CN201269958Y - 一种液晶显示测试装置 - Google Patents

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CN201269958Y CNU2008202125336U CN200820212533U CN201269958Y CN 201269958 Y CN201269958 Y CN 201269958Y CN U2008202125336 U CNU2008202125336 U CN U2008202125336U CN 200820212533 U CN200820212533 U CN 200820212533U CN 201269958 Y CN201269958 Y CN 201269958Y
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CNU2008202125336U
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苗延盛
纪宁宁
朱燕林
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Tianma Microelectronics Co Ltd
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Abstract

本实用新型适用于液晶显示技术领域，提供了一种液晶显示测试装置，其包括存储器，所述装置还包括高速测试芯片，所述高速测试芯片与所述存储器连接。本实用新型实施例提供的液晶显示测试装置采用高速测试芯片取代现有的ARM、8051等测试芯片，满足了高速显示测试的要求，给测试用户带来便利。

Description

一种液晶显示测试装置
技术领域
本实用新型属于液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示测试装置。
背景技术
随着通讯、媒体、游戏等领域技术的快速发展，液晶显示器的应用范围不断的增加。液晶显示器包括很多种类型，如彩色超级扭曲向列(Color SuperTwisted Nematic，CSTN)，超级扭曲向列(Super Twisted Nematic，STN)，扭曲排列型(Twisted Nematic，TN)，薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)等，而其接口也日趋多样化，包括系统接口、RGB、ITU656、低压差分信号传输(Low Voltage Differential Signal，LVDS)等，同时很多液晶显示器还集成了触摸屏。现有的测试设备一般采用ARM、8051等，一方面难以满足LVDS、RGB等高速显示测试要求，另一方面目前的模组厂家一般都会同时生产多种类型和多种接口的液晶显示器，现有的测试设备无法满足产品多样化的需求。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种液晶显示测试装置，旨在解决现有技术提供的测试装置无法满足高速显示测试要求的问题。
本实用新型是这样实现的，一种液晶显示测试装置，其包括存储器，所述装置还包括高速测试芯片，所述高速测试芯片与所述存储器连接。
本实用新型实施例提供的液晶显示测试装置采用高速测试芯片取代现有的ARM、8051等测试芯片，满足了高速显示测试的要求，给测试用户带来便利。
附图说明
图1是本实用新型提供的液晶显示测试装置的结构框图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
图1示出了本实用新型实施例提供的液晶显示测试装置的结构框图，为了便于说明，图中仅给出了与本实用新型实施例相关的部分。
液晶显示测试装置包括存储器和与该存储器连接的高速测试芯片，其中存储器器存储相关的初始化配置程序数据和测试数据，高速测试芯片根据存储器存储的相关数据进行数据测试。
在本实用新型实施例中，存储器包括闪存FLASH、电可擦只读存储器(Electronically Erasable Read-Only Memory，EEROM)和同步动态随机存储器(Synchronous Dynamic random access memory，SDRAM)，其分别与高速测试芯片连接。在该实施例中，该高速测试芯片为现场可编程门阵列(FieldProgrammable Gate Array，FPGA)，但不用以限制本实用新型；其中，FPGA分别与FLASH、EEROM、SDRAM连接，其中，FPGA为该液晶显示测试装置的核心，FLASH存储测试图像数据，SDRAM进行数据的缓存，EEROM存储FPGA的初始化程序数据。
在本实用新型实施例中，液晶显示测试装置还包括分别与FPGA连接的状态指示灯和异常报警单元，其中，状态指示灯用于指示当前测试数据的正常与否，例如以绿灯显示正常的测试数据，而红灯表示非正常的测试数据；同样，当测试数据非正常的情况下，异常报警单元进行报警，该报警方式为语音，或控制上述指示灯进行报警，或两者一并进行，其不用以限制本实用新型。
在本实用新型实施例中，FPGA包括核心处理单元、寄存器和计数器，其中，核心处理单元分别和寄存器、计数器连接，其中，寄存器用于暂时存储进行数据处理和类型转换后的测试图像数据；计数器产生液晶显示器(LiquidCrystal Display，LCD)的显示时序。在该实施例中，FPGA还包括通用数据接口，其包括I2C接口、串行外围设备接口(Serial Peripheral interface，SPI)接口和通用输入输出接口(General Purpose Input Output，GPIO)，但不用以限制本实用新型。
在本实用新型实施例中，核心处理单元读取寄存器暂时存储的进行数据处理和类型转换后的测试图像数据，并将该数据和计数器产生的显示时序一并传输至通用数据接口。
在本实用新型实施例中，液晶显示测试装置还包括与FPGA连接的联合测试行为组织(Joint Test Action Group，JTAG)接口，通过该JTAG接口将液晶显示测试装置的初始化程序数据配置到EEROM中。
在本实用新型实施例中，当该液晶显示测试装置上电后，FPGA读取EEROM中存储的初始化程序数据，配置PFGA的工作环境，然后，FPGA的核心处理单元通过通用数据接口的SPI接口和GPIO接口对LCD进行初始化，同时，FPGA读取FLASH中的测试图像数据，并根据通用数据接口的类型将该读取的测试图像数据进行数据处理和类型转换，并将进行数据处理和类型转换处理后的测试图像数据暂时存储在FPGA的寄存器中；根据计数器产生的显示时序，核心处理单元读取暂时存储在寄存器中的测试图像数据，并将该数据和计数器产生的显示时序发送到通用数据接口，达到正常显示测试的目的。其中，FPGA读取FLASH中的测试图像数据之后，该测试图像数据缓存在SDRAM中，FPGA控制在SDRAM中进行数据类型的转换处理。
在本实用新型实施例中，FPGA的核心处理单元获取用户在LCD触摸屏幕IC采集的信号数据，并将该数据与EEROM中存储初始化数据进行比较判断，当用户点触位置正确时，进行正确响应，即将与用户点触的位置相对应的界面显示输出，否则不进行响应，并通过状态指示灯进行异常显示和异常报警单元的报警。
本实用新型实施例提供的液晶显示测试装置采用FPGA作为高速测试芯片，并通过通用数据接口提供不同类型的数据接口，满足了高速显示测试的要求，同时也满足了LCD产品接口多样化的要求，而且也满足了用户测试触摸屏幕数据的需求，给测试用户带来便利。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1、一种液晶显示测试装置，其包括存储器，其特征在于，所述装置还包括高速测试芯片，所述高速测试芯片与所述存储器连接。
2、如权利要求1所述的液晶显示测试装置，其特征在于，所述高速测试芯片为现场可编程门阵列FPGA。
3、如权利要求2所述的液晶显示测试装置，其特征在于，所述现场可编程门阵列FPGA包括核心处理单元、寄存器和计数器，所述核心处理单元分别和寄存器、计数器连接。
4、如权利要求3所述的液晶显示测试装置，其特征在于，所述现场可编程门阵列FPGA还包括通用数据接口，所述通用数据接口与所述核心处理单元连接。
5、如权利要求4所述的液晶显示测试装置，其特征在于，所述通用数据接口包括I2C接口、SPI接口和通用输入输出接口GPIO。
6、如权利要求1所述的液晶显示测试装置，其特征在于，所述装置还包括状态指示灯和异常报警单元，所述状态指示灯和异常报警单元分别与高速测试芯片连接。
7、如权利要求1所述的液晶显示测试装置，其特征在于，所述装置还包括联合测试行为组织JTAG接口，所述联合测试行为组织JTAG接口分别与所述高速测试芯片和存储器连接。
8、如权利要求1所述的液晶显示测试装置，其特征在于，所述存储包括闪存FLASH、电可擦只读存储器EEROM和同步动态随机存储器SDRAM，所述闪存FLASH、电可擦只读存储器EEROM和同步动态随机存储器SDRAM分别与所述高速测试芯片连接。
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