CN208125816U - 一种阻抗测量治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种阻抗测量治具。该阻抗测量治具包括：载物平台，用于放置当前被测面板；测试头，在测试头上设置两个测试探针；位置调整机构，测试头设置于位置调整机构上，位置调整机构用于驱动测试头沿至少一个方向移动；测试头用于被驱动沿平行于载物平台的第一方向和垂直于第一方向的第二方向移动；阻抗测量模块，与两个测试探针电连接，用于向两个测试探针施加测试信号并采集量测信号。本实用新型实施例的技术方案可以提高阻抗测量的准确性。

Description

一种阻抗测量治具

技术领域

本实用新型涉及测量技术，尤其涉及一种阻抗测量治具。

背景技术

透明导电膜如氧化铟锡(Indium-Tin Oxide，ITO)、二氧化锡、氧化镓-氧化锌及氧化铟-氧化铈等广泛应用于触摸屏、液晶显示器、光伏电池、特殊窗口和光电器件中的透明电极和电路制备，这些透明导电膜具有导电和透光双重特性。

透明导电膜激光蚀刻工艺是在激光技术、机械加工技术和控制技术发展到一定水平后发展起来的，与传统的化学蚀刻工艺相比，其在加工质量、生产效率、生产成本和环保方面有着明显的优势。由于激光有很高的功率密度和方向稳定性，用激光蚀刻工艺制作透明导电膜电极和电路图形的线宽和线距可达0.05毫米以下。激光加工是非接触性加工，对产品表面处理要求不高，产品表面更容易得到保护，产品品质更能得到保证。由于不用使用化学原料和消耗水资源，更符合环境保护要求。

图1为本实用新型实施例提供的一种显示面板的结构示意图。在制作显示面板等的制造工艺中，在检查激光蚀刻工艺中激光蚀刻的蚀刻深度是否满足要求时，通常对透明导电膜10的边缘进行激光蚀刻，使透明导电膜10的一角与其余部分断开，通过万用表测量该被激光蚀刻而打断的透明导电膜10的两侧是否短路(通常使万用表的两个表笔分别与A点和B点接触，以通过测量的阻抗值来判断短路情况)，来确定激光蚀刻是否满足要求。由于被激光蚀刻而断开的透明导电膜10的一角的面积较窄，且蚀刻痕迹(为L型)很浅，测试人员在通过万用表对其进行测量时，容易导致测量位置不准确，产生测量数值异常，通常需多次测量才能测出正确的数值，不但效率低下，而且易导致测量错误。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种阻抗测量治具，可提高阻抗测量的准确性，以解决因测试人员的测试手法的差异等，在测量时因测量位置不准确，产生测量数值异常，通常需多次测量才能测出正确的数值，不但效率低下，而且易导致测量错误的问题。

本实用新型实施例提供了一种阻抗测量治具，包括：

载物平台，用于放置当前被测面板；

测试头，在测试头上设置两个测试探针；

位置调整机构，测试头设置于位置调整机构上，位置调整机构用于驱动测试头沿至少一个方向移动；

测试头用于被驱动沿平行于载物平台的第一方向和垂直于第一方向的第二方向移动；

阻抗测量模块，与两个测试探针电连接，用于向两个测试探针施加测试信号并采集量测信号。

进一步地，还包括第一固定部件，位于载物平台上，用于固定当前被测面板于载物平台的第一固定位置。

进一步地，位置调整机构包括：沿第一方向延伸的丝杆、沿第二方向延伸的测试手臂、第二固定部件和第三固定部件，其中，测试手臂的第一端设置有第一开孔，丝杆从测试手臂的第一开孔处穿过，测试手臂与丝杆滑动连接，测试手臂的第二端与测试头滑动连接，

第二固定部件用于将测试手臂固定于丝杆上的任意位置，第三固定部件用于将测试头固定于测试手臂上的任意位置。

进一步地，位置调整机构还包括两个轴承座，固定在载物平台上，丝杆的两端分别固定于一轴承座的轴承孔内。

进一步地，测试手臂的第一端设置有第二开孔，第二开孔的孔壁上设置有螺纹，第二开孔与第一开孔连通，第二固定部件为螺丝。

进一步地，位置调整机构还包括缓冲棒，缓冲棒垂直于载物平台，缓冲棒的第一端与载物平台接触，缓冲棒的第二端与测试手臂连接，缓冲棒用于调整测试手臂与载物平台之间的距离。

进一步地，测试头还包括至少两个备用测试探针。

进一步地，测试探针为可伸缩测试探针，测试探针包括测试针头和弹性可伸缩部件。

进一步地，阻抗测量模块为万用表，两个测试探针分别与万用表的两接口电连接。

进一步地，第一固定部件包括多个卡槽和/或挡块，分布设置在载物平台上。

本实用新型实施例的技术方案通过在测试头上设置两个测试探针；测试头设置于位置调整机构上；通过驱动测试头沿平行于载物平台的第一方向和垂直于第一方向的第二方向移动，使测试头的两个测试探针精确移动至被测面板的测试点，以与被测面板的测试点接触，阻抗测量模块向两个测试探针施加测试信号并采集量测信号，以测量阻抗，可提高阻抗测量的准确性，以解决因测试人员的测试手法的差异等，在测量时因测量位置不准确，产生测量数值异常，通常需多次测量才能测出正确的数值，不但效率低下，而且易导致测量错误的问题。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的一种阻抗测量治具的结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的又一种阻抗测量治具的结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的一种阻抗测量治具的俯视结构示意图；

图5为本实用新型实施例提供的一种阻抗测量治具的侧视结构示意图；

图6为图4中C区域处沿DD＇方向的剖面结构示意图；

图7为本实用新型实施例提供的一种测试探针的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

本实用新型实施例提供一种阻抗测量治具。图2为本实用新型实施例提供的一种阻抗测量治具的结构示意图。该阻抗测量治具包括：载物平台100、测试头200、位置调整机构300和阻抗测量模块400。

其中，载物平台100用于放置当前被测面板500；在测试头200上设置两个测试探针210；测试头200设置于位置调整机构300上，位置调整机构300用于驱动测试头200沿至少一个方向移动；测试头200用于被驱动沿平行于载物平台100的第一方向X和垂直于第一方向X的第二方向Y移动，直至两个测试探针210移动至与被测面板500的测试点(例如可以是A点和B点)接触；阻抗测量模块400与两个测试探针210电连接，用于向两个测试探针210施加测试信号并采集量测信号。

需要说明的是，被测面板500可以是液晶显示面板、触控显示面板、液晶透镜或液晶光栅等。通过激光蚀刻工艺等蚀刻工艺，对被测面板500上的透明导电膜进行蚀刻，以形成所需的电路图形，例如包括下述至少一种：公共电极、像素电极、触控电极等。被测面板的透明导电膜层的边缘设置有预设形状的蚀刻标记(mark)，例如预设形状可以是L型。可选的，第二方向Y平行于载物平台100且垂直于第一方向X。可选的，位置调整机构300可驱动测试头200沿第一方向X和第二方向Y两个方向移动，以使两个测试探针210精确移动至被测面板500的测试点，以与被测面板500的测试点接触。阻抗测量模块400可根据施加的测试信号和采集的量测信号，确定两个测试探针210与被测面板500的两个接触点之间的阻抗值。该与两个测试探针接触的测试点位于蚀刻位置的两侧，若测量的阻抗值接近零，则说明蚀刻状况异常，产品不合格；若测量的阻抗值在预设阻抗范围内，则说明蚀刻状况正常，产品合格。可选的，阻抗测量模块400可以为万用表，两个测试探针210通过导线分别与万用表的两接口电连接。与万用表的表笔的针头相比，测试探针210的测试针头较细，对于测试位置的面积较小时，方便与被测面板上的测试点接触。测试头200为透明绝缘材料，例如可以是聚醚醚酮(PEEK材料)，防止测试探针之间短路。可选的，该阻抗测量治具还包括定位模块，用于获取被测面板的位置，并根据被测面板的位置，确定测试头沿第一方向和第二方向的移动距离。

本实施例的技术方案通过在测试头200上设置两个测试探针210；测试头200设置于位置调整机构300上，通过驱动测试头200沿平行于载物平台100的第一方向X和沿平行于载物平台100且垂直于第一方向X的第二方向Y移动，使测试头200的两个测试探针210精确移动至被测面板500的测试点，以与被测面板500的测试点接触，阻抗测量模块400向两个测试探针210施加测试信号并采集量测信号，以测量阻抗，可提高阻抗测量的准确性，以解决因测试人员的测试手法的差异等，在测量时因测量位置不准确(例如两表笔在L型标记的同一侧)，产生测量数值异常，通常需多次测量才能测出正确的数值，不但效率低下，而且易导致测量错误的问题。

本实用新型实施例提供又一种阻抗测量治具。图3为本实用新型实施例提供的又一种阻抗测量治具的结构示意图。在上述实施例的基础上，该阻抗测量治具还包括第一固定部件110，位于载物平台100上，用于固定当前被测面板500于载物平台100的第一固定位置。

需要说明的是，该阻抗测量治具可逐一测量多个同一规格的被测面板，只需在测量第一块被测面板时，通过第一固定部件110将其固定于载物平台100的第一固定位置(可以选取载物平台上的任意位置，作为第一固定位置)，驱动测试头200沿第一方向X和第二方向Y两个方向移动至被测面板500的测试点，以与被测面板500的测试点接触，并使用于驱动测试头200沿第一方向X和第二方向Y两个方向移动的驱动部件停止继续驱动，固定该驱动部件的位置，以固定测量位置，使两个测试探针210与第一块被测面板及其后续测量的至少一块被测面板的接触点的位置相同，即只需通过一次位置调节，即可实现对多块测试面板的准确测量，从而大大提高了测量的工作效率。相同规格或机种的被测面板的透明导电膜层的蚀刻标记相同，故在测量多块相同规格或机种的被测面板时，只需在测量第一块被测面板时，对测试头在第一方向和第二方向的位置进行调整并固定，以方便后续测量。不同规格或机种的被测面板的透明导电膜层的蚀刻标记位置不同，故在被测面板的类型改变时，需要重新调整并固定测试头在第一方向和第二方向的位置，以方便后续测量。

示例性的，位置调整机构300包括三个驱动部件，分别可驱动测试头200沿第一方向X、第二方向Y以及垂直于载物平台的第三方向Z移动。在测量第一块被测面板时，将第一块被测面板放置于载物平台100上，并通过第一固定部件110固定于载物平台100的第一固定位置，驱动测试头200沿第一方向X和第二方向Y两个方向移动至被测面板500的测试点的正上方，并使用于驱动测试头200沿第一方向X和第二方向Y两个方向移动的驱动部件停止继续驱动，固定第一方向X和第二方向Y对应的驱动部件的位置，再通过驱动测试头200沿第三方向Z移动，以使两个测试探针210与被测面板500的测试点接触，以对第一块被测面板进行准确测量。在完成第一块被测面板的测量之后，通过驱动测试头200沿第三方向Z移动，以使测试头200远离当前被测面板，方便将第一块被测面板从载物平台100上卸下，再将第二块被测面板放置于载物平台100上，并通过第一固定部件110固定于载物平台100的第一固定位置，此时只需驱动测试头200沿第三方向Z移动，以使两个测试探针210与第二块被测面板的测试点接触，无需再调整测试头在第一方向X和第二方向Y的位置，即可对第二块被测面板进行准确测量。同理，后续测量的被测面板的测量过程与第二块被测面板的测量过程相同。故只需对第一方向X和第二方向Y的移动进行一次位置调节，即可实现对多块测试面板的准确测量，从而大大提高了测量的工作效率。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图3，第一固定部件110包括多个卡槽和/或挡块，分布设置在载物平台100上。当被测面板平行放置于载物平台时，该第一固定部件110与被测面板的至少两个相邻侧边接触。

可选的，在上述实施例的基础上，位置调整机构300可驱动测试头200沿第一方向X移动，可通过其他驱动力(例如人工驱动)驱动测试头200沿第二方向Y移动，即测试头200可与位置调整机构300在第二方向Y上存在相对运动趋势。

本实用新型实施例提供又一种阻抗测量治具。图4为本实用新型实施例提供的一种阻抗测量治具的俯视结构示意图。图5为本实用新型实施例提供的一种阻抗测量治具的侧视结构示意图。结合图4和图5所示，在上述实施例的基础上，位置调整机构包括：沿第一方向X延伸的丝杆310、沿第二方向Y延伸的测试手臂320、第二固定部件330和第三固定部件340。

其中，测试手臂320的第一端设置有第一开孔，丝杆310从测试手臂320的第一开孔处穿过，测试手臂320与丝杆310滑动连接，测试手臂320的第二端与测试头200滑动连接；第二固定部件330用于将测试手臂320固定于丝杆310上的任意位置，第三固定部件340用于将测试头200固定于测试手臂320上的任意位置。

需要说明的是，可通过人工或其他驱动机构，驱动测试手臂320在丝杆310上滑动，可使测试手臂320带动测试头200沿第一方向X移动。可通过人工或其他驱动机构，驱动测试头200在测试手臂320上滑动，即驱动测试头200沿第二方向Y移动。当测试头200的两个测试探针210移动至被测面板500的测试点时，通过第二固定部件330将测试手臂320固定于丝杆310的当前位置，例如称其为第二位置，相当于固定测试头200在第一方向X上的位置；通过第三固定部件340将测试头200固定于测试手臂320的当前位置，例如称其为第三位置，相当于固定测试头200在第二方向Y上的位置，并对当前被测面板进行阻抗测量，进而对后续测量的被测面板进行测量，以实现只对第一方向X和第二方向Y的移动进行一次位置调节，即可实现对多块测试面板的准确测量，从而大大提高了测量的工作效率。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图4，位置调整机构还包括两个轴承座350，固定在载物平台100上，丝杆310的两端分别固定于一轴承座350的轴承孔内。

需要说明的是，轴承座350起支撑丝杆310的作用。轴承座固定不动，丝杆310与轴承孔(轴承座中轴承的内孔)可以一起旋转，起减小摩擦的作用。可通过人工或其他驱动机构驱动测试手臂320，使测试手臂320和丝杆310绕丝杆310所在轴线旋转，以方便拆卸和安装测试面板。

可选的，在上述实施例的基础上，测试手臂320的第一端设置有第二开孔，第二开孔的孔壁上设置有螺纹，第二开孔与第一开孔连通，第二固定部件330为螺丝。图6为图4中C区域处沿DD＇方向的剖面结构示意图，如图6所示，通过将螺丝旋进第二开孔中，直至与丝杆310接触并锁紧，以固定测试手臂320，相当于固定测试头200在第一方向X上的位置。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图4和图5，位置调整机构还包括缓冲棒360，缓冲棒360垂直于载物平台100，缓冲棒360的第一端与载物平台100接触，缓冲棒360的第二端与测试手臂320连接，缓冲棒360用于调整测试手臂320与载物平台100之间的距离。

其中，可选的，缓冲棒360的高度可调节，通过调节缓冲棒360的高度，以调整测试手臂320与载物平台100之间的距离。可选的，测试手臂320上设置有第三开孔，第三开孔的孔壁上设置有螺纹，缓冲棒360可以为螺栓，缓冲棒360可旋进第三开孔中，通过沿顺时针或逆时针的方向转动缓冲棒360，以调整测试手臂320与载物平台100之间的距离。

需要说明的是，在通过第二固定部件330将测试手臂320固定于丝杆310的第二位置；通过第三固定部件340将测试头200固定于测试手臂320的第三位置之后，可通过调整缓冲棒360，测试手臂320和丝杆310绕丝杆310所在轴线旋转，以调整测试手臂320与载物平台100之间的距离。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图3，测试头200还包括至少两个备用测试探针220，与阻抗测量模块电连接，以防止部分测试探针断在测试头的套管内取不出。图3示例性的画出4个备用测试探针220，本实用新型实施例对此不作限定。

可选的，在上述实施例的基础上，测试探针210为可伸缩测试探针，避免测量时点错位置(测试点的周围存在台阶结构，测试探针易接触到台阶结构上面的非测试点处，易发生产品的边角碰撞)时，造成产品的损坏(broken)等不良。

图7为本实用新型实施例提供的一种测试探针的结构示意图，在上述实施例的基础上，测试探针包括测试针头211和弹性可伸缩部件212。弹性可伸缩部件212可以是弹簧。测试探针还包括接线柱214和外套管213。弹性可伸缩部件212位于外套管213内部，弹性可伸缩部件212两端分别与测试针头211和接线柱214连接。接线柱通过导线与阻抗测量模块电连接。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种阻抗测量治具，其特征在于，包括：

载物平台，用于放置当前被测面板；

测试头，在所述测试头上设置两个测试探针；

位置调整机构，所述测试头设置于所述位置调整机构上，所述位置调整机构用于驱动所述测试头沿至少一个方向移动；

所述测试头用于被驱动沿平行于所述载物平台的第一方向和垂直于所述第一方向的第二方向移动；

阻抗测量模块，与所述两个测试探针电连接，用于向所述两个测试探针施加测试信号并采集量测信号。

2.根据权利要求1所述的阻抗测量治具，其特征在于，还包括第一固定部件，位于所述载物平台上，用于固定所述当前被测面板于所述载物平台的第一固定位置。

3.根据权利要求2所述的阻抗测量治具，其特征在于，所述位置调整机构包括：沿第一方向延伸的丝杆、沿所述第二方向延伸的测试手臂、第二固定部件和第三固定部件，其中，所述测试手臂的第一端设置有第一开孔，所述丝杆从所述测试手臂的第一开孔处穿过，所述测试手臂与所述丝杆滑动连接，所述测试手臂的第二端与所述测试头滑动连接，

所述第二固定部件用于将所述测试手臂固定于所述丝杆上的任意位置，所述第三固定部件用于将所述测试头固定于所述测试手臂上的任意位置。

4.根据权利要求3所述的阻抗测量治具，其特征在于，所述位置调整机构还包括两个轴承座，固定在所述载物平台上，所述丝杆的两端分别固定于一轴承座的轴承孔内。

5.根据权利要求3所述的阻抗测量治具，其特征在于，所述测试手臂的第一端设置有第二开孔，所述第二开孔的孔壁上设置有螺纹，所述第二开孔与所述第一开孔连通，所述第二固定部件为螺丝。

6.根据权利要求3所述的阻抗测量治具，其特征在于，所述位置调整机构还包括缓冲棒，所述缓冲棒垂直于所述载物平台，所述缓冲棒的第一端与所述载物平台接触，所述缓冲棒的第二端与所述测试手臂连接，所述缓冲棒用于调整所述测试手臂与所述载物平台之间的距离。

7.根据权利要求1所述的阻抗测量治具，其特征在于，所述测试头还包括至少两个备用测试探针。

8.根据权利要求1所述的阻抗测量治具，其特征在于，所述测试探针为可伸缩测试探针，所述测试探针包括测试针头和弹性可伸缩部件。

9.根据权利要求1所述的阻抗测量治具，其特征在于，所述阻抗测量模块为万用表，所述两个测试探针分别与所述万用表的两接口电连接。

10.根据权利要求2所述的阻抗测量治具，其特征在于，所述第一固定部件包括多个卡槽和/或挡块，分布设置在所述载物平台上。