CN206192388U - 一种光学自动检测键高掉键设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光学自动检测键高掉键设备,属于电子设备技术领域。它包括机架,中横梁上设置有顶字键模组,所述顶字键模组包括机座,机座上端设置有探针固定板,探针固定板上端通过弹簧顶针与键盘固定板相连,键盘固定板上开设有多个与键盘字键位置相对应的孔且每个孔内设置有多个探针,每个探针底端固定在所述探针固定板上;机座左右两端各设置有一个气缸,两个气缸的活塞端安装有压板框。本实用新型通过设置顶字键模组配合镭射管及CCD相机对键盘字键进行检测,实现自动化智能作业,降低了工人的劳动强度,降低企业用人成本。同时利用顶字键模组中的探针将字键顶出并进行检验,避免了因人工检测时用力不均而对产品造成损坏的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子设备技术领域,尤其是一种光学自动检测键高掉键设备。
背景技术
随着电脑的普及,电脑键盘的市场需求量日益增大,目前对键盘字键的检测通常采用人工翘字键方式,字键被人工翘开后,再目视检验键盘的字键、剪刀脚、铝板是否合格,人工长时间目视检测字键容易造成体力和视力疲劳,进而不合格品容易被遗漏,导致不合格品流入市场,同时人力翘字键容易用力不均对产品造成损坏,产品质量无法得到保障,另外人工作业还需要花费大量时间与人力对工人进行培训,成本较高且人员容易流失。
实用新型内容
本实用新型的目的是为克服上述现有技术的不足,提供一种光学自动检测键高掉键设备。本实用新型通过设置顶字键模组配合镭射管及CCD相机对键盘字键进行检测,实现自动化智能作业,降低了工人的劳动强度,降低企业用人成本。每个键盘取放和检测时间缩短至15秒,检测时间短,设备操作简单,检测效率高,不会产生遗漏不合格品的现象,确保产品质量。同时利用顶字键模组中的探针将字键顶出并进行检验,避免了因人工检测时用力不均而对产品造成损坏的问题。
为实现上述目的,本实用新型采用下述技术方案:一种光学自动检测键高掉键设备,它包括机架,所述机架内由上至下依次设置有上横梁、中横梁、下横梁;
所述中横梁上设置有顶字键模组,所述顶字键模组包括机座,所述机座上端设置有探针固定板,所述探针固定板上端通过弹簧顶针与键盘固定板相连,键盘固定板上开设有多个与键盘字键位置相对应的孔且每个孔内设置有多个探针,每个所述探针底端固定在所述探针固定板上;所述机座左右两端各设置有一个气缸,两个所述气缸的活塞端安装有压板框;
所述上横梁上装配有线轨以及由伺服电机驱动的线性模组,所述线轨与线性模组并列设置,所述线轨与线性模组上装配有检测移动框架且检测移动框架上安装有镭射管和多个CCD相机;
所述机架上部外侧壁上安装有配备显示屏的控制处理面板,机架下部下横梁上装配有配电箱。
优选的,所述机架底端装配有万向轮。
优选的,所述检测移动框架上安装的镭射管的个数为一个,CCD相机的个数为两个,且所述镭射管装配在位于两个CCD相机之间的检测移动框架上。
优选的,所述弹簧顶针设置为四个,四个弹簧顶针分布在探针固定板的四脚处。
优选的,所述弹簧顶针上还套装有限位套筒。
本实用新型的有益效果是:
本实用新型通过设置顶字键模组配合镭射管及CCD相机对键盘字键进行检测,实现自动化智能作业,降低了工人的劳动强度,降低企业用人成本。每个键盘取放和检测时间缩短至15秒,检测时间短,设备操作简单,检测效率高,不会产生遗漏不合格品的现象,确保产品质量。同时利用顶字键模组中的探针将字键顶出并进行检验,避免了因人工检测时用力不均而对产品造成损坏的问题。
附图说明
图1是本实用新型的整体结构示意图;
图2是图1的内部结构示意图;
图3是顶字键模组的结构示意图;
其中机架1、机座2、探针固定板3、弹簧顶针4、键盘固定板5、探针6、气缸7、压板框8、线轨9、线性模组10、镭射管11、CCD相机12、显示屏13、配电箱14、检测移动框架15。
具体实施方式
这里需要说明的是,所述方位词左、右、上、下均是以图2所示的视图为基准定义的,应当理解,所述方位词的使用不应限制本申请所请求的保护范围。
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
如图1至图3所示,一种光学自动检测键高掉键设备,它包括机架1,所述机架1内由上至下依次设置有上横梁1a、中横梁1b、下横梁1c;
所述中横梁1b上设置有顶字键模组,所述顶字键模组包括机座 2,所述机座2上端设置有探针固定板3,所述探针固定板3上端通过弹簧顶针4与键盘固定板5相连,键盘固定板5上开设有多个与键盘字键位置相对应的孔且每个孔内设置有多个探针6,每个所述探针6底端固定在所述探针固定板3上;所述机座2左右两端各设置有一个气缸7,两个所述气缸7的活塞端安装有压板框8;
所述上横梁上装配有线轨9以及由伺服电机驱动的线性模组10,所述线轨9与线性模组10并列设置,所述线轨9与线性模组10上装配有检测移动框架15且检测移动框架15上安装有镭射管11和多个CCD相机12;
所述机架1上部外侧壁上安装有配备显示屏13的控制处理面板,机架1下部下横梁上装配有配电箱14。
本实用新型能检测出安装不适以及因剪刀脚或铝板卡勾不合格而使字键倾斜的不合格字键。工作时,将键盘放置在键盘固定板5上,降低气缸7活塞端高度带动压板框8将键盘壳体压紧在键盘固定板5上,多个探针6将对应的键盘字键顶起,合格的字键受力均匀,字键上表面呈水平状态,不合格的字键因受力不均,上表面呈倾斜状态,启动线性模组10,通过线性模组10驱使检测移动框架15移动,进而带动检测移动框架15上的镭射管11和CCD相机12移动对键盘字键进行检测,检测时,镭射管11发射红外线照射在字键上,多个CCD相机12对被红外线照射的键盘字键进行拍摄,根据拍摄情况运算出字键表面高低差值,判断出不良字键,并将判断结果显示在显示屏13上。实际使用过程中,可根据不同类型的键盘产品,装配不同尺 寸型号的顶字键模组。
在上述技术方案基础上,所述机架1底端装配有万向轮。如此设置,设备可以根据实际情况移动位置,方便使用。
在上述技术方案基础上,所述检测移动框架上安装的镭射管11的个数为一个,CCD相机12的个数为两个,且所述镭射管11装配在位于两个CCD相机12之间的检测移动框架15上。如此设置,确保镭射管11的照射效果及CCD相机12的拍摄效果,检测准确率高,满足实际使用需要。
在上述技术方案基础上,所述弹簧顶针4设置为四个,四个弹簧顶针4分布在探针固定板3的四脚处。如此设置,使得键盘固定板5更加稳固,进而保证键盘下压时的平稳性,确保检测效果的准确性。
在上述技术方案基础上,所述弹簧顶针4上还套装有限位套筒。如此设置,限制弹簧顶针4的压缩距离,防止键盘固定板5下压时对弹簧顶针4造成损坏,延长使用寿命。
上述虽然结合附图对本实用新型的具体实施方式进行了描述,但并非对本实用新型保护范围的限制,所属领域技术人员应该明白,在本实用新型的技术方案的基础上,本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本实用新型的保护范围以内。
Claims (5)
1.一种光学自动检测键高掉键设备,其特征在于:它包括机架(1),所述机架(1)内由上至下依次设置有上横梁(1a)、中横梁(1b)、下横梁(1c);
所述中横梁(1b)上设置有顶字键模组,所述顶字键模组包括机座(2),所述机座(2)上端设置有探针固定板(3),所述探针固定板(3)上端通过弹簧顶针(4)与键盘固定板(5)相连,键盘固定板(5)上开设有多个与键盘字键位置相对应的孔且每个孔内设置有多个探针(6),每个所述探针(6)底端固定在所述探针固定板(3)上;所述机座(2)左右两端各设置有一个气缸(7),两个所述气缸(7)的活塞端安装有压板框(8);
所述上横梁上装配有线轨(9)以及由伺服电机驱动的线性模组(10),所述线轨(9)与线性模组(10)并列设置,所述线轨(9)与线性模组(10)上装配有检测移动框架(15)且检测移动框架(15)上安装有镭射管(11)和多个CCD相机(12);
所述机架(1)上部外侧壁上安装有配备显示屏(13)的控制处理面板,机架(1)下部下横梁上装配有配电箱(14)。
2.根据权利要求1所述的一种光学自动检测键高掉键设备,其特征在于:所述机架(1)底端装配有万向轮。
3.根据权利要求1所述的一种光学自动检测键高掉键设备,其特征在于:所述检测移动框架上安装的镭射管(11)的个数为一个,CCD相机(12)的个数为两个,且所述镭射管(11)装配在位于两个CCD相机(12)之间的检测移动框架(15)上。
4.根据权利要求1所述的一种光学自动检测键高掉键设备,其特征在于:所述弹簧顶针(4)设置为四个,四个弹簧顶针(4)分布在探针固定板(3)的四脚处。
5.根据权利要求1或2或3或4所述的一种光学自动检测键高掉键设备,其特征在于:所述弹簧顶针(4)上还套装有限位套筒。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN201621132536.XU CN206192388U (zh) | 2016-10-18 | 2016-10-18 | 一种光学自动检测键高掉键设备 |
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ID=58731117
Family Applications (1)
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CN201621132536.XU Active CN206192388U (zh) | 2016-10-18 | 2016-10-18 | 一种光学自动检测键高掉键设备 |
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CN (1) | CN206192388U (zh) |
Cited By (3)
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CN109211554A (zh) * | 2018-10-06 | 2019-01-15 | 苏州市铭将意电子科技有限公司 | 一种计算机键盘生产用检测装置及检测方法 |
CN109724512A (zh) * | 2017-10-27 | 2019-05-07 | 群光电子(苏州)有限公司 | 一种玻璃层与pcb偏移检验装置 |
CN109724522A (zh) * | 2017-10-27 | 2019-05-07 | 群光电子(苏州)有限公司 | 一种产品厚度检验装置 |
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