CN204759482U - 计数装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种计数装置,包括有机架,机架上设有芯片输送槽、第一卷轴、第二卷轴,芯片输送槽位于第一卷轴、第二卷轴之间;还包括有第一计数探头、第二计数探头、用于检测芯片输送槽上是否有芯片的入料探头;其中,第一计数探头、第二计数探头、入料探头均位于芯片输送槽附近,第一计数探头、入料探头在芯片输送槽的同一横截面上平齐设置,第二计数探头与第一计数探头邻近设置。计数效率高并且芯片计数准确。
Description
技术领域
本实用新型属于电子、电器领域,具体涉及一种计数装置。
背景技术
电子设备的芯片,如手机芯片等,通常生产为可以卷曲的芯片条带,芯片条带上排设有若干芯片,同一条芯片条带上同时具有合格芯片和不合格芯片,需要精确统计合格芯片的数量及芯片总数量。传统的芯片计数方法,由工人将芯片条带摆放至计数设备上,手动启动计数设备开始计数,当计数达到一定数量时,再由工人手动停止计数设备,将已经计数的芯片剪断取出,这种方式下,芯片的计数不准确,并且计数效率低,耗时耗工。
发明内容
基于此,本实用新型在于克服现有技术的缺陷,提供一种计数装置,计数效率高并且芯片计数准确。
其技术方案如下:
一种计数装置,包括有机架,机架上设有芯片输送槽、第一卷轴、第二卷轴,芯片输送槽位于第一卷轴、第二卷轴之间;还包括有第一计数探头、第二计数探头、用于检测芯片输送槽上是否有芯片的入料探头;其中,第一计数探头、第二计数探头、入料探头均位于芯片输送槽附近,第一计数探头、入料探头在芯片输送槽的同一横截面上平齐设置,第二计数探头与第一计数探头邻近设置。
在其中一个实施例中,机架上还设有:成对设置的第一辊、第二辊,成对设置的第三辊、第四辊;其中,第一辊、第二辊位于第一卷轴与芯片输送槽之间,第三辊、第四辊位于第二卷轴与芯片输送槽之间。
在其中一个实施例中,所述第一辊表面设有第一退让槽,所述第二辊表面设有第二退让槽,所述第一退让槽与所述第二退让槽对齐;所述第三辊表面设有第三退让槽,所述第四辊表面设有第四退让槽,第三退让槽与第四退让槽对齐。
在其中一个实施例中,所述机架上还设有保护带导辊,所述保护带导辊位于所述芯片输送槽上方或下方,并且与所述芯片输送槽之间留有间隔。
在其中一个实施例中,还包括有抽检装置,所述机架上还设有滑轨,所述滑轨竖立地设于所述芯片输送槽附近,所述抽检装置滑动地安装于所述滑轨上。
在其中一个实施例中,所述机架上还设有竖支架,所述竖支架竖立地设于所述芯片输送槽附近,所述滑轨安装于所述竖支架的侧面,所述竖支架的顶部设有保护带导辊,所述保护带导辊与所述芯片输送槽之间留有间隔。
在其中一个实施例中,所述芯片输送槽的底部设有容纳孔,所述入料探头安装于所述容纳孔中。
在其中一个实施例中,所述机架上还设有横支架,所述横支架设于所述芯片输送槽的上方,所述横支架上设有调节孔,所述第一探头穿过所述调节孔安装于所述横支架上,所述调节孔的内壁与所述第一探头之间留有调节间隙。
在其中一个实施例中,还包括有第一动力装置、第二动力装置,所述第一动力装置与所述第一卷轴对接,所述第二动力装置与所述第二卷轴对接。
本实用新型的有益效果在于:
1、芯片条带两端卷绕第一卷轴和第二卷轴上,芯片条带中部平贴于芯片输送槽上,芯片输送槽引导、限制芯片条带的输送位置,使第一计数探头、第二计数探头对准芯片条带的用于计数的位置,使计数更精准,芯片输送槽;并且,芯片输送槽只接触芯片条带两侧的部分,避让芯片条带上的芯片,可以保护芯片。当入料探头检测到有芯片存在时(即此时有芯片被输送至第一计数探头位置),立即指示第一计数探头开始检测芯片数量;当入料探头检测到没有芯片进入时(即此时芯片离开第一计数探头位置),立即指示第一计数探头停止检测芯片数量;由此,第一计数探头检测到芯片的总数量,通过入料探头来指示第一计数探头开始计数和停止计数,实现对芯片的全自动计数,效率高,节约人工。从芯片输送槽的一端至另一端方向为芯片输送方向(在这个方向上可以双向输送),垂直于芯片输送方向的截面为芯片输送槽的横截面,第一计数探头、入料探头与芯片输送槽的同一横截面平齐设置,芯片达到入料探头的同时即进入第一计数探头,芯片离开入料探头的同时即离开第一计数探头,对芯片的计数精确。
2、第一动力装置与第一卷轴对接,可以驱动第一卷轴,第二动力装置与第二卷轴对接可以驱动第二卷轴,根据需要,可以实施芯片的正向输送和反向输送。当正向输送芯片时,第一动力装置驱动第一卷轴旋转,第一卷轴是主动轴,第二卷轴是从动轴,芯片从第一卷轴输送至第二卷轴;当反向输送芯片时,第二动力装置驱动第二卷轴旋转,第二卷轴是主动轴,第一卷轴是从动轴,芯片从第二卷轴输送至第一卷轴。由于芯片可以正向输送和反向输送,在截取了一部分芯片条带后,可以退后芯片条带重新计数。
附图说明
图1为本实用新型实施例计数装置的整体结构图;
图2为本实用新型实施例计数装置的局部结构图;
图3为图2中A的放大视图;
图4为本实用新型实施例计数装置的局部结构图;
图5为本实用新型实施例中芯片条带计数示意图。
附图标记说明:
11、第一卷轴,12、第二卷轴,13、第一辊,14、第二辊,15、第三辊,16、第四辊,17、保护带导辊,21、芯片条带,22、保护带,23a、合格芯片,23b、不合格芯片,31、第一计数探头,32、第二计数探头,33、入料探头,34、第一输送槽34,35、第二输送槽35,41、抽检装置41,42、竖支架42,43、滑轨43。
具体实施方式
下面对本实用新型的实施例进行详细说明:
如图1至5所示,计数装置包括:机架、第一计数探头31、第二计数探头32、入料探头33、第一动力装置(未在图中示出)、第二动力装置(未在图中示出)、抽检装置41。
机架上设有:第一卷轴11、第二卷轴12、芯片输送槽、成对设置的第一辊13和第二辊14、成对设置的第三辊15和第四辊16。
芯片输送槽的槽底还设有第一输送槽34、第二输送槽35,分别与芯片条带上的两排芯片相对应,引导芯片输送方向,利于计数,同时可以保护芯片不受损伤。第一卷轴11、第二卷轴12位于芯片输送槽的两端,第一卷轴11、芯片输送槽、第二卷轴12构成芯片输送通道。第一辊13、第二辊14位于第一卷轴11与芯片输送槽之间,第一辊13、第二辊14之间留有间隙;第三辊15、第四辊16位于第二卷轴12与芯片输送槽之间,第三辊15、第四辊16之间留有间隙。芯片条带21的两端卷绕在第一卷轴11或第二卷轴12上,芯片条带21中间依次穿过第一辊13与第二辊14之间的间隙、芯片输送槽、第三辊15与第四辊16之间的间隙,第一辊13、第二辊14、第三辊15、第四辊16牵引拉直芯片条带21,使芯片条带21平整的通过计数区域。
如图2-4所示,第一辊13表面设有两道第一退让槽,第二辊14表面设有两道第二退让槽,两道第一退让槽分别与两道第二退让槽对齐。芯片条带21上芯片排成两排,当芯片条带21穿设于第一辊13、第二辊14之间时,两排芯片恰好分别通过两道第一退让槽和第二退让槽组成的通道,保护芯片不受损坏,同时,第一退让槽的槽壁与第二退让槽的槽壁可以压紧芯片条带21上不包含芯片的部分,使芯片条带21平直整齐的通过第一计数探头31、第二计数探头32、入料探头33,提计数精度。类似的,第三辊15表面设有两道第三退让槽,第四辊16表面设有两道第四退让槽,两道第三退让槽分别与两道第四退让槽对齐。
第一动力装置与第一卷轴11对接,并且可以驱动第一卷轴11,第二动力装置与第二卷轴12对接,并且可以驱动第二卷轴12,根据需要,可以实施芯片的正向输送和反向输送。当正向输送芯片时,第一动力装置驱动第一卷轴11旋转,第一卷轴11是主动轴,第二卷轴12是从动轴,芯片从第二卷轴12输送至第一卷轴11;当反向输送芯片时,第二动力装置驱动第二卷轴12旋转,第二卷轴12是主动轴,第一卷轴11是从动轴,芯片从第一卷轴11输送至第二卷轴12。
机架上还设有竖支架42,竖支架42竖立于芯片输送槽附近,滑轨43安装于竖支架42的侧面,抽检装置41滑动地安装于滑轨43上,抽检装置41可以上下移动,当抽检装置41向下移动抵近芯片条带21时,可以检测其对准的芯片的状态,在芯片计数的过程中,可以随时降下抽检装置41对芯片进行随机抽检,检测完成后上升抽检装置41,抽检装置41远离芯片条带21,不对芯片进行检测;也可以由控制器按照一定的规律控制抽检装置41进行抽检。抽检装置41可以是ATR检测装置,可以是其他检测装置。
竖支架42的顶部设有保护带导辊17,保护带导辊17设于芯片输送槽上方,第一卷轴11、保护带导辊17的上方、第二卷轴12之间构成保护带22输送通道。为保护芯片,通常芯片条带21上盖设一层保护带22,在对芯片进行计数时,需要先把保护带22从芯片条带21上剥离,计数后再将保护带22重新覆盖至芯片条带21上。当芯片条带21从第一卷轴11输送至第二卷轴12时,保护带22在上、芯片条带21在下,保护带22通过保护带导辊17与芯片条带21剥离,再在第二卷轴12的位置使保护带22重新覆盖在芯片条带21上。输送方向相反时过程类似。
第一计数探头31、第二计数探头32、入料探头33均位于芯片输送槽附近,位于芯片输送通道的上方。第一计数探头31与入料探头33在芯片输送槽的宽度方向并排设置,第二计数探头32与第一计数探头31邻近设置,第二计数探头32与第一计数探头31在芯片输送槽的宽度方向相错开。
机架上还设有横支架,横支架横设于芯片输送槽的上方,横支架上设有调节孔(图中未示出,可以是长形孔,也可以是圆孔或其他形状的孔),第一计数探头31穿过调节孔安装于横支架上,调节孔的内壁与第一计数探头31之间留有调节间隙,使第一计数探头31可以在芯片输送通道的宽度方向上左右移动,可以对不同规格的芯片条带21进行计数。芯片输送槽的底部设有容纳孔,入料探头33容纳于容纳孔中,方便调节第一计数探头31的位置。
如图5所示,第一计数探头31用于检测芯片的总数量;芯片条带21上设有总数计数孔,当总数计数孔通过第一计数探头31下方时,第一计数探头31可以检测到并且计数。总数计数孔包括第一计数孔24、第二计数孔25。芯片条带21的两侧均设有第一计数孔24、第二计数孔25,第一计数孔24较第二计数孔25更靠近芯片条带21的边沿。第一计数孔24的个数与芯片的个数之比为1:1,即当统计到N个第一计数孔24时,实际统计到N个芯片。第二计数孔25的个数与芯片的个数之比为1:2,即当统计到M个第二计数25孔时,实际统计到2M个芯片。调节第一计数探头31的位置,可以适用不同的总数计数孔,当第一计数探头31安装于靠左边的位置时,第一计数探头31对准第一计数孔24,当第一计数探头31安装于靠右边的位置时,第一计数探头31对准第二计数孔25。
第二计数探头32用于检测不合格芯片23b的数量;芯片条带21上的不合格芯片23b本身已经打孔(合格芯片23a是完整的、不打孔的),不合格芯片23b上的孔即是不合格计数孔,当不合格计数孔通过第二计数探头32下方时,第二计数探头32可以检测到并且计数。
入料探头33用于检测芯片输送通道上是否有芯片,当入料探头33检测到有芯片存在时(即此时有芯片被输送至第一计数探头31位置),立即指示第一计数探头开始检测芯片数量;当入料探头33检测到没有芯片进入时(即此时芯片离开第一计数探头31位置),立即指示第一计数探头停止检测芯片数量;由此,通过入料探头33来指示第一计数探头31开始计数和停止计数,实现对芯片的全自动计数,效率高,节约人工。并且,由于第一计数探头31与入料探头33在芯片输送槽的宽度方向上并排设置,芯片达到入料探头33的同时即进入第一计数探头31,芯片离开入料探头33的同时即离开第一计数探头31,对芯片的计数精确。
对芯片条带21进行计数时,将保护带22剥离,将芯片条带21与保护带22分别在芯片输送条通道、保护带22输送通道上设置好,启动计数装置,芯片条带21经过入料探头33时,第一计数探头31、第二计数探头32开始计数,当芯片条带21离开入料探头33时,第一计数探头31、第二计数探头32停止计数。由此,第一计数探头31记录芯片的总数量,第二计数探头32记录不合格芯片23b的数量,最终,芯片的总数量-不合格芯片的数量=合格芯片的数量。
由于芯片可以正向输送和反向输送,当计数到预定数量时,可以截取所需的部分芯片条带21,在截取了一部分芯片条带21后,可以退后芯片条带21重新计数。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (9)
1.一种计数装置,其特征在于,包括有机架,机架上设有芯片输送槽、第一卷轴、第二卷轴,芯片输送槽位于第一卷轴、第二卷轴之间;
还包括有第一计数探头、第二计数探头、用于检测芯片输送槽上是否有芯片的入料探头;
其中,第一计数探头、第二计数探头、入料探头均位于芯片输送槽附近,第一计数探头、入料探头在芯片输送槽的同一横截面上平齐设置,第二计数探头与第一计数探头邻近设置。
2.根据权利要求1所述的计数装置,其特征在于,机架上还设有:成对设置的第一辊、第二辊,成对设置的第三辊、第四辊;
其中,第一辊、第二辊位于第一卷轴与芯片输送槽之间,第三辊、第四辊位于第二卷轴与芯片输送槽之间。
3.根据权利要求2所述的计数装置,其特征在于,所述第一辊表面设有第一退让槽,所述第二辊表面设有第二退让槽,所述第一退让槽与所述第二退让槽对齐;
所述第三辊表面设有第三退让槽,所述第四辊表面设有第四退让槽,第三退让槽与第四退让槽对齐。
4.根据权利要求1所述的计数装置,其特征在于,所述机架上还设有保护带导辊,所述保护带导辊位于所述芯片输送槽上方或下方,并且与所述芯片输送槽之间留有间隔。
5.根据权利要求1所述的计数装置,其特征在于,还包括有抽检装置,所述机架上还设有滑轨,所述滑轨竖立地设于所述芯片输送槽附近,所述抽检装置滑动地安装于所述滑轨上。
6.根据权利要求5所述的计数装置,其特征在于,所述机架上还设有竖支架,所述竖支架竖立地设于所述芯片输送槽附近,所述滑轨安装于所述竖支架的侧面,所述竖支架的顶部设有保护带导辊,所述保护带导辊与所述芯片输送槽之间留有间隔。
7.根据权利要求1至6任一所述的计数装置,其特征在于,所述芯片输送槽的底部设有容纳孔,所述入料探头安装于所述容纳孔中。
8.根据权利要求1至6任一所述的计数装置,其特征在于,所述机架上还设有横支架,所述横支架设于所述芯片输送槽的上方,所述横支架上设有调节孔,所述第一探头穿过所述调节孔安装于所述横支架上,所述调节孔的内壁与所述第一探头之间留有调节间隙。
9.根据权利要求1至6任一所述的计数装置,其特征在于,还包括有第一动力装置、第二动力装置,所述第一动力装置与所述第一卷轴对接,所述第二动力装置与所述第二卷轴对接。
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CN201520486267.6U CN204759482U (zh) | 2015-07-06 | 2015-07-06 | 计数装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN113465674A (zh) * | 2021-07-02 | 2021-10-01 | 北京金辰西维科安全印务有限公司 | 一种芯片检测标记计数方法及其设备 |
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