CN207586256U - 用于半导体测试装置的旋转机架 - Google Patents

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CN207586256U CN201721252435.0U CN201721252435U CN207586256U CN 207586256 U CN207586256 U CN 207586256U CN 201721252435 U CN201721252435 U CN 201721252435U CN 207586256 U CN207586256 U CN 207586256U
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王浩
王刚
张陈涛
张伟
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Abstract

本实用新型公开一种用于半导体测试装置的旋转机架,包括两个平行放置的底座板,两个底座板之间安装有底座固定板,且两个底座板上分别安装有对应设置的底座立柱;且两侧的底座立柱上均安装有横向的连接底板,而所述的连接底板的外侧端均安装有一竖直放置的制动板,两侧的制动板的内侧均安装有旋转轴承。本实用新型还设置旋转机构,旋转机构主要通过行星减速机来完成旋转,行星减速器的输入端安装旋转手轮,方便人工操作,输出轴连接测试机的转轴能够带动测试机转动,并且给行星减速器设置一定的传动比,使测试机能够缓慢的移动,增加旋转时的平稳性。

Description

用于半导体测试装置的旋转机架
技术领域
本实用新型属于半导体检测设备,具体涉及一种用于半导体测试装置的旋转机架。
背景技术
如图1所示,现有的半导体测试机安装在方管机架上实现固定和移动的功能。但是在半导体测试机在调试和使用过程中,工作人员需要频繁的进行接线操作来调试测试机。而半导体测试机的一些接线端口设置在测试机的底部,工作人员每次进行接线操作都需要弯腰操作,接线调试非常的不方便,,而且维修的是偶也会非常的不方便,大大降低了工作人员的工作效率。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对现有技术存在的不足,提供一种用于半导体测试装置的旋转机架。
技术方案:本实用新型解决问题所采用的技术方案为:一种用于半导体测试装置的旋转机架,包括两个平行放置的底座板,两个底座板之间安装有底座固定板,且两个底座板上分别安装有对应设置的底座立柱;且两侧的底座立柱上均安装有横向的连接底板,而所述的连接底板的外侧端均安装有一竖直放置的制动板,两侧的制动板的内侧均安装有旋转轴承,该旋转轴承中均安装有旋转轴,两侧的旋转轴位置对应,而半导体测试机则安装在两端对应的旋转轴上,且两侧的制动板上至少有一侧还安装有用于旋转测试机的旋转机构。
作为优选,所述的旋转机构包括旋转手轮和行星减速器;所述的行星减速器固定安装在制动板的外侧,所述的制动板上设置有一安装孔,所述的旋转轴的位置与行星减速器的输出轴的位置相对应,且旋转轴从安装孔伸入与行星减速器的输出轴对接安装成一体。
作为优选,所述的制动板的安装孔中还设置有一锁紧圈,该锁紧圈的一侧安装在安装孔的侧壁上,而所述的旋转轴安装在锁紧圈中,而锁紧圈的一侧则设置有开口,且从该开口处延伸有两块横向的锁紧块,且上层的锁紧块和安装孔的上孔壁设置有相对应的通孔,而下层的锁紧块上安装有一锁紧螺杆,该锁紧螺杆竖直向上从上层的锁紧块和安装孔的通孔伸出到制动板外部,且在锁紧螺杆的端部还安装有锁紧螺母。
作为优选,所述的旋转轴的端部还安装有连接圆盘,连接圆盘上还安装有竖直连接板;通过竖直连接板可以安装在半导体测试机上,其安装的更加牢固。
作为优选,所述的底座板上还设置有缓冲支架。
作为优选,所述底座立柱为伸缩式可调高度可固定位置的立柱;通过底座立柱可以调节整体机架的高度,使其安装使用,接线调试更加的方面。
作为优选,所述的行星减速器的输出传动比为80∶1。
有益效果:本实用新型具有以下有益效果:
(1)本实用新型的机架通过轴承、旋转轴、底座立柱和底座固定板来支撑和固定测试机的,底座立柱可调高度,测试机整体是可以旋转的,测试机可以悬空放置,在要进行调试接线或者维修的时候,通过人力或者旋转机构均可使测试机发生旋转,方便测试机的接线换线、维修和调试,接线调试后仍可悬空放置,方便使用;同时测试机也可以放置在底座固定板上,在要进行接线调试的时候通过底座立柱将测试机升起一段距离,再控制测试机旋转进行接线调试,调试完毕后还可以放置在底座固定板上,减小测试机对连接轴和整体装置的压力,在增加旋转功能的同时,使整体装置的性能更加稳定;
(2)本实用新型还设置旋转机构,旋转机构主要通过行星减速机来完成旋转,行星减速器的输入端安装旋转手轮,方便人工操作,输出轴连接测试机的转轴能够带动测试机转动,并且给行星减速器设置一定的传动比,使测试机能够缓慢的移动,增加旋转时的平稳性;
(3)本实用新型还在制动板内设置了锁紧圈和锁紧螺杆,锁紧螺杆的下端安装在下层的锁紧块上,上端从上层的锁紧块和安装孔的通孔伸出;且旋转轴是安装在锁紧圈内的,当测试机旋转一定角度后需要固定位置的时候,通过锁紧螺母拧紧锁紧螺杆,锁紧螺杆就将上下两个锁紧块锁紧,使旋转轴锁紧在锁紧圈内,即可固定住旋转轴的位置,而当接线调试完成后将锁母松开即可通过旋转机构使测试机恢复原位,因此本装置的旋转机构增加了锁紧功能,使测试机的旋转固定更加的方便。
附图说明
图1为现有的半导体测试装置的放置架
图2为本实用新型的结构图;
图3为本实用新型中旋转机构结构图;
图4为本实用新型中锁紧圈的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例,进一步阐明本实用新型,本实施例在以本实用新型技术方案为前提下进行实施,应理解这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。
如图2、图3和图4所示,一种用于半导体测试装置的旋转机架,包括两个平行放置的底座板1,两个底座板1之间安装有底座固定板2,且两个底座板1 上分别安装有对应设置的底座立柱3;且两侧的底座立柱3上均安装有横向的连接底板4,而所述的连接底板4的外侧端均安装有一竖直放置的制动板5,两侧的制动板5的内侧均安装有旋转轴承6,该旋转轴承6中均安装有旋转轴7,两侧的旋转轴7位置对应,而半导体测试机则安装在两端对应的旋转轴7上,且两侧的制动板5上至少有一侧还安装有用于旋转测试机的旋转机构。
所述的旋转机构包括旋转手轮8和行星减速器9;所述的行星减速器9固定安装在制动板5的外侧,所述的制动板5上设置有一安装孔51,所述的旋转轴6 的位置与行星减速器9的输出轴的位置相对应,且旋转轴6从安装孔51伸入与行星减速器9的输出轴对接安装成一体。
所述的制动板5的安装孔51中还设置有一锁紧圈52,该锁紧圈52的一侧安装在安装孔51的侧壁上,而所述的旋转轴7安装在锁紧圈52中,而锁紧圈52 的一侧则设置有开口,且从该开口处延伸有两块横向的锁紧块53,且上层的锁紧块53和安装孔51的上孔壁设置有相对应的通孔54,而下层的锁紧块53上安装有一锁紧螺杆55,该锁紧螺杆55竖直向上从上层的锁紧块53和安装孔51的通孔54伸出到制动板5外部,且在锁紧螺杆55的端部还安装有锁紧螺母。
所述的旋转轴7的端部还安装有连接圆盘10,连接圆盘10上还安装有竖直连接板11;通过竖直连接板11可以安装在半导体测试机上,其安装的更加牢固;所述的底座板1上还设置有缓冲支架12;所述底座立柱3为伸缩式可调高度可固定位置的立柱;所述的行星减速器9的输出传动比为80∶1。
本实用新型的机架通过轴承、旋转轴、底座立柱和底座固定板来支撑和固定测试机的,底座立柱可调高度,测试机整体是可以旋转的,测试机可以悬空放置,在要进行调试接线或者维修的时候,通过人力或者旋转机构均可使测试机发生旋转,方便测试机的接线换线、维修和调试,接线调试后仍可悬空放置,方便使用;同时测试机也可以放置在底座固定板上,在要进行接线调试的时候通过底座立柱将测试机升起一段距离,再控制测试机旋转进行接线调试,调试完毕后还可以放置在底座固定板上,减小测试机对连接轴和整体装置的压力,在增加旋转功能的同时,使整体装置的性能更加稳定。
本实用新型还设置旋转机构,旋转机构主要通过行星减速机来完成旋转,行星减速器的输入端安装旋转手轮,方便人工操作,输出轴连接测试机的转轴能够带动测试机转动,并且给行星减速器设置一定的传动比,使测试机能够缓慢的移动,增加旋转时的平稳性。
本实用新型还在制动板内设置了锁紧圈和锁紧螺杆,锁紧螺杆的下端安装在下层的锁紧块上,上端从上层的锁紧块和安装孔的通孔伸出;且旋转轴是安装在锁紧圈内的,当测试机旋转一定角度后需要固定位置的时候,通过锁紧螺母拧紧锁紧螺杆,锁紧螺杆就将上下两个锁紧块锁紧,使旋转轴锁紧在锁紧圈内,即可固定住旋转轴的位置,而当接线调试完成后将锁母松开即可通过旋转机构使测试机恢复原位,因此本装置的旋转机构增加了锁紧功能,使测试机的旋转固定更加的方便。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (7)

1.一种用于半导体测试装置的旋转机架,其特征在于:包括两个平行放置的底座板(1),两个底座板(1)之间安装有底座固定板(2),且两个底座板(1)上分别安装有对应设置的底座立柱(3);且两侧的底座立柱(3)上均安装有横向的连接底板(4),而所述的连接底板(4)的外侧端均安装有一竖直放置的制动板(5),两侧的制动板(5)的内侧均安装有旋转轴承(6),该旋转轴承(6)中均安装有旋转轴(7),两侧的旋转轴(7)位置对应,而半导体测试机则安装在两端对应的旋转轴(7)上,且两侧的制动板(5)上至少有一侧还安装有用于旋转测试机的旋转机构。
2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架,其特征在于:所述的旋转机构包括旋转手轮(8)和行星减速器(9);所述的行星减速器(9)固定安装在制动板(5)的外侧,所述的制动板(5)上设置有一安装孔(51),所述的旋转轴(7)的位置与行星减速器(9)的输出轴的位置相对应,且旋转轴(7)从安装孔(51)伸入与行星减速器(9)的输出轴对接安装成一体。
3.根据权利要求2所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架,其特征在于:所述的制动板(5)的安装孔(51)中还设置有一锁紧圈(52),该锁紧圈(52)的一侧安装在安装孔(51)的侧壁上,而所述的旋转轴(7)安装在锁紧圈(52)中,而锁紧圈(52)的一侧则设置有开口,且从该开口处延伸有两块横向的锁紧块(53),且上层的锁紧块(53)和安装孔(51)的上孔壁设置有相对应的通孔(54),而下层的锁紧块(53)上安装有一锁紧螺杆(55),该锁紧螺杆(55)竖直向上从上层的锁紧块(53)和安装孔(51)的通孔(54)伸出到制动板(5)外部,且在锁紧螺杆(55)的端部还安装有锁紧螺母。
4.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架,其特征在于:所述的旋转轴(7)的端部还安装有连接圆盘(10),连接圆盘(10)上还安装有竖直连接板(11)。
5.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架,其特征在于:所述的底座板(1)上还设置有缓冲支架(12)。
6.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架,其特征在于:所述底座立柱(3)为伸缩式可调高度可固定位置的立柱。
7.根据权利要求2所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架,其特征在于:所述的行星减速器(9)的输出传动比为80∶1。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109443737A (zh) * 2018-12-24 2019-03-08 上海天檀电子科技有限公司 一种扭力测试装置

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