CN208239896U - 一种相对高度调节装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例提供一种相对高度调节装置，包括并列放置的邦定机和承载台，所述邦定机包括基座和位于基座上且能上下移动的压头，还包括：检测装置，所述检测装置设置于所述承载台上，且位于所述邦定机的所述基座上方，所述承载台带动所述检测装置上下移动；所述检测装置测量所述基座上表面与所述承载台上表面的相对高度差。本实用新型实施例提供一种相对高度调节装置，以实现减小承载台和基座的对齐误差，以及提高工作效率。

Description

一种相对高度调节装置

技术领域

本实用新型实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种相对高度调节装置。

背景技术

在显示面板的生产过程中，往往需要将柔性电路板以及IC(integrated circuit,集成电路)芯片邦定(bonding)到显示面板的基板上，将柔性电路板邦定到基板的工艺一般称为FOG(film on glass)，将IC芯片邦定到基板的工艺一般称为COG(chip on glass)，在邦定的过程中，可以使用异方性导电胶来完成柔性电路板以及IC芯片与基板的邦定。异方性导电胶在某一方向上导电，而在其他方向上电绝缘。

进行邦定工艺经常使用邦定机来完成，而包含基板的显示面板一般置于承载台上，通过承载台的移动将显示面板的基板移动到邦定机的承载台的特定位置，为了实现邦定工艺，需要承载台和基座具有相同的高度，即需要承载台和基座的上表面(远离地面的一侧表面)平齐。由于基座是固定的，一般通过调节承载台的高度使两者的上表面平齐，而目前判断是否平齐是由工作人员靠视觉和触觉来执行，误差比较大，效率也比较低下，此问题亟待解决。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种相对高度调节装置，以实现减小承载台和基座的对齐误差，以及提高工作效率。

本实用新型实施例提供一种相对高度调节装置，包括并列放置的邦定机和承载台，所述邦定机包括基座和位于基座上且能上下移动的压头，所述相对高度调节装置还包括：检测装置，所述检测装置设置于所述承载台上，且位于所述邦定机的所述基座上方，所述承载台带动所述检测装置上下移动；所述检测装置测量所述基座上表面与所述承载台上表面的相对高度差。

进一步地，所述检测装置包括至少一个探针，设置于所述承载台靠近所述基座的一侧，所述探针靠近所述基座一侧的下表面与所述承载台的上表面平齐；所述基座为金属材质，所述至少一个探针以及所述基座均与外部电源电连接。

进一步地，所述探针与所述基座接触时，每个所述探针、所述基座以及所述外部电源形成一闭合电路；每个所述闭合电路中串接提示器。

进一步地，所述提示器包括LED灯和/或蜂鸣器。

进一步地，所述探针包括与所述承载台连接的主体部和固定于所述主体部靠近所述基座一侧的接触部，所述接触部相对所述基座设置，所述接触部的下表面与所述承载台的上表面齐平，所述接触部沿所述基座方向移动。

进一步地，所述接触部的外形为球状或球冠状，所述接触部朝向所述基座凸起。

进一步地，所述检测装置包括至少一个激光传感器，所述至少一个激光传感器固定于所述承载台靠近所述基座的一侧。

进一步地，所述相对高度调节装置还包括：设置于所述承载台上的定位板，所述检测装置与所述定位板固定连接。

本实用新型实施例中的相对高度调节装置用于使承载台和基座两者具有相同的高度，一般而言，基座的位置是固定的，因此基座的高度也是固定的，通过调节承载台的高度来使两者具有相同的高度，现有技术中往往通过人工视觉和触觉等来判断，误差大，而本实用实施例中通过检测装置来测量基座和承载台的相对高度差，通过客观的机器来判断承载台和基座是否平齐，而不是通过主观的人为判断，以实现减小承载台和基座的对齐误差，以及提高工作效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例一提供的被压合物与基板的邦定示意图；

图2为本实用新型实施例一提供的一种相对高度调节装置中基座与承载台未平齐时的侧视图；

图3为本实用新型实施例一提供的一种相对高度调节装置中基座与承载台平齐时的侧视图；

图4为本实用新型实施例一提供的一种相对高度调节装置的俯视图；

图5为本实用新型实施例二提供的一种相对高度调节装置的侧视图；

图6为本实用新型实施例二提供的一种相对高度调节装置的俯视图；

图7为本实用新型实施例三提供的一种相对高度调节装置的侧视图；

图8为本实用新型实施例三提供的一种相对高度调节装置的俯视图；

图9为探针与基座接触时形成闭合电路的示意图；

图10为本实用新型实施例四提供的一种相对高度调节装置的侧视图；

图11为一种激光传感器的结构示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本实用新型为达成预定实用新型目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的一种相对高度调节装置的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

实施例一

图1为本实用新型实施例一提供的被压合物与基板的邦定示意图，参考图1，邦定机100和承载台200并列放置，承载台200可以用于承载基板a1，邦定机100包括基座10和位于基座10上的压头20，压头20与基座10之间设置有间隙。基板a1上还可以设置有被压合物a2，被压合物a2例如可以为柔性电路板或IC芯片，邦定机100中的压头20可以上下运动，即压头20可以沿着Z轴方向运动。本实用新型各个实施例中的坐标系为符合右手规则的空间直角坐标系。基板a1的承载有被压合物a2的一端可以位于压头20与基座10之间的空隙中，此时，压头20朝向基座10运动并将被压合物a2与基板a1通过异方性导电胶压合以实现被压合物a2与基板a1的邦定。以柔性电路板与显示面板中基板a1的邦定为例，一般使用异方性导电胶将柔性电路板和基板a1进行邦定。首先在基板a1上的端子上粘贴异方性导电胶，然后通过邦定机100上的辅助图像装置对柔性电路板和基板a1上的端子进行对位，并预邦定形成初步的连接；然后在较高的温度和压力下，对预邦定的产品进行主邦定，通过异方性导电胶粒子的变形和绝缘层破裂，实现柔性电路板和基板a1的电气连接，同时通过异方性导电胶在高温下的聚合硬化将柔性电路板和基板a1两种不同的材料连接在一起以提供足够的机械连接强度。进行主邦定的过程是在基座10和压头20的配合下完成的。在主邦定时，压头20朝向基座10运动并为待邦定产品提供高温和高压。一般而言，基座10的位置是固定的，在进行主邦定之前需要将基板a1放置到承载台200上，承载台200上设置有吸附孔，基板a1通过吸附孔被吸附固定于承载台200上，基板a1的承载有被压合物a2的一端可以露出承载台200外，以便承载台200朝向基座10运动时基板a1的承载有被压合物a2的一端可以进入到压头20与基座10之间的空隙中。这就需要调整承载台200使承载台200和基座10具有相同的高度，即，使承载台200和基座10的上表面(图中Z轴正方向的一侧为“上”，与之相反的方向为“下”)平齐。

图2为本实用新型实施例一提供的一种相对高度调节装置中基座与承载台未平齐时的侧视图，图3为本实用新型实施例一提供的一种相对高度调节装置中基座与承载台平齐时的侧视图，图4为本实用新型实施例一提供的一种相对高度调节装置的俯视图，参考图2、图3和图4所示，本实用新型实施例提供的相对高度调节装置包括并列放置的邦定机100和承载台200，邦定机100包括基座10和位于基座10上且能上下移动的压头20。相对高度调节装置还包括检测装置，检测装置位于承载台200上，且位于邦定机100的基座10上方。例如可以将检测装置固定于承载台200靠近基座10一侧，承载台200能够带动检测装置(沿Z轴方向)上下移动。检测装置能够测量基座10与承载台200的相对高度差，承载台200能够根据相对高度差进行移动，以使承载台200的上表面与基座10的上表面平齐。

本实用新型实施例中的相对高度调节装置用于使承载台和基座两者具有相同的高度，一般而言，基座的位置是固定的，因此基座的高度也是固定的，通过调节承载台的高度来使两者具有相同的高度，现有技术中往往通过人工视觉和触觉等来判断，误差大，而本实用实施例中通过检测装置来测量基座和承载台的相对高度差，通过客观的机器来判断承载台和基座是否平齐，而不是通过主观的人为判断，以实现减小承载台和基座的对齐误差，以及提高工作效率。

本实用新型中的检测装置可以具有多种实现方式，图2、图3和图4给出了其中的一种示例，参考图2、图3和图4，检测装置包括至少一个探针40(图2、图3和图4中以一个探针40为例进行解释说明，并非对本实用新型的限定，在其他实施方式中，检测装置还可以包括多个探针40)，至少一个探针40位于承载台200靠近基座10的一侧，例如可以将所有的探针40固定于承载台200上，基座10为金属材质，至少一个探针40以及基座10均与外部电源(图中未示出)电连接。在进行相对高度测量时，至少一个探针40可以位于基座10的上方，探针40靠近基座10一侧的下表面可以与承载台200的上表面平齐。检测装置还可以包括用于电连接探针40和外部电源的连接线，探针40例如可以采用金属材料或石墨等导电材料制作。探针40未接触到基座10时，基座10、探针40以及外部电源未形成闭合电路回路；随着承载台200的高度逐渐降低，探针40的高度(沿Z轴方向相对于地面的高度)也逐渐降低并朝向基座10运动，直到探针40接触到基座10，基座10、探针40以及外部电源形成闭合电路回路。因此可以根据是否形成闭合电路回路来判断探针40是否与基座10接触。

可选地，探针40包括与承载台200连接的主体部41和固定于主体部41靠近基座10一侧的接触部42，接触部42相对基座10设置，接触部42的下表面可以与承载台200的上表面平齐，主体部41用于承载接触部42，当承载台200移动至接触部42接触到基座10时，基座10与承载台200平齐。也就是说，探针40与基座10相接触是通过探针40的接触部42与基座10相接触的。图2、图3和图4中所示的接触部42在与基座10接触时的接触部分是一条线或者一个面。

实施例二

图5为本实用新型实施例二提供的一种相对高度调节装置的侧视图，图6为本实用新型实施例二提供的一种相对高度调节装置的俯视图，参考图5和图6，相对高度调节装置还可以包括定位板30，定位板30设置于承载台200上，检测装置与定位板30固定连接。示例性地，至少一个探针40固定于定位板30上，定位板30可以通过吸附孔被吸附固定于承载台200上，连接探针40与外部电源(图中未示出)的连接线可以设置于定位板30中。

本实用新型实施例中，通过设置定位板，并将检测装置与定位板固定连接，由于承载台上一般设置有吸附孔，因此在调节承载台和基座使两者平齐的过程中，可以利用已有的吸附孔来吸附固定定位板，从而使检测装置与承载台的相对位置固定不变，使检测装置随着承载台的移动而移动；在承载台和基座平齐后，控制吸附孔释放定位板，以便将定位板取下以进行后续的邦定工艺。

实施例三

图7为本实用新型实施例三提供的一种相对高度调节装置的侧视图，图8为本实用新型实施例三提供的一种相对高度调节装置的俯视图，图7和图8给出了检测装置另一种的示例，参考图7和图8，检测装置包括至少一个探针40(图7和图8中以两个探针40为例进行解释说明，并非对本实用新型的限定)，探针40的接触部42的外形为球冠状，例如可以选择为半球状，球冠状指的是球被一平面截取后剩余的形状。在其他实施方式中也可以为球状。接触部42朝向承载台200凸起。也就是说，接触部42朝向位于探针40下方的基座10凸起。因此接触部42在与基座10接触时的接触部分是一个点，相对于线接触或面接触来说，点接触具有更高的精度。

参考图8，承载台200不仅可以沿Y轴方向上运动，远离或者靠近基座10，承载台200本身还有可能相对于XY平面(X方向和Y方向所决定的平面)有一定的倾斜，且主要发生在围绕Y轴发生一定角度的旋转。如果承载台200本身围绕Y轴发生一定角度的旋转，对基座10和承载台200的平齐也会造成一定的不良影响。此时就有必要设置多个探针40，如果所有的探针40同时接触到基座10，则保证了承载台200本身没有围绕Y轴发生旋转。而根据两点确定一条直线的思想可见，设置两个探针40即可保证承载台200本身没有围绕Y轴发生旋转，且此时探针40的数量较少，即检测装置可以包括两个探针40，此时在使用最少数量探针40的前提下，实现了对承载台200高度以及“旋转度”的判定，减小了承载台200和基座10的对齐误差。“旋转度”指的是承载台200本身围绕Y轴发生旋转的程度或角度。

图9为探针与基座接触时形成闭合电路的示意图，参考图7、图8和图9，探针40与基座10接触时，每个探针40、基座10以及外部电源VCC形成一闭合电路，每个闭合电路中串接有一个提示器50。为了便于理解，在图9中将不同的探针40分别给出不同的标记“R1”和“R2”来区分。同时，为了便于及时了解到探针40是否与基座10接触，每一个探针40所在的电路支路中串接一个提示器50。同样为了清晰起见，在探针R1所在电路支路中串接的提示器50的标记采用“L1”，在探针R2所在电路支路中串接的提示器50的标记采用“L2”。如果承载台200本身平行于XY平面，则探针R1和探针R2同时接触到基座10，探针R1和探针R2在形成的闭合电路中并联，探针R1与提示器L1在同一个电路支路中，探针R2与提示器L2在同一个电路支路中，则提示器L1和提示器L2同时发出提示信号；如果承载台200本身相对于XY平面有一定的倾斜，则探针R1和探针R2不能同时接触到基座10，提示器L1和提示器L2先后发出提示信号，或者仅有提示器L1和提示器L2两者中的一个发出提示信号，此时需要对对承载台200进行旋转等操作，从而使承载台200水平(平行于XY平面)，进一步地将承载台200与基座10平齐。

可选地，参考图9，提示器50可以包括LED灯和/或蜂鸣器。LED灯可以在电路接通后(探针40与基座10直接接触时)发光，蜂鸣器可以在电路接通后发出声响。

需要说明的是，本实用新型实施例三提供的相对高度调节装置中，检测装置与定位板30固定连接，定位板30位于承载台200上，在其他实施方式中，还可以将检测装置固定于承载台200上。

实施例四

图10为本实用新型实施例四提供的一种相对高度调节装置的侧视图，参考图10，检测装置包括至少一个激光传感器60，至少一个激光传感器60朝向承载台200的表面方向发光，也就是说，至少一个激光传感器60朝向基座10的表面方向发光(朝下发光)。至少一个激光传感器60固定于定位板30靠近基座200的一侧。在进行相对高度测量时，至少一个激光传感器60位于基座10的上方，激光传感器60用于获取相对高度差，一个激光传感器60获取一个相对高度差的数值，不同的激光传感器60照射到基座10的不同位置处。类似地，两个激光传感器60获取两个相对高度差的数值，三个激光传感器60获取三个相对高度差的数值，……，N个激光传感器60获取N个相对高度差的数值(N为大于1的正整数)。在承载台200本身没有围绕Y轴发生旋转的情况下，N个激光传感器60获取N个相对高度差的数值相同；如果N个激光传感器60获取N个相对高度差的数值不相同，则可以根据这N个相对高度差的数值对承载台200进行旋转等操作，从而使承载台200水平(平行于XY平面)，进一步地将承载台200与基座10平齐。

图11为一种激光传感器的结构示意图，参考图10和图11，激光传感器60包括半导体激光器61、镜片62、镜片63、线性CCD阵列64和信号处理器65。被探测物体从A位置移动到B位置，对应地，在线性CCD阵列64上接收到的图像光斑从A’位置移动到B’位置，因此可以根据线性CCD阵列64上接收到的图像光斑来判断被测物体所处的位置。本实用新型实施例中，激光传感器60(具体可以为激光传感器60中的半导体激光器61)朝向基座10的表面方向发光，经过基座10表面的反射后的反射光被激光传感器60(具体可以为激光传感器60中的线性CCD阵列64)接收，并经过分析(具体可以由信号处理器65进行分析)可知承载台200与基座10之间的相对高度差。

本实用新型实施例中，检测装置采用激光传感器60，激光传感器60在进行相对高度差测量的过程中与基座10无直接接触，相比于采用探针等机械接触的方式而言，具有更高的探测精度(例如ZLDS10X激光位移传感器的精度最高可达1um)，也不会对基座10造成机械损伤。

可选地，检测装置可以包括两个激光传感器60。此时在使用最少数量激光传感器60的前提下，实现了对承载台200高度以及“旋转度”的判定，减小了承载台200和基座10的对齐误差。

进一步地，检测装置还可以包括显示屏，显示屏用于显示所有的相对高度差的数值。以方便工作人员随时了解相对高度调节装置的工作状态，以及随时了解基座10与承载台200的相对位置，相对位置例如可以为相对高度差或旋转度等。

需要说明的是，本实用新型实施例四提供的相对高度调节装置中，检测装置与定位板30固定连接，定位板30位于承载台200上，在其他实施方式中，还可以将检测装置固定于承载台200上。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (8)

1.一种相对高度调节装置，包括并列放置的邦定机和承载台，所述邦定机包括基座和位于基座上且能上下移动的压头，其特征在于，还包括：

检测装置，所述检测装置设置于所述承载台上，且位于所述邦定机的所述基座上方，所述承载台带动所述检测装置上下移动；所述检测装置测量所述基座上表面与所述承载台上表面的相对高度差。

2.根据权利要求1所述的相对高度调节装置，其特征在于，所述检测装置包括至少一个探针，设置于所述承载台靠近所述基座的一侧，所述探针靠近所述基座一侧的下表面与所述承载台的上表面平齐；所述基座为金属材质，所述至少一个探针以及所述基座均与外部电源电连接。

3.根据权利要求2所述的相对高度调节装置，其特征在于，所述探针与所述基座接触时，每个所述探针、所述基座以及所述外部电源形成一闭合电路；每个所述闭合电路中串接提示器。

4.根据权利要求3所述的相对高度调节装置，其特征在于，所述提示器包括LED灯和/或蜂鸣器。

5.根据权利要求2所述的相对高度调节装置，其特征在于，所述探针包括与所述承载台连接的主体部和固定于所述主体部靠近所述基座一侧的接触部，所述接触部相对所述基座设置，所述接触部的下表面与所述承载台的上表面齐平，所述接触部沿所述基座方向移动。

6.根据权利要求5所述的相对高度调节装置，其特征在于，所述接触部的外形为球状或球冠状，所述接触部朝向所述基座凸起。

7.根据权利要求1所述的相对高度调节装置，其特征在于，所述检测装置包括至少一个激光传感器，所述至少一个激光传感器固定于所述承载台靠近所述基座的一侧。

8.根据权利要求2-7任一项所述的相对高度调节装置，其特征在于，还包括：设置于所述承载台上的定位板，所述检测装置与所述定位板固定连接。