CN207650306U - 电子产品的高温老化试验箱 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及一种电子产品的高温老化试验箱,包括箱体、箱门,所述的箱体内设有老化仓、配件仓;所述的老化仓内设有热交换管,所述的配件仓内设有电源、液体加热箱、水泵、温度传感器、CPU,所述的箱门外设有控制面板;所述的CPU分别与控制面板、温度传感器、液体加热箱、水泵、电源相连,所述的电源设有若干个电线接口;所述的温度传感器的感温接头分别位于液体加热箱与老化仓内,所述的热交换管与液体加热箱通过进水管、出水管相连,形成一个液体流通回路,所述的水泵位于进水管上;热交换管在老化仓内环形绕制,形成一个柱形空腔。本实用新型具有箱内温度分布均匀、箱内环境与实际工作环境接近、加热管不需要频繁启动、关闭的特点。

Description

电子产品的高温老化试验箱
技术领域
本实用新型涉及一种实验设备技术领域,尤其是涉及一种老化试验箱。
背景技术
现如今,大多电子产品都需要进行老化试验,以测试电子产品的性能,剔除不合格的产品,将合格产品给用户。现有的电子产品高温老化试验箱,几乎都是采取用电热丝对老化箱内的空气直接加热,已达到电子产品老化所需的温度。
公开号为CN201611212847的现有技术公开了一种老化试验装置,包括箱体、检测板、可视玻璃窗、温控柜以及箱门,所述检测板设有四个,四个所述的检测板等距安置在箱体内部,所述箱体底端焊接有温控柜,所述温控柜安装在检测板下侧,所述箱体前端固定有箱门,所述箱门内部镶嵌有可视玻璃窗,所述箱门左端通过转动轴与箱体相连接;所述温控柜由测温体、加热管、电子温控器、定时开关控制器二以及柜体组成,所述加热管安置在电子温控器上侧,所述电子温控器安装在定时开关控制器二上侧,所述测温体设置在加热管右侧,所述加热管、电子温控器以及定时开关控制器二均安装在柜体内部,所述测温体固定在柜体上端。
单侧用加热管对箱内空气进行加热,其不足之处有三个方面:其一、箱内温度有高有低,从靠近加热管的一端到远离加热管的一端温度逐渐下降,如果将加热管加热的温度设置为老化温度,远离加热管一侧,温度必将一直低于老化温度,影响老化效果,反之亦然;其二、加热管会将箱内空气的水分逐渐烧干,箱内与箱外几乎不进行空气流通,箱内会变得很干燥,与产品实际工作环境不符;其三、由于空气比热容较小,热量流失快,箱内温度又要维持的一个极小的区间内,不能过高也不能过低,因此加热管需要频繁对箱内空气加热,一次老化试验要持续数日,加热管长期处在频繁开启、关闭的状体,会大大缩短加热管的使用寿命。
实用新型内容
本实用新型主要解决现有技术所存在的老化试验箱内温度分布不均匀、箱内环境与实际工作环境不符、加热管需要频繁启动、关闭的技术问题,提供一种箱内温度分布均匀、箱内环境与实际工作环境接近、加热管不需要频繁启动、关闭的高温老化试验箱。
本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的:一种电子产品的高温老化试验箱,包括箱体、箱门,所述的箱门位于箱体前侧,所述的箱门左端通过转动轴与箱体相连接,所述的箱体内设有老化仓、配件仓,所述的箱门包括老化仓门、配件仓门;所述的老化仓内设有热交换管,所述的配件仓内设有电源、液体加热箱、水泵、温度传感器、CPU,所述的箱门外设有控制面板;所述的CPU分别与控制面板、温度传感器、液体加热箱、水泵、电源相连,所述的电源分别与控制面板、温度传感器、液体加热箱、水泵相连,所述的电源设有若干个电线接口;所述的温度传感器的感温接头分别位于液体加热箱与老化仓内,所述的热交换管与液体加热箱通过进水管、出水管相连,形成一个液体流通回路,回路内设有热稳定性高的液体,所述的水泵位于进水管上;热交换管在老化仓内环形绕制,形成一个柱形空腔。通过控制面板,设置老化试验的温度T、时间t,控制老化试验的开始、停止。当开始老化试验时,CPU控制老化试验的进行,并启动内部的计时器自动从0开始计时;计时器时间未到达t就持续进行老化试验,当计时器时间到达t就自动停止老化试验。电源为各元件提供电能。当老化温度低于100摄氏度时,用水作为热稳定性高的液体。水泵将液体加热箱内的水抽入热交换管中,以实现回路内水的循环流动。通过热交换管内的水与老化仓内空气之间的热交换,以维持老化试验所需的温度。电源上的电线接口,用于为进行老化试验的物料供电。温度的单位为摄氏度。
使用方法如下所述:
a. 打开老化仓门、配件仓门,将进行老化试验的物料放入老化仓内热交换管环形绕制所形成的柱形空腔中,并用电线将物料与电源相连接,关闭老化仓门、配件仓门。
b. 按照实际老化试验所需,在控制面板上输入老化试验温度T的值、老化试验时间t的值;
c. 按启动键开始老化试验;
d. CPU内部的计时器自动从0开始计时;
e. 温度传感器持续测量液体加热箱内的温度T1,并将温度信号传输给CPU;
f. 当T1<T1min时,CPU控制液体加热箱开始加热;T1min取值范围为T+4至T+7;温度的单位为摄氏度;
g. 当T1>T1max时,CPU控制液体加热箱停止加热;T1max取值范围为T+8至T+13;温度的单位为摄氏度;
h. 温度传感器持续测量内试验仓内的温度T2,并将温度信号传输给CPU;
i. 当T2<T2min时,CPU控制水泵开始工作;T2min取值范围为T-3至T-1;温度的单位为摄氏度;
j. 当T2>T2max时,CPU控制水泵停止工作;T2max取值范围为T至T+2;温度的单位为摄氏度;
k. 当CPU内部的计时器计时到达t时,自动停止老化试验,停止CPU、温度传感器、水泵、液体加热箱工作;
l. 打开老化仓门、配件仓门,将电线拔除,把物料从老化仓内取出,关闭老化仓门、配件仓门。
液体加热箱内水的温度始终大于老化试验所需的温度,确保可以将老化仓内的温度加热到老化试验所需的温度。加热时,物料四周都有热源,使得老化仓内温度分布均匀,不会出现局部高温或低温。老化试验加热采取液体加热箱先加热水,再通过水间接加热老化仓内的空气的方式,使得液体加热箱可以先将水加热到较高温度,等水降温到一定温度再次加热,不需要频繁开始、停止加热,避免加热设备的损坏。通过水与空气之间的热交换来升温,不会出现老化仓内空气中水分被烧干的情况,老化仓内的环境与实际工作环境相接近。因此,本技术方案具有箱内温度分布均匀、箱内环境与实际工作环境接近、加热管不需要频繁启动、关闭的特点。
作为优选,所述的老化仓分为外加热仓和内试验仓,所述的外加热仓和内试验仓之间用导热板分隔,所述的导热板由导热性能良好的材料制成,所述的外加热仓的形状为环形槽,所述的热交换管位于外加热仓内,并绕导热板层层排布,所述的温度传感器的感温接头位于内试验仓内。将老化仓分为外加热仓和内试验仓,外加热仓用于排布热交换管,内试验仓用于放置进行老化试验的物料,使用便捷。
作为优选,所述的热交换管由导热性能良好的材料制成。加大了热交换管内的水有老化仓内空气热交换的效率。
作为优选,所述的热交换管为软管。便于装卸热交换管。
作为优选,所述的老化仓内表面设有隔热材料,所述的老化仓门内表面设有隔热材料。老化仓内壁设有隔热材料,极大的降低了老化仓内与外界的热交换,便于维持老化仓内的温度,降低水泵工作的频率。
作为优选,所述的液体加热箱内表面设有隔热材料。极大的降低了液体加热箱内与外界的热交换,便于维持液体加热箱内水的温度,降低液体加热箱工作的频率。
作为优选,所述的导热板靠近配件仓一侧设有通孔,所述的老化仓与配件仓之间的分隔板上设有三个通孔,分隔板上其中一个通孔与导热板上的通孔相对应,位于其正下方。分隔板与导热板相对应的两个通孔用作电线的通道,分隔板用作热交换管的通道。
作为优选,所述的配件仓内设有控制柜,所述的温度传感器与CPU均位于控制柜内。
本实用新型带来的有益效果是,解决了现有技术所存在的老化试验箱内温度分布不均匀、箱内环境与实际工作环境不符、加热管需要频繁启动、关闭的技术问题;提供了一种箱内温度分布均匀、箱内环境与实际工作环境接近、加热管不需要频繁启动、关闭的高温老化试验箱。
因此,本实用新型具有结构合理,可靠性高等特点。
附图说明
附图1是本实用新型的一种内部结构示意图;
附图2是本实用新型的一种内部结构左视图;
附图3是本实用新型的一种外观示意图;
附图4是本实用新型的一种结构示意图;
附图5是本实用新型的一种主视图;
附图6是本实用新型的一种主视图;
附图7是本实用新型的热交换管的一种结构示意图;
附图8是本实用新型的一种流程图;
图中件号说明:
(1)热交换管、(2)控制柜、(3)电源、(4)水泵、(5)液体加热箱、(6)箱体、(7)老化仓门、(8)配件仓门、(9)控制面板、(10)导热板、(11)内试验仓、(12)外加热仓、(13)配件仓。
具体实施方式
下面通过实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。
实施例:
如图1、2、3、4、5、6、7、8所示,本实用新型是一种电子产品的高温老化试验箱,包括箱体(6)、箱门,所述的箱门位于箱体(6)前侧,所述的箱门左端通过转动轴与箱体(6)相连接,其特征在于:所述的箱体(6)内设有老化仓、配件仓(13),所述的箱门包括老化仓门(7)、配件仓门(8);所述的老化仓内设有热交换管(1),所述的配件仓(13)内设有电源(3)、液体加热箱(5)、水泵(4)、温度传感器、CPU,所述的箱门外设有控制面板(9);所述的CPU分别与控制面板(9)、温度传感器、液体加热箱(5)、水泵(4)、电源(3)相连,所述的电源(3)分别与控制面板(9)、温度传感器、液体加热箱(5)、水泵(4)相连,所述的电源(3)设有若干个电线接口;所述的温度传感器的感温接头分别位于液体加热箱(5)与老化仓内,所述的热交换管(1)与液体加热箱(5)通过进水管、出水管相连,形成一个液体流通回路,回路内设有热稳定性高的液体,所述的水泵(4)位于进水管上;热交换管(1)在老化仓内环形绕制,形成一个柱形空腔。所述的老化仓分为外加热仓(12)和内试验仓(11),所述的外加热仓(12)和内试验仓(11)之间用导热板(10)分隔,所述的导热板(10)由导热性能良好的材料制成,所述的外加热仓(12)的形状为环形槽,所述的热交换管(1)位于外加热仓(12)内,并绕导热板(10)层层排布,所述的温度传感器的感温接头位于内试验仓(11)内。所述的热交换管(1)由导热性能良好的材料制成。所述的热交换管(1)为软管。所述的老化仓内表面设有隔热材料,所述的老化仓门(7)内表面设有隔热材料。所述的液体加热箱(5)内表面设有隔热材料。所述的导热板(10)靠近配件仓(13)一侧设有通孔,所述的老化仓与配件仓(13)之间的分隔板上设有三个通孔,分隔板上其中一个通孔与导热板(10)上的通孔相对应,位于其正下方。所述的配件仓(13)内设有控制柜(2),所述的温度传感器与CPU均位于控制柜(2)内。
通过控制面板(9),设置老化试验的温度T、时间t,控制老化试验的开始、停止。当开始老化试验时,CPU控制老化试验的进行,并启动内部的计时器自动从0开始计时;计时器时间未到达t就持续进行老化试验,当计时器时间到达t就自动停止老化试验。电源(3)为各元件提供电能。当老化温度低于100摄氏度时,用水作为热稳定性高的液体。水泵(4)将液体加热箱(5)内的水抽入热交换管(1)中,以实现回路内水的循环流动。通过热交换管(1)内的水与老化仓内空气之间的热交换,以维持老化试验所需的温度。电源(3)上的电线接口,用于为进行老化试验的物料供电。温度的单位为摄氏度。
使用方法如下所述:
a.打开老化仓门(7)、配件仓门(8),将进行老化试验的物料放入老化仓内热交换管(1)环形绕制所形成的柱形空腔中,并用电线将物料与电源(3)相连接,关闭老化仓门(7)、配件仓门(8)。
b.按照实际老化试验所需,在控制面板(9)上输入老化试验温度T的值、老化试验时间t的值;
c.按启动键开始老化试验;
d.CPU内部的计时器自动从0开始计时;
e.温度传感器持续测量液体加热箱(5)内的温度T1,并将温度信号传输给CPU;
f.当T1<T1min时,CPU控制液体加热箱(5)开始加热;T1min取值范围为T+4至T+7;温度的单位为摄氏度;
g.当T1>T1max时,CPU控制液体加热箱(5)停止加热;T1max取值范围为T+8至T+13;温度的单位为摄氏度;
h.温度传感器持续测量内试验仓(11)内的温度T2,并将温度信号传输给CPU;
i.当T2<T2min时,CPU控制水泵(4)开始工作;T2min取值范围为T-3至T-1;温度的单位为摄氏度;
j.当T2>T2max时,CPU控制水泵(4)停止工作;T2max取值范围为T至T+2;温度的单位为摄氏度;
k.当CPU内部的计时器计时到达t时,自动停止老化试验,停止CPU、温度传感器、水泵(4)、液体加热箱(5)工作;
l.打开老化仓门(7)、配件仓门(8),将电线拔除,把物料从老化仓内取出,关闭老化仓门(7)、配件仓门(8)。
液体加热箱(5)内水的温度始终大于老化试验所需的温度,确保可以将老化仓内的温度加热到老化试验所需的温度。加热时,物料四周都有热源,使得老化仓内温度分布均匀,不会出现局部高温或低温。老化试验加热采取液体加热箱(5)先加热水,再通过水间接加热老化仓内的空气的方式,使得液体加热箱(5)可以先将水加热到较高温度,等水降温到一定温度再次加热,不需要频繁开始、停止加热,避免加热设备的损坏。通过水与空气之间的热交换来升温,不会出现老化仓内空气中水分被烧干的情况,老化仓内的环境与实际工作环境相接近。因此,本技术方案具有箱内温度分布均匀、箱内环境与实际工作环境接近、加热管不需要频繁启动、关闭的特点。
将老化仓分为外加热仓(12)和内试验仓(11),外加热仓(12)用于排布热交换管(1),内试验仓(11)用于放置进行老化试验的物料,使用便捷。热交换管(1)为导热性能良好的材料制成的软管,加大了热交换管(1)内的水有老化仓内空气热交换的效率,便于装卸热交换管(1)。老化仓内壁设有隔热材料,极大的降低了老化仓内与外界的热交换,便于维持老化仓内的温度,降低水泵(4)工作的频率。液体加热箱(5)内表面设有隔热材料,极大的降低了液体加热箱(5)内与外界的热交换,便于维持液体加热箱(5)内水的温度,降低液体加热箱(5)工作的频率。分隔板与导热板(10)相对应的两个通孔用作电线的通道,分隔板用作热交换管(1)的通道。

Claims (8)

1.一种电子产品的高温老化试验箱,包括箱体、箱门,所述的箱门位于箱体前侧,所述的箱门左端通过转动轴与箱体相连接,其特征在于:所述的箱体内设有老化仓、配件仓,所述的箱门包括老化仓门、配件仓门;所述的老化仓内设有热交换管,所述的配件仓内设有电源、液体加热箱、水泵、温度传感器、CPU,所述的箱门外设有控制面板;所述的CPU分别与控制面板、温度传感器、液体加热箱、水泵、电源相连,所述的电源分别与控制面板、温度传感器、液体加热箱、水泵相连,所述的电源设有若干个电线接口;所述的温度传感器的感温接头分别位于液体加热箱与老化仓内,所述的热交换管与液体加热箱通过进水管、出水管相连,形成一个液体流通回路,回路内设有热稳定性高的液体,所述的水泵位于进水管上;热交换管在老化仓内环形绕制,形成一个柱形空腔。
2.根据权利要求1所述的电子产品的高温老化试验箱,其特征在于:所述的老化仓分为外加热仓和内试验仓,所述的外加热仓和内试验仓之间用导热板分隔,所述的导热板由导热性能良好的材料制成,所述的外加热仓的形状为环形槽,所述的热交换管位于外加热仓内,并绕导热板层层排布,所述的温度传感器的感温接头位于内试验仓内。
3.根据权利要求1所述的电子产品的高温老化试验箱,其特征在于:所述的热交换管由导热性能良好的材料制成。
4.根据权利要求1所述的电子产品的高温老化试验箱,其特征在于:所述的热交换管为软管。
5.根据权利要求1所述的电子产品的高温老化试验箱,其特征在于:所述的老化仓内表面设有隔热材料,所述的老化仓门内表面设有隔热材料。
6.根据权利要求1所述的电子产品的高温老化试验箱,其特征在于:所述的液体加热箱内表面设有隔热材料。
7.根据权利要求2所述的电子产品的高温老化试验箱,其特征在于:所述的导热板靠近配件仓一侧设有通孔,所述的老化仓与配件仓之间的分隔板上设有三个通孔,分隔板上其中一个通孔与导热板上的通孔相对应,位于其正下方。
8.根据权利要求1、2、3、4、5、6、7任一项所述的电子产品的高温老化试验箱,其特征在于:所述的配件仓内设有控制柜,所述的温度传感器与CPU均位于控制柜内。
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