CN204390061U - 有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，包括张网设备和应力回馈系统，张网设备包括金属框、张设于金属框内的有机屏蔽片，以及作用于金属框的施力装置，应力回馈系统包括控制单元以及连接控制单元的压电感应器，压电感应器设于金属框，控制单元连接施力装置。本实用新型通过在金属框上安装压电感应器，实时侦测金属框物理形变并转化为电信号，控制单元根据该电信号向施力装置发出控制信号，控制施力装置对金属框施加一作用力以平衡金属框的物理形变，从而确保张网后有机屏蔽片的精度，有效避免有机屏蔽片与金属框变形而影响蒸镀品质，增加有机屏蔽片的使用频率，减少成本，有效提高蒸镀的产能。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种有机屏蔽片的制作工艺，尤其涉及一种有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置及其方法。
背景技术
参阅图1所示，现有的有机屏蔽片张网设备主要由一金属框21、张设于金属框21内的有机屏蔽片22，以及作用于该金属框21的施力装置(图中未显示施力装置)构成，在张网前，先利用内拉或外推的方式施予金属框21一作用力模拟张网后有机屏蔽片22的反作用力，使得张网焊接后金属框21所受的应力维持不变，使有机屏蔽片22内精度维持精准。但反作用力的给予，需靠经验与多次测试方可正确给予与控制。而本专利揭露了一种可以有效即时侦测应力变化与回馈的方法，更有效的防止张网后屏蔽片的反作用力导致失去精度。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种可以即时侦测与回馈有机屏蔽片张网应力，有效防止有机屏蔽片张网后由于反作用力导致的精度不佳等问题的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置及其方法。
为实现上述技术效果，本实用新型公开了一种有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，包括一张网设备和一应力回馈系统，所述张网设备包括一金属框、张设于所述金属框内的有机屏蔽片，以及作用于所述金属框上的施力装置，所述应力回馈系统包括一控制单元以及连接所述控制单元的压电感应器，所述压电感应器设于所述金属框上，所述控制单元进一步控制连接所述施力装置。
本实用新型由于采用了以上技术方案，使其具有以下有益效果是：在张网设备的金属框上安装压电感应器，利用压电感应器实时侦测金属框细微的物理形变并转化为电信号，发送至控制单元，控制单元再根据该电信号向施力装置发出控制信号，控制施力装置对金属框施加一作用力以平衡金属框的物理形变，从而确保张网后有机屏蔽片的精度，有效避免有机屏蔽片与金属框变形而影响蒸镀品质，增加有机屏蔽片的使用频率，减少成本，有效提高蒸镀的产能。
本实用新型进一步的改进在于，所述金属框为一矩形框体，包括沿第一方向设置的两第一侧边和沿第二方向设置的两第二侧边，且所述第一方向垂直于所述第二方向。
本实用新型进一步的改进在于，所述压电感应器对称设置于所述两第一侧边上，用于感应所述两第一侧边的物理形变。对金属框两第一侧边的物理形变进行实时侦测。
本实用新型进一步的改进在于，所述施力装置沿所述第二方向分别对所述两第一侧边施加作用力。通过压电感应器实时侦测到的金属框两第一侧边的物理形变控制施力装置对两第一侧边施加作用力，以抵消张网后有机屏蔽片的物理形变而引起的金属框的物理形变，有效避免有机屏蔽片与金属框变形而影响蒸镀品质。
本实用新型进一步的改进在于，所述两第一侧边中部的物理形变要对于所述两第一侧边两端的物理形变，所述施力装置对所述两第一侧边中部施加的作用力大于对所述两第一侧边两端施加的作用力。因为有金属框的物理形变，才需要施力装置的作用力，而一般情况下金属框中部的物理形变会大于两端的物理形变，所以为了确保张网后的精度，会根据物理形变的不同施加不同大小的作用力。
本实用新型进一步的改进在于，所述两第一侧边中部的物理形变要对于所述两第一侧边两端的物理形变，所述施力装置对所述两第一侧边施加的所述作用力由所述两第一侧的中部向所述两第一侧的两端逐渐减小。
本实用新型进一步的改进在于，所述应力回馈系统还包括用于测量所述金属框与所述有机屏蔽片之间的偏移状态的一CCD对位单元，所述CCD对位单元连接于所述控制单元。以现有的镀膜机内CCD对位单元搭配1至3组施力装置，通过量测偏移状态回馈微力控制单元，有效针对金属框与有机屏蔽片的变形进行微调。
本实用新型进一步的改进在于，所述金属框为弹性框体，所述压电感应器包括相互连接的一传感器单元和一信号转换单元，所述信号转换单元连接于所述控制单元，所述传感器单元用于侦测所述金属框的物理形变，所述信号转换单元用于将所述物理形变转换为电信号并输出至所述控制单元。在张网过程中利用压电感应器实时侦测金属框的物理形变，并将物理形变转换为电信号回传至控制单元；控制单元基于回传的电信号控制施力装置施加作用力，以平衡金属框的物理形变。
本实用新型进一步的改进在于，所述金属框的物理形变等于所述有机屏蔽片张网后的形变。
附图说明
图1是现有的有机屏蔽片张网应力控制装置的示意图。
图2是本实用新型有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置的张网设备的结构示意图。
图3是本实用新型有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置的应力回馈系统的功能模块示意图。
具体实施方式
下面结合附图以及具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
本实用新型的一种有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置主要由一张网设备和一应力回馈系统构成。
首先参阅图2所示，张网设备主要包括一金属框11、张设于金属框11内的有机屏蔽片12，以及作用于金属框11上的施力装置13。金属框11为一矩形框体，包括沿第一方向101设置的两第一侧边111和沿第二方向102设置的两第二侧边112，第一方向101垂直于第二方向102。施力装置13沿第二方向102分别对两第一侧边111施加作用力，对物理形变大的位置施加的作用力大于物理形变小的位置。因为有金属框的物理形变，才需要施力装置的作用力，而一般情况下金属框中部的物理形变要大于两侧的物理形变，所以为了确保张网后的精度，会根据物理形变的大小不同来施加不同大小的作用力，施力装置13对物理形变相对较大的位置施加的作用力大于对物理形变相对较小的位置施加的作用力。所以，施力装置13在施力时，对两第一侧边111施加的作用力由两第一侧111的中部向两第一侧111的两端逐渐减小，对金属框11两第一侧边111中部施加的作用力F1最大，而对两第一侧边111两端施加的作用力F2最小。
再配合图3所示，应力回馈系统主要包括一控制单元14以及连接控制单元14的压电感应器15。压电感应器15对称设置于金属框11的两第一侧边111上，对金属框11两第一侧边111的物理形变进行实时侦测。控制单元14控制连接施力装置13。
进一步地，金属框11为可发生形变的弹性框体，压电感应器15内部包括相互连接的一传感器单元和一信号转换单元，信号转换单元进一步连接于控制单元14，传感器单元安装于金属框11两第一侧边111的内侧，用于侦测金属框11两第一侧边111的物理形变，信号转换单元则用于将上述物理形变转换为电信号并输出至控制单元14。在有机屏蔽片12张网过程中利用压电感应器15实时侦测金属框的物理形变，并将物理形变转换为电信号回传至控制单元14，控制单元14再基于回传的电信号控制施力装置13施加作用力，以平衡金属框11的物理形变，其中，金属框11发生的物理形变是由有机屏蔽片12发生的形变所致的，且金属框11的物理形变等于有机屏蔽片12张网后的形变。
作为本实用新型的较佳实施方式，在金属框11的两第一侧边111的中部及两侧分别对称设置压电感应器15，并使施力装置13分别对压电感应器15所在位置处设置施力点，在压电感应器15侦测到金属框11的物理形变后，施力装置13可以针对压电感应器15所侦测位置发生的物理形变进行调整，对所述物理形变大的位置施加的作用力大于物理形变小的位置，以克服侦测位置的物理形变，准确地进行调整金属框11和有机屏蔽片12，提高微调效率和微调精度。
进一步地，应力回馈系统还包括用于测量金属框11与有机屏蔽片12之间的偏移状态的一CCD对位单元，该CCD对位单元进一步连接控制单元14，以现有的镀膜机内CCD对位单元搭配1至3组施力装置13，通过量测金属框11与有机屏蔽片12之间的偏移状态回馈微力控制单元14，有效针对金属框11与有机屏蔽片12的变形进行微调。
本实用新型的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置通过在张网设备的金属框11上安装压电感应器15，利用压电感应器15实时侦测金属框11细微的物理形变并转化为电信号，发送至控制单元14，控制单元14再根据该电信号向施力装置13发出控制信号，控制施力装置13对金属框11施加一作用力以平衡金属框11和有机屏蔽片12的物理形变，从而确保张网后有机屏蔽片12的精度，有效避免有机屏蔽片12与金属框11变形而影响蒸镀品质，增加有机屏蔽片12的使用频率，减少成本，有效提高蒸镀的产能。
本实用新型的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置在使用时，主要通过以下步骤：
提供一金属框11；
在金属框11上设置压电感应器15；
通过施力装置13对金属框15施加作用力，用于模拟张网后有机屏蔽片12的反作用力；
将有机屏蔽片12张网焊接于金属框11内；
在张网过程中利用压电感应器15实时侦测金属框11的细微物理形变，并将侦测到的物理形变转换为电信号回传至一控制单元14；
控制单元14基于回传的电信号控制施力装置13对金属框11施加作用力，以平衡金属框11的物理形变。
以上结合附图实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域中普通技术人员可根据上述说明对本实用新型做出种种变化例。因而，实施例中的某些细节不应构成对本实用新型的限定，本实用新型将以所附权利要求书界定的范围作为本实用新型的保护范围。
Claims (9)
1.一种有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，其特征在于：所述装置包括一张网设备和一应力回馈系统，所述张网设备包括一金属框、张设于所述金属框内的有机屏蔽片，以及作用于所述金属框上的施力装置，所述应力回馈系统包括一控制单元以及连接所述控制单元的压电感应器，所述压电感应器设于所述金属框上，所述控制单元进一步控制连接所述施力装置。
2.如权利要求1所述的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，其特征在于：所述金属框为一矩形框体，包括沿第一方向设置的两第一侧边和沿第二方向设置的两第二侧边，且所述第一方向垂直于所述第二方向。
3.如权利要求2所述的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，其特征在于：所述压电感应器对称设置于所述两第一侧边上，用于感应所述两第一侧边的物理形变。
4.如权利要求3所述的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，其特征在于：所述施力装置沿所述第二方向分别对所述两第一侧边施加作用力。
5.如权利要求4所述的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，其特征在于：所述两第一侧边中部的物理形变要对于所述两第一侧边两端的物理形变，所述施力装置对所述两第一侧边中部施加的作用力大于对所述两第一侧边两端施加的作用力。
6.如权利要求4所述的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，其特征在于：所述两第一侧边中部的物理形变要对于所述两第一侧边两端的物理形变，所述施力装置对所述两第一侧边施加的所述作用力由所述两第一侧的中部向所述两第一侧的两端逐渐减小。
7.如权利要求1所述的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，其特征在于：所述应力回馈系统还包括用于测量所述金属框与所述有机屏蔽片之间的偏移状态的一CCD对位单元，所述CCD对位单元连接于所述控制单元。
8.如权利要求1所述的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，其特征在于：所述金属框为弹性框体，所述压电感应器包括相互连接的一传感器单元和一信号转换单元，所述信号转换单元连接于所述控制单元，所述传感器单元用于侦测所述金属框的物理形变，所述信号转换单元用于将所述物理形变转换为电信号并输出至所述控制单元。
9.如权利要求8所述的有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置，其特征在于：所述金属框的物理形变等于所述有机屏蔽片张网后的形变。
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| CN201420806818.8U CN204390061U (zh) | 2014-12-17 | 2014-12-17 | 有机屏蔽片张网应力侦测与微控制的装置 |
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| CN (1) | CN204390061U (zh) |
Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| WO2019071696A1 (zh) * | 2017-10-09 | 2019-04-18 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 张网设备 |
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2014
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