CN207908305U - 一种粒径自动视觉检测器 - Google Patents

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李静
齐腾峰
尚恒善
陈元胜
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Abstract

本实用新型提出一种粒径自动视觉检测器,涉及自动检测设备技术领域,包括底座及配重装置,底座表面设有导轨,导轨两端分别形成第一端部及第二端部,导轨连接有位移座,位移座上放置有检测台,检测台上表面形成有抵持面,检测台于抵持面表面并排凹设多个样品槽;配重装置设置有导柱,导柱安装在底座的上表面,导柱上连接有定位件,定位件沿导柱上下位移,定位件上设置有刮板,刮板具有位移部,位移部上方延伸有配重部,配重部抵持于定位件的上表面形成限位,刮板纵向方向为自由活动状态。本实用新型利用配重块连接于刮板上方,让刮板产生均匀的下压力,让位于样品槽的多余待测物料可被准备刮除,让检测作业更加具有精度与准度。

Description

一种粒径自动视觉检测器
技术领域
本实用新型涉及自动检测设备技术领域,尤其是一种粒径自动视觉检测器。
背景技术
现有检测粒径的方法,多为预先将待测物置于检测台上,检测台为表面具有不同刻度及粗糙度的样品槽,为了将待测物完全填补于样品槽内,以便供检测者检测待测物样品的粒径大小,且为了避免待测物的粒径产生检测误差,必须将样品槽的多余的待测物刮除才可进一步检测,而以刮除多余待测物的方式预先于检测台设置刮板,并利用手动方式升降刮板,再手动推动刮板水平移动,手动的方式会使检测粒径时存在较大的误差。
实用新型内容
本实用新型提供一种粒径自动视觉检测器,利用重力提供刮板均匀的下压力,准确刮除多余额的待测物料。
本实用新型具体采用如下技术方案实现:
一种粒径自动视觉检测器,包括底座及配重装置,其中,
所述底座表面设有导轨,所述导轨两端分别形成第一端部及第二端部,所述导轨连接有位移座,所述位移座上放置有检测台,所述检测台上表面形成有抵持面,所述检测台于所述抵持面表面并排凹设多个所述样品槽。
所述配重装置设置有导柱,所述导柱安装在所述底座的上表面,所述导柱上连接有定位件,所述定位件沿所述导柱上下位移,所述定位件上设置有刮板,所述刮板具有位移部,所述位移部上方延伸有配重部,所述配重部抵持于所述定位件的上表面形成限位,且所述刮板纵向方向为自由活动状态。
作为优选,所述配重部连接有多个配重块,所述位移部下方连接有刮刀,所述刮刀裸露在所述定位件下表面。
作为优选,所述刮刀末端低于所述底座的抵持面,所述刮刀正对于底座的导轨。
作为优选,所述导柱位于所述定位件的下方连接有限位件。
作为优选,所述配重装置上方设有视觉检测装置,所述视觉检测装置正对于所述底座的导轨。
本实用新型提供的粒径自动视觉检测器,其有益效果在于:利用配重块连接于刮板上方,让刮板产生均匀的下压力,让位于样品槽的多余待测物料可被准备刮除,让检测作业更加具有精度与准度。定位件沿导柱向上移动,以带动刮板提升后,则可避免样品槽上的待测物料被刮刀二次刮除而产生检测误差。
附图说明
图1是本实用新型粒径自动视觉检测器的立体图;
图2是本实用新型粒径自动视觉检测器的立体局部剖视图;
图3是本实用新型粒径自动视觉检测器的侧面局部剖视图。
具体实施方式
为进一步说明各实施例,本实用新型提供有附图。这些附图为本实用新型揭露内容的一部分,其主要用以说明实施例,并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容,本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本实用新型的优点。图中的组件并未按比例绘制,而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。
如图1-3所示,本实施例提供的一种粒径自动视觉检测器,包括底座1及配重装置2,其中,
底座表面设有导轨11,导轨11两端分别形成第一端部111及第二端部112,导轨11连接有位移座12,位移座12上放置有检测台13,检测台13上表面形成有抵持面131,检测台13于抵持面131表面并排凹设多个样品槽132。
配重装置2设置有导柱25,导柱25安装在底座1的上表面,导柱25上连接有定位件23,定位件23沿导柱25上下位移,定位件23上设置有刮板21,刮板21具有位移部211,位移部211上方延伸有配重部212,配重部212抵持于定位件23的上表面形成限位,且刮板21纵向方向为自由活动状态,配重部 212连接有多个配重块22,位移部211下方连接有刮刀213,刮刀213裸露在定位件23下表面,且刮刀213末端低于底座1的抵持面131,刮刀212正对于底座1的导轨11,导柱25位于定位件23的下方连接有限位件24,让定位件23 与限位件24分别位于刮板21的位移部211上下两侧。配重装置2上方设有视觉检测装置3,视觉检测装置3正对于底座导轨11。本实施例中,配重装置2 的定位件23为预先连接有用以驱动定位件23沿导柱25上下位移的驱动器。
检测台13表面预先放置有过量的待测物料,再由底座1内预先设有用以驱动位移座12沿导轨11位移的驱动器,位移座12带动检测台13由导轨11的第一端部111移动至第二端部112,当检测台13水平移动经过配重装置2时,因刮刀213末端低于底座1的抵持面131,让检测台13经过刮刀213时,刮刀213 末端抵持于检测台13的抵持面131,并刮去抵持面131表面的待测物料与样品槽132上的多余待测物料,其中当检测台13经过刮刀213时,因刮刀213上方的刮板21的配重部212连接有具有重量的配重块22,让刮刀213对检测台13 产生均匀下压力,利用此压力对多余待测物料进行刮除动作,同时,因配重装置2上方设有视觉检测装置3,当完成刮除多余待测物料的检测台13经过时,视觉检测装置3即对检测台13上的待测物料进行粒径检测,最后,定位件23 被驱动沿导柱25向上位移,带动刮板21垂直位移且向上提升,当位移座12带动检测台13由导轨11的第二端部112移动至第一端部111时,因刮板21的刮刀213被向上提升而远离检测台13表面,即可避免检测台13样品槽132的待测物料被二次刮除,因此,造成检测误差。
定位件23下方设有限位件24,定位件23与限位件24分别位于刮板21的位移部211上下两侧,因此,当检测台13水平移动经过刮板21时,因刮板21 下方的刮刀213与检测台13的抵持面131相互接触会产生摩擦,则限位件24 可固定刮板21不受摩擦力作用,以让刮刀213于刮除作业进行时可稳定停留在垂直方向,避免产生刮刀213偏移而造成刮除作业不良。
本申请利用配重块22连接于刮板21上方,让刮板21产生均匀的下压力,让位于样品槽132的多余待测物料可被准备刮除,让检测作业更加具有精度与准度。再者,定位件23沿导柱25向上移动,以带动刮板21提升后,则可避免样品槽132上的待测物料被刮刀212二次刮除而产生检测误差。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型,但所属领域的技术人员应该明白,在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内,在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化,均为本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种粒径自动视觉检测器,其特征在于,包括底座及配重装置,其中,
所述底座表面设有导轨,所述导轨两端分别形成第一端部及第二端部,所述导轨连接有位移座,所述位移座上放置有检测台,所述检测台上表面形成有抵持面,所述检测台于所述抵持面表面并排凹设多个样品槽;
所述配重装置设置有导柱,所述导柱安装在所述底座的上表面,所述导柱上连接有定位件,所述定位件沿所述导柱上下位移,所述定位件上设置有刮板,所述刮板具有位移部,所述位移部上方延伸有配重部,所述配重部抵持于所述定位件的上表面形成限位,且所述刮板纵向方向为自由活动状态。
2.根据权利要求1所述的一种粒径自动视觉检测器,其特征在于:所述配重部连接有多个配重块,所述位移部下方连接有刮刀,所述刮刀裸露在所述定位件下表面。
3.根据权利要求2所述的一种粒径自动视觉检测器,其特征在于:所述刮刀末端低于所述底座的抵持面,所述刮刀正对于底座的导轨。
4.根据权利要求3所述的一种粒径自动视觉检测器,其特征在于:所述导柱位于所述定位件的下方连接有限位件。
5.根据权利要求1所述的一种粒径自动视觉检测器,其特征在于:所述配重装置上方设有视觉检测装置,所述视觉检测装置正对于所述底座的导轨。
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