CN202362399U - 半导体集成块自动测试设备的测试导轨 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体集成块自动测试设备的测试导轨，其特征在于：设计一平面导轨（20），导轨上端固接有一放管箱（1），测试导轨中上部位置水平对称固接有带电磁阀的左测试气缸（13）和右测试气缸（14），测试气缸推出部分别固定左测试针座（12）、右测试针座（9），测试气缸下水平固接有一带电磁阀的废品挡料气缸（16）和废品气缸（17），测试轨道表面下端固接有一出料压板（18），出料压板将出口分为正品出料口（22）和废品出料口（23），出料压板与放管箱之间固接有一导轨压板（8）。本实用新型半导体集成块自动测试设备的测试导轨采用了电磁阀与气缸的结合，同时将程序控制系统PLC与气动控制进行了完美的组合，提高了工效和精确度。

Description

半导体集成块自动测试设备的测试导轨

技术领域

本实用新型涉及一种导轨，尤其涉及一种半导体集成块自动测试设备的测试导轨。 

技术背景

众所周知，半导体集成块都是由专业生产厂家自动化生产出来，虽说也经过了一些检测，但不可避免产品当中存在有少量的废品。这对半导体集成块生产厂家来说有一定的废品率是正常的，但对使用半导体集成块生产其它设备的厂家来说，将一个废的集成块装入设备就相当生产了一台废设备。所以，使用半导体集成块的厂家都要对购入的半导体集成块进行测试、测试合格后方可使用。而目前一般是采用半导体集成块专用测试仪，从装集成块的管中取出集成块，用人工一个个去测集成块，时间一长，工人就会发生疲劳，从而导致测试的误差，很可能又将废品放在正品里了。目前也无专用测试设备的报道及上市销售。 

实用新型内容

本实用新型的目的在于为了克服现有技术的不足而提供一种适用于半导体集成块自动测试设备达到自动、准确、高效目的的半导体集成块自动测试设备的测试导轨。其技术方案为：设计一平面导轨，导轨上端固接有一放管箱，测试导轨中上部位置水平对称固接有带电磁阀的左测试气缸和右测试气缸，测试气缸推出部分别固定左测试针座、右测试针座，测试气缸下水平固接有一带电磁阀的废品挡料气缸和废品气缸，测试轨道表面下端固接有一出料压板，出料压板将出口分为正品出料口和废品出料口，出料压板与放管箱之间固接有一导轨压板。 

为了不因没有测试产品影响自动测试设备连续工作，导轨压板上部安装有一空管检测红外线感应器，放管箱装料一侧的机架上固接一换管气缸，换管气缸推出部上固接一进料换管定位板，放管箱内设置有进料退管定位槽，放管箱一侧为空管箱，空管箱上固接有一挡空胶管压板。 

为了对测试产品准确定位，测试导轨上固定有左测试定位板和右测试定位板，导轨压板上对着测试位的位置上固定有一有料检测红外线感应器，测试导轨上还设有入料口产品定位槽和测试位产品定位槽，测试位产品定位槽下设有正品导入槽。 

为了不因测试后产品装满胶管而影响自动测试设备连续工作，出料压板一侧的机架上固定有一出料气缸，出料压板上表面还分别固定有废品通道检测红外线感应器和正品通道检测红外线感应器。 

使用本实用新型半导体集成块自动测试设备的测试导轨时，将其安装在半导体集成块自动测试设备上，连接压力气源，打开电源开关，将半导体集成块专用测试仪与自动测试设备相连，将转换开关切换到自动档上，在放管箱内装上装有集成块的胶管，胶管内的集成块就会沿斜面自动下滑，进入到测试位，测试气缸推动测试针座对集成块进行测试，根据集成块专用测试仪发出的正品或废品信号，程序控制系统PLC向相应的执行机构发出指定，指挥各气缸工作，将测试后的产品分别放入插在正品出料口和废品出料口的正品胶管或废品胶管。并根据进出料胶管的情况发出更换胶管的指令，进行胶管的更换。 

从本实用新型的技术方案可以看出，由于本实用新型半导体集成块自动测试设备的测试导轨采用了电磁阀与气缸的结合，同时将程序控制系统PLC与气动控制进行了完美的组合，所有动作都是在程序控制器控制下进行工作，不但避免了人为的失误，而且一人可以看管多台检测设备，提高了工效和精确度。完全达到了本实用新型自动、准确、高效的发明目的。 

附图说明

图1是本实用新型半导体集成块自动测试设备的测试导轨的结构示意图。 

具体实施方式

    实施例1，参见附图1，设计一平面导轨20，导轨上端固接有一放管箱1，测试导轨中上部位置水平对称固接有带电磁阀的左测试气缸13和右测试气缸14，测试气缸推出部分别固定左测试针座12、右测试针座9，测试气缸下水平固接有一带电磁阀的废品挡料气缸16和废品气缸17，测试轨道表面下端固接有一出料压板18，出料压板将出口分为正品出料口22和废品出料口23，出料压板与放管箱之间固接有一导轨压板8。为了不因没有测试产品影响自动测试设备连续工作，导轨压板上部安装有一空管检测红外线感应器24，放管箱装料一侧的机架上固接一换管气缸6，换管气缸推出部上固接一进料换管定位板3，放管箱内设置有进料退管定位槽4，放管箱一侧为空管箱2，空管箱上固接有一挡空胶管压板5。为了对测试产品准确定位，测试导轨上固定有左测试定位板11和右测试定位板10，导轨压板上对着测试位的位置上固定有一有料检测红外线感应器25，测试导轨上还设有入料口产品定位槽7和测试位产品定位槽15，测试位产品定位槽下设有正品导入槽19，为了不因测试后产品装满胶管而影响自动测试设备连续工作，出料压板18一侧的机架上固定有一出料气缸21，出料压板上表面还分别固定有废品通道检测红外线感应器26和正品通道检测红外线感应器27。 

Claims (4)

1.一种半导体集成块自动测试设备的测试导轨，其特征在于：设计一平面导轨（20），导轨上端固接有一放管箱（1），测试导轨中上部位置水平对称固接有带电磁阀的左测试气缸（13）和右测试气缸（14），测试气缸推出部分别固定左测试针座（12）、右测试针座（9），测试气缸下水平固接有一带电磁阀的废品挡料气缸（16）和废品气缸（17），测试轨道表面下端固接有一出料压板（18），出料压板将出口分为正品出料口（22）和废品出料口（23），出料压板与放管箱之间固接有一导轨压板（8）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体集成块自动测试设备的测试导轨，其特征在于：导轨压板上部安装有一空管检测红外线感应器（24），放管箱装料一侧的机架上固接一换管气缸（6），换管气缸推出部上固接一进料换管定位板（3），放管箱内设置有进料退管定位槽（4），放管箱一侧为空管箱（2），空管箱上固接有一挡空胶管压板（5）。

3.根据权利要求1所述的一种半导体集成块自动测试设备的测试导轨，其特征在于：测试导轨上固定有左测试定位板（11）和右测试定位板（10），导轨压板上对着测试位的位置上固定有一有料检测红外线感应器（25），测试导轨上还设有入料口产品定位槽（7）和测试位产品定位槽（15），测试位产品定位槽下设有正品导入槽（19）。

4.根据权利要求1所述的一种半导体集成块自动测试设备的测试导轨，其特征在于：出料压板（18）一侧的机架上固定有一出料气缸（21），出料压板上表面还分别固定有废品通道检测红外线感应器（26）和正品通道检测红外线感应器（27）。