CN206960582U - 止退爪结构和应用多类型多数量探针模组的精密测试模组 - Google Patents

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本实用新型公开了和一种包括止退爪结构的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,旨在提供一种对位精准、测试稳定、降低加工成本的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组。所述止退爪结构包括止退板和嵌入于所述止退板上的止退模组,所述止退板和所述止退模组之间设置有弹簧一;所述测试模组包括载具,所述载具的一端设置有极小间距针块模组,所述极小间距针块模组包括安装于所述载具的一端上的所述止退爪结构,所述载具上设置有一端与所述极小间距针块模组相适配连接的测试主板,所述载具固定安装于外部设备的工作台面上,所述工作台面的上方设置有自动对位针块结构,所述自动对位针块结构下压时与所述测试主板的另一端相适配连接。本实用新型应用于电子测试的技术领域。

Description

止退爪结构和应用多类型多数量探针模组的精密测试模组
技术领域
本实用新型涉及一种止退爪结构和一种包括所述止退爪结构的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组。
背景技术
随着高端智能电子产品的竞争日趋激烈,有特色的产品能在竞争中处于领先,其中小巧精致的产品更容易得到市场的青睐,然而这样的产品意味着其内部元器件集成度更高,进而导致其主板上的测试点间距变小,测试项变多。而且小产品的精密度极高,用传统的探针模组,不仅维护成本高,而且测试通过率较低,导致生产效率不高,并且其还存在以下几点缺点:
定位基准:小巧的产品做不到定位特征以及严格的外形尺寸,没办法用传统的定位特征定位或者外形定位的方式,从而因为定位精度的降低加大了测试出错的可能性。
生产成本:采用传统定位+Pogo block的结构对Pogo block的加工及生产要求较高,而且当产品上的测试接头有5~8个,甚至更多的时候,Pogo pin 成本较高,从而增加了测试成本。
测试时间:同时测试的项目有扬声器,横按键,竖按键,Battery电池,USB,Display显示器等多达10项,分开进行测试,只会浪费时间,也增加机台数量。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供了一种提高测试稳定性的止退爪结构和一种对位精准、测试稳定、降低加工成本的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组。
本实用新型所采用的技术方案是:一种止退爪结构包括止退板和嵌入于所述止退板上的止退模组,所述止退板和所述止退模组之间设置有弹簧一,所述止退模组包括产品止退暗扣和若干个与所述产品止退暗扣衔接为一体的止退爪,所述止退爪均嵌入于所述止退板上,且所述止退爪的一端均位于所述止退板的表面上,所述产品止退暗扣的一端嵌入于所述止退板内,所述产品止退暗扣的另一端位于所述止退板的一侧。
一种包括所述的一种止退爪结构的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,它包括载具,所述载具的一端设置有极小间距针块模组,所述极小间距针块模组包括所述止退爪结构,所述止退爪结构安装于所述载具的一端上,所述载具上设置有一端与所述极小间距针块模组相适配连接的测试主板,所述载具固定安装于外部设备的工作台面上,所述工作台面的上方设置有自动对位针块结构,所述自动对位针块结构下压时与所述测试主板的另一端相适配连接。
进一步的,所述测试主板包括测试板一和与所述测试板一相连接的测试板二,所述测试板一上设置有测试接头一、测试接头二、测试接头三和测试拍点一,所述测试拍点一设置于所述测试主板的一边上,所述测试接头一位于所述测试拍点一的一端,所述测试接头二位于所述测试接头一的下端,所述测试接头三位于所述测试接头二的一端,所述测试板二上设有三个测试分条板,所述测试分条板的末端均设置有测试拍点二。
进一步的,所述极小间距针块模组还包括下压针块结构,所述下压针块结构的两端均铰接有卡扣,所述止退爪结构的两端均设置有与所述卡扣相适配的扣耳。
进一步的,所述下压针块结构包括下压板和测试连接模组,所述下压板的下端设置有三个与三个所述测试拍点二相适配的针块模组,所述针块模组均位于所述止退爪的后端,所述针块模组均与所述测试连接模组的一端相连接,所述测试连接模组的另一端与所述载具上设置的显示屏连接器相连接。
进一步的,所述自动对位针块结构包括驱动装置、弹性压块和自动对位针块模组,所述驱动装置安装于所述外部设备上,所述弹性压块的一端与所述驱动装置相连接,所述弹性压块的另一端与所述自动对位针块模组相连接。
进一步的,所述弹性压块包括压板和若干个嵌入于所述压板的压柱,所述压板与压柱之间均设置有弹簧二。
进一步的,所述自动对位针块模组包括测试压板,所述测试压板上设置有分别与所述测试接头一、所述测试接头二和所述测试接头三相适配的测试针块一、测试针块二和测试针块三,所述测试压板上还设置有若干个锥度等高销钉。
进一步的,所述测试载具上设置有压盖,所述压盖与所述载具相铰接,所述压盖下压时盖于所述测试板一的上端,且所述压盖上设有与所述测试接头一相适配的开孔一和与所述测试拍点一相适配的开孔二。
本实用新型的有益效果是:由于本实用新型包括一种止退爪结构和一种包括所述止退爪结构的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,所述止退爪结构包括止退板和嵌入于所述止退板上的止退模组,所述止退板和所述止退模组之间设置有弹簧一,所述止退模组包括产品止退暗扣和若干个与所述产品止退暗扣衔接为一体的止退爪,所述止退爪均嵌入于所述止退板上,且所述止退爪的一端均位于所述止退板的表面上,所述产品止退暗扣的一端嵌入于所述止退板内,所述产品止退暗扣的另一端位于所述止退板的一侧,此设计结构上的所述止退爪和所述产品止退暗扣使测试时可保持稳定性;所述精密测试模组包括载具,所述载具的一端设置有极小间距针块模组,所述极小间距针块模组包括所述止退爪结构,所述止退爪结构安装于所述载具的一端上,所述载具上设置有一端与所述极小间距针块模组相适配连接的测试主板,所述载具固定安装于外部设备的工作台面上,所述工作台面的上方设置有自动对位针块结构,所述自动对位针块结构下压时与所述测试主板的另一端相适配连接,此设计使所述测试主板插进所述极小间距针块模组的对位更精准,测试更稳定,所述自动对位针块结构可在下压时自动对位所述测试主板,节约加工成本,减少加工误差,最大化利用有效空间。
附图说明
图1是载具上的结构示意图;
图2是极小间距针块模组示意图;
图3是测试主板的示意图;
图4是自动对位针块结构的示意图;
图5是弹性压块的示意图。
具体实施方式
如图1至图5所示,在本实施例中,一种止退爪结构包括止退板1和嵌入于所述止退板1上的止退模组2,所述止退板1和所述止退模组2之间设置有弹簧一,所述止退模组2包括产品止退暗扣21和若干个与所述产品止退暗扣21衔接为一体的止退爪22,所述止退爪22均嵌入于所述止退板1上,且所述止退爪22的一端均位于所述止退板1的表面上,所述产品止退暗扣21的一端嵌入于所述止退板1内,所述产品止退暗扣21的另一端位于所述止退板1的一侧。
在本实施例中,一种包括所述的一种止退爪结构的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,它包括载具3,所述载具3的一端设置有极小间距针块模组4,所述极小间距针块模组4包括所述止退爪结构,所述止退爪结构安装于所述载具3的一端上,所述载具3上设置有一端与所述极小间距针块模组4相适配连接的测试主板5,所述载具3固定安装于外部设备的工作台面上,所述工作台面的上方设置有自动对位针块结构6,所述自动对位针块结构6下压时与所述测试主板5的另一端相适配连接。
在本实施例中,所述测试主板5包括测试板一51和与所述测试板一51相连接的测试板二52,所述测试板一51上设置有测试接头一53、测试接头二54、测试接头三55和测试拍点一56,所述测试拍点一56设置于所述测试主板5的一边上,所述测试接头一53位于所述测试拍点一56的一端,所述测试接头二54位于所述测试接头一53的下端,所述测试接头三55位于所述测试接头二54的一端,所述测试板二52上设有三个测试分条板57,所述测试分条板57的末端均设置有测试拍点二58。
在本实施例中,所述极小间距针块模组4包括所述止退爪结构和下压针块结构7,所述下压针块结构7的两端均铰接有卡扣8,所述止退爪结构的两端均设置有与所述卡扣8相适配的扣耳9。
在本实施例中,所述下压针块结构7包括下压板71和测试连接模组72,所述下压板71的下端设置有三个与三个所述测试拍点二58相适配的针块模组73,所述针块模组73均位于所述止退爪22的后端,所述针块模组73均与所述测试连接模组72的一端相连接,所述测试连接模组72的另一端与所述载具3上设置的显示屏10连接器相连接。
在本实施例中,所述自动对位针块结构6包括驱动装置、弹性压块11和自动对位针块模组61,所述驱动装置安装于所述外部设备上,所述外部设备只需可以安装所述自动对位针块结构6的支架和安装所述载具3的工作台即可,所述弹性压块11的一端与所述驱动装置相连接,所述弹性压块11的另一端与所述自动对位针块模组61相连接。
在本实施例中,所述弹性压块11包括压板111和若干个嵌入于所述压板111的压柱112,所述压板111与压柱112之间均设置有弹簧二。
在本实施例中,所述自动对位针块模组61包括测试压板611,所述测试压板611上设置有分别与所述测试接头一53、所述测试接头二54和所述测试接头三55相适配的测试针块一612、测试针块二613和测试针块三614,所述测试压板611上还设置有若干个锥度等高销钉615,所述锥度等高销钉615使产品的对位更精准。
在本实施例中,所述测试载具3上设置有压盖12,所述压盖12与所述载具3相铰接,所述压盖12下压时盖于所述测试板一51的上端,且所述压盖12上设有与所述测试接头一53相适配的开孔一13和与所述测试拍点一56相适配的开孔二14,所述压盖12进一步将所述测试主板5压紧,方便所述自动对位针块模组61的下压对准所述测试主板5。
其工作原理是:手动按下所述产品止退暗扣21,手动把所述测试主板5插进所述极小间距针块模组4内,放置好所述测试主板5后,松开所述产品止退暗扣21,使所述止退爪22上升固定所述测试主板5与所述针块模组73的连接固定,盖上所述压盖12后把所述载具3输入所述外部设备后,所述自动对位针块模组6在所述驱动装置的驱动下下压,当所述测试主板5接触测试压板611后,所述弹性压块11在背后提供增加性压力,开始测试。
本实用新型应用于电子测试的技术领域。
虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的,但是并不构成对本实用新型含义的限制,对于本领域的技术人员,根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。

Claims (9)

1.一种止退爪结构,其特征在于:它包括止退板(1)和嵌入于所述止退板(1)上的止退模组(2),所述止退板(1)和所述止退模组(2)之间设置有弹簧一,所述止退模组(2)包括产品止退暗扣(21)和若干个与所述产品止退暗扣(21)衔接为一体的止退爪(22),所述止退爪(22)均嵌入于所述止退板(1)上,且所述止退爪(22)的一端均位于所述止退板(1)的表面上,所述产品止退暗扣(21)的一端嵌入于所述止退板(1)内,所述产品止退暗扣(21)的另一端位于所述止退板(1)的一侧。
2.一种包括权利要求1所述的一种止退爪结构的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,其特征在于:它包括载具(3),所述载具(3)的一端设置有极小间距针块模组(4),所述极小间距针块模组(4)包括所述止退爪结构,所述止退爪结构安装于所述载具(3)的一端上,所述载具(3)上设置有一端与所述极小间距针块模组(4)相适配连接的测试主板(5),所述载具(3)固定安装于外部设备的工作台面上,所述工作台面的上方设置有自动对位针块结构(6),所述自动对位针块结构(6)下压时与所述测试主板(5)的另一端相适配连接。
3.根据权利要求2所述的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,其特征在于:所述测试主板(5)包括测试板一(51)和与所述测试板一(51)相连接的测试板二(52),所述测试板一(51)上设置有测试接头一(53)、测试接头二(54)、测试接头三(55)和测试拍点一(56),所述测试拍点一(56)设置于所述测试主板(5)的一边上,所述测试接头一(53)位于所述测试拍点一(56)的一端,所述测试接头二(54)位于所述测试接头一(53)的下端,所述测试接头三(55)位于所述测试接头二(54)的一端,所述测试板二(52)上设有三个测试分条板(57),所述测试分条板(57)的末端均设置有测试拍点二(58)。
4.根据权利要求3所述的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,其特征在于:所述极小间距针块模组(4)还包括下压针块结构(7),所述下压针块结构(7)的两端均铰接有卡扣(8),所述止退爪结构的两端均设置有与所述卡扣(8)相适配的扣耳(9)。
5.根据权利要求4所述的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,其特征在于:所述下压针块结构(7)包括下压板(71)和测试连接模组(72),所述下压板(71)的下端设置有三个与三个所述测试拍点二(58)相适配的针块模组(73),所述针块模组(73)均位于所述止退爪(22)的后端,所述针块模组(73)均与所述测试连接模组(72)的一端相连接,所述测试连接模组(72)的另一端与所述载具(3)上设置的显示屏(10)连接器相连接。
6.根据权利要求3所述的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,其特征在于:所述自动对位针块结构(6)包括驱动装置、弹性压块(11)和自动对位针块模组(61),所述驱动装置安装于所述外部设备上,所述弹性压块(11)的一端与所述驱动装置相连接,所述弹性压块(11)的另一端与所述自动对位针块模组(61)相连接。
7.根据权利要求6所述的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,其特征在于:所述弹性压块(11)包括压板(111)和若干个嵌入于所述压板(111)的压柱(112),所述压板(111)与压柱(112)之间均设置有弹簧二。
8.根据权利要求6所述的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,其特征在于:所述自动对位针块模组(61)包括测试压板(611),所述测试压板(611)上设置有分别与所述测试接头一(53)、所述测试接头二(54)和所述测试接头三(55)相适配的测试针块一(612)、测试针块二(613)和测试针块三(614),所述测试压板(611)上还设置有若干个锥度等高销钉(615)。
9.根据权利要求3所述的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组,其特征在于:所述测试载具(3)上设置有压盖(12),所述压盖(12)与所述载具(3)相铰接,所述压盖(12)下压时盖于所述测试板一(51)的上端,且所述压盖(12)上设有与所述测试接头一(53)相适配的开孔一(13)和与所述测试拍点一(56)相适配的开孔二(14)。
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