CN209698815U - 光纤端面研磨检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种光纤端面研磨检测系统，包括用以装夹光纤阵列或光纤连接器的回转盘、光纤端面研磨装置和光纤端面检测装置。光纤端面研磨装置包括电机、研磨底盘和固定圈，电机与研磨底盘传动连接，固定圈设于研磨底盘上，回转盘装设于固定圈的圈内，回转盘与固定圈可分离连接。光纤端面检测装置则包括支架、回转轴和CCD图像采集单元，回转轴和CCD图像采集单元均设于支架上，回转轴和CCD图像采集单元相对设置，回转盘与回转轴可拆卸连接。在本实用新型中，经过研磨工序后，无需将产品从转盘上拆下，可将转盘从光纤端面研磨装置上取下，再整体安装至光纤端面检测装置上检测产品端面的研磨效果，从而避免重新装夹产品，提高生产效率和产品质量。

Description

光纤端面研磨检测系统

技术领域

本实用新型涉及光纤端面研磨和检测技术领域，特别涉及一种光纤端面研磨检测系统。

背景技术

为了提高光纤连接及光纤光路中光信号的传输效率，必须控制光纤及光纤连接器端面的粗糙度、裂纹度和倾斜度，以减少光纤连接的插入损耗和回损，因此需要通过光纤端面研磨机对光纤和光纤连接器的端面进行研磨和抛光。而光纤端面检测仪是用于检测光纤和光纤阵列(FA)端面的质量、清洁度和使用过程中产生的各种缺陷的光学检测装置，同时也可用于检测普通单模(SM)光纤连接器、多模(MM)光纤连接器、保偏(PM)光纤连接器以及特种光纤连接器的端面状态。

在现有的光纤研磨端面检测工序中，需要先采用光纤端面研磨机对光纤阵列或光纤连接器进行研磨，然后将光纤阵列或光纤连接器从研磨夹具上拆卸下来，再放置在光纤端面检测仪上进行检测，检测不合格的话，需要将光纤阵列或光纤连接器从光纤端面检测仪上拆下来再安装到研磨夹具上，重新进行研磨。如此，一方面会造成产品生产工序时间长，效率低；另一方面将产品从用于研磨的夹具上拆除后再重新安装到用于端面检测的夹具上，容易使产品产生重复定位误差，影响产品的稳定性和一致性。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种光纤端面研磨检测系统，旨在解决上述技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提出的光纤端面研磨检测系统，包括：

回转盘，所述回转盘用以装夹光纤阵列或光纤连接器；

光纤端面研磨装置，所述光纤端面研磨装置包括电机、研磨底盘和固定圈，所述电机与所述研磨底盘传动连接，所述固定圈设于所述研磨底盘上，所述回转盘装设于所述固定圈的圈内，所述回转盘与所述固定圈可分离连接；

光纤端面检测装置，所述光纤端面检测装置包括支架、回转轴和CCD图像采集单元，所述回转轴和所述CCD图像采集单元均设于所述支架上，所述回转轴和所述CCD图像采集单元相对设置，所述回转盘与所述回转轴可拆卸连接。

优选地，所述回转盘的中心开设有安装孔，所述回转轴通过所述安装孔并与所述回转盘可拆卸连接。

优选地，所述回转盘还开设有多个插孔，多个所述插孔环绕所述安装孔设置，所述插孔用以插设光纤阵列或光纤连接器。

优选地，所述回转盘还包括多个紧固组件，多个所述紧固组件分别与一所述插孔对应配合，所述紧固组件用以抵紧插设于所述插孔上的光纤阵列或光纤连接器。

优选地，所述紧固组件包括螺栓、卡块和防松动垫圈，所述卡块开设有相互交叉的第一通孔和第二通孔，所述螺栓与所述第一通孔螺纹配合，所述第二通孔用以容纳所述防松动垫圈，所述螺栓穿过所述第一通孔和所述防松动垫圈，以抵紧光纤阵列或光纤连接器。

优选地，所述回转盘包括多个减重翅片，多个所述减重翅片设于所述回转盘的最外周并环绕所述回转盘的中心设置。

优选地，所述CCD图像采集单元包括旋转座和多个物镜头，多个所述物镜头安装于所述旋转座上，多个所述物镜头环绕所述旋转座的中心设置。

优选地，所述支架包括底座、X轴伺服机构、Y轴伺服机构和Z轴伺服机构，所述Z轴伺服机构垂直于所述底座，所述回转轴设于所述Z轴伺服机构上，所述X轴伺服机构设于所述底座上并平行于所述回转轴，所述Y轴伺服机构设于所述X轴伺服机构上，所述Y轴伺服机构平行于所述底座并垂直于所述回转轴。

优选地，所述Z轴伺服机构包括Z轴导轨、升降台、轴承和手杆，所述回转轴设于所述升降台上，所述手杆和所述轴承均设于所述Z轴导轨上，所述升降台与所述Z轴导轨滑动配合，所述轴承包括第一抵接部和第二抵接部，所述第一抵接部与所述手杆抵接，所述第二抵接部与所述升降台抵接，所述手杆通过推动所述第一抵接部转动，以带动所述第二抵接部转动，进而推动所述升降台于所述Z轴导轨上滑动上升。

优选地，所述光纤端面研磨装置还包括机座和固定架，所述固定架包括固定爪和固定柱，所述固定柱安装于所述机座上，所述固定爪与所述固定柱紧固连接，所述固定爪朝向所述固定圈延伸并位于所述研磨底盘的上方，所述固定爪与所述固定圈活动连接。

本实用新型提出一种光纤端面研磨检测系统，包括回转盘、光纤端面研磨装置和光纤端面检测装置，其中回转盘用以装夹光纤阵列或光纤连接器，回转盘与光纤端面研磨装置可分离连接，且回转盘与光纤端面检测装置可拆卸连接。在本实用新型技术方案中，回转盘既适配光纤端面研磨装置，又适配光纤端面检测装置，因此，经过研磨工序后，无需将产品从转盘上拆下，可将转盘从光纤端面研磨装置上直接取下，再整体转移安装至光纤端面检测装置上检测产品端面的研磨效果，从而避免重新装夹产品，提高生产效率和产品质量。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型一实施例中回转盘和光纤端面检测装置的结构示意图；

图2为图1所示回转盘和光纤端面检测装置的另一结构示意图；

图3为图1所示回转盘的结构示意图；

图4为图1所示回转盘的另一结构示意图。

附图标号说明：

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型实施例提出一种光纤端面研磨检测系统，请参阅图1和图3所示，图1为本实用新型一实施例中回转盘和光纤端面检测装置的结构示意图，图3为图1所示回转盘的结构示意图。

该光纤端面研磨检测系统包括回转盘1、光纤端面研磨装置(附图未示)和光纤端面检测装置2。其中，回转盘1用以装夹光纤阵列或光纤连接器，回转盘1与光纤端面研磨装置可分离连接，且回转盘1与光纤端面检测装置2可拆卸连接。

具体地，光纤端面研磨装置包括电机(附图未示)、研磨底盘(附图未示)和固定圈(附图未示)。其中，电机与研磨底盘传动连接，固定圈设于研磨底盘上，回转盘1装设于固定圈的圈内，回转盘1与固定圈可分离连接。需要说明，光纤端面研磨装置工作过程如下：首先将装夹有光纤阵列或光纤连接器的回转盘1装设于固定圈的圈内，使得光纤阵列或光纤连接器与研磨底盘接触，然后开启电机驱动研磨底盘旋转，从而带动固定圈转动，固定圈内的回转盘1也随之旋转，如此，光纤阵列或光纤连接器的端面与研磨底盘之间会发生摩擦，即研磨底盘会对光纤阵列或光纤连接器的端面进行研磨或抛光。

而光纤端面检测装置2包括支架、回转轴22和CCD图像采集单元21。其中，回转轴22和CCD图像采集单元21均设于支架上，回转轴22和CCD图像采集单元21相对设置，回转盘1与回转轴22可拆卸连接。需要说明，光纤端面检测装置2工作过程如下：首先将装夹有经过研磨的光纤阵列或光纤连接器的回转盘1从光纤端面研磨装置取下，再将回转盘1安装到回转轴22上，使回转盘1与CCD图像采集单元21相对，然后通过CCD图像采集单元21对光纤阵列或光纤连接器的端面进行图像采集和检测。

在本实用新型技术方案中，回转盘既适配光纤端面研磨装置，又适配光纤端面检测装置，因此，经过研磨工序后，无需将产品从转盘上拆下，可将转盘从光纤端面研磨装置上直接取下，再整体转移安装至光纤端面检测装置上检测产品端面的研磨效果，从而避免重新装夹产品，提高生产效率和产品质量。

进一步地，如图1和图3所示，回转盘1包括回转盘本体11，回转盘本体11的中心开设有安装孔111，回转轴22通过安装孔111并与回转盘1可拆卸连接，从而使得回转盘1与光纤端面检测装置2可拆卸连接。

进一步地，如图3和图4所示，回转盘本体11上还开设有多个插孔112，多个插孔112环绕所述安装孔111设置，插孔112用以插设光纤阵列或光纤连接器。需要说明，回转盘本体11具有平整的一侧面，安装光纤阵列或光纤连接器时，需要将光纤阵列或光纤连接器分别插入插孔112中，并使光纤阵列或光纤连接器的端面朝向回转盘本体11中平整的一侧面。如此设置，利于进行光纤端面研磨时，保持回转盘1的稳定性；也利于进行光纤端面检测时，避免影响CCD图像采集单元21对光纤端面进行图像采集。

进一步地，回转盘1还包括多个紧固组件，多个紧固组件分别与一插孔112对应配合，可以理解，紧固组件用以抵紧插设于插孔112上的光纤阵列或光纤连接器。本实施例中，所述紧固组件包括螺栓13、卡块14和防松动垫圈(附图未示)，卡块14上开设有相互交叉的第一通孔141和第二通孔142。其中，螺栓13与第一通孔141螺纹配合，第二通孔142用以容纳防松动垫圈，螺栓13穿过第一通孔141和防松动垫圈，以抵紧光纤阵列或光纤连接器。需要说明的是，防松动垫圈可以采用软胶材质，也可采用金属材质。防松动垫圈与螺栓13之间可以是螺纹配合，也可以是过盈配合，或者是其它紧配方式。

进一步地，回转盘1包括多个减重翅片15，多个减重翅片15设于回转盘1的最外周并环绕回转盘1的中心设置。本实施例中，如图4所示，多个减重翅片15通过螺栓13安装于回转盘本体11上。如此设置，可以显著减少回转盘1的重量，以避免在旋转研磨过程中由于转盘的质量过重而损坏光纤的端部。

进一步地，CCD图像采集单元21包括旋转座和多个物镜头211，多个物镜头211安装于所述旋转座上，多个物镜头211环绕所述旋转座的中心设置。多个物镜头211可以为多个不同放大倍数的物镜头，通过旋转旋转座，可使用不同放大倍数的物镜头211对光纤的端面进行检测。可以理解，如图1和2所示，CCD图像采集单元21可仅包括一物镜头211。另需要说明的是，物镜头211与具有拍照功能的部件连接，使得光纤端面检测装置2能够对光纤的端面进行在线拍照。

进一步地，如图2所示，所述支架包括底座23、X轴伺服机构24、Y轴伺服机构25和Z轴伺服机构26。Z轴伺服机构26垂直于底座23，回转轴22设于Z轴伺服机构26上。X轴伺服机构24设于底座23上并平行于所述回转轴22，Y轴伺服机构25设于X轴伺服机构24上。Y轴伺服机构25平行于底座23并垂直于回转轴22。可以理解，X轴伺服机构24、Y轴伺服机构25和Z轴伺服机构26可以分别驱动回转盘1沿X轴、Y轴和Z轴方向移动，以使回转盘1上待检测的光纤端面对准物镜头211。

进一步地，Z轴伺服机构26包括Z轴导轨、升降台261、轴承262和手杆263。回转轴22设于升降台261上，手杆263和轴承262均设于Z轴导轨上。轴承262包括第一抵接部2621和第二抵接部2622，升降台261与Z轴导轨滑动配合。所述第一抵接部2621与所述手杆263抵接，所述第二抵接部2622与所述升降台261抵接。手杆263通过推动所述第一抵接部2621转动，以带动所述第二抵接部2622转动，进而推动升降台261于所述Z轴导轨上滑动上升。

进一步地，光纤端面研磨装置还包括机座(附图未示)和固定架(附图未示)。固定架包括固定爪(附图未示)和固定柱(附图未示)。固定柱安装于所述机座上，固定爪与固定柱紧固连接，固定爪朝向固定圈延伸并位于研磨底盘的上方，固定爪与固定圈活动连接。可以理解，通过固定爪抓持固定圈，使得固定圈在研磨底盘上的一固定区域进行稳定旋转，进而使得固定圈圈内的回转盘1稳定旋转。本实施例中，固定圈为陶瓷圈，固定爪中与固定圈的活动连接部也采用陶瓷材质。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的实用新型构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种光纤端面研磨检测系统，其特征在于，包括：

回转盘，所述回转盘用以装夹光纤阵列或光纤连接器；

光纤端面研磨装置，所述光纤端面研磨装置包括电机、研磨底盘和固定圈，所述电机与所述研磨底盘传动连接，所述固定圈设于所述研磨底盘上，所述回转盘装设于所述固定圈的圈内，所述回转盘与所述固定圈可分离连接；

光纤端面检测装置，所述光纤端面检测装置包括支架、回转轴和CCD图像采集单元，所述回转轴和所述CCD图像采集单元均设于所述支架上，所述回转轴和所述CCD图像采集单元相对设置，所述回转盘与所述回转轴可拆卸连接。

2.如权利要求1所述的光纤端面研磨检测系统，其特征在于，所述回转盘的中心开设有安装孔，所述回转轴通过所述安装孔并与所述回转盘可拆卸连接。

3.如权利要求2所述的光纤端面研磨检测系统，其特征在于，所述回转盘还开设有多个插孔，多个所述插孔环绕所述安装孔设置，所述插孔用以插设光纤阵列或光纤连接器。

4.如权利要求3所述的光纤端面研磨检测系统，其特征在于，所述回转盘还包括多个紧固组件，多个所述紧固组件分别与一所述插孔对应配合，所述紧固组件用以抵紧插设于所述插孔上的光纤阵列或光纤连接器。

5.如权利要求4所述的光纤端面研磨检测系统，其特征在于，所述紧固组件包括螺栓、卡块和防松动垫圈，所述卡块开设有相互交叉的第一通孔和第二通孔，所述螺栓与所述第一通孔螺纹配合，所述第二通孔用以容纳所述防松动垫圈，所述螺栓穿过所述第一通孔和所述防松动垫圈，以抵紧光纤阵列或光纤连接器。

6.如权利要求5所述的光纤端面研磨检测系统，其特征在于，所述回转盘包括多个减重翅片，多个所述减重翅片设于所述回转盘的最外周并环绕所述回转盘的中心设置。

7.如权利要求6所述的光纤端面研磨检测系统，其特征在于，所述CCD图像采集单元包括旋转座和多个物镜头，多个所述物镜头安装于所述旋转座上，多个所述物镜头环绕所述旋转座的中心设置。

8.如权利要求1至7中任意一项所述的光纤端面研磨检测系统，其特征在于，所述支架包括底座、X轴伺服机构、Y轴伺服机构和Z轴伺服机构，所述Z轴伺服机构垂直于所述底座，所述回转轴设于所述Z轴伺服机构上，所述X轴伺服机构设于所述底座上并平行于所述回转轴，所述Y轴伺服机构设于所述X轴伺服机构上，所述Y轴伺服机构平行于所述底座并垂直于所述回转轴。

9.如权利要求8所述的光纤端面研磨检测系统，其特征在于，所述Z轴伺服机构包括Z轴导轨、升降台、轴承和手杆，所述回转轴设于所述升降台上，所述手杆和所述轴承均设于所述Z轴导轨上，所述升降台与所述Z轴导轨滑动配合，所述轴承包括第一抵接部和第二抵接部，所述第一抵接部与所述手杆抵接，所述第二抵接部与所述升降台抵接，所述手杆通过推动所述第一抵接部转动，以带动所述第二抵接部转动，进而推动所述升降台于所述Z轴导轨上滑动上升。

10.如权利要求9所述的光纤端面研磨检测系统，其特征在于，所述光纤端面研磨装置还包括机座和固定架，所述固定架包括固定爪和固定柱，所述固定柱安装于所述机座上，所述固定爪与所述固定柱紧固连接，所述固定爪朝向所述固定圈延伸并位于所述研磨底盘的上方，所述固定爪与所述固定圈活动连接。