CN207800562U - 一种半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构 - Google Patents

一种半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构 Download PDF

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Abstract

本实用新型揭示了一种半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构，包括轨道托板，进料口调节挡板，左侧限位挡板，右侧限位挡板，进料盒及出料盒，其中：轨道托板分为上料区，工作区及下料区，进料盒连接上料区端部，出料盒连接下料区端部，所述轨道托板的一侧边设有固定挡边，实现一侧的限位，而轨道托板另一侧的上表面设有多条与侧边平行的磁铁组，每条磁铁组由多个间隔设置的钕铁硼磁铁组成，所述钕铁硼磁铁嵌装在轨道托板表面；所述进料口调节挡板，左侧限位挡板及右侧限位挡板的底面均嵌装有多个钕铁硼磁铁，实现与轨道托板的固定，且固定位置可根据引线框架宽度调节。

Description

一种半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构
技术领域
本实用新型涉及一种半导体自动化设备，尤其涉及一种半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构。
背景技术
目前，由于半导体封装形式的种类繁多，所使用的引线框架也各不相同，封装企业虽已对引线框架的外形尺寸归类，但在同一半导体封装测试自动化设备上，仍需要包容多种尺寸的引线框架生产。
现有的半导体封装测试自动化设备为了适应所生产的产品，在更换产品时,往往需要按照引线框架的宽度调整改变轨道宽度以适应生产。最常见的做法是更换不同宽度尺寸的轨道，这就要求厂家需要根据产品种类制备多种宽度尺寸的轨道以匹配，造成成本高，而且频繁更换降低轨道的使用寿命，增加操作者的工作繁琐性。
为此，一些厂家将现有的设备的轨道做到可调，在底板设计多个销钉孔定位+螺栓锁紧的结构，或是安装导向机构+螺栓锁紧的结构。这些结构在宽度调整或维护时需要准备各种工具，且由于设备的空间狭小，调整操作难度大，调整需要花费很长时间，实用性不大。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构，采用磁铁吸附原理，将调节挡板设计成位置可调形式，实现宽度快速调节。
为实现上述目的，本实用新型提出如下技术方案：
一种半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构，包括轨道托板，进料口调节挡板，左侧限位挡板，右侧限位挡板，进料盒及出料盒，其中：
轨道托板分为上料区，工作区及下料区，进料盒连接上料区端部，出料盒连接下料区端部，所述轨道托板的一侧边设有固定挡边，实现一侧的限位，而轨道托板另一侧的上表面设有多条与侧边平行的磁铁组，每条磁铁组由多个间隔设置的钕铁硼磁铁组成，所述钕铁硼磁铁嵌装在轨道托板表面，且相邻两个钕铁硼磁铁朝外的磁性不同；
所述进料口调节挡板，左侧限位挡板及右侧限位挡板的底面均嵌装有多个钕铁硼磁铁，且其朝外的磁性与轨道托板上对应位置的磁性相反；
所述进料调节挡板通过底面的钕铁硼磁铁固定在轨道托板的进料侧，而左侧限位挡板及右侧限位挡板通过底面的钕铁硼磁铁固定在轨道托板的工作区，且进料口调节挡板，左侧限位挡板及右侧限位挡板呈一条直线设置，与固定挡板之间的距离可根据引线框架宽度调节。
作为优选，所述轨道托板上的多条磁铁组横向平行，且每条磁铁组内的磁铁在纵向同样形成磁铁组，且相互平行。
作为优选，所述轨道托板上表面具有多个圆弧凹形槽位于两个纵向磁铁组之间，且圆弧凹形槽与侧边平行。
作为优选，所述轨道托板，进料口调节挡板，左侧限位挡板及右侧限位挡板为高硬度，无磁性不锈钢材料制作，避免嵌入的磁铁磁力分散，影响定位精度。
与现有技术相比，本实用新型揭示的一种半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构，具有如下有益之处：
采用统一尺寸的轨道托板，在其表面设置多条平行的磁铁组，使得调节挡板及限位挡板通过底面的磁铁固定在轨道托板表面，且根据引线框架宽度尺寸，选择相应的磁铁组，从而实现宽度的快速调节，而且调节时对空间要求低；
对于轨道托板上的磁铁设置，将横向相邻的两个磁铁朝上的磁性设置成相反，使得相互之间的磁力不会因为相斥而分散，从而确保挡板吸附时的定位精度及牢固度；
在轨道托板表面设置多个圆弧凹形槽，在不影响引线框架移动的前提下降低引线框架与轨道托板表面的摩擦力，从而防止磨损引线框架，提升其使用寿命。
整个调整机构的结构简单，宽度调节方便，极大的降低了操作人员的工作繁琐性，提高了加工效率。
附图说明
图1是本实用新型的俯视图；
图2是本实用新型的侧面剖视图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型的附图，对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。
如图1~2所示，本实用新型所揭示的一种半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构，是在现有的半导体封装测试设备上对设备轨道进行的结构改进，具体结构包括轨道托板1，进料口调节挡板2，左侧限位挡板3，右侧限位挡板4，进料盒5及出料盒6，所述轨道托板1分为上料区1a，工作区1b及下料区1c，进料盒5连接上料区端部，而出料盒连接下料区端部，引线框架10从进料盒送入轨道托板的上料区，通过设备上的传送夹输送到工作区进行封装测试，然后在进入下料区送入出料盒。
具体说来，所述轨道托板采用无磁不锈钢材质做成，其一侧边设有固定挡边7，实现对引线框架一侧的限位，另一侧的上表面设有多条与侧边平行的磁铁组，每条磁铁组包括多个钕铁硼磁铁8间隔嵌装在轨道托板表面，且相邻两个钕铁硼磁铁朝外的磁性不一致，呈N-S-N-S或S-N-S-N排布，多条磁铁组的同一个位置的磁铁在纵向也呈一条直线，且相互平行，纵向同一直线的钕铁硼磁铁朝外的磁性一致，所述轨道托板表面还设有多个圆弧凹形槽9位于两个纵向磁铁组之间，且圆弧凹形槽与侧边平行。
所述进料口调节挡板2，左侧限位挡板3及右侧限位挡板4为无磁不锈钢材质，其底面均嵌装有多个钕铁硼磁铁，且钕铁硼磁铁之间的间距与轨道托板上横向两个磁铁之间的间距一致，同时其朝外的磁性与轨道托板上对应位置的磁性相反；
所述进料调节挡板通过底面的钕铁硼磁铁固定在轨道托板上料区的钕铁硼磁铁上，且进料调节挡板底面的磁铁朝外的磁性与轨道托板上对应位置的磁铁磁性相反，实现两者的吸引固定，所述左侧限位挡板及右侧限位挡板通过底面的钕铁硼磁铁固定在轨道托板工作区的钕铁硼磁铁上，且左侧限位挡板及右侧限位挡板底面的磁铁朝外的磁性与轨道托板上对应位置的磁铁磁性相反，所述进料口调节挡板，左侧限位挡板及右侧限位挡板呈一条直线固定，且可以根据引线框架的宽度尺寸选择轨道托板上不同条的磁铁组进行固定，以调节与固定挡板之间的距离。
本实用新型的技术内容及技术特征已揭示如上，然而熟悉本领域的技术人员仍可能基于本实用新型的教示及揭示而作种种不背离本实用新型精神的替换及修饰，因此，本实用新型保护范围应不限于实施例所揭示的内容，而应包括各种不背离本实用新型的替换及修饰，并为本专利申请权利要求所涵盖。

Claims (4)

1.一种半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构，其特征在于：包括轨道托板，进料口调节挡板，左侧限位挡板，右侧限位挡板，进料盒及出料盒，其中：
轨道托板分为上料区，工作区及下料区，进料盒连接上料区端部，出料盒连接下料区端部，所述轨道托板的一侧边设有固定挡边，实现一侧的限位，而轨道托板另一侧的上表面设有多条与侧边平行的磁铁组，每条磁铁组由多个间隔设置的钕铁硼磁铁组成，所述钕铁硼磁铁嵌装在轨道托板表面，且相邻两个钕铁硼磁铁朝外的磁性不同；
所述进料口调节挡板，左侧限位挡板及右侧限位挡板的底面均嵌装有多个钕铁硼磁铁，且其朝外的磁性与轨道托板上对应位置的磁性相反；
所述进料调节挡板通过底面的钕铁硼磁铁固定在轨道托板的进料侧，而左侧限位挡板及右侧限位挡板通过底面的钕铁硼磁铁固定在轨道托板的工作区，且进料口调节挡板，左侧限位挡板及右侧限位挡板呈一条直线设置，与固定挡板之间的距离可根据引线框架宽度调节。
2.根据权利要求1所述的半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构，其特征在于：所述轨道托板上的多条磁铁组横向平行，且每条磁铁组内的磁铁在纵向同样形成磁铁组，且相互平行。
3.根据权利要求2所述的半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构，其特征在于：所述轨道托板上表面具有多个圆弧凹形槽位于两个纵向磁铁组之间，且圆弧凹形槽与侧边平行。
4.根据权利要求1所述的半导体封装测试设备轨道宽度快速调整机构，其特征在于：所述轨道托板，进料口调节挡板，左侧限位挡板及右侧限位挡板为无磁不锈钢。
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