线的其中一段的末端上的触点，用万用表的另一个表笔接触电容屏排线的另一段的末端上的对应的触点。
排线的两端上的触点分布密集，在用万用表的表笔对排线的两端上的触点进行点触的过程中，测试人员容易出现错误点触排线的触点的现象，这样会引起测量误差，因此测试人员在测试过程中需要来回寻找确认触点所在的位置，从而会使得测试过程不方便且耗时过长。
实用新型内容
本实用新型实施例的目的是提供一种用于排线的测试转接板及测试系统，能够更方便且快速地测试排线，并能够提高排线的测试准确度。
为了实现上述目的，本实用新型一实施例提供了一种用于排线的测试转接板，包括第一排线连接器、第一电路板及测试接触部；
所述第一电路板上设有所述第一排线连接器和所述测试接触部，所述第一排线连接器的引脚均连接所述测试接触部。
实施本实用新型实施例，与背景技术相比所产生的有益效果：
所述第一电路板上设有所述第一排线连接器和所述测试接触部，所述第一排线连接器的引脚均连接所述测试接触部，在对排线进行量测时，所述排线的一端插接在所述第一排线连接器上，量测仪的一表笔点触所述测试接触部，量测仪的另一表笔则可以依次对所述排线的另一端上的触点进行点触，这样量测仪的两个表笔无需同时对排线的两端上的触点进行依次点触，即，测试人员在测试过程中只需要确认排线的其中一端上的触点所在的位置，而不需要对排线的两端上的触点所在的位置都进行确认，相比于现有技术，这样不仅能够减少错误点触排线的触点的现象的出现而提高了测试的准确度，同时也使得排线的测试过程更方便且快速。
优选地，所述测试接触部为焊盘结构、导电凸起结构、导电凹槽结构或导电通孔结构。
优选地，所述测试转接板还包括第二排线连接器；
所述第二排线连接器设于所述第一电路板上，所述第二排线连接器的引脚均与所述测试接触部连接；所述第一排线连接器的引脚均通过导电线路与所述第二排线连接器的引脚连接而连接所述测试接触部。
优选地，所述测试接触部为由焊锡在所述第二排线连接器的所有引脚上焊接形成的焊锡凸起。
优选地，所述排线为FPC排线或FFC排线。
本实用新型另一实施例提供了一种用于排线的测试转接板，用于与如上所述的测试转接板一起配合测试所述排线，包括第二电路板及第三排线连接器；
所述第三排线连接器设于所述第二电路板上，所述第二电路板上设有多个按照预定顺序排列的测试点部，所述测试点部通过导电线路与所述第三排线连接器的引脚一一对应连接；
任意相邻的两个所述测试点部之间的距离，大于所述排线的与该两个所述测试点部对应的两个触点部之间的距离。
实施本实用新型实施例，与背景技术相比所产生的有益效果：
所述第三排线连接器设于所述第二电路板上，所述第二电路板上设有多个按照预定顺序排列的测试点部，所述测试点部通过导电线路与所述第三排线连接器的引脚一一对应连接。在实际量测排线的过程中，可以将该排线的一端与第一个实施例中的所述测试转接板的所述第一排线连接器进行插接，并将该排线的另一端与本实施例的所述第三排线连接器进行插接，用量测仪的其中一个表笔点触第一个实施例中的所述测试接触部，用量测仪的另一个表笔依次点触本实施例的所述测试点部，从而完成对FFC排线的每一线路的测试。相比于现有技术，由于本实施例的任意相邻的两个所述测试点部之间的距离，大于所述排线的与该两个所述测试点部对应的两个触点部之间的距离，这样比直接量测所述排线的所述触点部更方便，更能避免误测，保证了量测的准确性。
优选地，任意相邻的两个所述测试点部之间的距离大于2mm。
优选地，所述测试点部按照与其对应的所述触点部的前后顺序，在所述第二电路板上依次排成至少一排；在所述第二电路板上，且位于每一排的首尾两个测试点部的附近，标记有与该两个测试点部各自排序对应的数字。
优选地，所述测试点部为焊盘结构、导电凸起结构、导电凹槽结构或导电通孔结构。
本实用新型还提供了一种用于排线的测试系统，包括如上所述的两种测试转接板。
附图说明
图1是本实用新型第一个实施例提供的一种用于排线的测试转接板结构示意图；
图2是本实用新型第二个实施例提供的另一种用于排线的测试转接板结构示意图；
图3是本实用新型第三个实施例提供的用于排线的测试系统结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例一
请参阅图1，本实用新型第一个实施例提供的一种用于排线的测试转接板1，包括第一排线连接器11、第一电路板12及测试接触部13；
所述第一电路板12上设有所述第一排线连接器11和所述测试接触部13，所述第一排线连接器11的引脚均连接所述测试接触部13。
在本实施例中，通过将所述第一排线连接器11的引脚均连接所述测试接触部13，则在实际量测时，可以不用对所述第一排线连接器11的各个引脚进行量测，而是可以直接量测所述测试接触部13，减少了工作量，提高了工作效率和量测精确度。
在本实施例中，可以在所述第一排线连接器11的每个引脚附近标记与该引脚排序相对应的数字，也可以每隔一定数量的所述引脚才在某个引脚的附近进行数字标记，例如每隔五个所述引脚才在该五个引脚之后的下一引脚的附近标记与该引脚排序对应的数字，本实用新型对此不作具体限定。
优选地，所述测试接触部13为焊盘结构、导电凸起结构(即该结构相对于所述第一电路板12凸起且能够导电)、导电凹槽结构(即该结构相对于所述第一电路板12凹陷且能够导电)或导电通孔结构(即为在所述第一电路板12上开设有的通孔，孔内或孔口附近设有导电材料，例如所述第一电路板12上的位于该通孔的孔口附近的区域露铜处理并进行覆锡处理)。
优选地，所述测试转接板1还包括第二排线连接器14；所述第二排线连接器14设于所述第一电路板12上，所述第二排线连接器14的引脚均与所述测试接触部13连接；所述第一排线连接器11的引脚均通过导电线路15与所述第二排线连接器14的引脚连接而连接至所述测试接触部13。
进一步的，所述测试接触部13为由焊锡在所述第二排线连接器14的所有引脚上焊接而一起形成的焊锡凸起(即该焊锡凸起焊接有所述第二排线连接器14的所有引脚)。
在本实施例中，所述测试接触部13可以使用锡条将所述第一排线连接器11的所有引脚焊锡在一起，也可以通过将所述第二排线连接器14的所有引脚焊锡在一起，在将所述排线的一端插接在所述第一排线连接器上时，即将所述排线的一端的所有触点都连接在一起，减少了对所述排线的一端的所有触点所在的位置的确认。
进一步的，所述排线3为FPC排线或FFC排线。
下面对本实用新型的工作原理进行描述：
以FPC排线为例进行说明，所述FPC排线的一端插接所述第一排线连接器11，所述第一排线连接器11的引脚均通过导电线路15与所述第二排线连接器14的引脚连接而连接至所述测试接触部13，用户使用量测仪的一表笔点击所述测试接触部13，将所述量测仪的另一表笔依次点击所述FPC排线的另一端上的触点，从而实现对所述FPC排线的线路测试。
实施本实用新型实施例，与背景技术相比所产生的有益效果：
所述第一电路板12上设有所述第一排线连接器11和所述测试接触部13，所述第一排线连接器11的引脚均连接所述测试接触部13，在对排线进行量测时，所述排线3的一端插接在所述第一排线连接器11上，量测仪(如万用表)的一表笔点触所述测试接触部，量测仪的另一表笔则可以依次对所述排线3的另一端上的触点进行点触，这样量测仪的两个表笔无需同时对排线3的两端上的触点进行依次点触，即，测试人员在测试过程中只需要确认排线3的其中一端上的触点所在的位置，而不需要对排线3的两端上的触点所在的位置都进行确认，相比于现有技术，这样不仅能够减少错误点触排线的触点的现象的出现而提高了测试的准确度，同时也使得排线的测试过程更方便且快速。
实施例二
参见图2，本实用新型第二个实施例提供的一种用于排线的测试转接板2，用于实施例一所述的测试转接板一起配合测试所述排线3，包括第二电路板21及第三排线连接器22；
所述第三排线连接器22设于所述第二电路板21上，所述第二电路板21上设有多个按照预定顺序排列的测试点部23，所述测试点部23通过导电线路与所述第三排线连接器22的引脚一一对应连接；
任意相邻的两个所述测试点部23之间的距离，大于所述排线3的与该两个所述测试点部23对应的两个触点部之间的距离。
在本实施例中，所述第二电路板21上设有多个按照预定顺序排列的测试点部23，所述测试点部23通过导电线路与所述第三排线连接器22的引脚一一对应连接，这样在需要量测所述排线3的某一触点时，只需要量测与该触点对应的测试点部23即可，且任意相邻的两个所述测试点部23之间的距离，大于所述排线3的与该两个所述测试点部23对应的两个触点部之间的距离，则量测所述测试点部23比量测所述排线3的各个触点更加方便，不容易误触的现象。
优选地，任意相邻的两个所述测试点部23之间的距离大于2mm。
在本实施例中，当任意相邻的两个所述测试点部23之间的距离大于2mm时，用户在量测所述测试点部23就不会误测到别的测试点部23，减少了误差，量测更方便。
优选地，所述测试点部23按照与其对应的所述触点部的前后顺序，在所述第二电路板21上依次排成至少一排；在所述第二电路板21上，且位于每一排的首尾两个测试点部23的附近，标记有与该两个测试点部23各自排序对应的数字。
在本实施例中，通过标记数字，则可以很方便的查找到排线的对应的触点。
优选地，所述测试点部23为焊盘结构、导电凸起结构(即该结构相对于所述第二电路板21凸起且能够导电)、导电凹槽结构(即该结构相对于所述第二电路板21凹陷且能够导电)或导电通孔结构(即为在所述第二电路板21上开设有的通孔，孔内或孔口附近设有导电材料，例如所述第二电路板21上的位于该通孔的孔口附近的区域露铜处理并进行覆锡处理)。
下面对本实施例的工作原理进行描述：
以FFC排线为例进行说明，在对FFC排线进行测试时，优选为有以下两种测试方法：
1、可以将该排线的一端与第一个实施例中的所述测试转接板的所述第一排线连接器11进行插接，并将该排线的另一端与本实施例的所述第三排线连接器22进行插接，用量测仪的其中一个表笔点触第一个实施例中的所述测试接触部，用量测仪的另一个表笔依次点触本实施例的所述测试点部，从而完成对FFC排线的每一线路的测试。
2、本实施例的所述测试转接板有两块，则将该排线的一端与本实施例中的其中一块测试转接板的所述第三排线连接器22进行插接，并将该排线的另一端与本实施例的另一块测试转接板的所述第三排线连接器22进行插接，用量测仪的其中一个表笔依次点触其中一块测试转接板上的所述测试点部，同时用量测仪的另一个表笔依次点触另一块测试转接板上的所述测试点部，从而完成对FFC排线的每一线路的测试。
在本实施例中，因为任意相邻的两个所述测试点部23之间的距离，大于所述排线3的与该两个所述测试点部23对应的两个触点部之间的距离，则在实际量测的过程中，比直接量测所述排线的所述触点部更方便，更能避免误测，保证了量测的准确性。
实施例三
参见图3，该图为本实用新型第三个实施例提供的用于排线的测试系统结构示意图。所述用于排线的测试系统，包括实施例一所述的测试转接板1及实施例二所述的测试转接板2。
下面对本实施例的工作原理进行描述：
将所述排线3的一端插接在实施例一所述测试转接板上1，将所述排线3的另一端插接在实施例二所述测试转接板上2，则用户量测排线两端上的触点，转化为量测实施例一所述测试转接板1的测试接触部13，和实施例二所述测试转接板2的测试点部23，实际操作中，根据所述测试点部23附近标记的数字，依次量测相应的测试点部23即可，提高了量测效率和量测结果准确性。
以上所述是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种用于排线的测试转接板，其特征在于，包括第一排线连接器、第一电路板及测试接触部；
所述第一电路板上设有所述第一排线连接器和所述测试接触部，所述第一排线连接器的引脚均连接所述测试接触部。
2.如权利要求1所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，所述测试接触部为焊盘结构、导电凸起结构、导电凹槽结构或导电通孔结构。
3.如权利要求1所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，还包括第二排线连接器；
所述第二排线连接器设于所述第一电路板上，所述第二排线连接器的引脚均与所述测试接触部连接；所述第一排线连接器的引脚均通过导电线路与所述第二排线连接器的引脚连接而连接所述测试接触部。
4.如权利要求3所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，所述测试接触部为由焊锡在所述第二排线连接器的所有引脚上焊接形成的焊锡凸起。
5.如权利要求1所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，所述排线为FPC排线或FFC排线。
6.一种用于排线的测试转接板，用于与权利要求1至权利要求5任一项所述的测试转接板一起配合测试所述排线，其特征在于，包括第二电路板及第三排线连接器；
所述第三排线连接器设于所述第二电路板上，所述第二电路板上设有多个按照预定顺序排列的测试点部，所述测试点部通过导电线路与所述第三排线连接器的引脚一一对应连接；
任意相邻的两个所述测试点部之间的距离，大于所述排线的与该两个所述测试点部对应的两个触点部之间的距离。
7.如权利要求6所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，任意相邻的两个所述测试点部之间的距离大于2mm。
8.如权利要求6所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，
所述测试点部按照与其对应的所述触点部的前后顺序，在所述第二电路板上依次排成至少一排；在所述第二电路板上，且位于每一排的首尾两个测试点部的附近，标记有与该两个测试点部各自排序对应的数字。
9.如权利要求6所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，所述测试点部为焊盘结构、导电凸起结构、导电凹槽结构或导电通孔结构。
10.一种用于排线的测试系统，其特征在于，包括权利要求1至5任一项所述的测试转接板及权利要求6至9任一项所述的测试转接板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201920279979.9U CN209946360U (zh) | 2019-03-05 | 2019-03-05 | 一种用于排线的测试转接板及测试系统 |
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| CN209946360U true CN209946360U (zh) | 2020-01-14 |
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Family Applications (1)
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| CN201920279979.9U Active CN209946360U (zh) | 2019-03-05 | 2019-03-05 | 一种用于排线的测试转接板及测试系统 |
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