CN101995686A - 基于fpga的lcdc模块的ft测试方法 - Google Patents

基于fpga的lcdc模块的ft测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101995686A
CN101995686A CN 201010551130 CN201010551130A CN101995686A CN 101995686 A CN101995686 A CN 101995686A CN 201010551130 CN201010551130 CN 201010551130 CN 201010551130 A CN201010551130 A CN 201010551130A CN 101995686 A CN101995686 A CN 101995686A
Authority
CN
China
Prior art keywords
data
lcdc
module
fpga
count2
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN 201010551130
Other languages
English (en)
Other versions
CN101995686B (zh
Inventor
张英
周敏心
薛志明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rockchip Electronics Co Ltd
Original Assignee
Fuzhou Rockchip Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuzhou Rockchip Electronics Co Ltd filed Critical Fuzhou Rockchip Electronics Co Ltd
Priority to CN2010105511306A priority Critical patent/CN101995686B/zh
Publication of CN101995686A publication Critical patent/CN101995686A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101995686B publication Critical patent/CN101995686B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法，在FPGA中设计一个VIP采集模块，用于采集LCDC模块送出的数据；根据LCDC的时序和屏的V_BP、V_FP、V_VD、H_BP、H_FP、H_VD参数，设计两个计数器count1和count2。count1以DOTCLK的频率开始计数，count2以HSYNC的频率开始计数，循环直到LCDC没有数据送出，表示采样结束。最后将采集到的数据导出到一个文件中并和存储器中的发送数据文件进行对比。本发明能灵活的实现任何的数字电路，摆脱模拟信号的干扰，减少受制于专用芯片的束缚，来辅助待测芯片的FT测试。

Description

基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法
【技术领域】
本发明涉及芯片测试技术，具体是指一种基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法。
【背景技术】
IC封装后出厂前的测试为FT(final test)测试。FT测试包括LCDC、VIP、I2S等模块的测试。
LCDC模块：LCD_Controler(LCD控制器)简称LCDC，它是一个控制内存中要显示在LCD屏的数据信息的驱动器。LCD物理上由玻璃、驱动器和控制器构成。逻辑上由像素点构成线，线构成面，依赖于每个点的色度亮度(或RGB值)，一般地由驱动器以大约50HZ的速度逐个驱动每一像素点而呈现一幕或又一幕漂亮或不漂亮的画面。驱动器的色度亮度信息等从控制器获取。
现有技术中LCDC模块的测试方法是把LCD的RGB时序中的VSYNC取反，得到的时序刚好与VIP的时序完全一致，因此利用这点，让LCD控制器产生VSYNC取反的RGB时序，通过VIP采集LCD数据线，比较LCD控制器送出的数据和VIP采到的数据就能够验证LCD模块和VIP模块是否工作正常了。
现有技术的测试方法的缺点是当LCDC或VIP模块任何一部分存在问题时，都不能测试出另外的一个模块功能是否正确。也就说如果VIP模块功能不正常，不能测试出LCDC模块功能是否正常；反过来当LCDC模块功能异常时，也不能测试出VIP模块功能是否正常，这样芯片的最终测试良率会受到比较大的影响。现在把这两个单独分开测试避免了这个情况，从而提高了测试良率。
【发明内容】
本发明所要解决的技术问题在于提供一种基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法，该方法能灵活的实现任何的数字电路，摆脱模拟信号的干扰，减少受制于专用芯片的束缚，来辅助待测芯片的FT测试。
本发明采用以下技术方案来解决上述技术问题：
基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法，包括如下步骤：
步骤10：在FPGA中设计一个VIP采集模块；
步骤20：根据LCDC的时序和屏的V_BP、V_FP、V_VD、H_BP、H_FP、H_VD参数，设计两个计数器count1和count2；
步骤30：计数器count1以DOTCLK的频率开始计数，计数器count2以HSYNC的频率开始计数；
步骤40：当count1＝H_BP，HSYNC为高电平，count2＝V_BP时，VIP采集模块开始采集LCDC送出的数据；
步骤50：当count1＝H_BP+H VD且count2＝V_BP时，第一帧的数据采样结束；
步骤60：将count1、count2的数据清0，转入步骤四接着第二帧的数据采样，直到LCDC没有数据送出，表示采样结束；
步骤70：最后将采集到的数据导出到一个文件中并和存储器中的发送数据文件进行对比。
所述步骤70中将采集到的数据和发送数据文件进行对比时，只需要把两个文件的数据读出到两个数组中，对这两个数组进行对比。
所述步骤70中将采集到的数据和发送数据文件进行对比时，在FPGA中嵌入ARM9处理器，将采集到的数据存入存储器的某个地址段中，对比时从发送数据和采集数据的首地址开始比较。
本发明的优点在于：本发明能灵活的实现任何的数字电路，针对待测芯片的LCDC模块设计出合理的接收数据模块，摆脱模拟信号以及其他不相干信号的干扰，减少受制于专用芯片的束缚，来辅助待测芯片的FT测试。
【附图说明】
下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的描述。
图1是LCDC模块测试步骤示意图。
【具体实施方式】
请参阅图1，是LCDC模块测试示意图。图1中clk、hsync、rst、vsync是由待测芯片提供的输入控制信号，只要这四个信号的时序是正确的，那么就能产生正确的enable控制信号，enable信号用来控制何时开始采集数据，何时结束采集，这样就能正确的采集到需要的数据。data_in[23..0]是由待测芯片提供的输入数据信号，数据位一共是24位，采集到的数据data_out[23..0]存入到指定的内存地址中。具体包括如下步骤：
步骤10：在FPGA中设计一个VIP采集模块；
步骤20：根据LCDC的时序和屏的V_BP(场后消隐)、V_FP(场前消隐)、V_VD(垂直有效分辨率)、V_PW(场脉冲宽度)、H_BP(行后消隐)、H_FP(行前消隐)、H_VD(水平有效分辨率)、H_PW(行脉冲宽度)参数，设计两个计数器count1和count2；
步骤30：计数器count1以DOTCLK的频率开始计数，计数器count2以HSYNC的频率开始计数；
步骤40：当count1＝H_BP，HSYNC为高电平，count2＝V_BP时，VIP采集模块开始采集LCDC送出的数据；
步骤50：当count1＝H_BP+H_VD且count2＝V_BP时，第一帧的数据采样结束；
步骤60：将count1、count2的数据清0，转入步骤四接着第二帧的数据采样，直到LCDC没有数据送出，表示采样结束；
步骤70：最后将采集到的数据导出到一个文件中并和存储器中的发送数据文件进行对比，只需要把两个文件的数据读出到两个数组中，对这两个数组进行对比。也可以将采集到的数据和发送数据文件进行对比时，在FPGA中嵌入ARM9处理器，将采集到的数据存入存储器的某个地址段中，对比时从发送数据和采集数据的首地址开始比较。
本发明能灵活的实现任何的数字电路，摆脱模拟信号的干扰，减少受制于专用芯片的束缚，来辅助待测芯片的FT测试。

Claims (3)

1.基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
步骤10：在FPGA中设计一个VIP采集模块；
步骤20：根据LCDC的时序和屏的V_BP、V_FP、V_VD、V_PW、H_BP、H_FP、H_VD、H_PW参数，设计两个计数器count1和count2；
步骤30：计数器count1以DOTCLK的频率开始计数，计数器count2以HSYNC的频率开始计数；
步骤40：当count1＝H_BP，HSYNC为高电平，count2＝V_BP时，VIP采集模块开始采集LCDC送出的数据；
步骤50：当count1＝H_BP+H_VD且count2＝V_BP时，第一帧的数据采样结束；
步骤60：将count1、count2的数据清0，转入步骤四接着第二帧的数据采样，直到LCDC没有数据送出，表示采样结束；
步骤70：最后将采集到的数据导出到一个文件中并和存储器中的发送数据文件进行对比。
2.如权利要求1所述的基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法，其特征在于：所述步骤70中将采集到的数据和发送数据文件进行对比时，只需要把两个文件的数据读出到两个数组中，对这两个数组进行对比。
3.如权利要求1所述的基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法，其特征在于：所述步骤70中将采集到的数据和发送数据文件进行对比时，在FPGA中嵌入ARM9处理器，将采集到的数据存入存储器的某个地址段中，对比时从发送数据和采集数据的首地址开始比较。
CN2010105511306A 2010-11-18 2010-11-18 基于fpga的lcdc模块的ft测试方法 Active CN101995686B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010105511306A CN101995686B (zh) 2010-11-18 2010-11-18 基于fpga的lcdc模块的ft测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010105511306A CN101995686B (zh) 2010-11-18 2010-11-18 基于fpga的lcdc模块的ft测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101995686A true CN101995686A (zh) 2011-03-30
CN101995686B CN101995686B (zh) 2012-06-06

Family

ID=43786043

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010105511306A Active CN101995686B (zh) 2010-11-18 2010-11-18 基于fpga的lcdc模块的ft测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101995686B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103093713A (zh) * 2011-10-31 2013-05-08 安凯(广州)微电子技术有限公司 一种基于fpga的芯片验证方法、装置及系统
CN106126380A (zh) * 2016-06-21 2016-11-16 福州瑞芯微电子股份有限公司 一种基于fpga的lvds接口测试方法及系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040252090A1 (en) * 2003-06-11 2004-12-16 Toppoly Optoelectronics Corp. Light-on aging test system for flat panel display
CN1979187A (zh) * 2005-12-07 2007-06-13 比亚迪股份有限公司 多驱动方式的lcd驱动电路的测试装置及其测试方法
CN201269958Y (zh) * 2008-10-17 2009-07-08 天马微电子股份有限公司 一种液晶显示测试装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040252090A1 (en) * 2003-06-11 2004-12-16 Toppoly Optoelectronics Corp. Light-on aging test system for flat panel display
CN1979187A (zh) * 2005-12-07 2007-06-13 比亚迪股份有限公司 多驱动方式的lcd驱动电路的测试装置及其测试方法
CN201269958Y (zh) * 2008-10-17 2009-07-08 天马微电子股份有限公司 一种液晶显示测试装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
《浙江工业大学学报》 20051031 郑国惠等 一种基于FPGA的误码测试仪 507-510,543 1-3 第33卷, 第05期 2 *
《自动化仪表》 20080229 安吉宇等 基于FPGA的TFT LCD快检信号源的设计 74,75,78 1-3 第29卷, 第02期 2 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103093713A (zh) * 2011-10-31 2013-05-08 安凯(广州)微电子技术有限公司 一种基于fpga的芯片验证方法、装置及系统
CN103093713B (zh) * 2011-10-31 2016-03-09 安凯(广州)微电子技术有限公司 一种基于fpga的芯片验证方法、装置及系统
CN106126380A (zh) * 2016-06-21 2016-11-16 福州瑞芯微电子股份有限公司 一种基于fpga的lvds接口测试方法及系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN101995686B (zh) 2012-06-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102256158B (zh) 电视电路板功能的自动测试方法及系统
US8390613B2 (en) Display driver integrated circuits, and systems and methods using display driver integrated circuits
US8816950B2 (en) Timing controller and display apparatus having the same
US20130147782A1 (en) Data driving apparatus and operation method thereof and display using the same
US9882569B2 (en) Synchronous processing system and semiconductor integrated circuit
TWI579819B (zh) 顯示驅動器積體電路及其顯示資料處理方法
CN102855838A (zh) 用于显示器的时序控制器
US8896705B2 (en) Measuring device and associated method for measuring response speed of display panel
US9911371B2 (en) Apparatus and method for adjusting display characteristics of display device
CN105931591B (zh) 一种显示面板的调试方法
CN105679225A (zh) 驱动显示面板的方法以及执行该方法的显示装置
DE102008053446B4 (de) Vorrichtung zum Erfassen und Speichern von Echtzeitbildern
CN102129830B (zh) 显示装置的驱动电路和驱动方法
CN101995686B (zh) 基于fpga的lcdc模块的ft测试方法
CN105405375A (zh) 一种mipi视频信号单路转多路的装置及方法
CN103474011A (zh) 显示面板反应速度的测量器与相关方法
WO2012172976A1 (ja) 半導体集積装置、表示装置、および半導体集積装置のデバッグ方法
CN204807860U (zh) 液晶显示面板的测试装置
CN102271276A (zh) 用于视频信号转换装置的智能检测方法及系统
CN102096038B (zh) 基于fpga的vip模块的ft测试方法
US8405785B1 (en) System and method for integrated timing control for an LCD display panel
CN1987567A (zh) 液晶显示器画面检测系统
CN203910232U (zh) 一种场发射平板显示器的灰度显示控制装置
CN103607545A (zh) 一种高清视频采集装置及其工作方法
CN113660431A (zh) 一种车机显示设备的多屏显示方法、车机显示设备和车辆

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C56 Change in the name or address of the patentee
CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 350000 Fuzhou Gulou District, Fujian, software Avenue, building 89, No. 18

Patentee after: FUZHOU ROCKCHIP ELECTRONICS CO., LTD.

Address before: 350000 Fuzhou Gulou District, Fujian, software Avenue, building 89, No. 18

Patentee before: Fuzhou Rockchip Semiconductor Co., Ltd.

CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 350000 building, No. 89, software Avenue, Gulou District, Fujian, Fuzhou 18, China

Patentee after: Ruixin Microelectronics Co., Ltd

Address before: 350000 building, No. 89, software Avenue, Gulou District, Fujian, Fuzhou 18, China

Patentee before: Fuzhou Rockchips Electronics Co.,Ltd.

CP01 Change in the name or title of a patent holder