CN203572476U - 一种不通光孔转台相交度检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种不通光孔转台相交度检测系统，包括同时安装在不通光孔转台被测轴系一端的第一靶标和第二靶标，安装在不通光孔转台被测轴系另一端的第三靶标，以及用于检测转台相交度的经纬仪；所述经纬仪通过不通光孔转台被测轴系一端的第一靶标和第二靶标，能够找到与不通光孔转台被测轴系同心的轴线。本实用新型所述不通光孔转台相交度检测系统，可以克服现有技术中测量准确性差和实施难度大等缺陷，以实现测量准确性好和使用方便的优点。

Description

一种不通光孔转台相交度检测系统

技术领域

本实用新型涉及转台测量设备技术领域，具体地，涉及一种不通光孔转台相交度检测系统。 

背景技术

转台轴线相交度，是指转台正交的各个旋转轴线（两两正交直线间）的距离，不能超出直径为相交度数值大小的球体范围。相交度测量，因为是测量虚拟的旋转轴线间的距离，存在建立可测轴线基准、测量虚拟距离等一系列难点。 

以往的相交度测量方法有经纬仪测量法等，要求轴系中间能够通光，这样经纬仪才能透过中间通光孔看到轴系两端的十字靶标。 

在实现本实用新型的过程中，发明人发现现有技术中至少存在测量准确性差和实施难度大等缺陷。 

发明内容

本实用新型的目的在于，针对上述问题，提出一种不通光孔转台相交度检测系统，以实现测量准确性好和使用方便的优点。 

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种不通光孔转台相交度检测系统，包括同时安装在不通光孔转台被测轴系一端的第一靶标和第二靶标，安装在不通光孔转台被测轴系另一端的第三靶标，以及用于检测转台相交度的经纬仪；所述经纬仪通过不通光孔转台被测轴系一端的第一靶标和第二靶标，能够找到与不通光孔转台被测轴系同心的轴线。 

进一步地，以上所述的不通光孔转台相交度检测系统，还包括支架，所述第一靶标和第二靶标同时安装在所述支架上。 

进一步地，所述支架，包括两个过渡板，以及用于将所述两个过渡板连接在一起的螺杆；所述第一靶标和第二靶标，分别安装在两个过渡板上； 

所述两个过渡板支架的距离，至少应该在保证刚度的条件下，使经纬仪能够读取第一靶标和第二靶标；所述第一靶标和第二靶标的中心能够通光。 

进一步地，在所述两个过渡板上，分别安装有靶标固定座；所述第一靶标和第二靶标，分别安装在两个过渡板的靶标固定座上。 

进一步地，在所述支架的端部，设有与不通光孔转台被测轴系的轴固定设置的安装孔；所述支架，通过端部的安装孔，安装在不通光孔转台被测轴系的轴端。 

进一步地，所述第一靶标、第二靶标和第三靶标，均包括十字靶标。 

本实用新型各实施例的不通光孔转台相交度检测系统，由于包括同时安装在不通光孔转台被测轴系一端的第一靶标和第二靶标，安装在不通光孔转台被测轴系另一端的第三靶标，以及用于检测转台相交度的经纬仪；经纬仪通过不通光孔转台被测轴系一端的第一靶标和第二靶标，能够找到与不通光孔转台被测轴系同心的轴线；可以在不通光孔转台相交度检测时，利用经纬仪较为精确地测量出相交度；从而可以克服现有技术中测量准确性差和实施难度大的缺陷，以实现测量准确性好和使用方便的优点。 

本实用新型的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。 

下面通过附图和实施例，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。 

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中： 

图1为通光孔转台相交度检测原理示意图； 

图2为不通光孔转台相交度检测原理示意图。 

图3为轴系一端安装两个靶标的工装（即双靶标安装工装）结构示意图。 

结合附图，本实用新型实施例中附图标记如下： 

1-第一靶标；2-第二靶标；3-支架。 

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。 

传统的转台相交度检测方法要求轴系中间能够通光，这样经纬仪才能透过中间通光孔看到轴系两端的十字靶标。对于不通光孔转台的相交度检测，不能沿用传统的方法，必须解决如何利用靶标找到不通光孔轴线的方法。 

参见图1，在一轴系两端分别安装十字靶标（图1中的视点A、B），建立该旋转轴系，通过这两个十字靶标，将经纬仪的视点调节到与该轴系同心，即经纬仪视点在该轴线的延长线上，然后旋转与该轴系正交的另一轴系，读出正交轴旋转前和旋转后 轴头靶标在经纬仪中的夹角，通过计算即可算出这两轴系间的距离（图1中的视点D）。这种方法要求轴系中间能够通光，这样经纬仪才能透过中间通光孔看到轴系两端的十字靶标。 

根据本实用新型实施例，如图2和图3所示，提供了一种不通光孔转台相交度检测系统，在转台相交度检测时应用。 

参见图2和图3，本实施例的不通光孔转台相交度检测系统，包括同时安装在不通光孔转台被测轴系一端的第一靶标（如第一靶标1）和第二靶标（如第二靶标2），安装在不通光孔转台被测轴系另一端的第三靶标，以及用于检测转台相交度的经纬仪；经纬仪通过不通光孔转台被测轴系一端的第一靶标和第二靶标，能够找到与不通光孔转台被测轴系同心的轴线；还包括支架（如支架3），第一靶标和第二靶标同时安装在支架上。第一靶标、第二靶标和第三靶标，均可以是十字靶标。 

其中，上述支架，包括两个过渡板，以及用于将两个过渡板连接在一起的螺杆；第一靶标和第二靶标，分别安装在两个过渡板上；两个过渡板支架的距离，至少应该在保证刚度的条件下，使经纬仪能够读取第一靶标和第二靶标；第一靶标和第二靶标的中心能够通光。在两个过渡板上，分别安装有靶标固定座；第一靶标和第二靶标，分别安装在两个过渡板的靶标固定座上。在支架的端部，设有与不通光孔转台被测轴系的轴固定设置的安装孔；支架，通过端部的安装孔，安装在不通光孔转台被测轴系的轴端。 

上述实施例的不通光孔转台相交度检测系统，在被测轴系一端，同时安装两个靶标（如十字靶标），在另一端再安装一个靶标（如十字靶标），这样经纬仪在和旋转轴线找同心时，就不用透过光孔找另一端的靶标，只要找正轴系一端的两个靶标即可；可以解决轴系不通光无法透视的难点，实现转台不通光孔相交度的精密检测。 

上述实施例的不通光孔转台相交度检测系统，在轴系一端同时安装两个十字靶标。特设计一工装，实现将两个靶标同时安装在这工装上，两靶标中心可以通光，工装安装在轴系一端；利用这两个靶标使经纬仪找到轴线、并对准轴线。 

参见图2，对于轴系不通光的情况，经纬仪无法通过轴系两头的靶标找到轴线，因此在轴系一端同时放置两个靶标（图3中的视点B、C），将两个靶标均调整到旋转中心，这样，两点确定一直线，经纬仪可通过这两点找到轴线，且把视点调整到轴线上。然后旋转与该轴系正交的另一轴系，读出正交轴旋转前和旋转后轴头靶标在经纬仪中的夹角，通过计算即可算出这两轴系间的距离（图2中的视点D），得到相交 度数值。 

参见图3，该工装将两个靶标同时安装在一个支架上，支架一端设计有与轴固定的孔，使其可以安装在轴端。支架由两个过渡板通过螺杆连接在一起，两过渡板上分别安装靶标固定座，两过渡板的距离要在保证刚度的前提下尽量大，以便于经纬仪读两靶标时能得到高的分辨率。同时两靶标中心可以通光。 

综上所述，本实用新型上述各实施例的不通光孔转台相交度检测系统的有益效果是，可以在不通光孔转台相交度检测时，利用经纬仪较为精确地测量出相交度。 

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。 

Claims (6)

1.一种不通光孔转台相交度检测系统，其特征在于，包括同时安装在不通光孔转台被测轴系一端的第一靶标和第二靶标，安装在不通光孔转台被测轴系另一端的第三靶标，以及用于检测转台相交度的经纬仪；所述经纬仪通过不通光孔转台被测轴系一端的第一靶标和第二靶标，能够找到与不通光孔转台被测轴系同心的轴线。 

2.根据权利要求1所述的不通光孔转台相交度检测系统，其特征在于，还包括支架，所述第一靶标和第二靶标同时安装在所述支架上。 

3.根据权利要求2所述的不通光孔转台相交度检测系统，其特征在于，所述支架，包括两个过渡板，以及用于将所述两个过渡板连接在一起的螺杆；所述第一靶标和第二靶标，分别安装在两个过渡板上； 

所述两个过渡板支架的距离，至少应该在保证刚度的条件下，使经纬仪能够读取第一靶标和第二靶标；所述第一靶标和第二靶标的中心能够通光。 

4.根据权利要求3所述的不通光孔转台相交度检测系统，其特征在于，在所述两个过渡板上，分别安装有靶标固定座；所述第一靶标和第二靶标，分别安装在两个过渡板的靶标固定座上。 

5.根据权利要求3所述的不通光孔转台相交度检测系统，其特征在于，在所述支架的端部，设有与不通光孔转台被测轴系的轴固定设置的安装孔；所述支架，通过端部的安装孔，安装在不通光孔转台被测轴系的轴端。 

6.根据权利要求1-5中任一项所述的不通光孔转台相交度检测系统，其特征在于，所述第一靶标、第二靶标和第三靶标，均包括十字靶标。 

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