CN106959408A - Ge轨迹自动检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种GE轨迹自动检测方法及装置，其中，方法包括：对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置；将表笔置于检测位置上，以对待测产品进行检测，并获得检测结果；将检测结果与预设阈值进行比较，以获得比较结果；根据比较结果对待测产品进行分类。本发明提供的GE轨迹自动检测方法及装置，整个检测过程不再需要人工干预，提高了检测效率，同时减少了检测过程中由于人为操作不当对产品造成的损坏，且降低了产品误检率。

Description

GE轨迹自动检测方法及装置

技术领域

本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种GE轨迹自动检测方法及装置。

背景技术

目前，GE轨迹检测工序为绝缘栅双极型晶体管(Insulted Gate BipolarTransistor，简称IGBT)模块制造中的关键工序，其原理是测量IGBT门极及发射极之间的电流(G为IGBT器件的门极，E为发射极)，以检测IGBT器件的电学性能，间接地检测芯片在生产过程中的受损情况。

传统地GE轨迹检测为手动检测，在检测之前，需要手动从料箱中取出产品。之后采用电学图示仪测量的方法，手动将图示仪的两个表笔放在产品特定区域，观察图示仪上显示的波形，进而判断产品的合格情况。检测后，记录检测数据并将合格产品放入料箱。

现有GE轨迹检测方法的主要缺陷在于：

(1)人工干预多，易造成对产品的误检，损害等风险。

在传统的GE轨迹检测方法中，GE轨迹检查为人工完成，由于可能受到操作人员的疲劳程度，心情等复杂因素的影响，检测的准确性，及操作过程中对产品的损伤程度存在风险，且不可控。

(2)生产效率低。

由于手动检测时，需要经历拿出产品，手动检测，合格产品放回，数据记录等过程，操作效率很低。

发明内容

本发明提供的GE轨迹自动检测方法及装置，用以解决人工检测工作效率低的技术问题。

本发明第一方面提供一种GE轨迹自动检测方法，包括：

对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置；

将表笔置于检测位置上，以对待测产品进行检测，并获得检测结果；

将检测结果与预设阈值进行比较，以获得比较结果；

根据比较结果对待测产品进行分类。

进一步的，对待测产品需要被检测的区域进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置，具体包括：

将待测产品固定在产品上料轨道中的特定位置；

根据特定位置获得被检测的区域，以获得表笔需要接触的检测位置。

进一步的，将表笔置于检测位置上，以对待测产品进行检测，并获得检测结果，具体包括：

将表笔置于检测位置上，使表笔的笔头上的电学测试仪接触到检测位置；

利用电学测试仪对检测位置进行检测，并获得检测结果。

本发明第二方面提供一种GE轨迹自动检测装置，包括：

检测位置获取模块，用于对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置；

检测结果获取模块，用于将表笔置于检测位置上，以对待测产品进行检测，并获得检测结果；

比较模块，用于将检测结果与预设阈值进行比较，以获得比较结果；

分类模块，用于根据比较结果对待测产品进行分类。

进一步的，检测位置获取模块具体包括：

第一检测位置获取子模块，用于将待测产品固定在产品上料轨道中的特定位置；

第二检测位置获取子模块，用于根据特定位置获得被检测的区域，以获得表笔需要接触的检测位置。

进一步的，检测结果获取模块具体包括：

第一检测结果获取子模块，用于将表笔置于检测位置上，使表笔的笔头上的电学测试仪接触到检测位置；

第二检测结果获取子模块，用于利用电学测试仪对检测位置进行检测，并获得检测结果。

本发明第三方面提供一种GE轨迹自动检测装置，包括：待测产品上料轨道、挡板、推板、机械表笔和控制设备，其中，控制设备与产品上料轨道、挡板、推板、机械表笔电连接，机械表笔组件包括表笔和用于带动表笔移动的表笔传动装置，待测产品上料轨道位于机械表笔下方，用于传送待测产品，挡板设置于待测产品上料轨道上方或者一侧，用于将待测产品上料轨道上传送的待测产品固定在特定位置，推板设置于待测产品上料轨道一侧，用于将待测产品推离待测产品上料轨道。

进一步的，表笔还包括位于表笔笔头位置处的压力传感器。

进一步的，还包括与表笔电连接的存储设备。

进一步的，还包括与表笔电连接的电学图示仪。

本发明提供的GE轨迹自动检测方法及装置，对产品误检率低，减少了检测过程中由于人为操作不当对产品造成的损坏，同时由于人工干预的减少，提高了检测效率。

附图说明

在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明进行更详细的描述。其中：

图1为根据本发明实施例一的GE轨迹自动检测方法的流程示意图；

图2为根据本发明实施例二的GE轨迹自动检测方法的流程示意图；

图3为根据本发明实施例三的GE轨迹自动检测装置的结构示意图；

图4为根据本发明实施例四的GE轨迹自动检测装置的结构示意图。

在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例绘制。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明作进一步说明。

实施例一

图1为根据本发明实施例一的GE轨迹自动检测方法的流程示意图，如图1所示，本发明提供一种GE轨迹自动检测方法，包括：

步骤101，对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置。

具体的，对待测产品的被检测位置进行定位，定位方法可采用机械定位或/和软件定位的方式，从而获得表笔需要接触的检测位置。

步骤102，将表笔置于检测位置上，以对待测产品进行检测，并获得检测结果。

具体的，可将表笔与一机械臂相固定，由机械臂带动表笔，使表笔能够接触到检测位置，从而完成对待测产品的检测，获得检测结果。获得的检测结果可通过无线方式或与表笔连接的线缆传输到存储设备中，以对检测结果进行记录，以备统计和随时查看。

步骤103，将检测结果与预设阈值进行比较，以获得比较结果。

具体的，预设阈值可为一个具体的值，也可为一个取值范围，具体可根据实际情况进行设置。将检测结果与预设阈值进行比较，从而获得比较结果。若预设阈值为一个取值范围，则所述比较结果即为检测结果是落在预设阈值范围内，还是落在预设阈值范围外，当检测结果落在预设阈值范围内，那么比较结果为是，否则比较结果为否；若预设阈值为一个具体的值，则所述比较结果即为检测结果是大于预设阈值还是小于预设阈值，当检测结果大于预设阈值，那么比较结果为是，否则比较结果为否。

步骤104，根据比较结果对待测产品进行分类。

具体的，根据比较结果对待测产品进行分类的规则可根据实际情况进行设置。如若设置当比较结果为是时，判定待测产品为合格产品，比较结果为否时，判定待测产品为不合格产品。

本实施例提供的GE轨迹自动检测方法，通过对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置，然后将表笔置于检测位置上，以对待测产品进行检测，并获得检测结果，再将检测结果与预设阈值进行比较，获得比较结果，最后根据比较结果对待测产品进行分类。整个检测过程不再需要人工干预，提高了检测效率，同时减少了检测过程中由于人为操作不当对产品造成的损坏，且降低了产品误检率。

实施例二

本实施例是在实施例一的基础上进行的补充说明。

图2为根据本发明实施例二的GE轨迹自动检测方法的流程示意图，如图2所示，本发明提供一种GE轨迹自动检测方法，包括：

步骤101，对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置。

步骤101具体包括：

步骤1011，将待测产品固定在产品上料轨道中的特定位置。

具体的，在对待测产品进行检测时，可通过上料轨道将待测产品输送至检测位置，当待测产品输送到检测位置后，需将待测产品固定，以便后续表笔进行检测，该检测位置即为特定位置，特定位置事先选定，但是需要配合表笔的检测，即需要表笔最终能够落在待测产品的被检测的位置。其中，固定的方式有多种，如可通过设置上料轨道的暂时运行，以使待测产品停留在特定位置，或在适当的时间放置一块挡板在待测产品前进的前方，以使待测产品固定在特定位置，在表笔对待测产品进行检测完毕之后，再使上料轨道重新运行，或者挡板升起。

步骤1012，根据特定位置获得被检测的区域，以获得表笔需要接触的检测位置。

具体的，由于待测产品具有相同的结构，因此在将待测产品固定在特定位置后，可根据该特定位置并结合待测产品的结构，定位到待测产品被检测的区域，即表笔需要接触的部位。每个待测产品都按照相同的放置方向放在相同的位置，所以检测位置也是固定的。

步骤102，将表笔置于检测位置上，以对待测产品进行检测，并获得检测结果。

步骤102具体包括：

步骤1021，将表笔置于检测位置上，使表笔的笔头上的电学测试仪接触到检测位置。

具体的，表笔需与自动传动装置相连，以将表笔移动到待测产品的检测位置，或者将表笔从检测位置移开，由于表笔需要自动接触待测产品的检测位置且不能破坏待测产品表面，所以可在表笔笔头部位安装压力传感器，以控制笔头接触待测产品的力度，避免损坏待测产品。

进一步的，表笔还可以与电学图示仪相连，以显示待测产品的检测情况，便于工作人员监视或查看。

步骤1022，利用电学测试仪对检测位置进行检测，并获得检测结果。

具体的，电学测试仪是专门用来对待测产品(即IGBT芯片)进行GE检测的仪器，通过电学测试仪可完成对待测产品的检测，并获得检测结果，此处的检测结果为数据信息。

进一步的，表笔还可以与存储设备之间进行通信，即表笔可将检测结果通过无线方式发送给存储设备，或者通过与表笔连接的线缆传输给存储设备，以便工作人员对检测结果进行统计和查看。

步骤103，将检测结果与预设阈值进行比较，以获得比较结果。

本步骤具体可参见实施例一中相应步骤的记载，在此不再赘述。

步骤104，根据比较结果对待测产品进行分类。

具体包括：

若比较结果为检测结果在预设阈值范围内，则待测产品为合格产品；若比较结果为检测结果在预设阈值范围外，则待测产品为不合格产品。

具体的，此时预设阈值为一个取值范围，若检测结果落在该取值范围内，那么判定待测产品为合格产品，若检测结果落在该取值范围之外，那么判定待测产品为不合格产品。

进一步的，在判定出产品不合格的同时，将不合格产品从上料轨道中除去，即在上料轨道上特定位置附近设置一个推板，若判定某个待测产品不合格，则可利用该推板将该不合格产品推出上料轨道，而留在上料轨道并随上料轨道运动的已检测完成的产品为合格产品，以此方式将合格产品和不合格产品分离开。

本实施例提供的GE轨迹自动检测方法，通过将待测产品固定在产品上料轨道中的特定位置，从而获得表笔需要接触的检测位置，然后利用表笔笔头上的电学测试仪对检测位置进行检测，并获得检测结果，再将检测结果与预设阈值进行比较，获得比较结果，最后根据比较结果对待测产品进行分类。整个检测过程不再需要人工干预，提高了检测效率，同时减少了检测过程中由于人为操作不当对产品造成的损坏，且降低了产品误检率。

实施例三

图3为根据本发明实施例三的GE轨迹自动检测装置的结构示意图；如图3所示，本实施例提供一种GE轨迹自动检测装置，包括：检测位置获取模块201、检测结果获取模块202、比较模块203和分类模块204。

其中，检测位置获取模块201，用于对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置；

检测结果获取模块202，用于将表笔置于检测位置上，以对待测产品进行检测，并获得检测结果；

比较模块203，用于将检测结果与预设阈值进行比较，以获得比较结果；

分类模块204，用于根据比较结果对待测产品进行分类。

本实施例是与实施例一对应的装置实施例，用于执行实施例一中的方法。具体可参见实施例一中的描述，在此不再赘述。

本实施例提供的GE轨迹自动检测装置，通过检测位置获取模块201对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置，然后检测结果获取模块202将表笔置于检测位置上，以对待测产品进行检测，并获得检测结果，比较模块203将检测结果与预设阈值进行比较，获得比较结果，最后分类模块204根据比较结果对待测产品进行分类。整个检测过程不再需要人工干预，提高了检测效率，同时减少了检测过程中由于人为操作不当对产品造成的损坏，且降低了产品误检率。

实施例四

本实施例是在实施例三的基础上进行的补充说明。

图4为根据本发明实施例四的GE轨迹自动检测装置的结构示意图，如图4所示，本实施例提供一种GE轨迹自动检测装置，其中，检测位置获取模块201具体包括第一检测位置获取子模块2011和第二检测位置获取子模块2012。

其中，第一检测位置获取子模块2011，用于将待测产品固定在产品上料轨道中的特定位置。

第二检测位置获取子模块2012，用于根据所述特定位置获得被检测的区域，以获得表笔需要接触的检测位置。

检测结果获取模块202具体包括：第一检测结果获取子模块2021和第二检测结果获取子模块2022。

其中，第一检测结果获取子模块2021，用于将表笔置于检测位置上，使表笔的笔头上的电学测试仪接触到检测位置；第二检测结果获取子模块2022，用于利用电学测试仪对检测位置进行检测，并获得检测结果。

进一步的，分类模块204具体用于：

若比较结果为检测结果在预设阈值范围内，则待测产品为合格产品；

若比较结果为检测结果在预设阈值范围外，则待测产品为不合格产品。

本实施例是与实施例二对应的装置实施例，具体可参见实施例二中相应的描述，在此不再赘述。

实施例五

本实施例为实体装置实施例，用于执行实施例一和实施例二中的方法。

本实施例提供一种GE轨迹自动检测装置，包括：待测产品上料轨道、挡板、推板、机械表笔和控制设备，其中，控制设备与产品上料轨道、挡板、推板、机械表笔电连接，机械表笔组件包括表笔和用于带动表笔移动的表笔传动装置，待测产品上料轨道位于机械表笔下方，用于传送待测产品，挡板设置于待测产品上料轨道上方或者一侧，用于将待测产品上料轨道上传送的待测产品固定在特定位置，推板设置于待测产品上料轨道一侧，用于将待测产品推离待测产品上料轨道。

控制设备控制产品上料轨道运行，带动产品上料轨道上的待测产品移动，当待测产品移动到特定位置时，控制设备控制挡板挡在待测产品前进方向前，以将待测产品固定在特定位置，然后控制设备控制表笔传动装置带动表笔移动到待测产品的检测区域处，表笔对待测产品进行检查，获得检测结果，并将检测结果发送给控制设备，控制设备根据检测结果控制推板是否动作，若检测结果判定待测产品为合格产品，则推板不动作，否则控制设备控制推板动作，以将不合格产品推离待测产品上料轨道。

进一步的，表笔还包括位于表笔笔头位置处的压力传感器。由于表笔需要自动接触待测产品的检测位置且不能破坏待测产品表面，所以可在表笔笔头部位安装压力传感器，以控制笔头接触待测产品的力度，避免损坏待测产品。

进一步的，还包括与表笔电连接的存储设备。可将检测结果通过与表笔连接的线缆传输给存储设备，以便工作人员对检测结果进行统计和查看。

进一步的，还包括与表笔电连接的电学图示仪，以显示待测产品的检测情况，便于工作人员监视或查看。

虽然已经参考优选实施例对本发明进行了描述，但在不脱离本发明的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本发明并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (10)

1.一种GE轨迹自动检测方法，其特征在于，包括：

对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置；

将所述表笔置于所述检测位置上，以对所述待测产品进行检测，并获得检测结果；

将所述检测结果与预设阈值进行比较，以获得比较结果；

根据所述比较结果对所述待测产品进行分类。

2.根据权利要求1所述的GE轨迹自动检测方法，其特征在于，对待测产品需要被检测的区域进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置，具体包括：

将待测产品固定在产品上料轨道中的特定位置；

根据所述特定位置获得被检测的区域，以获得表笔需要接触的检测位置。

3.根据权利要求1所述的GE轨迹自动检测方法，其特征在于，将所述表笔置于所述检测位置上，以对所述待测产品进行检测，并获得检测结果，具体包括：

将所述表笔置于所述检测位置上，使所述表笔的笔头上的电学测试仪接触到所述检测位置；

利用电学测试仪对所述检测位置进行检测，并获得检测结果。

4.一种GE轨迹自动检测装置，其特征在于，包括：

检测位置获取模块，用于对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置；

检测结果获取模块，用于将所述表笔置于所述检测位置上，以对所述待测产品进行检测，并获得检测结果；

比较模块，用于将所述检测结果与预设阈值进行比较，以获得比较结果；

分类模块，用于根据所述比较结果对所述待测产品进行分类。

5.根据权利要求4所述的GE轨迹自动检测装置，其特征在于，检测位置获取模块具体包括：

第一检测位置获取子模块，用于将待测产品固定在产品上料轨道中的特定位置；

第二检测位置获取子模块，用于根据所述特定位置获得被检测的区域，以获得表笔需要接触的检测位置。

6.根据权利要求4所述的GE轨迹自动检测装置，其特征在于，检测结果获取模块具体包括：

第一检测结果获取子模块，用于将所述表笔置于所述检测位置上，使所述表笔的笔头上的电学测试仪接触到所述检测位置；

第二检测结果获取子模块，用于利用电学测试仪对所述检测位置进行检测，并获得检测结果。

7.一种GE轨迹自动检测装置，其特征在于，包括：待测产品上料轨道、挡板、推板、机械表笔和控制设备，其中，控制设备与产品上料轨道、挡板、推板、机械表笔电连接，所述机械表笔组件包括表笔和用于带动表笔移动的表笔传动装置，待测产品上料轨道位于所述机械表笔下方，用于传送待测产品，所述挡板设置于所述待测产品上料轨道上方或者一侧，用于将所述待测产品上料轨道上传送的待测产品固定在特定位置，所述推板设置于待测产品上料轨道一侧，用于将所述待测产品推离待测产品上料轨道。

8.根据权利要求7所述的GE轨迹自动检测装置，其特征在于，所述表笔还包括位于表笔笔头位置处的压力传感器。

9.根据权利要求7所述的GE轨迹自动检测装置，其特征在于，还包括与所述表笔电连接的存储设备。

10.根据权利要求7-9任一所述的GE轨迹自动检测装置，其特征在于，还包括与所述表笔电连接的电学图示仪。