CN207457281U - 用于半导体测试旋转机架的旋转机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，包括连接底板、行星减速器、旋转轴、轴承和制动板；所述的连接底板横向放置，所述的制动板安装在连接底板的右端构成一L形板；所述的行星减速器横向安装在制动板的右端面，且制动板上还设置有一安装孔；所述的轴承安装在连接底板上。本实用新型的旋转机构主要通过行星减速机来完成旋转，行星减速器的输入端安装旋转手轮，方便人工操作，输出轴连接测试机的转轴能够带动测试机转动，通过将本装置安装在半导体测试旋转机架上可以帮助半导体测试机实现人工旋转，而且通过给行星减速器设置一定的传动比，使测试机能够缓慢的旋转，增加旋转时的平稳性；达到省时省力增加工作效率的目的。
Description
技术领域
本实用新型属于半导体检测设备，具体涉及一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构。
背景技术
如图1所示，现有的半导体测试机安装在方管机架上实现固定和移动的功能。但是在半导体测试机在调试和使用过程中，工作人员需要频繁的进行接线操作来调试测试机。而半导体测试机的一些接线端口设置在测试机的底部，工作人员每次进行接线操作都需要弯腰操作，接线调试非常的不方便，而且维修的时候也会非常的不方便，大大降低了工作人员的工作效率；因此亟待研究一种可以使半导体测试机旋转的旋转机架，以及安装在旋转机架上的旋转机构。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对现有技术存在的不足，提供一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构。
技术方案：本实用新型解决问题所采用的技术方案为：一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，包括连接底板、行星减速器、旋转轴、轴承和制动板；所述的连接底板横向放置，所述的制动板安装在连接底板的右端构成一L形板；所述的行星减速器横向安装在制动板的右端面，且制动板上还设置有一安装孔；所述的轴承安装在连接底板上，所述的旋转轴安装在轴承中，且旋转轴的右侧轴端与行星减速器的输出轴相对应，旋转轴的右侧轴端从安装孔伸入与行星减速器的输出轴对接安装成一体。
作为优选，所述的制动板的安装孔中还设置有一锁紧圈，所述的旋转轴安装在锁紧圈中，所述的锁紧圈的一侧设置有开口，且从该开口处延伸有两块横向的锁紧块，且上层的锁紧块和安装孔的上孔壁设置有相对应的通孔，而下层的锁紧块上安装有一锁紧螺杆，该锁紧螺杆竖直向上从上层的锁紧块和安装孔的通孔伸出到制动板外部，且在锁紧螺杆的端部还安装有锁紧螺母。
作为优选，所述的旋转轴的左端端部还安装有连接圆盘，所述的连接圆盘上还设置有四个均匀排布的腰形槽。
作为优选，所述的连接圆盘上还通过腰形槽安装有一安装板，所述的安装板上还设置有螺纹安装孔。
作为优选，所述的行星减速器的输出端还安装有旋转手轮。
作为优选，所述的行星减速器的输出传动比为80:1。
有益效果：本实用新型具有以下有益效果：
(1)本实用新型的旋转机构主要通过行星减速机来完成旋转，行星减速器的输入端安装旋转手轮，方便人工操作，输出轴连接测试机的转轴能够带动测试机转动，通过将本装置安装在半导体测试旋转机架上可以帮助半导体测试机实现人工旋转，而且通过给行星减速器设置一定的传动比，使测试机能够缓慢的旋转，增加旋转时的平稳性；达到省时省力增加工作效率的目的；
(2)本实用新型还在制动板内设置了锁紧圈和锁紧螺杆，锁紧螺杆的下端安装在下层的锁紧块上，上端从上层的锁紧块和安装孔的通孔伸出；且旋转轴是安装在锁紧圈内的，当测试机旋转一定角度后需要固定位置的时候，通过锁紧螺母拧紧锁紧螺杆，锁紧螺杆就将上下两个锁紧块锁紧，使旋转轴锁紧在锁紧圈内，即可固定住旋转轴的位置，而当接线调试完成后将锁母松开即可通过旋转机构使测试机恢复原位，因此本装置的旋转机构增加了锁紧功能，使测试机的旋转固定更加的方便。
附图说明
图1为现有的半导体测试装置的放置架
图2为本实用新型的结构图；
图3为本实用新型安装在旋转机构上的结构图
图4为本实用新型中锁紧圈的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本实用新型，本实施例在以本实用新型技术方案为前提下进行实施，应理解这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。
如图2、图3和图4所示，一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，包括连接底板1、行星减速器2、旋转轴3、轴承4和制动板5；所述的连接底板1横向放置，所述的制动板5安装在连接底板1的右端构成一L形板；所述的行星减速器2横向安装在制动板5的右端面，且制动板5上还设置有一安装孔51；所述的轴承4安装在连接底板1上，所述的旋转轴3安装在轴承4中，且旋转轴3的右侧轴端与行星减速器2的输出轴相对应，旋转轴3的右侧轴端从安装孔51伸入与行星减速器2的输出轴对接安装成一体。
作为优选，所述的制动板5的安装孔51中还设置有一锁紧圈52，所述的旋转轴3安装在锁紧圈52中，所述的锁紧圈52的一侧设置有开口，且从该开口处延伸有两块横向的锁紧块53，且上层的锁紧块53和安装孔51的上孔壁设置有相对应的通孔54，而下层的锁紧块53上安装有一锁紧螺杆55，该锁紧螺杆54竖直向上从上层的锁紧块53和安装孔51的通孔54伸出到制动板5外部，且在锁紧螺杆54的端部还安装有锁紧螺母55。
所述的旋转轴3的左端端部还安装有连接圆盘6，所述的连接圆盘6上还设置有四个均匀排布的腰形槽7；所述的连接圆盘6上还通过腰形槽7安装有一安装板8，所述的安装板8上还设置有螺纹安装孔；所述的行星减速器2的输出端还安装有旋转手轮9。
本实用新型还对行星减速器的轴径和减速比进行了计算，利用测试机整体的重量，可以计算出最小的轴径(d为轴的直径)。
而行星减速器的传动比则根据实际需要设定，利用齿轮的啮合传动，行星轮的内啮合实现我们所需要的传动比，根据实际情况，将传动比设置为80:1。
本实用新型的旋转机构主要通过行星减速机来完成旋转，行星减速器的输入端安装旋转手轮，方便人工操作，输出轴连接测试机的转轴能够带动测试机转动，通过将本装置安装在半导体测试旋转机架上可以帮助半导体测试机实现人工旋转，而且通过给行星减速器设置一定的传动比，使测试机能够缓慢的旋转，增加旋转时的平稳性；达到省时省力增加工作效率的目的。
本实用新型还在制动板内设置了锁紧圈和锁紧螺杆，锁紧螺杆的下端安装在下层的锁紧块上，上端从上层的锁紧块和安装孔的通孔伸出；且旋转轴是安装在锁紧圈内的，当测试机旋转一定角度后需要固定位置的时候，通过锁紧螺母拧紧锁紧螺杆，锁紧螺杆就将上下两个锁紧块锁紧，使旋转轴锁紧在锁紧圈内，即可固定住旋转轴的位置，而当接线调试完成后将锁母松开即可通过旋转机构使测试机恢复原位，因此本装置的旋转机构增加了锁紧功能，使测试机的旋转固定更加的方便。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (6)
1.一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：包括连接底板(1)、行星减速器(2)、旋转轴(3)、轴承(4)和制动板(5)；所述的连接底板(1)横向放置，所述的制动板(5)安装在连接底板(1)的右端构成一L形板；所述的行星减速器(2)横向安装在制动板(5)的右端面，且制动板(5)上还设置有一安装孔(51)；所述的轴承(4)安装在连接底板(1)上，所述的旋转轴(3)安装在轴承(4)中，且旋转轴(3)的右侧轴端与行星减速器(2)的输出轴相对应，旋转轴(3)的右侧轴端从安装孔(51)伸入与行星减速器(2)的输出轴对接安装成一体。
2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：所述的制动板(5)的安装孔(51)中还设置有一锁紧圈(52)，所述的旋转轴(3)安装在锁紧圈(52)中，所述的锁紧圈(52)的一侧设置有开口，且从该开口处延伸有两块横向的锁紧块(53)，且上层的锁紧块(53)和安装孔(51)的上孔壁设置有相对应的通孔(54)，而下层的锁紧块(53)上安装有一锁紧螺杆，该锁紧螺杆竖直向上从上层的锁紧块(53)和安装孔(51)的通孔(54)伸出到制动板(5)外部，且在锁紧螺杆的端部还安装有锁紧螺母(55)。
3.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：所述的旋转轴(3)的左端端部还安装有连接圆盘(6)，所述的连接圆盘(6)上还设置有四个均匀排布的腰形槽(7)。
4.根据权利要求3所述的一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：所述的连接圆盘(6)上还通过腰形槽(7)安装有一安装板(8)，所述的安装板(8)上还设置有螺纹安装孔。
5.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：所述的行星减速器(2)的输出端还安装有旋转手轮(9)。
6.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试旋转机架的旋转机构，其特征在于：所述的行星减速器(2)的输出传动比为80:1。
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2017
- 2017-09-27 CN CN201721251787.4U patent/CN207457281U/zh active Active
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