CN207336395U - 薄膜生产线缺陷测量检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种薄膜生产线缺陷测量检测装置，包括灯罩，所述灯罩焊接在支架上端，所述支架远离灯罩一端焊接有中央处理器，所述灯罩内部顶端安装有散热板，所述散热板内部固定连接有LED灯，所述灯罩内部底端固定连接有聚光棒，所述灯罩下方安装有传送带，所述传送带上与灯罩对应位置焊接有薄膜置放底座，所述传送带两端固定连接在传送带底座上，所述传送带正下方与薄膜置放底座对应位置安装有回收箱，所述传送带底座远离回收箱一端固定连接有步进电机，所述支架位于中央处理器的正下方焊接有警报器。该薄膜生产线缺陷测量检测装置，能够检测到薄膜的透明缺陷，并能及时警报，对次品进行回收利用。

Description

薄膜生产线缺陷测量检测装置

技术领域

本实用新型属于缺陷测量检测装置技术领域，具体涉及薄膜生产线缺陷测量检测装置。

背景技术

薄膜是一种薄而软的薄片，被广泛用于电子电器、机械、包装、印刷等行业。在薄膜的实际生产过程中，诸如无尘室的不洁净、生产线滚轮等因素都会影响薄膜的品质，因此需要对薄膜进行检测。

在薄膜检测时，采用机器视觉的图像采集技术和图像处理判别技术，检测系统利用编码器传输信号使得系统与实际生产线保持同步，实时在线检测，在发现瑕疵缺陷时系统立即自动截图报警。目前市场上的检测装置现有的光学薄膜 检测装置仅能检测出可反光的、非透明的缺陷，但无法检测出透明的缺陷，存在漏检问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供薄膜生产线缺陷测量检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：薄膜生产线缺陷测量检测装置，包括灯罩，所述灯罩焊接在支架上端，所述支架远离灯罩一端焊接有中央处理器，所述灯罩内部顶端安装有散热板，所述散热板内部固定连接有LED灯，所述散热板下方固定连接有滤波器，所述滤波器下方固定连接有分束元件，所述灯罩内部底端固定连接有聚光棒，所述灯罩下方安装有传送带，所述传送带上与灯罩对应位置焊接有薄膜置放底座，所述传送带两端固定连接在传送带底座上，所述传送带正下方与薄膜置放底座对应位置安装有回收箱，所述传送带底座远离回收箱一端固定连接有步进电机，所述步进电机通过导线与中央处理器电性连接，所述支架位于中央处理器的正下方焊接有警报器，所述警报器通过导线与中央处理器电性连接。

优选的，所述薄膜置放底座内部设有薄膜置放槽，所述薄膜置放槽为圆形或矩形槽，薄膜置放底座在传送带上等距离排列。

优选的，所述薄膜置放底座正下方安装有一号接收器，所述一号接收器通过导线与中央处理器电性连接。

优选的，所述中央处理器下方固定连接有二号接收器，所述二号接收器通过导线与中央处理器电性连接，所述二号接收器数量为两个，并且相互垂直焊接在支架上。

优选的，所述灯罩底端出光口处卡扣连接有滤镜，所述分束元件为分束棱镜，所述LED灯数量至少为四个。

本实用新型的技术效果和优点：该薄膜生产线缺陷测量检测装置，采用光学检测的方法，由LED灯提供光源，外置散热板可以起散热作用，通过滤波器使不同波段的照明光束在空间上进行分离，通过聚光棒聚集光束，射在待检测薄膜上，一号接收器接收折射的光束，二号接收器垂直排列，更利于接收反射的光束，通过中央处理器计算光谱，如不合格警报器将响起，通过回收箱可以进行次品回收再利用。该薄膜生产线缺陷测量检测装置，能够检测到薄膜的透明缺陷，并能及时警报，对次品进行回收利用。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的电性连接图。

图中：1灯罩、2 LED灯、3散热板、4滤波器、5分束元件、6薄膜置放槽、7薄膜置放底座、8一号接收器、9聚光棒、10滤镜、11二号接收器、12警报器、13中央处理器、14传送带、15传送带底座、16回收箱、17步进电机、18支架。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，图1为本实用新型的结构示意图，薄膜生产线缺陷测量检测装置，包括灯罩1，所述灯罩1焊接在支架18上端，所述支架18远离灯罩1一端焊接有中央处理器13，用于计算所接收到的光谱，所述灯罩1内部顶端安装有散热板3，所述散热板3内部固定连接有LED灯2，LED灯2提供光源，散热板3在LED灯2工作时起散热作用，所述散热板3下方固定连接有滤波器4，滤波器4用于使不同波段的照明光束在空间上进行分离，所述滤波器4下方固定连接有分束元件5，所述分束元件5为分束棱镜，将不同波段光分离，所述灯罩1内部底端固定连接有聚光棒9，聚集光束，所述灯罩1底端出光口处卡扣连接有滤镜10，滤镜10将光束投射到待检测薄膜上，所述LED灯数量至少为四个，所述灯罩1下方安装有传送带14，所述传送带14上与灯罩1对应位置焊接有薄膜置放底座7，所述传送带14两端固定连接在传送带底座15上，所述薄膜置放底座7内部设有薄膜置放槽6，所述薄膜置放槽6为圆形或矩形槽，薄膜置放底座7在传送带14上等距离排列，所述薄膜置放底座7正下方安装有一号接收器8，一号接收器8用于接收折射的光束，所述一号接收器8通过导线与中央处理器13电性连接，所述传送带14正下方与薄膜置放底座7对应位置安装有回收箱16，回收箱16用于回收不合格的产品，所述传送带底座15远离回收箱16一端固定连接有步进电机17，所述步进电机17通过导线与中央处理器13电性连接，步进电机17为传送带提供动力，所述支架18位于中央处理器13的正下方焊接有警报器12，所述警报器12通过导线与中央处理器13电性连接，所述中央处理器13下方固定连接有二号接收器11，所述二号接收器11通过导线与中央处理器13电性连接，所述二号接收器11数量为两个，并且相互垂直焊接在支架18上，更好的接收反射的光束。

请参阅图2，图2为本实用新型的电性连接图，所述一号接收器8和二号接收器11为传感器，所述中央处理器13为处理器，所述步进电机17、LED灯2和警报器12为执行器。

工作原理：工作时，启动开关，中央处理器13发出指令，LED灯2发出光束，散热器3起散热作用，光束经滤波器4、分束元件5、聚光棒9和滤镜10，射在薄膜置放槽6中的待检测薄膜上，折射的光束由一号接收器8接收并传送到中央处理器13，反射的光束由二号接收器11接收并传送到中央处理器13，中央处理器13开始计算，如薄膜存在缺陷，信号传递到警报器12，警报响起，可回收至回收箱16再利用，步进电机17工作，传送带14移动，开始下一步检测。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.薄膜生产线缺陷测量检测装置，包括灯罩（1），其特征在于：所述灯罩（1）焊接在支架（18）上端，所述支架（18）远离灯罩（1）一端焊接有中央处理器（13），所述灯罩（1）内部顶端安装有散热板（3），所述散热板（3）内部固定连接有LED灯（2），所述散热板（3）下方固定连接有滤波器（4），所述滤波器（4）下方固定连接有分束元件（5），所述灯罩（1）内部底端固定连接有聚光棒（9），所述灯罩（1）下方安装有传送带（14），所述传送带（14）上与灯罩（1）对应位置焊接有薄膜置放底座（7），所述传送带（14）两端固定连接在传送带底座（15）上，所述传送带（14）正下方与薄膜置放底座（7）对应位置安装有回收箱（16），所述传送带底座（15）远离回收箱（16）一端固定连接有步进电机（17），所述步进电机（17）通过导线与中央处理器（13）电性连接，所述支架（18）位于中央处理器（13）的正下方焊接有警报器（12），所述警报器（12）通过导线与中央处理器（13）电性连接。

2.根据权利要求1所述的薄膜生产线缺陷测量检测装置，其特征在于：所述薄膜置放底座（7）内部设有薄膜置放槽（6），所述薄膜置放槽（6）为圆形或矩形槽，薄膜置放底座（7）在传送带（14）上等距离排列。

3.根据权利要求1所述的薄膜生产线缺陷测量检测装置，其特征在于：所述薄膜置放底座（7）正下方安装有一号接收器（8），所述一号接收器（8）通过导线与中央处理器（13）电性连接。

4.根据权利要求1所述的薄膜生产线缺陷测量检测装置，其特征在于：所述中央处理器（13）下方固定连接有二号接收器（11），所述二号接收器（11）通过导线与中央处理器（13）电性连接，所述二号接收器（11）数量为两个，并且相互垂直焊接在支架（18）上。

5.根据权利要求1所述的薄膜生产线缺陷测量检测装置，其特征在于：所述灯罩（1）底端出光口处卡扣连接有滤镜（10），所述分束元件（5）为分束棱镜，所述LED灯数量至少为四个。