CN204479616U - 无引线老炼测试插座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种测试工具，具体为无引线老炼测试插座，包括座和盖，所述的盖一端通过轴和扭簧铰接在座一侧，还包括钩通过钩扭簧和钩轴安装在盖另一端；当所述的盖合拢在座上，所述的钩扣在座的另一侧；所述的座上有空腔，空腔用于放置被试器件；所述的盖上还通过压块轴安装有压块，所述的盖翻转盖在座上时，压块位于空腔上方压住放置在空腔内的被试器件。本实用新型提供的无引线老炼测试插座，装配简单，用户可以根据需要在电路板上安装探针，通过可翻转的压块来增加电路板上的探针与被试器件引线接触强度，保证受力均匀，保护被试器件不易被损坏。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试工具，具体为无引线老炼测试插座。
背景技术
目前市面上的老炼测试插座存在以下缺陷，产品不便于装配及安装使用，在老炼和测试过程中被试器件在装夹过程中受力不均匀，对被试器件引出端容易造成变形和损伤；其稳定性差，可靠性低；散热效果差。
实用新型内容
针对上述技术问题，本实用新型提供一种装配方便、被测试器件不易损坏的测试插座，具体的技术方案为：
无引线老炼测试插座，包括座和盖，所述的盖一端通过轴和扭簧铰接在座一侧，还包括钩通过钩扭簧和钩轴安装在盖另一端；当所述的盖合拢在座上，所述的钩扣在座的另一侧；所述的座上有空腔，空腔用于放置被试器件；所述的盖上还通过压块轴安装有压块，所述的盖翻转盖在座上时，压块位于空腔上方压住放置在空腔内的被试器件。
所述的座的空腔下方为散热孔。
所述的压块上安装有印制电路板，印制电路板用于安装探针，盖翻转盖在座上时压块将印制电路板上探针压在被试器件引线上。
本实用新型提供的无引线老炼测试插座，装配简单，用户可以根据需要在电路板上安装探针，通过可翻转的压块来增加电路板上的探针与被试器件引线接触强度，保证受力均匀，保护被试器件不易被损坏。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
结合附图说明本实用新型的具体实施方式，如图1所示，无引线老炼测试插座，包括座1和盖4，所述的盖4一端通过轴2和扭簧3铰接在座1一侧，还包括钩8通过钩扭簧7和钩轴9安装在盖4另一端；当所述的盖4合拢在座1上，所述的钩8扣在座1的另一侧；所述的座1上有空腔10，空腔10用于放置被试器件；所述的盖4上还通过压块轴6安装有压块5，所述的盖4翻转盖在座1上时，压块5位于空腔10上方压住放置在空腔10内的被试器件。
所述的座1的空腔10下方为散热孔11。
所述的压块5上安装有印制电路板，印制电路板用于安装探针，盖4翻转盖在座1上时压块5将印制电路板上探针压在被试器件引线上。
用户根据需要在印制电路板上安装探针，翻转盖4，钩8与座1咬合，盖4上的压块5下压，印制电路板上探针与被试器件的引线充分接触，开始老炼、测试或筛选工作。散热孔11便于被试器件散热。
Claims (3)
1.无引线老炼测试插座，包括座和盖，所述的盖一端通过轴和扭簧铰接在座一侧，还包括钩通过钩扭簧和钩轴安装在盖另一端；当所述的盖合拢在座上，所述的钩扣在座的另一侧；其特征在于：所述的座上有空腔，空腔用于放置被试器件；所述的盖上还通过压块轴安装有压块，所述的盖翻转盖在座上时，压块位于空腔上方压住放置在空腔内的被试器件。
2.根据权利要求1所述的无引线老炼测试插座，其特征在于：所述的座的空腔下方为散热孔。
3. 根据权利要求1或2所述的无引线老炼测试插座，其特征在于：所述的压块上安装有印制电路板，印制电路板用于安装探针，盖翻转盖在座上时压块将印制电路板上探针压在被试器件引线上。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520137791.2U CN204479616U (zh) | 2015-03-10 | 2015-03-10 | 无引线老炼测试插座 |
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| CN201520137791.2U CN204479616U (zh) | 2015-03-10 | 2015-03-10 | 无引线老炼测试插座 |
Publications (1)
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| CN204479616U true CN204479616U (zh) | 2015-07-15 |
Family
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| CN201520137791.2U Expired - Fee Related CN204479616U (zh) | 2015-03-10 | 2015-03-10 | 无引线老炼测试插座 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN204479616U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111239581A (zh) * | 2020-03-16 | 2020-06-05 | 北京工业大学 | 一种单管半导体激光器老化测试装置 |
| CN116381282A (zh) * | 2023-03-07 | 2023-07-04 | 浙江东瓷科技有限公司 | 一种小截距多引线封装外壳老炼测试插座 |
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2015
- 2015-03-10 CN CN201520137791.2U patent/CN204479616U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN111239581A (zh) * | 2020-03-16 | 2020-06-05 | 北京工业大学 | 一种单管半导体激光器老化测试装置 |
| CN116381282A (zh) * | 2023-03-07 | 2023-07-04 | 浙江东瓷科技有限公司 | 一种小截距多引线封装外壳老炼测试插座 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C56 | Change in the name or address of the patentee | ||
| CP02 | Change in the address of a patent holder |
Address after: 313119, 8, Zhenxing Road, Huai Yuan village, Huzhou, Zhejiang, Changxing County Patentee after: Zhejiang Changxing Electronic Factory Co., Ltd. Address before: No. 8, Zhenxing Road, Huai Lu Village, Wuxi, Jiangsu, Changxing County Patentee before: Zhejiang Changxing Electronic Factory Co., Ltd. |
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20150715 Termination date: 20160310 |
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |