CN201935974U - 实现多排晶体管测试的条带测试分选机 - Google Patents
实现多排晶体管测试的条带测试分选机 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型实施例公开了一种实现多排晶体管测试的条带测试分选机，包括：盖板，其下表面上设置有测试座和光检装置，该测试座上设置有多排测试针，每排测试针的数量为多个；设置在所述盖板下方的测试平台，该测试平台的条带上设置有与所述测试针一一对应的晶体管。本实用新型提供的实现多排晶体管测试的条带测试分选机在工作的过程中，在测试针与晶体管对准时，实现多个测试针与多个晶体管一一对准，实现了多个晶体管进行同时测试，相对于现有技术中的条带测试分选机对晶体管进行单独的测试，本实用新型实施例提供的实现多排晶体管测试的条带测试分选机实现了对多个晶体管同时进行测试，提高了条带测试分选机的测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，更具体地说，涉及一种实现多排晶体管测试的条带测试分选机。
背景技术
在半导体测试封装行业中，条带测试分选机是一种对晶体管进行测试、并根据测试结果将晶体管中的合格产品筛选出的一种设备。其工作过程为：晶体管由UV(ultraviolet紫外线)膜框上料，晶体管进行批号确定和方向定位后进入到测试平台上，该测试平台通过设置在其上的X-Y-Z方向的驱动马达，驱动测试平台移动实现将测试平台上的晶体管与设置在测试平台上方的盖板上的测试针对准，当晶体管与测试针对准后，测试平台在驱动马达的作用下向上移动，实现测试针与晶体管的管脚对位接触，并对晶体管进行检测，上述盖板的上表面设置的测试板和测试主机主要是控制测试针进行检测工作，并将检测结果进行记录，检测完毕后，根据测试结果，采用机械手把晶体管中合格的产品选出，再进行光检，以便进入下一工序进行编带。
但是，上述条带测试分选机在检测的过程中，只能对一个一个的晶体管进行检测，这样单个晶体管的测试方法速度慢，效率低。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型提供了一种实现多排晶体管测试的条带测试分选机，通过设置多排测试针和在条带上设置多排晶体管，实现一次可以针对多个晶体管同时进行检测，提高了对晶体管的检测效率。
为了达到上述目的，本实用新型实施例提供如下技术方案：
一种实现多排晶体管测试的条带测试分选机，包括：
盖板，其下表面上设置有测试座和光检装置，该测试座上设置有多排测试针，每排测试针的数量为多个；
设置在所述盖板的下方的测试平台，该测试平台的条带上设置有与所述测试针一一对应的晶体管。
优选的，上述实现多排晶体管测试的条带测试分选机中，所述测试座上设置有4排测试针，每排测试针的数量为4个。
优选的，上述实现多排晶体管测试的条带测试分选机中，所述光检装置为摄像机。
由上述技术方案可知，本实用新型实施例提供的实现多排晶体管测试的条带测试分选机中，在盖板的下表面上设置有测试座，测试座上设置有多排测试针，每排测试针的数量为多个，并在测试平台上的条带上设置有与测试针一一对应的晶体管，上述提供的实现多排晶体管测试的条带测试分选机在工作的过程中，在测试针与晶体管对准时，实现多个测试针与多个晶体管一一对准，实现了多个晶体管同时进行测试，相对于现有技术中的条带测试分选机对单独晶体管进行的测试，本实用新型实施例提供的实现多排晶体管测试的条带测试分选机实现了对多个晶体管同时进行测试，提高了条带测试分选机的测试效率。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的实现多排晶体管测试的条带测试分选机的结构示意图；
图2为图1中测试座的A向视图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型实施例公开了一种实现多排晶体管测试的条带测试分选机，实现其在工作的过程中一次可以对多个晶体管同时进行测试，提高了条带测试分选机的测试效率。
请参考附图1-2，图1为本实用新型实施例提供的实现多排晶体管测试的条带测试分选机的结构示意图；图2为图1中测试座的A向视图。
本实用新型实施例提供的实现多排晶体管测试的条带测试分选机包括：盖板3和测试平台1，其中：
盖板3的下表面上设置有测试座4和光检装置(图中未示出)，每排测试座4上设置有多排测试针5，每排测试针的数量为多个；
测试平台1设置在盖板3的下方，该测试平台1的条带2上设置有与所述测试针5一一对应的晶体管。
本实用新型实施例提供的实现多排晶体管测试的条带测试分选机中，测试座上设置有多排测试针，且每排上的测试针为多个，具体测试针的排数和每排上测试针的个数可以视具体的生产规模，生产条件而定。请参考附图2所示，测试座4上设置有4排测试针，每排上的测试针5的数量为4个。
上述实施例中提供的实现多排晶体管测试的条带测试分选机中，所述光检装置为摄像机。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (3)
1.一种实现多排晶体管测试的条带测试分选机，其特征在于，包括：
盖板，其下表面上设置有测试座和光检装置，该测试座上设置有多排测试针，每排测试针的数量为多个；
设置在所述盖板的下方的测试平台，该测试平台的条带上设置有与所述测试针一一对应的晶体管。
2.根据权利要求1所述的实现多排晶体管测试的条带测试分选机，其特征在于，所述测试座上设置有4排测试针，每排测试针的数量为4个。
3.根据权利要求1所述的实现多排晶体管测试的条带测试分选机，其特征在于，所述光检装置为摄像机。
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| CN 201020664056 CN201935974U (zh) | 2010-12-16 | 2010-12-16 | 实现多排晶体管测试的条带测试分选机 |
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| CN 201020664056 CN201935974U (zh) | 2010-12-16 | 2010-12-16 | 实现多排晶体管测试的条带测试分选机 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106959408A (zh) * | 2016-01-08 | 2017-07-18 | 株洲南车时代电气股份有限公司 | Ge轨迹自动检测方法及装置 |
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2010
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| GR01 | Patent grant | ||
| C17 | Cessation of patent right | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
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