CN103093713A - 一种基于fpga的芯片验证方法、装置及系统 - Google Patents

一种基于fpga的芯片验证方法、装置及系统 Download PDF

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Abstract

本发明适用于芯片验证领域，提供了一种基于FPGA的芯片验证方法、装置及系统，所述方法包括下述步骤：根据预设测试程序随机生成源数据，以供待测LCD模块进行显示处理后生成结果数据；根据所述源数据生成参考数据；对所述结果数据进行监控；将监控后的所述结果数据与所述参考数据进行对比，输出验证结果。本发明通过随机生成源数据对LCD模块进行验证，提高了验证的覆盖率，并采用监控单元代替LCD屏对LCD模块输出的结果数据进行监控后与参考数据进行比较，实现自动验证，不仅提高了验证的客观性还提高了验证的精确度。

Description

一种基于FPGA的芯片验证方法、装置及系统
技术领域
本发明属于芯片验证领域，尤其涉及一种基于FPGA的芯片验证方法、装置及系统。
背景技术
在片上系统(SOC，system on chip)多媒体处理芯片中，一般都集成了液晶显示(LCD)模块，用来控制多媒体设备中液晶显示器(LCD，Liquid CrystalDisplay)的显示，其显示效果直接影响了多媒体设备的推广和应用，所以提供一个完好的LCD模块显得尤为重要。
LCD模块的质量一般通过各种验证手段来保证，其中现场可编程门阵列(FPGA，Field Programmable Gate Array)验证是一种比较常用而且重要的验证手段，在现有的FPGA验证环境中，LCD模块的验证方法为：首先，将要显示的视频数据放在外部的随机存储器(RAM，Random Access Memory)11中，参见图1，再设置不同的显示模式和参数，最后，在不同显示模式下，分别将视频数据通过SOC芯片10中的LCD模块100送到LCD屏12显示，并通过眼睛观察图片或视频的显示效果，实现验证。
但是，现有的FPGA验证方法具有下述缺点：
1、验证范围局限，由于要验证的数据均为预先设置的固定的视频数据，因此不具有一般性；
2、显示效果的判定不够客观、精确，容易受到不同人的主观判定标准影响，并且对于细微的错误和误差人眼难以捕捉；
3、验证过程不够自动化，在验证的过程中需要人值守，验证效率低。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种基于FPGA的芯片验证方法，旨在解决现有验证方法验证覆盖率低，无法客观、精确地实现自动化验证的问题。
本发明实施例是这样实现的，一种基于FPGA的芯片验证方法，所述方法包括下述步骤：
根据预设测试程序随机生成源数据，以供待测LCD模块进行显示处理后生成结果数据；
根据所述源数据生成参考数据；
对所述结果数据进行监控；
将监控后的所述结果数据与所述参考数据进行对比，输出验证结果。
本发明实施例的另一目的在于提供一种基于FPGA的芯片验证装置，所述装置包括：
源数据生成单元，用于根据预设测试程序随机生成源数据，以供待测LCD模块进行显示处理后生成结果数据；
参考数据生成单元，根据所述源数据生成参考数据；
监控单元，用于对所述结果数据进行监控；
比较单元，用于将监控后的所述结果数据与所述参考数据进行对比，输出验证结果。
本发明实施例的另一目的在于提供一种包含上述基于FPGA的芯片验证装置的基于FPGA的芯片验证系统。
在本发明实施例中，通过随机生成源数据对LCD模块进行验证，提高了验证的覆盖率，并采用监控单元代替LCD屏对LCD模块输出的结果数据监控后与参考数据进行比较，实现自动验证，不仅提高了验证的客观性还提高了验证的精确度。
附图说明
图1为现有FPGA验证方法的实现示意图；
图2为本发明第一实施例提供的基于FPGA的芯片验证方法的实现流程图；
图3为本发明第二实施例提供的基于FPGA的芯片验证方法的实现流程图；
图4为本发明实施例提供的基于FPGA的芯片验证装置的结构图；
图5为本发明实施例提供的基于FPGA的芯片验证装置的优选结构图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例通过随机生成源数据对LCD模块进行验证，并采用监控单元将结果数据与参考数据进行比较，实现了客观、精确地自动验证，并提高了验证的覆盖率。
图2示出本发明第一实施例提供的基于FPGA的芯片验证方法的实现流程，为了便于说明，仅示出了与本发明相关的部分。
作为本发明一实施例，该基于FPGA的芯片验证方法包括下述步骤：
在步骤S201中，根据预设测试程序随机生成源数据，以供待测LCD模块对源数据进行显示处理后生成结果数据；
在步骤S202中，根据源数据生成参考数据；
在步骤S203中，对结果数据进行监控；
在步骤S204中，将监控后的结果数据与参考数据进行对比，输出验证结果。
在本发明实施例中，增加了随机的源数据生成和自动对比的功能，利用预设测试程序随机生成源数据供LCD模块测试，更具有一般性，避免了LCD模块由于显示内容有限导致验证覆盖率低的问题，并将结果数据与参考数据进行对比，通过LCD模块产生结果数据和参考数据的一致性来判断LCD模块是否完好，实现自动对比的功能。
图3示出了本发明第三实施例提供的基于FPGA的芯片验证方法的实现流程，详述如下：
在步骤S301中，根据预设测试程序随机生成源数据，以供待测LCD模块对源数据进行显示处理后生成结果数据；
作为本发明一优选实施例，源数据可以包括：显示属性、显示模式、参数以及视频数据。
在本发明实施例中，通过设置不同的约束条件，可以随机生成亮度、对比度、透明度等显示属性，动态、静态等显示模式，多种百分比的参数，以及视频数据，进而得到具有一般性的源数据，以供待测LCD模块进行显示控制验证，由于通过增加各种显示属性、显示模式、参数及视频数据，其排列后的源数据可以按指数级增长，并且配置随机生成，极大地扩大了验证覆盖率。
在步骤S302中，根据源数据生成参考数据；
在步骤S303中，对结果数据进行监控；
在步骤S304中，多次获取并判断结果数据与参考数据是否一致；
若是，执行步骤S305，输出合格信号；
若否，执行步骤S306，输出不合格信号。
作为本发明一优选实施例，在步骤S305或步骤S306之后还可以包括：
在步骤S307中，对多个合格信号和不合格信号进行统计，输出合格率。
首先，源数据会被分别送到LCD模块和参考数据生成单元，源数据经过参考数据生成单元的处理生成参考数据，源数据经过LCD模块的处理，并经监控单元的收集生成结果数据，然后，通过比较单元对参考数据和结果数据进行比较，当参考数据与结果数据一致时，认为LCD模块的显示控制符合标准，输出合格信号，当参考数据与结果数据不一致时，认为LCD模块的显示控制不符合标准，输出不合格信号，并可以计算显示属性或显示模式的参数误差，以便于校正，还可以通过多次比较后，对合格信号和不合格信号进行统计，输出具有一定百分比的统计数据，作为验证该LCD模块的合格率，以增强验证的准确度。
在本发明实施例中，通过随机生成源数据对LCD模块进行验证，提高了验证的覆盖率，并采用监控单元代替LCD屏对LCD模块进行数据监控后与参考数据进行比较，实现自动验证，对比过程不需要验证人员的参与，测试过程也不需要验证人员的值守，不仅提高了验证的客观性和验证精确度，还大大提高了验证效率。
图4示出了本发明实施例提供的基于FPGA的芯片验证装置的结构，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。
作为本发明一实施例，该基于FPGA的芯片验证装置5可用于任何系列的基于FPGA的芯片验证系统中，该装置5与待测LCD模块包括：
源数据生成单元51，用于根据预设测试程序随机生成源数据，以供待测LCD模块对源数据进行显示处理后生成结果数据；
参考数据生成单元52，根据源数据生成参考数据；
监控单元53，用于对结果数据进行监控；
比较单元54，用于将监控后的结果数据与参考数据进行对比，输出验证结果。
图5示出了本发明实施例提供的基于FPGA的芯片验证装置的优选结构，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。
在本发明实施例中，源数据生成单元51包括：
显示属性生成模块511，用于生成显示属性；
显示模式生成模块512，用于生成显示模式；
显示参数生成模块513，用于生成显示参数；
视频数据生成模块514，用于生成视频数据。
作为本发明一实施例，比较单元54包括：
比较判断模块541，用于多次获取并判断结果数据与参考数据是否一致，若是，则输出合格信号，若否，则输出不合格信号。
作为本发明一优选实施例，比较单元54还包括：
统计模块542，用于对多个合格信号和不合格信号进行统计，输出合格率。
在本发明实施例中，可以利用外部RAM对各种数据进行存储，以提高处理速度。
在本发明实施例中，该基于FPGA的芯片验证装置5在测试时搭建于SOC芯片中，并在测试完成时将其拆除，并不影响待测SOC芯片的投产。
在本发明实施例中，通过随机生成源数据对LCD模块进行验证，提高了验证的覆盖率，并采用监控单元代替LCD屏对LCD模块输出的结果数据进行监控后与参考数据进行比较，输出验证结果，当验证结果不合格时，计算误差，以便于校正，还通过统计合格率，增强验证的准确度，其对比过程不需要验证人员的参与，测试过程也不需要验证人员的值守，实现了芯片验证的高度自动化，提高了验证的客观性、精确度和验证效率。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种基于FPGA的芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
根据预设测试程序随机生成源数据，以供待测LCD模块进行显示处理后生成结果数据；
根据所述源数据生成参考数据；
对所述结果数据进行监控；
将监控后的所述结果数据与所述参考数据进行对比，输出验证结果。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述源数据包括：显示属性、显示模式、参数以及显示的视频数据。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将监控后的所述结果数据与所述参考数据进行对比，输出验证结果的步骤具体为：
多次获取并判断所述结果数据与所述参考数据是否一致；
若是，则输出合格信号；
若否，则输出不合格信号。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述多次获取并判断所述结果数据与所述参考数据是否一致的步骤之后，所述方法还包括：
对多个所述合格信号和所述不合格信号进行统计，输出合格率。
5.一种基于FPGA的芯片验证装置，其特征在于，所述装置包括：
源数据生成单元，用于根据预设测试程序随机生成源数据，以供待测LCD模块进行显示处理后生成结果数据；
参考数据生成单元，根据所述源数据生成参考数据；
监控单元，用于对所述结果数据进行监控；
比较单元，用于将监控后的所述结果数据与所述参考数据进行对比，输出验证结果。
6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述源数据生成单元包括：
显示属性生成模块，用于生成显示属性；
显示模式生成模块，用于生成显示模式；
显示参数生成模块，用于生成显示参数；
视频数据生成模块，用于生成视频数据。
7.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述比较单元包括：
比较判断模块，用于多次获取并判断所述结果数据与所述参考数据是否一致，若是，则输出合格信号，若否，则输出不合格信号。
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述比较单元还包括：
统计模块，用于对多个所述合格信号和所述不合格信号进行统计，输出合格率。
9.一种基于FPGA的芯片验证系统，其特征在于，所述系统包括如权利要求5至8任一项所述的基于FPGA的芯片验证装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103713993A (zh) * 2013-05-30 2014-04-09 深圳市汇春科技有限公司 芯片验证平台及其实现芯片测试的方法
CN103760437A (zh) * 2014-01-07 2014-04-30 上海众人网络安全技术有限公司 一种电子密码器cob线路板的显示数据测试方法
CN104536885A (zh) * 2014-12-17 2015-04-22 记忆科技(深圳)有限公司 一种生成Soc随机验证平台的方法
CN107783856A (zh) * 2016-08-30 2018-03-09 安凯(广州)微电子技术有限公司 一种图像处理器参数的测试方法及系统
CN109101680A (zh) * 2018-06-26 2018-12-28 天津飞腾信息技术有限公司 基于GitLab-CI的FPGA原型自动验证方法及系统
CN110383090A (zh) * 2017-01-18 2019-10-25 德克萨斯仪器股份有限公司 用于i/o信号故障安全验证的封装的集成电路芯片
CN111613160A (zh) * 2020-04-02 2020-09-01 深圳益实科技有限公司 一种lcd显示屏显示故障判断方法及系统
CN115481594A (zh) * 2021-11-22 2022-12-16 北京百度网讯科技有限公司 计分板实现方法、计分板、电子设备及存储介质
CN115639805A (zh) * 2022-12-24 2023-01-24 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 一种机载phm系统状态监测功能试验方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1949184A (zh) * 2006-11-20 2007-04-18 北京中星微电子有限公司 一种芯片验证的方法及系统
CN101995686A (zh) * 2010-11-18 2011-03-30 福州瑞芯微电子有限公司 基于fpga的lcdc模块的ft测试方法
CN102096038A (zh) * 2010-11-23 2011-06-15 福州瑞芯微电子有限公司 基于fpga的vip模块的ft测试方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1949184A (zh) * 2006-11-20 2007-04-18 北京中星微电子有限公司 一种芯片验证的方法及系统
CN101995686A (zh) * 2010-11-18 2011-03-30 福州瑞芯微电子有限公司 基于fpga的lcdc模块的ft测试方法
CN102096038A (zh) * 2010-11-23 2011-06-15 福州瑞芯微电子有限公司 基于fpga的vip模块的ft测试方法

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103713993A (zh) * 2013-05-30 2014-04-09 深圳市汇春科技有限公司 芯片验证平台及其实现芯片测试的方法
CN103760437A (zh) * 2014-01-07 2014-04-30 上海众人网络安全技术有限公司 一种电子密码器cob线路板的显示数据测试方法
CN103760437B (zh) * 2014-01-07 2016-06-22 上海众人网络安全技术有限公司 一种电子密码器cob线路板的显示数据测试方法
CN104536885A (zh) * 2014-12-17 2015-04-22 记忆科技(深圳)有限公司 一种生成Soc随机验证平台的方法
CN107783856A (zh) * 2016-08-30 2018-03-09 安凯(广州)微电子技术有限公司 一种图像处理器参数的测试方法及系统
CN107783856B (zh) * 2016-08-30 2021-06-04 广州安凯微电子股份有限公司 一种图像处理器参数的测试方法及系统
CN110383090A (zh) * 2017-01-18 2019-10-25 德克萨斯仪器股份有限公司 用于i/o信号故障安全验证的封装的集成电路芯片
CN110383090B (zh) * 2017-01-18 2022-11-22 德克萨斯仪器股份有限公司 用于i/o信号故障安全验证的封装的集成电路芯片
CN109101680A (zh) * 2018-06-26 2018-12-28 天津飞腾信息技术有限公司 基于GitLab-CI的FPGA原型自动验证方法及系统
CN109101680B (zh) * 2018-06-26 2022-11-25 飞腾信息技术有限公司 基于GitLab-CI的FPGA原型自动验证方法及系统
CN111613160A (zh) * 2020-04-02 2020-09-01 深圳益实科技有限公司 一种lcd显示屏显示故障判断方法及系统
CN115481594A (zh) * 2021-11-22 2022-12-16 北京百度网讯科技有限公司 计分板实现方法、计分板、电子设备及存储介质
CN115481594B (zh) * 2021-11-22 2023-09-08 北京百度网讯科技有限公司 计分板实现方法、计分板、电子设备及存储介质
CN115639805A (zh) * 2022-12-24 2023-01-24 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 一种机载phm系统状态监测功能试验方法

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