CN207148280U - 测试设备的下针模块 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测试设备的下针模块,旨在提供一种结构简单、节省成本和提高操作效率的测试设备的下针模块。本实用新型包括设置于所述测试设备的底座板上的旋转基板座和与所述旋转基板座相铰接的旋转基板,所述旋转基板的下端面设置有针块模块,所述旋转基板的上端面设置有与所述针块模块相连接的浮动结构,所述浮动结构的侧端设置有卡扣,所述底座板上设置有载具板,所述载具板内设置有与针块模块相适配的导向套,所述载具板的侧端设置有与所述卡扣相适配的扣子,所述底座板上还设置有分别位于所述旋转基板座两端的翻盖支撑座和限位支撑座。本实用新型应用于PCBA测试的技术领域。
Description
技术领域
本实用新型涉及PCBA测试的技术领域,特别涉及一种测试设备的下针模块。
背景技术
在目前的PCBA测试领域(PCBA是说PCB空板经过SMT上件,再经过DIP插件的整个制程),存在一部分测试需要手动扣合连接器的同时给同一面的PCBA上的测试点下测试针,现有相似的实现方案为:手动扣连接器的同时,使用气缸自动下压给测试点上电。
现有技术的缺点:因PCBA的整体尺寸很小,而整个气缸自动下压的结构比较庞大,阻挡了扣合其它连接器的操作,且自动下压的操作方式实现起来比较繁琐,在浪费操作时间的同时也增加了成本。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供了一种结构简单、节省成本和提高操作效率的测试设备的下针模块。
本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括设置于所述测试设备的底座板上的旋转基板座和与所述旋转基板座相铰接的旋转基板,所述旋转基板的下端面设置有针块模块,所述旋转基板的上端面设置有与所述针块模块相连接的浮动结构,所述浮动结构的侧端设置有卡扣,所述底座板上设置有载具板,所述载具板内设置有与针块模块相适配的导向套,所述载具板的侧端设置有与所述卡扣相适配的扣子,所述底座板上还设置有分别位于所述旋转基板座两端的翻盖支撑座和限位支撑座。
进一步的,所述针块模块包括电路板、测试针、探针固定板和与所述导向套相适配的导向销,所述电路板设置于所述旋转基板的下端,所述探针固定板设置于所述电路板的下端,所述探针固定板的外形为阶梯块,所述测试针镶嵌于所述探针固定板上端的阶梯面内,所述导向销镶嵌于所述探针固定板下端的阶梯面内。
进一步的,所述浮动结构包括活动块、连接杆和弹簧,所述连接杆的一端穿过所述旋转基板与所述电路板相连接,所述连接杆的另一端与所述活动块相连接,所述弹簧设置在位于所述活动块和所述旋转基板之间的所述连接杆的杆身上。
进一步的,所述翻盖支撑座的上端面和所述限位支撑座的上端面均设置有磁铁,且所述翻盖支撑座的高度高于所述旋转基板座的高度,所述旋转基板座的高度高于所述限位支撑座的高度,所述限位支撑位于所述旋转基板座和所述底座板之间。
进一步的,所述旋转基板座和所述旋转基板通过转轴相铰接。
进一步的,所述卡扣通过螺丝固定于所述活动块侧端面上。
本实用新型的有益效果是:由于本实用新型包括设置于所述测试设备的底座板上的旋转基板座和与所述旋转基板座相铰接的旋转基板,所述旋转基板的下端面设置有针块模块,所述旋转基板的上端面设置有与所述针块模块相连接的浮动结构,所述浮动结构的侧端设置有卡扣,所述底座板上设置有载具板,所述载具板内设置有与针块模块相适配的导向套,所述载具板的侧端设置有与所述卡扣相适配的扣子,所述底座板上还设置有分别位于所述旋转基板座两端的翻盖支撑座和限位支撑座,本实用新型在下压所述活动块时,整个所述针块模块能沿按压方向活动,当所述针块模块内的导向销与所述导向套接触并导正后,所述卡扣与所述扣子相互啮合,并锁死,此时所述针块模块内探针接触到设置于所述载具板内的待测产品,完成上电过程,完成测试后,按压所述卡扣的一端,解锁所述针块模块,并翻转所述旋转基板至与所述翻盖支撑座接触,从而完成整个动作,所述本实用新型解决了现有技术空间不足影响手动扣合连接器的问题,并在一定程度上节省了成本,提高了操作效率。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型的侧视图;
图3是本实用新型A部分的放大图。
具体实施方式
如图1至图3所示,在本实施例中,本实用新型包括设置于所述测试设备的底座板1上的旋转基板座2和与所述旋转基板座2相铰接的旋转基板3,所述旋转基板座2和所述旋转基板3是通过转轴13相铰接,所述旋转基板3的下端面设置有针块模块4,所述旋转基板3的上端面设置有与所述针块模块4相连接的浮动结构5,所述浮动结构5的侧端设置有卡扣6,所述底座板1上设置有载具板7,所述载具板7内设置有待测产品12和与针块模块4相适配的导向套8,所述载具板7的侧端设置有与所述卡扣6相适配的扣子9,所述底座板1上还设置有分别位于所述旋转基板座2两端的翻盖支撑座10和限位支撑座11,所述翻盖支撑座10的上端面和所述限位支撑座11的上端面均设置有磁铁,且所述翻盖支撑座10的高度高于所述旋转基板座2的高度,所述旋转基板座2的高度高于所述限位支撑座11的高度,所述限位支撑位于所述旋转基板座2和所述底座板1之间。
在本实施例中,所述针块模块4包括电路板41、测试针42、探针固定板43和与所述导向套8相适配的导向销44,所述电路板41设置于所述旋转基板3的下端,所述探针固定板43设置于所述电路板41的下端,所述探针固定板43的外形为阶梯块,所述测试针42镶嵌于所述探针固定板43上端的阶梯面内,所述导向销44镶嵌于所述探针固定板43下端的阶梯面内;所述浮动结构5包括活动块51、连接杆52和弹簧53,所述连接杆52的一端穿过所述旋转基板3与所述电路板41相连接,所述连接杆52的另一端与所述活动块51相连接,所述弹簧53设置在位于所述活动块51和所述旋转基板3之间的所述连接杆52的杆身上,所述卡扣6通过螺丝固定于所述活动块51侧端面上。
本实用新型的工作原理为:在所述旋转基板3翻转至所述限位支撑座11时,通过下压所述活动块51,使所述连接杆52带动整个所述针块模块4下压,从而使所述导向销44用于所述导向套8接触并导正后,所述卡扣6与所述扣子9相互啮合并锁死,此时测试针42接触到所述待测产品12,完成上电的过程,当测试完成后,按压所述卡扣6的一端,使所述卡扣6与所述扣子9分离,解锁所述针块模块4,并翻转所述旋转基板3至与所述翻盖支撑座10接触,从而完成整个动作。
本实用新型应用于PCBA测试的技术领域。
虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的,但是并不构成对本实用新型含义的限制,对于本领域的技术人员,根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。
Claims (6)
1.一种测试设备的下针模块,其特征在于:它包括设置于所述测试设备的底座板(1)上的旋转基板座(2)和与所述旋转基板座(2)相铰接的旋转基板(3),所述旋转基板(3)的下端面设置有针块模块(4),所述旋转基板(3)的上端面设置有与所述针块模块(4)相连接的浮动结构(5),所述浮动结构(5)的侧端设置有卡扣(6),所述底座板(1)上设置有载具板(7),所述载具板(7)内设置有与针块模块(4)相适配的导向套(8),所述载具板(7)的侧端设置有与所述卡扣(6)相适配的扣子(9),所述底座板(1)上还设置有分别位于所述旋转基板座(2)两端的翻盖支撑座(10)和限位支撑座(11)。
2.根据权利要求1所述的测试设备的下针模块,其特征在于:所述针块模块(4)包括电路板(41)、测试针(42)、探针固定板(43)和与所述导向套(8)相适配的导向销(44),所述电路板(41)设置于所述旋转基板(3)的下端,所述探针固定板(43)设置于所述电路板(41)的下端,所述探针固定板(43)的外形为阶梯块,所述测试针(42)镶嵌于所述探针固定板(43)上端的阶梯面内,所述导向销(44)镶嵌于所述探针固定板(43)下端的阶梯面内。
3.根据权利要求2所述的测试设备的下针模块,其特征在于:所述浮动结构(5)包括活动块(51)、连接杆(52)和弹簧(53),所述连接杆(52)的一端穿过所述旋转基板(3)与所述电路板(41)相连接,所述连接杆(52)的另一端与所述活动块(51)相连接,所述弹簧(53)设置在位于所述活动块(51)和所述旋转基板(3)之间的所述连接杆(52)的杆身上。
4.根据权利要求1所述的测试设备的下针模块,其特征在于:所述翻盖支撑座(10)的上端面和所述限位支撑座(11)的上端面均设置有磁铁,且所述翻盖支撑座(10)的高度高于所述旋转基板座(2)的高度,所述旋转基板座(2)的高度高于所述限位支撑座(11)的高度,所述限位支撑位于所述旋转基板座(2)和所述底座板(1)之间。
5.根据权利要求1所述的测试设备的下针模块,其特征在于:所述旋转基板座(2)和所述旋转基板(3)通过转轴(13)相铰接。
6.根据权利要求3所述的测试设备的下针模块,其特征在于:所述卡扣(6)通过螺丝固定于所述活动块(51)侧端面上。
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CN201720944287.2U CN207148280U (zh) | 2017-07-31 | 2017-07-31 | 测试设备的下针模块 |
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CN201720944287.2U CN207148280U (zh) | 2017-07-31 | 2017-07-31 | 测试设备的下针模块 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108802444A (zh) * | 2018-08-16 | 2018-11-13 | 苏州市运泰利自动化设备有限公司 | 掀盖式测试结构 |
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